Light microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 886件
To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加
幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.例文帳に追加
共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁
Observation is carried out by means of an optical microscope 26 from an upper layer side by emitting illumination light from a lower layer side of the ceramic laminate at a position wherein the groove 19 is formed.例文帳に追加
溝19が形成された位置で、セラミック積層体13の下層側から照明光を照射して上層側から光学顕微鏡26で観察する。 - 特許庁
The illumination system 8 of a slit-lamp microscope (stereomicroscope) 1 is turnable in right and left directions and projects illumination light passed through an illumination diaphragm 56 to an eye to be examined.例文帳に追加
細隙灯顕微鏡(実体顕微鏡)1の照明系8は、左右方向に回動可能とされ、照明絞り56を経由した照明光を被検眼に投射する。 - 特許庁
To provide a laser microscope apparatus which can extend adjustment width of frequency difference of two pulse laser beams and can obtain coherent anti-Stokes Raman scattering light with high strength.例文帳に追加
2つのパルスレーザ光の周波数差の調整幅を広げることができ、強度の高いコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を得ることができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope which can obtain a satisfactory observation image by adequately ensuring a quantity of light around a visual field for observation without increasing the size of an objective lens.例文帳に追加
対物レンズの大型化を招くことなく、観察視野周辺の光量を十分に確保でき、良好な観察画像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm.例文帳に追加
結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope camera that enables optimum photographing by changing a quantity of illumination light/exposure time/camera gain in accordance with an amount of blur of an image of a subject.例文帳に追加
被写体の像のぶれ量に応じて、照明光量/露光時間/カメラゲインを変化させることにより、最適撮影を行うことができる顕微鏡カメラを提供する。 - 特許庁
To easily and stably obtain an observation image with high image quality while suppressing deterioration of a sample by increasing repetition frequency of ultrashort pulse light in a multiphoton microscope.例文帳に追加
多光子顕微鏡において、超短パルス光の繰り返し周波数を上げて試料の劣化を抑制するとともに、高画質の観察像を容易に安定して得る。 - 特許庁
To obtain an observation image having higher image quality, when an optical element capable of controlling the amplitude and phase of light independently is used for a scanning microscope.例文帳に追加
光の振幅と位相を独立して制御可能な光学素子を走査型顕微鏡に用いる場合に、より画質のよい観察画像を得ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.例文帳に追加
AF光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもAF装置を利用可能にするコンデンサレンズと、AF顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a bright-field light source for fluorescence observations which enables a simultaneous observation of a fluorescent affected area and the peripheral part and a surgical microscope loaded with the same.例文帳に追加
蛍光状態の患部と、その周辺部の同時観察を可能する蛍光観察用の明視野光源及びそれを搭載した手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscopic device reducing the influence of heat of illumination light on a microscope body part and having high detection accuracy and an exposure apparatus provided with the microscopic device.例文帳に追加
照明光の熱が顕微鏡本体部に及ぼす影響を低減した検出精度の高い顕微鏡装置及びこれを備えた露光装置を提供する。 - 特許庁
By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed.例文帳に追加
共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系12によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。 - 特許庁
To provide a fluorescent illuminating device for microscope which has solid illumination used as illumination light source for fluorescence observation and is excellent in protection of sample, operability and power-saving.例文帳に追加
蛍光観察の照明用光源として固体照明を用い、試料の保護、操作性、省電力化に優れた顕微鏡用蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope that allows stable examination by eliminating influence of ambient light while inhibiting damage to a specimen and fading of fluorescence.例文帳に追加
標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
After that, the laser beam carries out incidence to a wave length separating unit 6, and the only light having a fixed wave length is emitted and guided to an optical microscope for machining.例文帳に追加
その後,レーザ光は波長分離ユニット6に入射し,所定の波長を有する光のみが出射され,加工用光学系である顕微鏡9に導かれる。 - 特許庁
To provide a scanning confocal microscope that can prevent the occurrence of fringes by automatically adjusting a scanning zone of spot light and to thereby obtain proper observation images.例文帳に追加
スポット光の走査範囲を自動的に調整することで縞の発生を防止し良好な観察画像を得ることができるスキャン型コンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A nondestructive process for an evaluation of the subsurface damage of the optical element comprises to measure a reflection light intensity by focusing a microscope onto a point of the optical element.例文帳に追加
光学素子の表面下の損傷を評価するための非破壊的なプロセスは、光学素子内の点に顕微鏡の焦点を合わせ、反射光の強度を測定する。 - 特許庁
The microscope system 10 has a plurality of light emitting diodes 16, etc., ringed as a lighting means 14 for an observed body 13 and lights up the observed body from the outer circumferential side of a lens 10a.例文帳に追加
顕微鏡系10は、被観察物13の照明手段14として、複数個の発光ダイオード16・・・を環状にしてレンズ10aの外周側から照明する。 - 特許庁
The input section 141 of the light-receiving unit 140 is optically connected to the output port 113 of the microscope 110 via an optical fiber 153.例文帳に追加
受光ユニット140の入力部141は、光ファイバー153を介して、共焦点光学顕微鏡110の出力ポート113と光学的に接続される。 - 特許庁
To provide a microscope apparatus having improved resolution by re-condensing light which has been divided after outgoing from an objective lens group by one imaging lens group.例文帳に追加
対物レンズ群を射出した後に分割された光を、1つの結像レンズ群により再集光させることで解像力を向上させた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning tunneling microscope emission converging apparatus having a higher light converging efficiency in a vacuum without impairing the high space resolution of an STM.例文帳に追加
STMのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく、真空中でより高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を提供する。 - 特許庁
In this case, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of a laser beam and an output from a laser light source, according to the pupil diameter of the objective lens used in combination.例文帳に追加
ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、組み合わせる対物レンズの瞳径に合わせてレーザー光ビームの光束径とレーザー光源の出力を変更可能になっている。 - 特許庁
To provide an optical scanning microscope for acquiring information on the quantity of light in a wide range according to actual luminance regardless of the intensity of the luminance and to provide its photometric apparatus.例文帳に追加
輝度の強弱に拘わり無く実際の輝度に応じた広い範囲の光量情報を得ることができる光走査型顕微鏡及びその測光装置を提供する。 - 特許庁
A condenser lens telecentrically illuminating a sample surface, a field diaphragm, an aperture diaphragm and a diffusing means having action to diffuse illuminating light are provided in this optical microscope.例文帳に追加
光学顕微鏡に、標本面をテレセントリックに照明するコンデンサレンズと視野絞りと開口絞りと照明光を拡散する働きをもつ拡散手段を設ける。 - 特許庁
A processor device 12 is provided with a part identifying unit 57 for identifying the kind of a part to be observed based on special-light image data obtained by photographing with an electron microscope 11.例文帳に追加
プロセッサ装置12に、電子内視鏡11による撮影で得られた特殊光画像データに基づき、被観察部位の種類を判別する部位判別部57を設ける。 - 特許庁
This microscope has a stage 101 for supporting the object 102a to be inspected, an objective lens 112 and a deflecting member 111 for making illumination light incident on the objective lens 112.例文帳に追加
被検物体102aを支持するステージ101と、対物レンズ112と、対物レンズ112に照明光を入射させる偏向部材111とを有する。 - 特許庁
To provide a microscope for surgical operation, where an appropriately bright surgical observation image is readily obtained even when the angle of light illuminating the eye for operation has been changed.例文帳に追加
被手術眼を照明する照明光の角度が変更されたときに、好適な明るさの観察像を容易に得ることができる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
Uniform illumination can be obtained by a simpler optical system than that in a conventional method of providing the illuminating light source 10 within a microscope, and accurate sample observation is possible.例文帳に追加
顕微鏡内に照明光源10を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。 - 特許庁
To provide a general type confocal laser scanning microscope constituted so that a light source which is inexpensively acquired and operated can be used for the purpose of CLSM.例文帳に追加
獲得および運転が低コストであるような光源がCLSM用途に使用されることもできるようにした一般的なタイプの共焦点レーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope system deriving and forming an intensity distribution of illumination light suited for observing, in an optimal state, an image of an object under observation.例文帳に追加
観察中の物体の像を最良の状態で観察するために適した照明光の強度分布を導き出して形成する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
The microscope device includes: a modulation means which separates illumination light having coherence into at least two beams and modulate at least one beam of the separated illumination light; an illumination optical system which guides each beam of the separated illumination light to an objective lens and generates coherence light by the illumination light in the vicinity of the focal point; and a detection means which detects the coherence light as return light.例文帳に追加
可干渉性を有する照明光を少なくとも2つ以上に分離し、分離された前記照明光の少なくとも一の照明光に変調を加える変調手段と、前記分離された照明光をそれぞれ対物レンズに導くとともに、その焦点付近における前記照明光による干渉光を生じさせる照明光学系と、前記干渉光を戻り光として検出する検出手段とを備える。 - 特許庁
To provide a self displacement sensing cantilever that allows measurement of a scanning probe microscope to be simultaneously executed under irradiation with light, facilitates application of a functional coating film without impairing functions of a displacement detection unit, and also, allows physical properties such as light, electricity, and magnetism to be highly accurately and easily measured, and a scanning probe microscope.例文帳に追加
光を照射しながら走査型プローブ顕微鏡の測定を同時に行うことが可能で変位検出部の機能を損なうことなしに機能性の被膜を容易に行うことができ、光、電気、磁気などの物性を高精度で容易に測定可能となる自己変位検出型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope illuminator which maintains the conditions of Koehler illumination good in the fresh positional relation between an aperture-stop and a light source after exchange even when a condenser section is exchanged and to provide the microscope illuminator which optimizes a light source magnification according to the fresh condenser lens.例文帳に追加
コンデンサ部が交換される場合であっても、交換後の新たな開口絞りと光源との位置関係が良好なケーラー照明の条件を保持することができる顕微鏡照明装置を提供すること、更にその場合、新たなコンデンサレンズに応じて光源倍率を適正化することができる顕微鏡照明装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device in which the change in the power and/or wavelength of a laser beam source does not affect the power of the light coupled to an optical assembly and a confocal scanning microscope as the device for coupling the light of at least one wavelength of the laser beam source the optical assembly and the confocal scanning microscope.例文帳に追加
この発明は、レーザ光源の少なくとも1つの波長の光を光学組立物に結合するための装置および共焦点走査型顕微鏡であって、レーザ光源のパワーおよび/または波長における変化が光学組立物に結合される光のパワーに影響を及ぼさない装置および共焦点走査型顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁
In an image recording method of the laser scanning confocal microscope device, each of a plurality of laser lights having at least different wavelengths is scanned on a specimen as a spot light, light from the specimen based on the spot light is detected, and obtained image information is recorded by segmenting it.例文帳に追加
レーザ走査型共焦点顕微鏡装置の画像記録方法として、少なくとも波長の異なる複数のレーザ光の各々をスポット光として試料上に走査し、このスポット光に基づく試料からの光を検出し、得られた画像情報を切り分けて記録する、ようにする。 - 特許庁
A second image acquisition control part 63 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of the confocal microscope with light of a light quantity shown by the second light quantity setting data, and records the image in the memory 66.例文帳に追加
続いて、第2の画像取得制御部63は、第2の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ66に記録する。 - 特許庁
The slit light 10 for exactly performing focusing to the microscope of the configuration consisting of only the coaxial illumination of the conventional type in Fig. 7 is composited and thereby the video obtained by striking the light composited with the coaxial illumination and the slit light to an object is projected by a CCD camera.例文帳に追加
本発明は、図7の従来型の同軸照明6のみの構成の顕微鏡にピント合わせを正確に行うためのスリット光10を合成する事により、被写体に同軸照明とスリット光が合成された光が当たった映像をCCDカメラで映し出す。 - 特許庁
A higher harmonic wave generation device 5 modulating a laser light beam Q transmitted through optical fiber 3 to a laser light beam Qa whose wavelength is different from that of the light beam Q and transmitting it to a scanning type optical microscope main body 4 is integrally fitted to the main body 4.例文帳に追加
光ファイバー3を伝送してきたレーザ光Qを、このレーザ光Qの波長とは異なる波長のレーザ光Qaに変調して走査型光学顕微鏡本体4に送る高調波発生装置5を、走査型光学顕微鏡本体4に一体的に取り付けた。 - 特許庁
The problem is solved by providing the infrared microscope equipped with: the up-conversion phosphor disposed at the imaging position of an imaging lens that converts infrared light to visible light; and an imaging element that detects the visible light converted by the up-conversion phosphor.例文帳に追加
本発明の上記課題は、赤外光を可視光に変換する結像レンズの結像位置に配置されたアップコンバージョン蛍光体と、アップコンバージョン蛍光体で変換された可視光を検出する撮像素子とを備えた赤外線顕微鏡を提供することで解決される。 - 特許庁
This microscope is provided with a light source, an objective lens condensing luminous flux from the light source on a sample, a scanning optical system for scanning the sample with the luminous flux from the light source, a photodetector 109 for detecting the luminous flux from the sample and an arithmetic part arithmetically operating the output of the photodetector 109.例文帳に追加
光源と、光源からの光束を標本上に集光する対物レンズと、光源からの光束を標本上で走査させるための走査光学系と、標本からの光束を検出するための光検出器109と、光検出器の出力を演算する演算部とを有する。 - 特許庁
To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加
複数の走査光学系を使用した場合においても、第2のレーザ光が第1の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第1の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier.例文帳に追加
半導体レーザー照射装置の励起光照射部18が手術顕微鏡1の観察光の取入口15に着脱自在なアタッチメント16に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス(交換調整等)も容易である。 - 特許庁
To provide a DLP type slit optical scanning microscope capable of attaining slit light illumination by irradiating a sample with slit light under the control of a DMD, and capable of easily adjusting the position and the extent of the illuminating light on the sample and the thickness (size) of the slit through which the sample is irradiated.例文帳に追加
DMDの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ(太さ)を容易に調整することができるDLP式スリット光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a laser microscope capable of selectively performing detection of Raman scattering light and observation of Coherent Antistokes Raman Scattering (CARS) light without moving an observation sample and capable of effectively selecting a vibration frequency for CARS light observation without needing complicated work.例文帳に追加
観察対象の標本を動かすことなく、ラマン散乱光検出およびCARS光観察を選択的に行うことができ、煩雑な作業を要することなく、CARS光観察のための振動周波数を効率的に選択できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a vertical illuminator for observing fluorescence, which can, successively and over a wide range, adjust the light quantity of a plurality of beams of illumination light radiated to a specimen and which can be inexpensively constituted, and to provide a fluorescent microscope equipped with the vertical illuminator.例文帳に追加
標本に対する複数の照明光の光量を広い範囲で連続的に調整することができると共に安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、およびそれを備えた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an illuminating module for surgical microscope, whose light is generated by LEDs, capable of simultanesouly having white light having the largest CRI value and variable color temperature, and then satisfying the conditions of formula CRI_Beleuchtungsmodul>80.例文帳に追加
LEDによって光が生成され、最大のCRI値と同時に可変の色温度をもつ白色の照明光を提供することを可能にし、式CRI_Beleuchtungsmodul>80が成り立つような、手術用顕微鏡の照明モジュールを提供する。 - 特許庁
A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加
この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁
To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加
光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁
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