「Equipment Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a processing apparatus in which the defect of equipment known is removed, mechanical structure is simple, and operates with high reliability.例文帳に追加

知られている装置の欠点を取り除き、機械的に簡単に構成され、かつ高信頼性で作動する処理装置を提供する。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 collects states of respective parts and generates logs when the defect is detected during processing execution, transmits the logs to a DB server 4, and inquires whether or not there is any firmware whose defect can be resolved.例文帳に追加

周辺機器１は、処理実行中に不具合が検出された場合に各部の状態を収集しログを生成し、ログをＤＢサーバ４へ送信し不具合を解決可能なファームウェアの有無を問い合わせる。 - 特許庁

To provide a display element with superior reliability that prevents a dielectric layer from peeling caused by a dot defect even when the dielectric layer having the dot defect, and electronic equipment using the same.例文帳に追加

誘電体層に点欠陥が生じているときでも、点欠陥に起因して、誘電体層が剥離するのを防止することができる信頼性に優れた表示素子、及びこれを用いた電気機器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preventing a seed from causing a defect in germination and rosette formation which can easily be performed and allows simply seeding after treating without requiring a large-scale equipment in relation to the seed easy to cause the defect in germination and the rosette formation.例文帳に追加

発育不良、ロゼット化を生じやすい種子に関して、すなわち、大がかりな設備が不要で容易に実施でき、処理後の播種が容易な種子の発芽不良・ロゼット化防止方法を提供する。 - 特許庁

This device of the present invention is an improved pixel inspection device wherein a desired inspection pattern is displayed on the display equipment to be inspected, wherein light from the pixel of the display equipment is detected by a plurality of photoreceiving elements, and wherein the defect of the pixel of the display equipment is inspected.例文帳に追加

本発明は、被検査表示機器に所望の検査パターンを表示させ、表示機器の画素からの光を複数の受光素子で検出し、表示機器の画素の欠陥を検査する画素検査装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide laser irradiation equipment used for annealing that can control the generation of a defect by developing an annealing method using a pulsed laser.例文帳に追加

パルスレーザを用いたアニール方法を発展させ、欠陥の発生を抑制することが可能なアニールに用いられるレーザ照射装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing information management system in which a relationship between a defect of a product and trouble of manufacturing equipment can be found out even after shipping of the product.例文帳に追加

製品出荷後でも製品の不良と製造装置の不具合の関係を究明可能な製造情報管理システムを提供する。 - 特許庁

A decision part 118 decides that a fault occurs in the monitored equipment when the defect occurrence rate becomes the reference value or above as the result of the comparison.例文帳に追加

判定部１１８は、比較の結果、不具合発生率が基準値以上となる場合に、被監視機器に故障が発生したと判定する。 - 特許庁

To provide an equipment for forming a phosphor plane of a cathode- ray tube capable of preventing an occurrence of a defect caused by a bounce of the phosphor on a panel 1.例文帳に追加

パネル１への蛍光体の跳ね返りに起因した欠陥の発生を防止できる陰極線管の蛍光面形成装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect in operation in the case of battery-over state during the battery operation of computer peripheral equipment connected to a portable information processor.例文帳に追加

携帯型情報処理装置に接続するコンピュータ周辺機器のバッテリ動作中におけるバッテリ切れ時の動作不良を防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide ultrasonic seam welding equipment and an ultrasonic seam welding method which can prevent the generation of a joining defect.例文帳に追加

本発明は、接合不良の発生を防止することができる超音波シーム溶接装置および超音波シーム溶接方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a defect-inspecting device for adjusting white balance parameters in real time while following the change over aging on various characteristics of equipment and parts without depending on the fixed parameters.例文帳に追加

固定パラメータによらないで、機器や部品の諸特性の経時的変動に追従してホワイトバランスパラメータをリアルタイムで調整する欠陥検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor substrate capable of reducing a defect white blemish of a solid-state image-pickup equip ment and a method for manufacturing the solid-state image-pickup equipment.例文帳に追加

固体撮像装置の白傷欠陥を低減することができる半導体基板の製造方法および固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When a defect of a chip component is detected by an automatic appearance inspecting device 1, a substrate to be inspected is sent to X-ray transmission equipment and photographed.例文帳に追加

自動外観検査装置１でチップ部品の欠落が検出されると、その検査対象の基板はＸ線透過撮影装置に送られて、撮影がなされる。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of automatically detecting a connector setting defect and cable breakage (open state) without the need for confirmation by an inspector or a repairer.例文帳に追加

コネクタセット不良・ケーブル断線（開放状態）を検査員または修理者による確認を必要とせず、自動で検出できる電子機器を提供する。 - 特許庁

To prevent defect caused by overcurrent when the overcurrent flows into a circuit on a game machine side from an unused power line inside island equipment.例文帳に追加

島設備内の使用されていない電源線から遊技機側の回路に過電流が流入するときに、その過電流による不具合の発生を防止する。 - 特許庁

To provide the bulk communication method and the bulk communication equipment by which bulk communication is attained even in the case that a delay cannot be corrected due to a defect at a receiver side.例文帳に追加

受信側の不良により遅延補正ができない場合でもバルク通信を可能にするバルク通信方法及びバルク通信装置を提供する。 - 特許庁

To develop a forming process of forged product free from defect such as crack without either enlargement and complication of equipment or deterioration in dimensional accuracy of forged product.例文帳に追加

設備の大型化や複雑化、鍛造品の寸法精度の低下等を招くことなく、クラック等の欠陥のない鍛造品の成形を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a defect ratio of memory parts can be suppressed low even if the defect ratio of individual memory cells are high and properties of individual memory cells are changed after shipping of products, and electronic equipment using the same.例文帳に追加

個々のメモリセルの不良率が高くても、また、個々のメモリセルの特性が製品出荷後に変動しても、メモリ部の不良率を低く抑えることができる半導体記憶装置およびそれを用いた電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a vapor phase growth equipment and a vapor phase growth method with the equipment, which enable to control defect caused at a particle surface and to grow a thin film having a uniform composition.例文帳に追加

パーティクル等の表面欠陥の発生を有効に抑制することができ、均一な組成の薄膜を成長させることのできる気相成長装置およびその装置を適用した気相成長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning liquid for an aluminum sheet which has no scales composed of calcium carbonate causing the defect of the aluminum sheet, and has excellent maintenance properties of cleaning equipment as well, to provide a cleaning method therefor and the cleaning equipment.例文帳に追加

アルミニウム板の不良原因となる炭酸カルシウムのスケール等の発生がなく、また、洗浄設備のメンテナンス性にも優れた、アルミニウム板の洗浄液およびその洗浄方法ならびに洗浄設備を提供する。 - 特許庁

A defect is detected which is generated in a wafer on which a pattern is formed, and positional relationships between a coordination system for indicating a defect position used by an inspection equipment 1 for outputting the position where the detected defect is generated and a coordination system used in the design data of the pattern are set in multiple ways (steps S3 and S4).例文帳に追加

パターンが形成されたウェハに発生した欠陥を検出し、検出した欠陥の発生位置を出力する検査装置１が使用する欠陥位置を指し示すための座標系と、パターンの設計データにおいて使用される座標系と、の間の位置関係を複数設定する（ステップＳ３、Ｓ４）。 - 特許庁

And each of the set positional relationships is used to position the defect output by the inspection equipment 1 and the design data, and a local pattern of the site at which the defect is positioned is extracted from the design data for every positional relationship (step S6).例文帳に追加

そして、設定された位置関係の夫々を用いて検査装置１が出力した欠陥位置と設計データとを位置合わせし、設計データから欠陥位置が位置合わせされた部位の局所パターンを位置関係毎に抽出する（ステップＳ６）。 - 特許庁

To prevent exhaust defect, quality defect and the corrosion of ambient equipment, to prevent the reduction of operation rate due to the exchange of the exhaust pipe and to reduce the maintenance cost by preventing clogging of an exhaust pipe, the entrainment of the air and the indoor leakage of a dehydrated process gas.例文帳に追加

排気管詰まり、大気巻き込み、脱水プロセスガスの室内漏洩が生じないようにし、排気不良、品質不良、周辺設備の腐食を防止するとともに、排気管交換による稼働率低下の防止や、補修費の低減を図る。 - 特許庁

To provide a metal strip surface defect preventive method and surface defect preventive equipment capable of using a metal strip after performing the shape correction by a roller type leveler device, and efficiently removing foreign matters on the surface of the metal strip.例文帳に追加

ローラ式レベラー装置により形状矯正を行って、その後金属帯を使用する金属帯表面上の異物を効率的に除去することができる金属帯の表面欠陥防止方法および表面欠陥防止設備を提供する。 - 特許庁

To provide a facsimile equipment with which the occurrence of a defect on a receiver side telephone set, including a public telephone exclusive station number, is reduced through facsimile transmission to the telephone set.例文帳に追加

電話機へのファクシミリ発信による、公共の電話専用局番を含む受信側電話機の被る被害の発生を減らすことができるファクシミリ装置を提供する。 - 特許庁

To well recognize defect when a crack is generated in a solder ball with a package using the solder ball such as a BGA package and CSP mounted on an equipment.例文帳に追加

ＢＧＡパッケージやＣＳＰなどの半田ボールを用いたパッケージが機器に実装された状態にて、半田ボールにクラックが入ったときの欠陥を良好に認識する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a film carrier tape which does not have a defect in outer appearance of a formed plated surface, and to provide electroless tin plating equipment used to manufacture the same.例文帳に追加

形成されためっき面の外観不良が発生しないフィルムキャリアテープの製造方法とその製造に用いられる無電解スズめっき装置を提供する。 - 特許庁

To easily judge which of deterioration etc., due to secular change etc., of equipment and poorer eyesight etc., of an observer causes a video display defect of a head mount display.例文帳に追加

ヘッドマウントディスプレイの映像表示不良の原因が、機器の経年変化等による劣化等であるのか、観者の視力低下等であるのかを簡便に判断する。 - 特許庁

To surely prevent the defect, such as crack, at the initial stage of casting with a simple method without using a complicate equipment.例文帳に追加

複雑な設備を用いず、簡便な方法で鋳造初期段階での割れ等の欠陥を確実に予防できるアルミニウム合金ビレットの縦型連続鋳造方法を提案する。 - 特許庁

To provide the inspection equipment that inspects a defect at the edge part of a semiconductor wafer or the like, wherein the scattered light from an edge part of an object being inspected can be detected with surety.例文帳に追加

半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for automatically detecting an external surface defect (outside diameter dimple) of a tubular material in production equipment in which a sizer is installed downstream of an elongator.例文帳に追加

延伸圧延機の下流に定径圧延機を設置した管材の製造設備において、管材の外面疵（外径凹み疵）を自動的に検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sheet conveying equipment capable of generally performing a sheet conveying operation at a high speed and preventing a defect from occurring in the sheet conveying operation.例文帳に追加

シート搬送動作全体として高速度で行うとともに、シート搬送動作で不具合が発生するのを防止することができるシート搬送装置を提供すること。 - 特許庁

To easily find out a micro leak or a pin hole defect with simple constitution and high sensitivity without using a special equipment or device.例文帳に追加

特別な機械や装置を使用することなく簡単、かつ高い感度で微細な漏れ個所及び貫通欠陥を容易に見つけることができる有機溶剤漏洩検出具の提供。 - 特許庁

In such a manner, the defective pixel is corrected by using the defect information stored in the memory space block 10 and image signals after the correction are sent out to output equipment.例文帳に追加

このようにして、メモリ空間ブロック１０に格納した欠陥情報を用いて欠陥画素の補正を行い、補正後の画像信号を出力機器に送出する。 - 特許庁

To provide a wiring board which enables to get a circuit board with no defect in a bonding process under the influence of heat by a reflow furnace and the like, and also provide an equipment using a circuit board with such a reduced defect in a bonding process caused by heating.例文帳に追加

リフロー炉等での熱の影響を受けても接合不良の発生していない回路基板が得られるような配線基板を提供すること、および、そのような熱変形による接合不良が低減された回路基板を用いた電気機器を提供すること。 - 特許庁

To provide an electrooptical device capable of preventing the occurrence of a point defect and line defect due to the disconnection of an upper electrode material by preventing the deformation of an element portion and a holding capacitor portion due to a heat treatment process, and to provide electronic equipment.例文帳に追加

熱処理工程による素子部分および保持容量部分の変形を防止することにより、上電極材料の断線に起因する点欠陥や線欠陥が発生することを防止可能な電気光学装置および電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a calibration device for array type magnetic flaw detection equipment capable of calibrating easily sensitivity of an individual magnetic sensor for a micro-fine defect of a running thin steel sheet, in the array type magnetic-field test equipment, and a calibration method therefor.例文帳に追加

本発明は、アレイ型磁気探傷装置において、走行中の薄鋼板の微小欠陥に対する個々の磁気センサの感度校正が容易に行えるアレイ型磁気探傷装置の校正装置、及びその校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Coating/developing equipment 1 provided with a development processing unit for subjecting development processing to a wafer W is provided with an inspection device 48 for detecting a defect generated in the wafer W.例文帳に追加

ウエハＷに対して現像処理を施す現像処理ユニットを具備した塗布現像処理装置１に，ウエハＷに生じた欠陥を検出する検査装置４８を備える。 - 特許庁

To provide a multi-stage device for detecting a welding defect of a nut, which is built in a resistance welding equipment and applicable to the welding of a nut having different diameters.例文帳に追加

抵抗溶接機に組み込まれるナット溶接不良検出装置であって、異径ナットの溶接に対応できるようにした多段式ナット溶接不良検出装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, even if the shock due to the fall or the like is applied to the mobile electronic equipment 10, a circuit board 29 does not cause bending and displacement unlike before, so that the card 27 is prevented from causing contact defect.例文帳に追加

このため、携帯電子機器１０に落下等の衝撃が加わっても従来のように回路基板２９の反り、位置ずれが生じず、カード２７が接点不良を起こすことがない。 - 特許庁

To realize a pixel inspection device and a pixel inspection method that precisely inspect at least a defect of pixel even when the number of photoreceiving elements to one pixel of a display equipment to be inspected is small.例文帳に追加

被検査表示機器の１画素に対する受光素子数が少なくとも、画素の欠陥を精度良く検査する画素検査装置および画素検査方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

ASSEMBLY AND WELDING LINE FOR AUTOMOBILE BODY AND BODY COMPONENT OR EQUIVALENT, AND METHOD FOR IDENTIFICATION AND MANAGEMENT OF ERROR AND DEFECT IN EQUIPMENT BASED ON METHOD OF INVENTION例文帳に追加

自動車ボデー及びボデー部品又は同等品のための組立及び溶接ライン並びに本発明の方法による設備における誤差及び欠陥の識別及び管理のための方法 - 特許庁

To provide equipment or a chuck securing a thin and/or flexible substrate, and thereby sucking the substrate uniformly over the entire surface without a defect such as a warp or a bend.例文帳に追加

本発明は、薄くおよび／または可撓性のある基板を固定し、これにより反りや曲げの欠点なく基板を均一に全面的に吸引することができる装置またはチャックを提供する。 - 特許庁