「Equipment Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEFECT REVIEW SYSTEM, DEFECT REVIEW METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

欠陥レビューシステム、欠陥レビュー方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF WHEEL DEFECT AND ITS EQUIPMENT例文帳に追加

車輪損傷の検出方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検出法および装置 - 特許庁

INSPECTION SUPPORT EQUIPMENT FOR DEFECT IN INTERIOR OF CAST例文帳に追加

鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁

DEFECT LIABILITY MANAGEMENT SYSTEM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT AND SECONDARY BATTERY例文帳に追加

電子機器及び二次電池の瑕疵保証管理システム - 特許庁

METHOD OF OBSERVING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR INSPECTING DEFECT OF POROUS CERAMIC MEMBER例文帳に追加

多孔質セラミック部材の欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁

AUTOMATIC WELDING, DEFECT REPAIR METHOD AND AUTOMATIC WELDING EQUIPMENT例文帳に追加

自動溶接及び欠陥補修方法並びに自動溶接装置 - 特許庁

To resolve a defect of peripheral equipment by automatically selecting appropriate firmware in accordance with defect situations of the peripheral equipment.例文帳に追加

周辺機器の不具合状況に応じた適切なファームウェアを自動的に選択し周辺機器の不具合を解消させること。 - 特許庁

Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

The printed matter inspecting system 1 has inspecting equipment 2, defect removing equipment 20 and a control part 30.例文帳に追加

印刷物検査システム１は、検査装置２及び欠陥除去装置２０及び制御部３０を備える。 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND EQUIPMENT FOR MASK DEFECT INSPECTION例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査プログラムおよびマスク欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

EQUIPMENT, SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム、欠陥検査方法および欠陥検査プログラム - 特許庁

Since the equipment had defect, it was used only for 2 years and later drawing (Kozaikikaizushiki) specification of equipment for judicial hanging was introduced. 例文帳に追加

だが、この処刑器具には欠陥があり、わずか2年しかつかわれず絞罪器械図式に変更された。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a method of an electron beam welding and equipment therefor by which a welding defect is suppressed.例文帳に追加

溶接欠陥を抑制できる電子ビーム溶接方法とその装置の提供。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL PANEL, PICTURE DISPLAY APPLICATION EQUIPMENT, AND METHOD FOR ELIMINATING BRIGHT DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネル、画像表示応用機器、および液晶パネルの輝点解消方法 - 特許庁

A detection frequency integration part 112 integrates a detection frequency of the defect of the monitored equipment.例文帳に追加

検知回数積算部１１２は、被監視機器の不具合の検知回数を積算する。 - 特許庁

To provide a defect classification equipment for eliminating the need of any threshold at the time of extracting any defect, and for performing classification with high robustness to a threshold.例文帳に追加

欠陥抽出時の閾値が不要な、または閾値に対してロバスト性の高い分類を行うことが可能な欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁

equipment failure attributable to some defect in a circuit (loose connection or insulation failure or short circuit etc.) 例文帳に追加

回路の若干の欠陥に起因している器材故障（接続不良、絶縁不良または短など） - 日本語WordNet

To provide bone prosthesis filling equipment which can produce an animal model with a bone defect having a stable quality by using a single tool without requiring the skill for producing the animal model with the bone defect.例文帳に追加

骨欠損動物モデルの作成に熟練を要することなく、単一の工具で安定した品質の骨欠損動物モデルを作成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a change-over damper for a conveyer eliminating the operation defect of the change-over damper and reducing equipment cost.例文帳に追加

切換ダンパーの作動不良を無くし、比較的設備費用の安価なコンベアの切換ダンパーを提供する。 - 特許庁

To provide a die casting equipment capable of restraining gas entrainment and preventing the occurrence of a defect.例文帳に追加

ガスの巻き込みを低減し、欠陥の発生を防止することができるダイカスト装置を提供すること。 - 特許庁

To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.例文帳に追加

表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁

The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.例文帳に追加

欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁

An equipment candidate causing the defect in a plurality of pieces of equipment is specified, on the basis of information displaying the substrate and production history information.例文帳に追加

その基板を表す情報と製造履歴情報とに基づいて、複数の設備のうち不良発生の原因となった原因設備候補を特定する。 - 特許庁

To provide a method of a laser beam welding and a laser beam welding equipment by which a weld defect is decided in a short time and the weld defect is decreased.例文帳に追加

溶接不良の判別を短時間で行えるとともに、溶接不良を減少させることのできるレーザ溶接方法及びレーザ溶接装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a mobile object position detection system which eliminates a defect (defect in mobile object position detection system by GPS) that processing by radio equipment becomes complicated and the defect (defect in mobile object position detection system by a beacon) that a beacon device and a beacon receiver have to be installed apart from the radio equipment.例文帳に追加

無線装置の処理が複雑になるという欠点（ＧＰＳによる移動体位置検出方式での欠点）、ビーコン装置及びビーコン受信装置を無線装置とは別に設置しなければならないという欠点（ビーコンによる移動体位置検出方式での欠点）を除去した移動体位置検出方式を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide ultrasonic test equipment capable of improving accuracy with which an internal defect of an inspection object is detected.例文帳に追加

被検査体の内部欠陥を検出する精度を向上させることができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To prevent image moire fringes of relatively low magnification by an image-type defect inspection equipment.例文帳に追加

画像式欠陥検査装置において相対的に低倍率の画像のモアレを回避することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide one side spot welding equipment which can stably form a joint, and also, can prevent the generation of a hole opening defect.例文帳に追加

接合部を安定して形成し、且つ、穴明き不良の発生を防止できる片側スポット溶接装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for repairing a structure, suitable for equipment in a nuclear reactor developing cracking defect on the surface and containing inclusion, such as water, oxide, in the inner part of the above defect.例文帳に追加

表面に亀裂状欠陥が発生し、前記欠陥の内部に水，酸化物等の介在物を含む構造物、好適には原子炉炉内機器の補修方法を提供する。 - 特許庁

To simultaneously connect plural external devices without a defect of connection with portable terminal equipment, concerning an interface device for connecting a portable terminal equipment to an external device.例文帳に追加

携帯端末装置を外部装置に接続するインターフェイス装置で、携帯端末装置との接続不良を招かず、しかも、複数の外部装置を同時に接続すること。 - 特許庁

To provide printing equipment which enables adequate determination of a defect of an illuminating light source, in regard to the printing equipment having an image pickup part for picking up an image of printed matter.例文帳に追加

印刷物を撮像する撮像部を有する印刷装置において照明光源の不良を適切に判定することができる印刷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a loader control equipment which prevents a loader from occurring abnormal action and handing defect caused by core shifting of chuck, when a work is handed to a chuck of external equipment.例文帳に追加

外部装置のチャックに対してワークを受け渡すに時に、チャックの芯ずれに起因するローダの異常動作や受渡し不良等が生じることを防止する。 - 特許庁

To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.例文帳に追加

誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁

SPONTANEOUS LIGHT EMISSION MODULE, ELECTRONIC EQUIPMENT MOUNTED WITH SAME MODULE, AND METHOD FOR VERIFYING DEFECT STATE OF SAME MODULE例文帳に追加

自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法 - 特許庁

To provide an integrated circuit device enabling a memory to be stacked while reducing occurrence of a wiring defect etc., and to provide electronic equipment and the like.例文帳に追加

配線不良の発生等を低減しながらメモリーのスタックを可能にする集積回路装置及び電子機器等の提供。 - 特許庁

This is a method for making a maintenance plan by operating the risk assessment of equipment with the matrix of the scale and defect probability of a damage.例文帳に追加

被害の大きさと損傷確率のマトリックスで設備機器のリスク評価をなしメンテナンス計画を立案する方法である。 - 特許庁

Updating the version of the corresponding software under certain conditions, the relevant equipment 30 automatically repairs the trouble of an operation defect.例文帳に追加

該当する機器３０は、一定条件下でその対応ソフトウェアにバージョンアップして、動作不良の不具合を自動で修復する。 - 特許庁

When the surface defect inspecting device detects the surface defect of the wafer and it is decided through the evaluation of the sensor data that the sensor data are abnormal, it is decided that the coating development processing equipment is abnormal.例文帳に追加

そして、表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出され、なおかつセンサデータの評価によりセンサデータが異常と判定された場合に、塗布現像処理装置を異常と判定する。 - 特許庁

The method for detecting the external surface defect is used for detecting the external surface defect of the tubular material in the production equipment of the tubular material P in which the sizer M2 is installed downstream of the elongator M1.例文帳に追加

本発明に係る外面疵検出方法は、延伸圧延機Ｍ１の下流に定径圧延機Ｍ２を設置した管材Ｐの製造設備において管材の外面疵を検出する方法である。 - 特許庁