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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Light microscopeの意味・解説 > Light microscopeに関連した英語例文

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Light microscopeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 886



例文

The video microscope irradiates an object to be observed with light, converts an image of the observed object into an image signal by an image sensor and a signal processing circuit, and displays an enlarged image of the observed object on a display device according to the image signal.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープは、観察対象物に光を照射し、観察対象物の像をイメージセンサ及び信号処理回路によって画像信号に変換し、その画像信号に基づいて観察対象物の拡大画像を表示装置に表示する。 - 特許庁

A observation device 1A includes: partial reflection mirrors 2, 3 arranged coaxially; and an optical microscope 19 for detecting light beams emitted from object points on a hologram surface 21a and a photodetector surface 22a through the partial reflection mirrors 2, 3.例文帳に追加

観察装置1Aは、同軸上に配置された部分反射ミラー2,3と、部分反射ミラー2,3を経由して、ホログラム面21aおよび光検出器面22a上の物点から発せられた光線を検出する光学顕微鏡19とを備える。 - 特許庁

In the time lapse observation, while performing an autofocus, the inverted microscope system does not allow an application of the exiting light to the observation sample, when photographing the observation sample after finishing the autofocus, allows the application of the exiting light to the observation sample, and after finishing the photographing, does not allow the application of the exciting light to the observation sample again.例文帳に追加

タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 - 特許庁

This microscope where observation data are acquired by irradiating an observation object with the deep ultraviolet light has a control part measuring the line width of a pattern provided at the prescribed position of the observation object and stopping the irradiation of the observation object with the deep ultraviolet light when the line width of the pattern attains a prescribed limiting value.例文帳に追加

観察対象に深紫外光を照射して観察データを取得する顕微鏡において、該観察対象の所定の位置に設けられたパターンの線幅を測定し、該パターンの線幅が所定の制限値に達した場合に、該観察対象への深紫外光の照射を停止する制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

例文

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁


例文

The microscope lens barrel 10 includes: an optical system 12 dividing light from a specimen into an imaging optical path and a visual observation optical path; and a moving means 11 moving the optical system 12 to at least three positions different in a ratio of a light quantity distributed to the visual observation optical path to that distributed to the imaging optical path.例文帳に追加

顕微鏡鏡筒10は、試料からの光を撮像光路と目視観察光路に分配する光学系12と、光学系12を、撮像光路に分配される光量に対する目視観察光路に分配される光量の比率が異なる少なくとも3つの位置に移動させる移動手段11と、を含んで構成される。 - 特許庁

To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のSN比を向上する。 - 特許庁

A main pattern of a photomask having a focus monitor mark capable of controlling a focus position can be subjected to a transfer simulation giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity, only by setting a focus controlling system 80 on a measurement stage of a lithographic simulation microscope, the system capable of giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity.例文帳に追加

リソグラフィシュミレーション顕微鏡の測定ステージに、ジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られるフォーカス制御システム80をセットするだけで、フォーカス位置が制御可能なフォーカスモニターマークが配置されたフォトマスクのメインパターンをジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られる転写シュミレーションを行うことができる。 - 特許庁

To provide a small-sized, lightweight scanning type optical microscope which can minimize the loss of fluorescent light from a sample, has flexible selectivity to various fluorescent spectra, and can guide the fluorescent light from the sample to respective detection optical paths with high spectral precision for a multiple dye sample and a sample having developed multiple fluorescent proteins.例文帳に追加

標本からの蛍光の損失を最小限に押さえることのでき,さまざまな蛍光スペクトルに対して柔軟な選択性を有し、かつ多重染色標本や複数の蛍光蛋白を発現させた標本に対して、高い分光精度で各検出光路に標本からの蛍光を導くことのできる、小型軽量な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

A slit plate which is mounted on an optical irradiation device of an optical microscope and is used for irradiation with reverse slit light is constituted of an outer peripheral section having an opened central part and a light shielding section which is fixed to or is suspended from the outer peripheral section through a center or a vicinity of an opened part located inside the outer peripheral section.例文帳に追加

スリット板が、光学顕微鏡の光照射デバイス上に載置して逆スリット光を照射するためのスリット板であって、中央部が開口された外周縁部分と、該外周縁部分の内側にある開口部の中心またはその近傍を通って前記外周縁部分に固定または懸架された遮光部分とから構成されている。 - 特許庁

例文

The microscope condenser lens LCon includes, in order from the light source side to the specimen side: a first lens group G1 having a cemented negative meniscus lens L1 whose concave face is oriented on the light source side; a second lens group G2 having a single positive lens L2; and a third lens group G3 having a positive lens L31 and a negative lens L32.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズLConは、光源側から標本側に向かって順に並んだ、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズL1を有する第1レンズ群G1と、単体正レンズL2を有する第2レンズ群G2と、正レンズL31と負レンズL32とを有する第3レンズ群G3とから構成される。 - 特許庁

The fluorescent microscope has the objective lens 21 and is provided with imaging means 21 and 23 for forming the fluorescent image of a specimen 20 marked by a fluorescent substance, vertical illumination means 13 to 18 for illuminating the specimen 20 and beam attenuating means 14 for attenuating the light intensity near an optical axis 20a of the objective lens 21 out of the incident light for illumination on the objective lens 21.例文帳に追加

対物レンズ21を有し、蛍光物質で標識された標本20の蛍光像を形成する結像手段21,23と、標本20を照明する落射照明手段13〜18と、対物レンズ21に入射する照明光のうち、対物レンズ21の光軸20a付近の光強度を低減させる減光手段14とを備える。 - 特許庁

The confocal microscope provided with the acousto-optical element 2 is characterized in that an acoustic absorption material 4 is fitted on the light incident face, the light emitting face and all outer circumferential faces of the acousto-optical element 2 except the face on which a transducer 3 for giving vibration on the acousto-optical element 2 is fitted.例文帳に追加

音響光学素子2を備える共焦点顕微鏡において、音響光学素子2における光の入射面および出射面ならびに該音響光学素子2に振動を与えるトランスデューサ3が取り付けられている取付面以外の全ての外周面に吸音材4が取り付けられた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an afocal zoom lens for a microscope, which has an overall length reduced to simultaneously realize a high variable power ratio and improvement of aberration performance in all variable power areas and not only has an exit pupil less varied at a high power end from a low power end but also has the quantity of light like the quantity of peripheral light less reduced to improve systematizability as an optical system.例文帳に追加

全長を抑えて高変倍比化と変倍全域での収差性能を向上とを同時に満たすとともに、低倍端から高倍端での射出瞳の変動及び周辺光量などの光量低下を抑えて、光学系としてのシステム性を向上させることができる顕微鏡用アフォーカルズームレンズを提供する。 - 特許庁

The microscope is provided with the objective lens 8 for condensing a luminous flux of linearly polarized light from illuminating optical systems 1 to 6 and projecting the luminous flux to a sample, and also, transmitting the luminous flux reflected by the sample, and a compensation optical system 104 for compensating the rotation of the luminous flux of the linearly polarized light in the polarizing direction caused by the objective lens 8.例文帳に追加

照明光学系1〜6からの直線偏光の光束を集光して標本に照射するとともに、標本により反射された光束を通過させる対物レンズ8と、対物レンズ8により光束に生じる直線偏光の偏光方向の回転を補償するための補償光学系104とを有する。 - 特許庁

To provide a small plasma generator hardly affected by noise and preventing bad effect on an image detecting system by light in plasma generation and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明はプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡に関し、小型で雑音の影響を受けにくく、プラズマ発生による光が画像検出系に悪影響を与えないプラズマ発生装置及び走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an observation system for the capillary blood flow which is capable of appropriately emitting a proper amount of light to the blood capillary at the cuticle of a fingertip and quickly and appropriately fixing the cuticle of the fingertip corresponding to an optimal position of an objective lens of a microscope.例文帳に追加

指先の爪上皮部分の毛細血管に的確に適量の光りを照射でき、かつ、顕微鏡の対物レンズの最適位置に対応した指先の爪上皮部分を素早く的確に固定することができる毛細血管血流観測装置を提供する。 - 特許庁

This system is equipped with a light source which has two UV narrow bands of 360 to 370 nm and 398 to 407 nm and a single visual narrow band of 427 to 434 through broadband and individualband filtering, an optical microscope characterized by a broadband objective system, a lighting path, and a tube lens, a camera, and a data processor.例文帳に追加

ブロードバンドと個別バンドフィルタリングにより、360-370nmと398-407nm の2つのUVナロウバンドと427-434nm の単一の可視ナロウバンドを有する光源と、ブロードバンド対物システムと照明経路とチューブレンズを特徴とする光学顕微鏡と、カメラと、データ処理装置とを備える。 - 特許庁

In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection.例文帳に追加

上記の光学顕微鏡3によれば、プローブ光9が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。 - 特許庁

Pulse excitation light from a pulse laser apparatus 6 is converted into a straight line polarization having a specific polarization direction by a polarizing plate 10, and is applied to a 1 μL or less sample in a minute space in a microchip 2 through a microscope 4 from a dichroic mirror 8.例文帳に追加

パルスレーザー装置6からのパルス励起光が偏光板10により特定の偏光方向をもつ直線偏光にされ、ダイクロイックミラー8から顕微鏡4を通してマイクロチップ2中の微小空間内にある1μL以下の試料に照射される。 - 特許庁

To provide a plasma generator and a low-vacuum scanning electron microscope which are compact, seldom affected by noises and not influenced by light due to plasma generation on an image detecting system.例文帳に追加

本発明はプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡に関し、小型で雑音の影響を受けにくく、プラズマ発生による光が画像検出系に悪影響を与えないプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope using a plurality of scanning optical systems, and capable of preventing the same area from being irradiated simultaneously with laser light beams emitted from respective scanning optical systems, even when areas to be scanned by the scanning optical systems overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用し、各走査光学系の走査領域が重なり合うような場合でも、各走査光学系からのレーザ光が同時に同じ領域を照射しないようにすることが可能な走査型レーザ光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering.例文帳に追加

光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてS/N比の向上を図る - 特許庁

To provide a zoom microscope with high expandability which can be used for contrast observation (e.g., differential interference observation, etc.) of a sample and in which other optical systems (e.g., a fluorescent incident light illumination system, etc.) can be arranged between an objective lens part and a zoom part if necessary.例文帳に追加

標本のコントラスト観察(例えば微分干渉観察など)に用いることができ、必要に応じて対物レンズ部とズーム部との間に他の光学系(例えば蛍光落射照明系など)を配置することもできる拡張性の高いズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

A sample 11 is placed on a stage 101 of a microscope body 10 and a light shielding member 18 is deposited to cover the sample 11 on the stage 101 so that the vertical illuminating observation of the sample 11 is performed.例文帳に追加

顕微鏡本体10のステージ部101上に試料11を載置して、このステージ部101上の試料11を被うように遮光部材18を被着して試料11の落射照明観察を行うように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The chart 10 for resolution evaluation used for evaluating the imaging performance of the coherent Raman microscope includes: a substrate 11 optically smooth for illumination light and not emitting fluorescence for illumination light excitation; and a Raman active layer 12 containing a Raman active substance not emitting fluorescence for illumination light excitation by being two-dimensionally formed on the substrate 11 and having oscillation spectrum different from the substrate 11.例文帳に追加

コヒーレント・ラマン顕微鏡の結像性能を評価するのに用いる解像度評価用チャート10であって、照明光に対して光学的に平滑で、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しない基板11と、基板11上に二次元的に形成され、基板11とは異なる振動スペクトルを有し、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しないラマン活性物質を含むラマン活性層12と、を有する。 - 特許庁

This adapter for the microscope includes a casing 64 that is detachably attached to a sample side end of an objective lens barrel of the microscope where an illumination section for observation is arranged in the periphery of an objective lens 41 and has an opening 61 in the bottom, and an irradiation angle adjusting means 65 that is arranged in the casing 64 and adjusts the irradiation angle of illumination light from the illumination section for observation to the sample.例文帳に追加

対物レンズ41の外周に観察用照明部が配置された顕微鏡の対物レンズ鏡筒の標本側端部に着脱可能に装着され、底部に開口部61を有する筐体64と、前記筐体64内に配置され、標本に対する前記観察用照明部からの照明光の照射角度を調整する照射角度調整手段65とを有することを特徴とする顕微鏡用アダプタ。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

Fluorescence generated from the sample is transmitted through the dichroic mirror 8 through the microscope 4, passes through an analyzer (polarizer) 12 set in the same polarization direction as the polarizing plate 10, and then is guided to a streak scope 16 through a cut-off filter 14 for removing excitation light components.例文帳に追加

試料から発生した蛍光は、顕微鏡4を通ってダイクロイックミラー8を透過し、偏光板10と同一の偏光方向に設定された検光子(偏光子)12を通過した後、励起光成分を除去するカットオフフィルタ14を経てストリークスコープ16に導かれて検出される。 - 特許庁

By adjusting the image of the face 22 so as not to produce the fringe, the face 22 becomes precisely vertical with respect to a light axis 15 of the microscope 40, and an axis of the coated fiber 10 have been adjusted precisely in parallel with the optical axis 45.例文帳に追加

光反射面22の画像において干渉縞が生じないように調整できれば、光反射面22が干渉顕微鏡40の光軸45に対して精密に直角になり、光ファイバ心線10の軸が光軸45に精密に平行になるよう調整できたことになる。 - 特許庁

The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image.例文帳に追加

また、微生物の計測方法が、微生物を蛍光標識する工程と、微生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の微生物を蛍光顕微鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から微生物の数を計測する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.例文帳に追加

集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が30〜300nm、動的光散乱法による粒子径が30〜800nm、水銀圧入法により測定される細孔分布において2〜20nmの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

In a microscope in which an optical system is internally mounted on a shaft and which is provided with a wedge-shaped prism at its tip, two light sources are arranged downward at the upper end face of the prism, and its lower part is cut obliquely so as to form a mirror surface.例文帳に追加

この発明は、軸部に光学系を内装し、先端部に楔状プリズムを備えたスコープにおいて、前記楔状プリズムの上端面に、2つの光源を下向きに配置すると共に、下部を斜切してミラー面を形成したことを特徴とするマイクロスコープにより目的を達成した。 - 特許庁

Besides, by using an optical observation apparatus utilizing the interference and refraction of light, without shrinking the resist pattern like the conventional case of recognizing the resist pattern by using an electron microscope, the line width can be precisely measured in a nondestructive manner.例文帳に追加

また、光の干渉、回折を利用した光学観察装置を用いることにより、従来において電子顕微鏡を用いてレジストパターンの認識を行った場合のようにレジストパターンの収縮を発生させることはなく、非破壊で精密に線幅を測定することができる。 - 特許庁

Regarding the optical microscope including a finite objective lens or a pair of infinite objective lenses and an imaging lens, by dividing an optical path behind the imaging lens into two and making a difference in optical path lengths, two images having different focuses are projected on the light receiving surface of an image acquisition apparatus such as a CCD camera.例文帳に追加

有限系対物レンズ、あるいは、一対の無限系対物レンズと結像レンズを備えた光学顕微鏡において、結像レンズ以降の光路を二つに分け、光路長に差を与えることにより、二つの焦点の異なる像をCCDカメラ等の画像取得装置の受光面に投影する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which can obtain light observation images on both a main and a subordinate observation side, holds a main and a subordinate observation lens barrel at a proper distance to obtain the sufficient degree of freedom of the subordinate observation side, and holds the proper height and shift of an eye point.例文帳に追加

主観察側及び副観察側ともに明るい観察像を得ることができ、しかも、主観察鏡筒と副観察鏡筒とが適切な距離を保ち、副観察側の自由度を十分保ち、かつ、適切なアイポイントの高さ及びシフトを保つことが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The confocal microscope with such a correction device exhibits a confocal screen, which illustrates a specimen mark (10), whereby the plane-parallel plate (9) is placed in front of the detector unit (2) in the light path (1), in order to center the illustration of the aperture diaphragm on the detector unit.例文帳に追加

このような補正装置を有する共焦点顕微鏡が、試料スポット(10)を結像する共焦点絞りを有し、その際に開口絞りの結像を検出ユニットの上にセンタリングするために検出ユニット(2)の光路(1)中に平行平面の板(9)が予め配置されている。 - 特許庁

An imaging control unit composed of a TG 4, an AFE 5, a synchronizing control section 6 and a system control section 7 controls an imaging device 3 under a predetermined imaging condition, and picks up an observation image of a sample, formed on a light receiving surface of the imaging device 3, under a microscope.例文帳に追加

TG4、AFE5、同期信号生成部6、及びシステム制御部7で構成される撮像制御部は、所定の撮像条件の下で撮像素子3を制御して、撮像素子3の受光面に結像した標本の顕微鏡での観察像の画像を撮像させる。 - 特許庁

In second process step, the barrel part 23 with the built-in aberration correcting lens is attached to the microscope barrel part 24, thereafter, the optical element module lens part 27 is moved by a centering mechanism part 58 so as to make alignment between the center of the light-receiving/emitting part 28 and the center of the lens 29 with the aberration.例文帳に追加

第二工程では、収差補正用レンズ内蔵筒体部23を顕微鏡筒体部24に取り付け、この後に、調心機構部58を用いて光素子モジュールレンズ部27を移動させつつ受発光部28の中心と収差を持たせたレンズ29の中心との位置合わせを行う。 - 特許庁

The microscope is configured such that a field stop 210 is arranged between the sample 116 placed on a stage 105 and a condenser lens 202 and the light reflectivity of the surface S1 on a side opposite to an objective lens 113 of the field stop 210 is higher than that of the surface of the stage 105.例文帳に追加

本発明の顕微鏡は、ステージ105上に載置された標本116とコンデンサレンズ202との間に視野絞り210を配置し、視野絞り210の対物レンズ113に対向する側の面S1を、ステージ105の表面よりも光反射率を高く構成している。 - 特許庁

The microscope uses the plurality of scanning optical system, and the problem is solved by controlling the 2nd scanning optical system so as to stop the irradiation with the laser light in the area, where scanning by the 1st scanning optical system and scanning by the 2nd scanning optical system overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系と、この複数の走査光学系のうち第1の走査光学系の走査と第2の走査光学系の走査とが重なる領域で、第2の走査光学系のレーザ光の照射を停止する制御を行うことにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

In the microscope system equipped with a first objective lens 14 and a second objective lens 16 at positions facing each other across a sample 4, the first objective lens 14 is an objective lens transmitting the deep ultraviolet and the second objective lens 16 is configured to collect observation light from the sample 4.例文帳に追加

試料4を挟んで対向する位置に第一対物レンズ14と第二対物レンズ16を備える顕微鏡システムにおいて、第一対物レンズ14は深紫外線を透過する対物レンズであり、第二対物レンズ16は試料4からの観察光を収集する構成とした。 - 特許庁

A switching lever 29 is turned till the lever 29 abuts on a stopper 31 (32) centering a shaft 28, an LED 33 (34) is selectively positioned on an optical axis 41, so that the picture of a pointer 20 can be projected on an observed picture surface of a microscope in accordance with the light emission color of the LED 33 (34).例文帳に追加

切り換えレバー29を、軸28を中心にストッパ31(32)に当たるまで回動し、LED33(34)を選択的に光軸41上に位置させことで、LED33(34)の発光色に応じたポインター20の像を顕微鏡の観察像面に投影する。 - 特許庁

To provide a surface plasmon fluorescence microscope for visual confirmation with strong fluorescent intensity by configurating a light receiving member to receive the fluorescence enhanced by surface plasmon, and to provide a method of measuring the fluorescence excited by the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、表面プラズモンにより増強された蛍光を受光するように受光部品を構成することにより、強い蛍光強度で視認できる表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The molecule manipulator includes photoreactive molecules including a double bond and changes a cis-trans arrangement of the double bond in reaction by the irradiation by the light of the selected wavelength, and a probe with the photoreactive molecules fitted thereto, for example, a probe of a scanning proximity probe microscope.例文帳に追加

分子マニピュレータは、二重結合を含み、選択した波長の光による照射に反応してその二重結合のシス−トランス配置を変更する光反応分子と、その光反応分子が取り付けられるプローブ、たとえば、走査近接プローブ顕微鏡のプローブとを含む。 - 特許庁

when chromosomes at a particular stage in cell division are stained using one of several laboratory techniques, a specific pattern of light and dark stripes (bands) appears when the chromosomes are viewed through a microscope; the banding pattern assists in assigning each chromosome its particular number and evaluating its structure. 例文帳に追加

いくつかの検査技法のひとつを用いて細胞分裂の特定の段階にある染色体を染色すると、顕微鏡下で観察した染色体上に明暗の縞模様(バンド)が出現する;このバンドのパターンは各染色体の同定と構造の評価に有用な情報となる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

例文

The scanning laser microscope 100 is equipped with a stage 101 on which a specimen 105 is placed, a first scanning optical system A for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a first light beam, a second scanning optical system B for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a second light beam, and a detecting optical system C for obtaining the confocal scanning image.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡100は、標本105が載置されるステージ101と、ステージ101に載置された標本105に対して第一光ビームを走査する第一走査光学系Aと、ステージ101に載置された標本105に対して第二光ビームを走査する第二走査光学系Bと、共焦点走査画像を得るための検出光学系Cを備えている。 - 特許庁




  
PDQ®がん用語辞書 英語版
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