「DC Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DC BURN-IN TEST OF DRAM WITH SELF-REFRESH FUNCTION例文帳に追加

自己リフレッシュ機能付きＤＲＡＭのＤＣバ—ンイン・テスト - 特許庁

DC CHARACTERISTIC TEST CIRCUIT OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動信号出力回路のＤＣ特性テスト回路 - 特許庁

PROBE FOR IC TEST AND DC TESTING DEVICE FOR IC例文帳に追加

ＩＣ試験用プローブ及びＩＣの直流試験装置 - 特許庁

To suppress test costs by enabling a DC burn-in test using an equalizer circuit in place of a dynamic burn-in test.例文帳に追加

ダイナミックバーンイン試験に代えてイコライズ回路を使用したＤＣ的なバーンイン試験を可能としてテストコストを抑制する。 - 特許庁

A DC unit 3 performs a DC test (DC current precision test) for measuring the output voltage, current applied voltage, and voltage applied current of the measured device 2.例文帳に追加

ＤＣユニット３は、被測定デバイス２の出力電圧測定，電流印加電圧測定及び電圧印加電流測定を行うＤＣテスト（直流精度試験）を行う。 - 特許庁

A DC bias is determined based on a DC current flowing when a test bias in which a DC bias is superposed with an AC bias is applied.例文帳に追加

直流バイアスと交流バイアスを重畳させたテストバイアスを印加した時に流れる直流電流に基づき、直流バイアスを決定する。 - 特許庁

A plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 have one ends connected to the DC bus 60 and the other ends connected to test pieces 31 to 33.例文帳に追加

複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３は、一端が直流バス６０に接続され、他端が試料３１〜３３に接続され。 - 特許庁

In the test board for the semiconductor tester, signal wiring suitable for each method for a DC test and a function test is used and the signal wiring is switched, in response to a test method by providing a switching circuit.例文帳に追加

半導体テスター用テストボードにおいて、DCテストとファンクションテストのそれぞれの手法に適した信号配線を用い、切り替え回路を備えることにより、テスト手法に応じ信号配線の切り替えを行う。 - 特許庁

DC POWER SYSTEM, TEST METHOD THEREFOR, AND PROGRAM FOR IMPLEMENTING TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

直流電源システムとその試験方法ならびに直流電源システムの試験方法を実行するためのプログラム - 特許庁

Besides, a DC level of a driver in the same test pin is used as a determination level.例文帳に追加

また、判定レベルとして、同じテストピン内のドライバのＤＣレベルを用いた。 - 特許庁

To realize an integrated circuit which reduces the time for DC performance test, tests even with a tester having no testing circuit necessary for DC performance test.例文帳に追加

ＤＣ特性試験に要する時間を短縮でき、ＤＣ特性試験に必要な測定回路を有さないテスタでも試験が行える集積回路の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide a DC test terminal which has a high breakdown strength and by which essential DC performances of a plastic insulated cable can be secured.例文帳に追加

プラスチック絶縁ケーブル本来の直流性能を把握することのできる破壊強度の高い直流試験端末の提供。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF GENERATING DC TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路の故障検出方法およびＤＣテストパターン発生方法 - 特許庁

Third pads 130, 230 receive a third power supply TVcc during the test operation of an AC characteristic after the test operation of the DC characteristic.例文帳に追加

第３パッド１３０，２３０はＤＣ特性テスト動作後のＡＣ特性テスト動作の間に、第３電源ＴＶｃｃを受け入れる。 - 特許庁

A control device 50 controls the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 to control charging and discharging for the plurality of test pieces 31 to 33 by the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23.例文帳に追加

制御装置５０は、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３を制御して、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３による複数の試料３１〜３３に対する充放電を制御する。 - 特許庁

To perform a function test and a DC test without requiring a new performance board and without increasing the number of terminals.例文帳に追加

新たなパフォーマンスボードを必要とすることなく、また端子数を増大させることなく、ファンクション試験およびＤＣ試験を実施可能にする。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

At that time, the control device 50 controls the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 according to a charging and discharging pattern of the plurality of test pieces 31 to 33.例文帳に追加

その際、複数の複数の試料３１〜３３の充放電パターンに応じて、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３を制御する。 - 特許庁

To shorten testing time by simultaneously conducting the DC characteristic tests of a plurality of input buffers per one step of the DC characteristic test.例文帳に追加

ＤＣ特性テストの１ステップ当たり複数個の入力バッファのＤＣ特性テストを同時に行うことによりテスト時間の短縮を可能とする。 - 特許庁

To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.例文帳に追加

直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

By the first pads, a first power supply which is transmitted through a probe card from a test system is transmitted to a first power-supply line 111 during the test operation of a DC characteristic.例文帳に追加

第１パッドはＤＣ特性テスト動作の間に、テストシステムからプローブカードを通じて伝達される第１電源を第１電源ライン１１１に伝達する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit having a BIST circuit, which is, for example, capable of reducing imbalances in application of DC stress to memory cells when used in burn-in test.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を有するメモリテスト回路において、例えばバーンイン試験に利用する場合に、メモリセルへのＤＣストレス印加の偏りを抑制可能にする。 - 特許庁

In the optical disk recording and reproducing method, when reproducing a test recording area where the test recording is executed, DC erasing power in which a reproduced signal is a predetermined amplitude value is operated in each writing power condition.例文帳に追加

また前記テスト記録を実施したテスト記録領域を再生した際、再生信号が所定の振幅値となるDC消去パワーを書込みパワー条件毎に演算することを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 特許庁

The probe card includes wiring and probes exclusively for a DC test for performing a DC test of one semiconductor chip on a wafer to be tested on which a plurality of semiconductor chips are formed and wiring and probes exclusively for an AC test for performing an AC test of another semiconductor chip.例文帳に追加

本発明のプローブカードは、複数の半導体チップが形成された被試験ウエハの１つの半導体チップに対してＤＣ試験を行うためのＤＣ試験専用の配線及び探針と、他の１つの半導体チップに対してＡＣ試験を行うためのＡＣ試験専用の配線及び探針と、を有する。 - 特許庁

To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加

光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁

The DC measuring part 31 on the signal route of the test object measures the value of a current flowing in the resistance 151.例文帳に追加

試験対象の信号経路のＤＣ測定部３１は抵抗１５１に流れる電流の値を測定する。 - 特許庁

This electrostatic breakdown test device has a main body device 3 having both a dc power source V generating a predetermined dc voltage and having its negative electrode connected to ground and a resistance R1 connected to the positive electrode of the dc power source V.例文帳に追加

所定の直流電圧を発生しかつ負極がグランドと接続された直流電源Ｖと、この直流電源Ｖの正極に接続された抵抗Ｒ１とを有した本体装置３を備える。 - 特許庁

For example, it is a DC measuring test, and a voltage at an external terminal (a power supply terminal and an I/O terminal) 12 or a current passing the external terminal 12 is measured in terms of a DC.例文帳に追加

例えば、ＤＣ測定試験であり、外部端子（電源端子及びＩ／Ｏ端子）１２の電圧や外部端子１２を通過する電流等をＤＣ的に測定する。 - 特許庁

In the DC test, a test signal for the DC test is output from the tester 20 and is input into each logic circuit 31, and an output signal output from each logic circuit 31 is returned to the tester 20 by time sharing in each semiconductor integrated circuit via the input/output terminals B1-Bm and F1-Fm.例文帳に追加

ＤＣ試験時には、テスタ２０からＤＣ試験用のテスト信号を出力させて各論理回路３１に入力させ、各論理回路３１から出力する出力信号を入出力端子Ｂ１〜Ｂｍ，Ｆ１〜Ｆｍを介して半導体集積回路毎に時分割でテスタ２０に戻す。 - 特許庁

The charging and discharging pattern of the plurality of test pieces 31 to 33 is scheduled to minimize the regenerative power supplied from the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 to the bidirectional AC-DC converter 11.例文帳に追加

複数の試料３１〜３３の充放電パターンは、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３から双方向ＡＣ−ＤＣコンバータ１１に供給される回生電力が最小化されるようスケジュールされている。 - 特許庁

To solve the problem that the unexpected high frequency open defect of a capacitor due to breaking of the capacitor or wiring connected thereto can not be detected through a DC test.例文帳に追加

直流試験ではキャパシタやそれに接続される配線の切断によるキャパシタの予期しないオープンを検出できない。 - 特許庁

A dc power supply 28 produces a potential difference between the plates 22 and 24 to make an electric field act on the concrete test piece 12.例文帳に追加

直流電源２８により電極板２２，２４間に電位差を与えることで、コンクリート試験片１２に電界を作用させる。 - 特許庁

Subsequently, generates a test pattern C (S10), stores the image density Dc (S11) and adjusts a PWM value by an edge processing section to make Da1 to Da4 and Dc equal to each other (S12 and S13).例文帳に追加

次にテストパターンＣを生成して（Ｓ１０）、画像濃度Ｄｃを記憶し（Ｓ１１）、Ｄａ１〜Ｄａ４とＤｃが等しくなるようにＰＷＭ値をエッジ処理部にて調整する（Ｓ１２、Ｓ１３）。 - 特許庁

A rectifier circuit formed inside the wafer 1 converts the ac power into dc power to obtain the electric power for the burn in test.例文帳に追加

該ウエハ１の内部に形成した整流回路は該交流電力を直流電力に変換して該バーンイン試験のための電力とする。 - 特許庁

Thus, in comparison with a conventional device for applying a DC voltage on a test electrode, large Coulomb force can be generated between the heavy weight 11 and the electrode 12, thus performing a precise operation test.例文帳に追加

これにより、直流電圧を試験電極に加える従来のものと比較して、大きなクーロン力を重錘体１１と電極１２間に発生させることができ、高精度の動作試験が行える。 - 特許庁

O.) are performed between the DC stress test method of the simple body TEG and an aging test method.例文帳に追加

本発明は、単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法とエージング試験法との間にＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験とリングオシュレータ（Ｒ．Ｏ．）を用いたＡＣストレス試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Moreover, gaps in the glass films can be reduced, and in a high-temperature DC bias test, deterioration of the dielectric strength and increase in the leakage current can be avoided.例文帳に追加

また、ガラス中の空隙を減少させ、高温直流バイアス試験において、耐圧劣化やリーク電流の増大を防止することができる。 - 特許庁

However, a current changes in association with the change in the rotary speed of the DC motor, and there is the possibility of overloading trend at a surveillance test.例文帳に追加

しかし、直流電動機では回転速度の変化に伴って電流が変化し、サーベイラインス試験時に過負荷傾向となる恐れがあった。 - 特許庁

To generate a test mode signal using a pad for outputting DC voltage of a DC voltage generating section in the inside of a chip without using another input pad.例文帳に追加

別の入力パッドを用いず、チップ内部の直流電圧発生部の直流電圧出力用パッドを用いてテストモード信号を発生できるようにするモード信号発生装置を有する半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.例文帳に追加

スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁

For shortening the waiting time from voltage impression to the measurement of a current, a function of detecting a current converging state is provided in a DC measurement unit, and consequently, a minimum test time in the machine number by means of the same kind of tester can be realized.例文帳に追加

電圧を印加してから電流測定までの待ち時間を電流の収束具合を検出する機能をDC測定ユニットに負荷し、同一機種のテスターのその号機における最短のテストタイムを実現する。 - 特許庁

To efficiently test a breaker by simplifying a breaker equipment and making it generate a breaking voltage similar to the inter-electrode voltage of an actual breaker, without relying on a direct test of breaking performance of a DC breaker.例文帳に追加

直流遮断器の遮断性能を直接試験によらず、遮断器設備を簡易化し、実際の遮断器の極間電圧と類似した遮断電圧を発生させて遮断器の試験を効率よく行う。 - 特許庁

A testing control circuit operates during a test in which DC voltages are supplied to the first and second terminals so as to generate signals for allowing the inner circuit to operate.例文帳に追加

テスト制御回路は、第１および第２端子に直流電圧が供給されるテストモード中に動作し、内部回路を動作させる信号を生成する。 - 特許庁

To provide an electron beam test system capable of judging High/Low with respect to a DC signal and a signal having no change in potential from the previous time of timing to be observed.例文帳に追加

ＤＣ信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもＨｉｇｈ／Ｌｏｗを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加

高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁