Heterostructureを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 137件
To achieve normally ON type and normally OFF type nitride semiconductor heterostructure field effect transistors (HFET) of current collapse free and a high breakdown voltage, and to achieve the latter especially in the HFET.例文帳に追加
窒化物半導体ヘテロ構造電界効果トランジスタ(HFET)において、電流コラプスフリーで、かつ高耐圧の、ノーマリーオン型およびノーマリーオフ型のHFETを実現することであり、特に後者を実現すること。 - 特許庁
The nanowire heterostructure is generally based on a semiconducting wire in which the doping and composition are controlled in either the longitudinal or radial directions, or in both directions, to yield a wire that comprises different materials.例文帳に追加
ナノワイヤーのヘテロ構造は、一般的に、異なる物質を含むワイヤーを生成する、ドーピング及び構成が縦若しくは放射方向の何れかで制御されるか、又は両方向で制御される、半導体ワイヤーに基づく。 - 特許庁
An n-side GRIN-SCH (Grated Index-Separate Confinement Heterostructure) layer 4 is constructed with three layers, that is, a 1.0Q layer 4a with 20 nm thickness, a 1.1Q layer 4b with 20 nm thickness and a 1.2Q layer 4c with 20 nm thickness from the n-type InP substrate side.例文帳に追加
n側GRIN−SCH層4は、n型InP基板側から厚さ20nmの1.0Q層4a、厚さ20nmの1.1Q層4b、厚さ20nmの1.2Q層4cの3層で構成される。 - 特許庁
The epitaxial wafer for light-emitting diode has a double heterostructure, wherein a p-type GaAlAs clad layer 3, a p-type GaAlAs active layer 2, and an n-type GaAlAs clad layer 1 are formed successively on a p-type GaAs substrate 4.例文帳に追加
発光ダイオード用エピタキシャルウェハは、p型GaAs基板4上に、p型GaAlAsクラッド層3、p型GaAlAs活性層2、n型GaAlAsクラッド層1を順次形成したダブルヘテロ構造をしている。 - 特許庁
A semiconductor structure comprises: a silicon carbide wafer having a diameter of at least 100 mm; and a group III nitride heterostructure on the wafer, and exhibits high uniformity in many characteristics.例文帳に追加
半導体構造が開示され、この半導体構造は、少なくとも100mmの直径を有する炭化シリコンのウェハと、ウェハ上のIII族窒化物ヘテロ構造とを含んでおり、これは、多くの特性において、高い均一性を示す。 - 特許庁
The semiconductor device 10 includes: a semiconductor substrate 20; a semiconductor element 12 including a multilayer interconnect layer 11B formed on a principal surface of the semiconductor substrate 20; and a heterostructure magnetic shield 170 covering the semiconductor element 12.例文帳に追加
半導体装置10は、半導体基板20、半導体基板20の主面上に形成され、かつ多層配線層11Bを含む半導体素子12、および半導体素子12を被覆するヘテロ構造磁気シールド170を含む。 - 特許庁
The nano-columns 2 are each formed into a coaxially shaped heterostructure in which a core portion 21 made of an n-type GaN is surrounded by a cylindrical shell portion 22 made of an n-type AlGaN having a bandgap energy larger than that of the n-type GaN, and the core portion 21 itself is used as an active layer.例文帳に追加
ナノコラム2を、n型GaNから成るコア部21を、それよりバンドギャップエネルギーが大きいn型AlGaNから成る筒状のシェル部22で囲んだ同軸形状のヘテロ構造に形成し、コア部21自体を活性層とする。 - 特許庁
The X-ray detector (401, 501, 601) comprises a sensing element having a semiconductor heterostructure in which an undoped germanium layer (402, 502) is sealed between two gallium arsenide layers (403, 404, 503, 505) doped on the opposite side.例文帳に追加
X線検出器(401、501、601)は、ドープされていないゲルマニウム層(402、502)が、反対にドープされた2つのガリウム砒素層(403、404、503、505)の間に密閉された半導体ヘテロ構造を備えた検出素子を有している。 - 特許庁
The InGaP buffer layer 3 of thickness of 5 nm or more and 500 nm or less is formed on the semi-insulating GaAs substrate 1, and the heterostructure is formed by laminating an InAlAs layer 4 and an InGaAs channel layer 5 thereon.例文帳に追加
半絶縁性GaAs基板1上にInGaPバッファ層3を膜厚が5nm以上500nm以下に形成し、その上にInAlAs層4及びInGaAsチャネル層5を成層することによりヘテロ構造を形成する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for a semiconductor substrate which enables even a strain SiGe film having high Ge density to have a high strain relief degree, in manufacturing a semiconductor substrate having an SiGe/Si heterostructure.例文帳に追加
SiGe/Siへテロ構造を有する半導体基板の製造について、高濃度のGe濃度を有する歪SiGe膜においても高い歪み緩和度を達成することができる半導体基板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
In a semiconductor laser, having a double heterostructure composed of an n-type clad layer 103, an MQW active layer 105, and a p-type clad layer 106, an n-type saturable absorption layer 104 having a compressive strain, is provided in the n-type clad layer 103.例文帳に追加
n型クラッド層(103)と、MQW活性層(105)と、p型クラッド層(106)とからなるダブルへテロ構造の半導体レーザにおいて、n型クラッド層(103)中に圧縮歪みを有するn型可飽和吸収層(104)を設ける。 - 特許庁
To provide a method for fabricating a semiconductor laser in which the quality of a double heterostructure part including an n-type Multiple Quantum Well is enhanced by accelerating surface migration of group III material species thereby flattening the cross-sectional shape of a DH structure part.例文帳に追加
III族原料種の表面マイグレーションを促進することにより、DH構造部の断面形状を平坦化することで、n型多重量子井戸構造を含むダブルへテロ構造部の品質を向上させた半導体レーザの製造方法を提供する。 - 特許庁
A process for fabricating a heterostructure comprises a step of bonding a first wafer 110 to a second wafer 120, the first wafer 110 having a thermal expansion coefficient that is lower than the thermal expansion coefficient of the second wafer 120, and at least one bond-strengthening annealing step.例文帳に追加
第2のウェーハ120の熱膨張率よりも小さい熱膨張率を有する第1のウェーハ110を第2のウェーハ120に貼り合わせるステップと、少なくとも1つの貼り合わせ強化アニーリングステップとを備えたヘテロ構造を製造するためのプロセス。 - 特許庁
To provide a semiconductor optical element that more improves the characteristics by a structure of alleviating a parasitic capacitance in a semiconductor optical element having an embedded heterostructure, and also to provide an optical transmission module, an optical transmission and reception module, an optical transmission apparatus, and methods of manufacturing them.例文帳に追加
埋め込みヘテロ構造を有する半導体光素子において、寄生容量が軽減される構造にすることにより、特性がさらに向上される半導体光素子、光送信モジュール、光送受信モジュール、光伝送装置、及び、それらの製造方法の提供。 - 特許庁
In a GaN-HFET (Heterostructure Field-Effect Transistor), an undoped or n-type AlGaN layer 2 is formed on an undoped GaN layer 1, and a source electrode 3 and a drain electrode 4, both connected to the AlGaN layer 2, are formed on the AlGaN layer 2, while a gate electrode 5 is formed between the source and drain electrodes.例文帳に追加
GaN−HFETにおいて、アンドープのGaN層1上にアンドープ又はn型のAlGaN層2を設け、その上に、それぞれAlGaN層2に接続されたソース電極3及びドレイン電極4を設け、その間にゲート電極5を設ける。 - 特許庁
To shorten transit time of an electron in a high electric field region by locally forming the high electric field on the source end of a channel immediately below a gate electrode and implement excellent high speed operation of a transistor in a GaN based heterostructure field effect transistor.例文帳に追加
GaN系ヘテロ構造電界効果トランジスタにおいて、ゲート電極直下のチャネルのソース端に局所的に高電界領域を形成することで同領域における電子の走行時間を短縮し、同トランジスタの優れた高速動作を実現する。 - 特許庁
Then, an electrode forming region is exposed within the upper side surface of a heterostructure layer by wet etching using a room-temperature ammonia water as an etchant with a resist pattern as a mask to remove a part of the amorphous AlN thin film corresponding to the electrode forming region.例文帳に追加
次に、レジストパターンをマスクとし、室温アンモニア水をエッチャントとして用いたウェットエッチングを行うことにより、電極形成領域に対応するアモルファスAlN薄膜の部分を除去して、ヘテロ構造層の上側表面内の電極形成領域を露出させる。 - 特許庁
The boundary layer 108A exists between a surface exposed by etching for forming the ridge 111 and an Al containing layer or an upper side SCH (separated confinement heterostructure) layer 106 to avoid the exposure or oxidization of the upper side SCH layer 106 and a quantum well active layer 105.例文帳に追加
境界層108Aは、リッジ111を形成するためのエッチングにより露出する表面とAl含有層である上側SCH層106との間に存在し、上側SCH層106や量子井戸活性層105が露出して酸化することを回避する。 - 特許庁
A metal/insulator thin film heterostructure is used for a cold- cathode material forming a field emission element, one of diamond, AIN, and c-BN is used for an insulator layer, and one of Cu, Sn-Pb, Al, Ag, Au, W is used for a metal layer.例文帳に追加
電界放出素子を構成する冷陰極材料に金属/絶縁体薄膜ヘテロ構造を用いるにあたり、絶縁体層としてダイヤモンド、AlN、c−BNのいずれか一種を用い、金属層としてCu、Sn−Pb,Al、Ag、Au、Wのいずれか一種を用いる。 - 特許庁
A β-iron silicide crystal heterostructure is manufactured on a substrate by conducting a chemical vapor phase transportation method by setting up and sealing a polycrystalline iron silicide material, a transporting medium, a dopant material, and a substrate material composed of calcium fluoride, silicon, or iron at the crystal growing position of the substrate.例文帳に追加
多結晶鉄シリサイド原料物質、輸送媒体、ドーパント材料、および、基板材料としてフッ化カルシウム、シリコン、あるいは鉄を結晶成長位置に設置・封入して化学的気相輸送法を施すことによって、上記基板上にベータ鉄シリサイド結晶ヘテロ構造を作製する。 - 特許庁
A first n-type layer, second n-type layer, third n-type layer, active layer having a multiple quantum well structure, a first p-type layer, second p-type layer, third p-type layer and p-type contact layer are laminated in the order on an n-type contact layer and this light-emitting element has a double heterostructure.例文帳に追加
n型コンタクト層の上に、第一のn型層と、第二のn型層と、第三のn型層と、多重量子井戸構造を有する活性層と、第一のp型層と、第二のp型層と、第三のp型層と、p型コンタクト層とが順に積層され、ダブルへテロ構造を有する。 - 特許庁
In the control method of magnetic anisotropy, a heterostructure is prepared on a single crystal ferroelectric layer by epitaxially growing a ferromagnetic layer, and the magnetic anisotropy of the ferromagnetic is changed by a distortion occurring on the junction interface of the ferroelectric layer and the ferromagnetic layer by applying a voltage to the ferroelectric layer.例文帳に追加
単結晶強誘電体層上に、強磁性体層をエピタキシャル成長させたヘテロ構造体を準備し、強誘電体層に電圧を印加して強誘電体層と強磁性体層との接合界面に生じる歪みによって、強磁性体の磁気異方性を変化させる、磁気異方性制御方法。 - 特許庁
In a nitride semiconductor heterostructure, a conductive nitride epitaxial thin film is provided on a silicon carbide single crystal substrate having an effective mass ratio (α) of 0.5 or more and 1.5 or less defined as a value obtained by dividing the electron effective mass in a crystal (c) axis direction with the electron effective mass in (0001) face.例文帳に追加
結晶c軸方向の電子有効質量を(0001)面内の電子有効質量で除した値で定義される有効質量比αが0.5以上1.5以下である炭化珪素単結晶基板上に導電性の窒化物半導体エピタキシャル薄膜を配した窒化物半導体ヘテロ構造である。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a heterostructure comprising at least a first layer (102), made of a semiconductor material on a second layer (101) made of another material different from the material of the first layer, and to prevent the elements of the semiconductor material from diffusing into the first layer (102) or into neighboring layers due to vacancy mechanism.例文帳に追加
半導体材料からなる少なくとも第1の層(102)を、第1の層の材料とは異なる材料からなる第2の層(101)上に備えるヘテロ構造を製作する方法に関し、半導体材料の元素が、空孔機構によって、第1の層(102)内でまた隣接する層内に拡散するのを防止すること。 - 特許庁
The semiconductor heterostructure comprises a support substrate with a first in-plane lattice parameter, a buffer structure formed on the support substrate and having on top in a lattice relaxed state a second in-plane lattice parameter, and a multi-layer stack of ungraded layers formed on the buffer structure.例文帳に追加
本発明は、第1の面内格子定数をもつ支持基板と、該支持基板上に形成されていて、上部に格子緩和状態おいて第2の面内格子定数をもつ緩衝構造と、および該緩衝構造上に形成された組成非傾斜層の多層積層とを備えた半導体ヘテロ構造に関するものである。 - 特許庁
To provide a method for controlling the threshold voltage characteristics of a semiconductor device, especially a heterostructure modulation doped field-effect transistor fabricated on a semiconductor epitaxial film wafer containing InAlAs, without having a significant effect on other device characteristics, e.g. device shape.例文帳に追加
本発明の目的は、半導体デバイス特にInAlAsを含む半導体エピタキシャル膜ウェハに作製するヘテロ構造変調ドープ電界効果トランジスタのしきい値電圧特性を、デバイス形状変化等他のデバイス特性にも大きく影響をあたえることなく変え制御する方法を提供することである。 - 特許庁
The nitride semiconductor field-effect transistor has at its gate a channel comprising a double heterostructure which has an Al_xGa_1-xN layer, a GaN layer, and an Al_yGa_1-yN layer laminated in order in a +c direction of crystal orientation and is depleted by setting (x) and (y) in a relation of x≥y.例文帳に追加
結晶方位の+c方向にAl_xGa_1−xN層、GaN層、Al_yGa_1−yN層の順に積層されており、x≧yにすることにより空乏化しているダブルヘテロ構造からなるチャンネルをゲート部に有することを特徴とする窒化物半導体電界効果トランジスタによって解決される。 - 特許庁
In the high electron mobility transistor, which has a heterostructure consisting of an In_xGa_1-xN channel layer/In_yAl_zGa_1-y-zN wide band gap layer, the Al crystal ratio of the wide band gap layer is reduced with separation from hetero-interface, to accelerate the electronic mobility of the two-dimensional electron gas flowing through a channel layer.例文帳に追加
In_xGa_1−xNチャネル層/In_yAl_zGa_1−y−_zNワイドバンドギャップ層からなるヘテロ構造を有する高電子移動度トランジスタにおいて、そのワイドバンドギャップ層のAl混晶比をヘテロ界面から離れるに従って小さくすることにより、チャネル層を流れる2次元電子ガスの電子移動度を高速化する。 - 特許庁
To improve electron and hole mobilities in a channel party by employing a distorted Si/SiGe structure (or distorted Si/SiGeC structure), to keep the crystallinity of such a heterostructure in a proper condition, to prevent shortening of an effective channel length and diffusion of a Ge, and to reduce the resistance of the source layer and chain layer.例文帳に追加
歪Si/SiGe構造(または歪Si/SiGeC構造)を採用してチャネル部分の電子移動度または正孔移動度の向上を行うと共に、かかるヘテロ構造の結晶性を良好な状態に保ち、実効チャネル長の短縮を防ぎ、Geの拡散を防ぐと共に、ソース層およびドレイン層の抵抗を低くする。 - 特許庁
This device has a heterostructure composed of a first nonmagnetic barrier layer 2, a first ferromagnetic quantum well layer 4, a second nonmagnetic barrier layer 6, a second ferromagnetic quantum well layer 8, a third nonmagnetic barrier layer 10 laminated one above another.例文帳に追加
非磁性体の第1障壁層2と、強磁性体の第1量子井戸層4と、非磁性体の第2障壁層6と、強磁性体の第2量子井戸層8と、非磁性体の第3障壁層10とが積層されたヘテロ構造を有し、強磁性体の第1量子井戸層4及び第2量子井戸層8は伝導を担うキャリアのドブロイ波長より十分薄い層である。 - 特許庁
A high-mobility Ge channel field effect transistor with a layered heterostructure incorporates multiple semiconductor layers on a semiconductor substrate, and a channel structure of a compressively strained epitaxial Ge layer having a higher barrier or a deeper confining quantum well and having an extremely high hole mobility for complementary MODFETs and MOSFETs.例文帳に追加
半導体基板上に複数の半導体層と、より高いバリアまたはより深い閉じ込め量子井戸を有し、相補型MODFETおよびMOSFETのための非常に高い正孔移動度を有する圧縮ひずみエピタキシャルGe層のチャネル構造を取り込み、層状ヘテロ構造をもつ高移動度Geチャネル電界効果トランジスタを形成する。 - 特許庁
The object is solved by a heterostructure of the type, wherein the ungraded layers are strained layers, wherein the strained layers comprise at least one strained smoothing layer of a semiconductor material, having in a lattice relaxed state, a third in-plane lattice parameter which is between the first and the second lattice parameter.例文帳に追加
前記の目的は、該組成非傾斜層が歪み層であり、かつ、該歪み層が前記第1および第2の格子定数の中間の第3の面内格子定数を格子緩和状態において有する半導体材料の、歪を有する平坦化層を少なくとも1つ含んで構成されることを特徴とする、前記のタイプのヘテロ構造によって達成される。 - 特許庁
The group III nitride-based semiconductor light emitting element has a light emitting part of pn junction double heterostructure obtained by forming a lower barrier layer 104 of n-type group III nitride-based semiconductor, a light emitting layer 105 of III nitride semiconductor, and a p-type upper barrier layer 106 sequentially on a crystal substrate 101.例文帳に追加
結晶基板101上に、n形のIII族窒化物半導体からなる下部障壁層104とIII族窒化物半導体からなる発光層105とp形の上部障壁層106とを順次積層したpn接合型ダブルヘテロ構造の発光部を有するIII族窒化物半導体発光素子において、上部障壁層を、p形のリン化硼素(BP)系半導体とする。 - 特許庁
The light-emitting element 100 comprises the light-emitting layer 24 having a double heterostructure composed of AlGaInP lattice in matching with GaAs, a second transparent semiconductor layer 90 formed on the second main surface side of the light-emitting layer 24 by the HVPE method, and a first transparent semiconductor layer 91 formed on the first main surface side of the section 24 by the HVPE method.例文帳に追加
発光素子100は、GaAsと格子整合するAlGaInPからなるダブルヘテロ構造を有する発光層部24と、該発光層部24の第二主表面側にHVPE法により形成された第二の透明半導体層90と、発光層部24の第一主表面側に、HVPE法により形成された第一の透明半導体層91とを有する。 - 特許庁
The index guide type heterostructure nitride laser structure 100 has a first waveguide layer, a second waveguide layer, a multiple quantum well structure 145 interposed between the first and second waveguide layers, a ridge structure 111 having first, second and third faces, and a buried layer 155 existing on the first, second and third faces of the ridge structure 111.例文帳に追加
インデックスガイド型埋め込みヘテロ構造窒化物レーザ構造100は、第1導波層及び第2導波層並びに前記第1導波層と前記第2導波層との間に配置される多重量子井戸構造145を有し、第1、第2及び第3の面を有するリッジ構造111と、前記リッジ構造111の前記第1、第2及び第3の面の上に存在する埋め込み層155とを有する。 - 特許庁
In the method for fabricating a semiconductor laser where two stripe growth masks are formed on a semiconductor substrate and an optical waveguide of III-V compound semiconductor having double heterostructure is grown selectively in a region defined by the growth masks by organo- metallic VPE system, pressure of the V compound semiconductor is set in the range of 13.3-400 Pa.例文帳に追加
半導体基板上に2本のストライプ状の成長マスクを形成し、この成長マスクに挟まれた領域に、III−V族化合物半導体からなるダブルへテロ構造の光導波路を有機金属気相成長法を用いて、選択的に成長させる半導体レーザの製造方法において、前記V族の圧力を、13.3Pa乃至400Paとしたことを特徴とするものである。 - 特許庁
The light emitting element 100 comprises a light emitting layer 24 having a double heterostructure composed of AlGaInP, a first GaP light extraction layer 20 thicker than the light emitting layer 24 grown epitaxially on one major surface side of the light emitting layer 24, and a second GaP light extraction layer 90 thicker than the light emitting layer 24 grown epitaxially on the other major surface side of the light emitting layer 24.例文帳に追加
発光素子100は、AlGaInPからなるダブルへテロ構造を有する発光層部24と、発光層部24の一方の主表面側にエピタキシャル成長された発光層部24よりも厚い第一のGaP光取出層20と、発光層部24の他方の主表面側にエピタキシャル成長された発光層部24よりも厚い第二のGaP光取出層90とを備える。 - 特許庁
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