「回路条件」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

プロセス条件が変動した場合に、回路変更することなく、チューニングを行うことができる基準電圧発生回路を搭載した半導体集積回路装置としている。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device for mounting a reference voltage generation circuit for performing tuning without changing the circuit when process conditions fluctuate. - 特許庁

回路パターンの接地条件を安定にすることができ、また、隣接する２つの回路パターン間のアイソレーションを大きく取ることのできる回路基板を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit board where a circuit pattern can be grounded under a stable condition, with large isolation between two circuit patterns adjacent to each other. - 特許庁

軽負荷／無負荷条件でパワーコンバータの出力電圧を調整するための例示的な装置は、ドライバ回路、フィードバック回路、および調節可能電圧基準回路を含む。例文帳に追加

An example apparatus to regulate the output voltage of the power converter under a light-load or no-load condition includes a driver circuit, a feedback circuit, and an adjustable voltage reference circuit. - 特許庁

実装する回路基板の配線の最適化を行い易いように、回路基板の条件に合わせて外部端子に対する信号割り付けを変更することができる半導体集積回路装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device in which signal assignment to an external terminal can be changed in accordance with conditions of a circuit board so as to facilitate optimization of the wiring of the circuit board for mounting. - 特許庁

基本アンプ11とそのバイアス回路21で構成された増幅回路に関し、プロセス条件の変動や温度変動に対して安定した利得Aを有する増幅回路を実現する。例文帳に追加

To realize an amplifying circuit, composed of a basic amplifier 11 and its bias circuit 21 which has a stable gain A, with respect to the variation in the process conditions or in the temperature. - 特許庁

ＰＬＬ回路を搭載する半導体集積回路に関し、プロセス条件や温度変動による特性変動抑圧対象回路の特性変動を抑圧することによる性能向上を図る。例文帳に追加

To improve performance by suppressing the characteristic fluctuation of a characteristics fluctuation suppression object circuit by process conditions and temperature fluctuation, regarding a semiconductor integrated circuit loaded with a PLL circuit. - 特許庁

複数の回路からアクセス可能なメモリユニットを管理するメモリ制御回路を有する装置において、所定の条件を満たす場合にのみ、特定の回路に優先的或は独占的にアクセスを付与する。例文帳に追加

To grant a specific circuit access preferentially or exclusively only if a prescribed condition is met, in a device having a memory control circuit for managing a memory unit accessible from a plurality of circuits. - 特許庁

電源供給側の回路装置と信号伝送側の回路装置とを整合させる設計条件を簡易化し両回路装置の組み合わせを容易にする。例文帳に追加

To facilitate combination of a circuit device on a power supply side and that on a signal transmitting side by simplifying a designing condition for matching both of the circuit devices. - 特許庁

パルス発生回路５及び昇圧回路６は、速度制御回路４によって決定された駆動条件に応じた駆動交流信号を生成して超音波モータ７に出力する。例文帳に追加

A pulse generating circuit 5 and a boosting circuit 6 generate the drive AC signal, corresponding to the drive condition decided by means of the control circuit 4 and output the signal to the motor 7. - 特許庁

これにより、能動回路２の反射係数の絶対値が大きくなるように、インピーダンス変換回路６は共振回路の特性インピーダンスを変換することができ、発振条件を容易に満足することができる。例文帳に追加

Thereby, the impedance converting circuit 6 can convert the characteristic impedance of the resonance circuit to increase the absolute value of the reflection factor of the active circuit 2, and as a result, the oscillation condition of the oscillation circuit can be satisfied easily. - 特許庁

主要部品選択手段１３は、回路図選択手段１１によって選択された回路図データが示す回路図に記載される部品の中から、予め定める部品選択条件を満たす主要部品を選択する。例文帳に追加

A main component selection means 13 selects a main component satisfying a predetermined component selection condition from components recorded in the circuit diagram shown by circuit diagram data selected by a circuit diagram selection means 11. - 特許庁

一度に複数の条件の回路素子のＣＡＤデータを生成し、それにより回路設計の効率を上げることができる回路設計ＣＡＤシステムを提供すること。例文帳に追加

To provide a circuit design CAD for generating CAD data of a circuit element under a plurality of conditions at a time and increasing efficiency of the circuit design as a result. - 特許庁

ラインエラー判定回路１１は、ラインエラーカウンタ１２、ラインエラー画素カウンタ１３、判定条件設定回路１４、及びエラー発生回路１５を備える。例文帳に追加

A line error determination circuit 11 is provided with a line error counter 12, a line error pixel counter 13, a determination condition setting circuit 14 and an error generation circuit 15. - 特許庁

シミュレーションによって回路の発振条件を明確にし，その結果を元に発振回路の構成が容易で、電源変動特性に優れ、可変範囲が広く、さらに、信頼性の高い圧電発振回路を提供する。例文帳に追加

A piezoelectric oscillation circuit is provided in which oscillation conditions of the circuit are made clear by simulation to facilitate the configuration of the oscillation circuit on the basis of a result, power supply variation characteristics are improved, a variable range is widened and further, reliability is improved. - 特許庁

温度、電源電圧等の使用条件の変動に影響されず、動作が安定で、しかも簡単な回路構成の負性抵抗回路を用いて同調回路の選択度Ｑを改善することである。例文帳に追加

To provide a tuning circuit the selectivity Q of which is enhanced by using a negative resistance circuit of a simple circuit constitution and not affected by variations in operating conditions such as temperature and power supply voltage thereby stably operating. - 特許庁

タンク回路３１は、外部から与えらえる高周波の磁界に対して、条件に応じて共振状態の回路または非共振状態の回路として作用する。例文帳に追加

The tank circuit 31 functions as a circuit in a resonance state or a circuit in a non-resonance circuit in accordance with a condition in response to a high-frequency magnetic field given from the outside. - 特許庁

スーパーＶＩＨ条件を検出するレベル検出回路（１２１）の出力信号を、強制回路（５）により、有効状態または無効状態に設定して、テスト制御回路（１２５ａ−１２５ｎ）に与える。例文帳に追加

An output signal of a level detecting circuit (121) detecting super VIH conditions is set to a valid state or an invalid state by a enforcing circuit (5), and given to test control circuits (125a-125n). - 特許庁

これらの信号と、作業温度条件を格納保持した記憶回路２７から受ける情報とを、制御回路２８で比較判断し、温度制御回路３０へ信号を送り、ヒータ４０の加熱強弱を制御する。例文帳に追加

Those signals are compared with information received from a storage circuit 27 which stores and holds a working temperature condition by a control circuit 28, the signal is transmitted to a temperature control circuit 30, and the heating strength of a heater 40 is controlled. - 特許庁

ＤＬＬクロック制御回路１２０は、ＤＬＬ回路１００およびＲＥＡＤ制御回路４００から受ける各信号に基づいて、動作周波数が所定の条件を満たした低周波であるか否かを判定する。例文帳に追加

Based on each signal received from a DLL circuit and a READ control circuit 400, a DLL clock control circuit 120 determines whether or not an operation frequency is a low frequency satisfying predetermined condition(s). - 特許庁

温度および圧力の調整中に温度および圧力のうち少なくともいずれか一方がそれぞれ第１温度条件または第１圧力条件から所定の期間にわたって逸脱すると、第１値よりも小さい第２値の定圧比熱を確立する第２温度条件および第２圧力条件を制御回路７２に設定する。例文帳に追加

If at least either the temperature or pressure deviates from the first temperature condition or the first pressure condition for a predetermined period during adjustment of temperature and pressure, a second temperature condition and a second pressure condition which establish a constant pressure specific heat of a second value, being smaller than the first value, are set in the control circuit 72. - 特許庁

切替スイッチ回路５は、ディジタル放送の受信中に搬送波信号群が所定の条件を満たしていない旨の条件判別信号が出力されたときは、アナログ放送の受信に切替え、アナログ放送の受信中に搬送波信号群が所定の条件を満たしている旨の条件判別信号が出力されたときは、ディジタル放送の受信に切替える。例文帳に追加

A changeover switch circuit 5 selects reception of the analog broadcast when the means 7 outputs the condition discrimination signal denoting that the carrier signal group does not satisfy the prescribed condition during the reception of the digital broadcast or selects reception of the digital broadcast when the means 7 outputs the condition discrimination signal denoting that the carrier signal group satisfies the prescribed condition during the reception of the analog broadcast. - 特許庁

それぞれ異なるデューティ比で駆動可能な複数の昇圧回路と、複数の昇圧回路の内、最もデューティ比が高い昇圧回路の駆動条件に応じて、直流電源から昇圧回路への入力電圧を制御する制御回路と、を備えることを特徴とする。例文帳に追加

The power supply apparatus includes a plurality of voltage step-up circuits each of which can be driven at a different duty ratio, and a control circuit which controls an input voltage from the DC power supply to each voltage step-up circuit according to the drive condition of the voltage step-up circuit having the highest duty ratio of the plurality of voltage step-up circuits. - 特許庁

また、特性の劣化度が回路Ａとほぼ同じで、新製造条件で製造された回路ＡＡ（リングオシレータ）の回路特性を実測又はシミュレーションして、上述の相関関係と回路ＡＡの特性とから回路ＢＢの特性を予測する。例文帳に追加

Actual measurement or simulation of a circuit AA (ring oscillator) provided with a degree of performance degradation substantially equal to that of the circuit A and manufactured under a new manufacture condition is carried out for predicting performance of a circuit BB from the correlation and the performance of the circuit AA. - 特許庁

また、特性の劣化度が回路Ａと実質的に同じで、新製造条件で製造された回路ＡＡ（リングオシレータ）の回路特性を実測又はシミュレーションして、上述の相関関係と回路ＡＡの特性劣化度とから回路ＢＢの特性劣化度を予測する。例文帳に追加

A circuit characteristic of a circuit AA (ring oscillator) substantially same to that of the circuit A in a degree of deterioration and manufactured by a new production condition is observed or simulated to predict a circuit characteristic of a circuit BB, based on the correlation and a degree of deterioration of the circuit AA. - 特許庁

その予測信号と同期コード検出信号とが一致して入力された回数をカウンタ回路５がカウントし、比較回路７がカウンタ回路５のカウント値とレジスタ回路６のレジスタ値を比較し、その比較結果から、予測制御回路８が所定の条件で予測制御信号を出力する。例文帳に追加

A counter circuit 5 counts the number of times when the prediction signal and the synchronization code detection signal are received with coincidence, a comparator circuit 7 compares the count of the counter circuit 5 with a register value of a register circuit 6 and a prediction control circuit 8 outputs a prediction control signal under a prescribed condition from the comparison result. - 特許庁

上記半導体ウェハを用いてウォータマークが最も少なくなる洗浄・乾燥条件を探し出して、その洗浄・乾燥条件により実際の回路機能を持つ半導体集積回路を形成する半導体ウェハの洗浄・乾燥を行う。例文帳に追加

A cleaning and drying condition with which the watermark becomes minimum is searched using the semiconductor wafer, and the semiconductor wafer that forms a semiconductor integrated circuit having actual circuit functions is cleaned and dried by the cleaning and drying condition. - 特許庁

半導体集積回路の論理回路を、データを取り込むためのイネーブル条件が付いているフリップフロップが含まれるモジュールＡ，Ｂ，Ｃと、データを取り込むためのイネーブル条件が付かないフリップフロップが含まれるモジュールＤとに分ける。例文帳に追加

The logic circuit of a semiconductor integrated circuit is divided into modules A, B, C in which flip-flop with enable conditions for fetching data is included and a module D in which flip-flop without the enabling conditions for fetching the data is included. - 特許庁

記憶部１４は、論理回路の論理設計情報に基づいて合成された複数のレジスタを示すレジスタ情報と、複数のレジスタを含む論理回路についての論理シミュレーションの実行結果である波形データと、波形データの比較の条件を定める制約条件とを格納する。例文帳に追加

A storing part 14 stores register information showing a plurality of registers combined on the basis of logic design information of a logic circuit, waveform data being an execution result of a logic simulation about the logic circuit including the plurality of registers, and constraints for determining a comparison condition of the waveform data. - 特許庁

第１の対の電極１１、１２に接続されたインピーダンス整合回路４１の回路定数の変化に対応して、第１の条件でプラズマを発生させる工程から第２の条件でプラズマを発生させる工程への移行が行われる。例文帳に追加

In response to variation in circuit constant of an impedance matching circuit 41 connected to the first pair of electrodes 11 and 12, a transition is made from the process of generating the plasma under the first condition to the process of generating the plasma under the second condition. - 特許庁

低電源電圧条件下でヒステリシス電圧が小さくなる回路（ＰＭＯＳトランジスタ１０１〜１０３及び、インバータ５０１）と、低電源電圧条件下でヒステリシス電圧が大きくなる回路（ＰＭＯＳトランジスタ１０１、１０４及び、インバータ５０１）とを設けた。例文帳に追加

An input circuit includes: a circuit (PMOS transistors 101-103 and an inverter 501) wherein a hysteresis voltage is decreased under a low power supply voltage condition; and a circuit (PMOS transistors 101 and 104 and the inverter 501) wherein the hysteresis voltage is increased under the low power supply voltage condition. - 特許庁

ホイーストンブリッジ回路１８の１辺のブリッジ抵抗を、環境条件による変動が抑制された歪ゲージ（固定基準抵抗）２０と環境条件により変動する抵抗成分ΔＲを有する試料１６を直列接続した回路とする。例文帳に追加

Bridge resistance at one side of the Wheatstone bridge circuit 18 forms a circuit, series-connecting a strain gauge (fixed reference resistance) 20 constraining the fluctuations due to environmental conditions to a sample 16 with resistance component ΔR fluctuating due to environmental conditions. - 特許庁

検査条件設定装置（検査装置１）は、半導体、液晶回路、またはプリント基板などの電子回路を複数搭載する被検査物の外観検査をＣＡＤデータ（４１）と被検査物画像（４３）との対比によって行う前に、当該外観検査の条件を予め設定する。例文帳に追加

An apparatus for setting inspection conditions (inspection apparatus 1) presets conditions for the appearance inspection before conducting the appearance inspection of an inspection object having a plurality of electronic circuits such as semiconductors, liquid crystal circuits, or printed circuit boards mounted thereon by comparing CAD data (41) and an inspection object image (43). - 特許庁

デジタルカメラのシステム制御回路６０は、ＣＣＤ１６から得た同一の画像信号から、操作部７０にて選択された複数の撮影条件で、画像処理回路５０によりそれぞれの撮影条件に対応した複数の表示用画像もしくは輝度分布を生成するよう制御する。例文帳に追加

The system control circuit 60 of a digital camera controls an image processing circuit 50 to generate a plurality of display images or luminance distributions corresponding to respective photography conditions under a plurality of photography conditions selected at an operating section 70 from the same image signal obtained from a CCD 16. - 特許庁

特に、仕様範囲外の物理条件の検出回路としてＰＬＬを用いた場合、高い精度で仕様範囲を設定できるとともに、三つの条件検出による高いセキュリティを確保しながら、検出回路を非常に簡略化できる。例文帳に追加

In particular, when a PLL (phased locked loop) is used as the detection circuit for detecting the physical conditions out of the scope of specifications, the scope of specifications can be set with high precision, and the detection circuit can be greatly simplified while ensuring high security by the detection of three conditions. - 特許庁

被測定回路の接続情報を記述した回路接続情報及び入力波形等を含む境界条件が設定され（Ｓ１１０）、解析対象時間及び解析対象時間を長く区切った第１の時間刻み幅を含む解析条件が設定される（Ｓ１２０）。例文帳に追加

Circuit connection information descriptive of connecting information of a circuit to be measured and a boundary condition including an input waveform or the like are set (S110), and an analysis object time and an analysis condition including a first time stride of the analysis object time divided long are set (S120). - 特許庁

術者用接眼部８に観察条件を入力する視野内表示コントローラー２９と、その条件に応じて助手用接眼部９の観察状態を変更する第１の回転演算処理回路３０および第２の回転演算処理回路３１とを設けたものである。例文帳に追加

This microscope device for surgery is provided with a visual field inside indicating controller 29 inputting an observation condition to an eyepiece part 8 for an operator and first and second rotation computing circuits 30, 31 changing the observation condition of an eyepiece part 9 for an assistant according to the condition inputted to the eyepiece part 8. - 特許庁

チップと基板とのファインピッチ接合化に貢献するため、メッキ条件等の諸条件を変更することなく、さらに工程数を増やさずに、樹脂面と回路面の凹みのない平坦な片面回路基板の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a single-sided circuit board which is provided with a flat resin surface and a flat circuit surface that are both kept free from recesses without changing the conditions, such as a plating condition and the like, and without increasing processes to contribute to a fine pitch bonding between a chip and the board. - 特許庁

符号化部（１６）のフレーム分配部（１８）は、カメラ信号処理部（１４）からのフレーム画像を撮影条件に応じて、同じ撮影条件のものが同じデータ圧縮回路に供給されるように、データ圧縮回路（２２〜２８）に分配する。例文帳に追加

The frame distribution section (18) of a coding section (16) distributes frame images from a camera signal processing section (14) to data compression circuits (22-28), according to the photographic conditions so as to supply frame images on the same photographic conditions, to the same data compression circuits. - 特許庁

メモリセルアレイ（１）の可変抵抗素子型メモリセル（Ｍ）のデータの書込時、書込制御回路（４）の制御の下に書込データを読出した後、書込条件設定回路（５）により書込条件を変更してデータの書込を実行する。例文帳に追加

Data writing is carried out by changing writing conditions by a writing condition setting circuit (5) after reading written data under control of a writing control circuit (4) at the time of the data writing of a variable resistive element type memory cell (M) of a memory cell array (1). - 特許庁

開放状態と閉止状態とで第一回路基板１５０と第二回路基板１６０とのインピーダンス条件が条件変更機構１９０により変更されるので、無線アンテナ１７０の特性を開放状態と閉止状態との各々で最良とすることができる。例文帳に追加

Since impedance conditions of a first circuit board 150 and a second circuit board 160 are changed by a condition change mechanism 190 at an opened state and a closed state, the characteristics of the radio antenna 170 are made best at each of the opened state and the closed state. - 特許庁

特定の機能を有する回路構成とプロセス制約条件との組み合わせにて、要求仕様の各項目についての解仕様空間における非劣解であるパレート最適解の集合を抽出し、さらに回路構成及びプロセス制約条件との全ての組み合わせについてのパレート最適解と、各プロセス制約条件についてのパレート最適解とをさらに抽出する。例文帳に追加

A set of Pareto optimal solutions that are non-inferior solutions in a solution specification space about each item of the request specification is extracted in a combination between a circuit configuration having a specific function and a process restriction condition, and Pareto optimal solutions about all the combinations between the circuit configurations and the process restriction conditions and Pareto optimal solutions about the respective process restriction conditions are also extracted. - 特許庁

電源制御部７８は、電源部４２を制御することで信号処理部４０を構成する発熱源の回路素子に対する駆動電力の供給を停止させた状態とし、曝射条件設定部７４による曝射条件の設定完了を条件として前記回路素子に駆動電力を供給する。例文帳に追加

A power source control part 78 controls a power source part 42, so that a state is obtained where the supply of driving power is stopped to the circuit element of a heat generation source constituting a signal processing part 40, and so that the driving power is supplied to the circuit element on the condition that the setting of an exposure condition by an exposure condition setting part 74 is completed. - 特許庁

判定条件設定回路１４は、製品機能に影響を及ぼすライン同期エラーを判定するための判定条件を設定するとともに、ラインエラーカウンタ１２からの同期エラーやラインエラー画素カウンタ１３からのエラー画素と判定条件とを参照してライン同期エラーの判定を行い、判定結果をエラー発生回路１５に出力して同期エラー割り込みを発生させる。例文帳に追加

The determination condition setting circuit 14 sets a determination condition for determining a line synchronization error that affects a product function, determines a line synchronization error with reference to a synchronization error from the line error counter 12, and a line error pixel and a determination condition from the line error pixel counter 13, and outputs a determination result to the error generation circuit 15 to generate synchronization error interruption. - 特許庁

プログラマブル回路１０２は、動作クロック生成回路１０４のクロック信号に同期して動作する設計対象回路１０６を実装し、回路１０６に対するアサーション検証開始の信号を生成するアサーショントリガ検出回路（検出回路）１０７＿１〜１０７＿ｎおよびアサーション検証の結果判定を行うアサーション条件判定式回路（判定回路）１０８＿１〜１０８＿ｎを含む。例文帳に追加

A programmable circuit 102 is mounted with a design object circuit 106 operating synchronously with the clock signal of an operation clock creation circuit 104, and includes assertion trigger detection circuits (detection circuits) 107_1 to 107_n for creating the signal of assertion verification start to the circuit 106 and assertion condition decision type circuit (decision circuit) 108_1 to 108_n for performing the result decision of the assertion verification. - 特許庁

試験パターンを入力したきの半導体回路の出力パターンがパスするパス条件とフェイルするフェイル条件とを途中で切り替えて動作させる動作ステップと、半導体回路を動作させたときの出力パターンを基に半導体回路の故障箇所を特定する特定ステップとを有する半導体回路の検査方法が提供される。例文帳に追加

This method for inspecting a semiconductor circuit comprises both an operation step for making the semiconductor circuit operate by changing over between a pass condition for passing an output pattern of the semiconductor circuit of when a test pattern is inputted and a specification step for specifying the faulty part of the semiconductor circuit on the basis of the output pattern of when the semiconductor circuit is made to operate. - 特許庁