「条件テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。例文帳に追加

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware. - 特許庁

ドライブにとって未知のメディアであっても、簡易なテスト記録で好適な近い記録条件を得る。例文帳に追加

To obtain an almost suitable recording condition with a simple test recording even if a medium is unknown for a drive. - 特許庁

抽出された各実行経路の制約条件に基づいて、テストデータ仕様を更新する。例文帳に追加

A test data specification is updated based on a restriction condition of each extracted execution path. - 特許庁

テスト端末１０１は、評価条件設定部２０５、評価部２０７を備える。例文帳に追加

A test terminal 101 includes an evaluation condition setting part 205 and an evaluation part 207. - 特許庁

モデルを作成してその潜在的なエラーにつながる条件についてテストする。例文帳に追加

A model is created to test the condition to result in the potential error. - 特許庁

この発明は、テスト対象とするハードウェア記述言語で記述された回路と、上記回路のテスト条件が指定されると、上記回路の記述内容と上記テスト条件とに基づいて、上記回路をテストするテストモデルを生成するようにしたものである。例文帳に追加

The apparatus generates a test model that conducts circuit tests on the basis of circuit descriptions and the test conditions when the circuit descriptions for the test described by a hardware describing language and the test conditions are specified. - 特許庁

ウエハ制御ホスト１は、半導体チップの合否判定テストプログラムの情報と、具体的な特性値と測定するための特性測定テストプログラムの情報と、特性測定テストを行うチップアドレスの情報とを含むテスト条件が記憶されているテスト条件データベース３を備える。例文帳に追加

A wafer control host 1 has a test condition database 3, that stores test conditions including information on the quality decision test program for a semiconductor chip, information on a specific characteristic value and a characteristic measurement test program for measurement, and information on a chip address for carrying out a characteristic measurement test. - 特許庁

最終パルス条件導出ステップは、テスト領域反射光レベルに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。例文帳に追加

The steps for deriving the final pulse condition includes correcting the temporary pulse condition based on the test area reflection light level, to derive the final pulse condition. - 特許庁

その後、異なる条件でテストデータを記録する際に、照射エネルギが同一となるように仮最適記録パワーを変化させて記録し、ジッタ量が最小となる条件を最適条件とする。例文帳に追加

When test data are recorded in another conditions then, recording is performed by changing the temporary optimum recording power so that irradiation energy values are equal to each other and the condition on which a jitter value is minimized is adopted as the optimum condition. - 特許庁

更に、検査済みの記録トラックに対してセクタ毎に記録条件を変えながらテストパタンの記録再生を行い、得られた記録条件毎の平均ジッタ値を判断基準として、記録パルス条件の最適値を探査する。例文帳に追加

Further, a test pattern is recorded and reproduced while changing the recording condition for each sector with respect to the already inspected recording track, then the optimum value of the recording pulse condition is searched by taking the average jitter value for each obtained recording condition as the reference for the discrimination. - 特許庁

製造条件、電源電圧値、使用温度のばらつきに対し、テスト工数、テスト時間の増加要因を除去するとともに歩留まりを向上する。例文帳に追加

To eliminate factors of increase in test man-hours and a test time against dispersion in manufacturing conditions, a power supply voltage, and an operating temperature and to enhance the yield. - 特許庁

半導体装置に内蔵されたＡ／Ｄコンバータ等のテスト対象回路について、実使用条件下で、精度良く、かつ、効率良くテストする。例文帳に追加

To conduct accurate and efficient test for a circuit, such as an A/D converter built in a semiconductor device under actual application conditions. - 特許庁

そして、リクエストおよび指定されたテスト条件項目の組み合わせと関連付けてテストケースを登録する。例文帳に追加

Test cases are registered in association with the combination of the request and the specified test condition item. - 特許庁

この発明は、簡単な操作だけで、テスト条件に応じたテストモデルを生成することができ、回路設計時の効率化が図れる。例文帳に追加

To provide an apparatus that can generate a test model corresponding to test condition by a simple operation and can increase the circuit design efficiency. - 特許庁

テスト監視装置２０は、予め定められた終了条件を満たす場合、制御パラメータ調整装置１０にテスト終了信号を送出する。例文帳に追加

The test monitoring device 20 sends out a test termination signal to the control parameter adjustment device 10 when a predetermined termination condition is met. - 特許庁

試験結果入力部２２は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１で行ったテストパターンの試験結果が入力される。例文帳に追加

The test result input section 22 receives the input of the test result of the test pattern carried out in the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions. - 特許庁

コントローラ３０は、光ディスク１０のＰＣＡエリアにテストデータを記録し、該テストデータのジッタが最小となる記録条件を選択する。例文帳に追加

A controller 30 records test data in a PCA area of the optical disk 10 and selects a recording condition which minimizes the jitter of the test data. - 特許庁

調整モードでは、テストパッチを形成して、このテストパッチを読み取り、適正な動作条件に調整するプロセスコントロールが行われる。例文帳に追加

In the adjusting mode, a test patch is formed and read, so that the process control to adjust an operating condition to the proper one is performed. - 特許庁

更に入力するのは、テストマークを用いるイメージ品質テストを行う条件に係わるデータである。例文帳に追加

What is also inputted is data related to conditions for carrying out image quality tests using the test mark. - 特許庁

2. 以前王国外でなされ，かつ，王国外でテストされたか又はテストされることになっている出願については，そのテストが王国の環境条件に見合う環境条件において行われた場合は，局は，そのテストの結果を利用し，かつ，採用することができる。例文帳に追加

(2) As for Applications for which filings were previously made outside the Kingdom and were or would be tested abroad, the Directorate may benefit from the results of the test and adopt them if the test was performed in environmental conditions compatible with the environmental condition of the Kingdom. - 特許庁

上書き手段２３は、入力された中間ファイル４とフロー情報と出力条件２とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。例文帳に追加

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2. - 特許庁

低濃度インク吐出時の記録ヘッド駆動条件の補正は、高濃度インク吐出時に予めテストパターンを記録し、そのテストパターンを読み取ることにより求められた記録ヘッド駆動条件に基づいて行われる。例文帳に追加

Recording head drive conditions at the time of ejecting low density ink are corrected based on recording head drive conditions obtained by recording a test pattern previously at the time of ejecting high density ink and reading that test pattern. - 特許庁

インキ、水の供給条件等の各種条件の調整を容易に行なうことができるようにするためのテストパターン印刷方法及びテストパターン画像の提供。例文帳に追加

To provide a method for printing a test pattern and a test pattern image allowing adjustment of various conditions such as supplying conditions of ink and water to be performed easily. - 特許庁

オーバーキルの発生を防止しながら遅延性故障を効率よく検出することができるテスト条件の生成方法およびテスト条件生成装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for generating test conditions for efficiently detecting delay failure while preventing the occurrence of overkill. - 特許庁

本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition. - 特許庁

また、同様に登録されているテストケースを一括で削除、登録されているテストケースをテスト対象画面とテスト条件の組み合わせを考慮して登録する範囲を指定し、一括でコピーすることが可能である。例文帳に追加

Similarly, registered test cases can be collectively deleted and the registered test cases can be collectively copied by specifying the range to be registered while considering the combination of the test target screen and the test condition. - 特許庁

また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。例文帳に追加

Also, a result storage position where processing to store a test result to be obtained for the test conditions of the object to be tested in predetermined variables is executed on the test program is acquired. - 特許庁

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。例文帳に追加

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210. - 特許庁

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。例文帳に追加

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized. - 特許庁

テスト仕様生成部２８は、テスト因子分類表の雛型に基づいて完成されたテスト因子分類表に記述された条件を組合せてテスト仕様書を生成する。例文帳に追加

The test specification generating part 28 generates a test specification sheet by combining conditions described in a test factor classification table completed on the basis of the model of the test factor classification table. - 特許庁

そして、テスト条件情報とテスト座標情報に基づいてテスト印字データを生成し、生成したテスト印字データに基づく印字によって、それぞれ光軸中心Ｃから略等距離となるテスト印字位置Ｐｎに、異なる印字条件（レーザ出力値と走査速度）のテストマークＭＴを形成するようにした。例文帳に追加

Then, test printing data are created based on the test conditional information and test coordinates information, and, by printing based on the created test printing data, the test marks MT of different printing conditions (the laser output value and scanning velocity) are formed at each test printing position Pn in which the distance from the optical axis center C is made almost equal. - 特許庁

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。例文帳に追加

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern. - 特許庁

変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。例文帳に追加

A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101. - 特許庁

成形条件出しに際し、Ｎ種類の成形条件に対してそれぞれ設定値を設定して同じ設定値のもとで複数ショットの成形テストを行い、続いて少なくとも１つの成形条件について変更された設定値のもとで複数ショットの成形テストを行うというテスト成形を繰り返し行う。例文帳に追加

When the molding conditions are set, a set value for each of N kinds of molding conditions is set, a molding test of a plurality of shots is done based on the same condition, and a test molding is repeated in which a molding test of a plurality of shots is done based on a changed set value with respect to at least one molding condition. - 特許庁

テスト対象のソフトウェアコンポーネントの実行状態が、事前条件定義情報で表される状態に至った場合に、実行仮想環境アプリケーションサーバ１００が、当該実行状態を、事前条件定義情報に対応する事後条件定義情報で表される状態に遷移させる。例文帳に追加

When the execution state of the software components to be tested is put in a state expressed by the pre-condition definition information, an execution virtual environment application server 100 shifts the execution state to the state expressed by the post-condition definition information corresponding to the pre-condition definition information. - 特許庁

通常データ項目の他に、ユーザ識別ＮＯ．、テストフラグ、ケースＮＯ．、流用フラグ等の選択条件情報を併せて保持し、選択条件の確定部１０５，１０６で条件を確定して、更新時は全ユーザの全データで共用データファイル（実データファイル）１１１を更新する。例文帳に追加

Selection condition information such as a user identification NO., a test flag, a case NO and an appropriation flag is stored as well as a normal data item, a deciding part 105 and 106 of a selection condition decides a condition, and at updating, the shared data file (real data file) 111 is updated by the whole data of all users. - 特許庁

光ディスクの最適記録条件を求めるために、ＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で記録条件を異ならせて記録したテスト信号の再生信号に基づく評価データを検出する場合、ＯＰＣ領域にディフェクトがあると最適な記録条件を求めることができない。例文帳に追加

To provide a recording/reproducing device capable of deciding optimal recording conditions by eliminating evaluation data (jitters, or modulation degree) affected by a defect even when the defect such as a flaw or a fingerprint is present in an OPC area. - 特許庁

第１のデータ解析部１０３は、キーワード情報に基づいて、ソフトウェア組合せ試験の事前条件、事後条件、試験範囲を記載する為のテストデータテンプレート２を生成する。例文帳に追加

A first data analyzing part 103 generates a test data template 2 to describe a precondition, a postcondition and a test range of a software combination test on the basis of the keyword information. - 特許庁

このようなテストを、ブラスト媒体の種類やブラスト媒体の噴射条件をそれぞれ変更して組み合わせて実施し、その条件毎のアンカープロファイルが形成されたＴＰを得る。例文帳に追加

This test is performed while the kind of blast medium and the injection conditions of the blast medium are changed and combined, thereby obtaining TP where an anchor profile is formed by each condition. - 特許庁

これと同時に、半導体チップＢに仕様で定められた条件よりも過酷な条件で電源電圧とテスト信号とを供給し、バーンイン試験を行う。例文帳に追加

Simultaneously, a power supply voltage and a test signal are supplied to the semiconductor chip B under conditions severer than the conditions determined by the specification and a burn-in test is implemented. - 特許庁

本願発明の表作成装置１００は、１又は複数の条件値と、該条件値をソフトウェアに入力したときに期待される結果値と、を含むテスト項目リストを生成する表作成装置である。例文帳に追加

The table creation apparatus 100 creates a test item list including one or more condition values and result values expected as the condition values are input into software. - 特許庁

予め、テスト加工工程で形成された表面変質層の膜厚を実測し、加工条件と表面変質層の膜厚を関係付ける加工条件テーブルＴ１を作成する。例文帳に追加

The thickness of the surface deterioration layer formed at a test process is actually measured, beforehand, and a processing condition table T1 is created which is to be related to the processing conditions and the surface deterioration layer. - 特許庁

ついで、ブロック不良と判断されたテストについて試験条件記憶部２４に格納されている試験条件に従い自動的に再試験を行う。例文帳に追加

Next, a retest is automatically made according to the test condition stored in the test condition memory portion 24 with respect to the test determined to be block failure. - 特許庁

テストモード制御部２２は、チャープの中心周波数等の送信条件を変えながら、送信条件ごとに超音波探触子１０に超音波チャープパルスを送受波させる。例文帳に追加

A test mode control unit 22 makes an ultrasonic probe 10 transmit and receive ultrasonic chirp pulse on every transmission condition while changing transmission conditions, such as a central frequency of chirp. - 特許庁

本発明は、暫定パルス条件導出ステップ（Ｓ５０２）と、テスト領域反射光測定ステップ（Ｓ５０２）と、最終パルス条件導出ステップ（Ｓ５０３〜Ｓ５０６）と、記録実行ステップ（Ｓ５０６）とを備える。例文帳に追加

This invention comprises a step (S502) for deriving an temporary pulse condition, a step (S502) for measuring test area reflection light, steps (S503 to S506) for deriving an final pulse condition, and a step (S506) for performing recording. - 特許庁