「Light microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

By providing a bar-like projection on the illumination system, the vibrating direction of rotating polarized light not made visible ordinarily is easily detected in the visual field of the microscope and rotating speed is read from a rotation driving control system.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入しこのレーザ光の照明方向を回転可能にした照明光学系において、常に対物レンズ光軸中心からの放射状方向と直角方向の横波成分のみを持つエバネセント場で照明する回転式輪帯偏光全反射照明光学系とした。 - 特許庁

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope.例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。 - 特許庁

By this operating method, an object to be observed on the sample is specified first by using the visible light beam of a normal optical system and observed with high resolution by using the extreme ultraviolet laser beam of a confocal optical system after it is specified when the sample is observed by a ultraviolet laser confocal microscope 1.例文帳に追加

極紫外線レーザコンフォーカル顕微鏡１で試料を観察する場合、最初に試料上の観察対象を通常光学系の可視光を使用して特定し、観察対象を特定した後で、コンフォーカル光学系の極紫外線レーザを使用してより高い分解能で観察対象を観察する。 - 特許庁

To provide a compact damping device and a compact damping table capable of properly damping a damped object having a comparatively light weight and needing the immediate damping of vibration, such as an optical microscope and a measuring instrument placed on a working table, having high damping speed, and suitably used on the desk with superior vibration damping performance.例文帳に追加

作業台に載置される光学顕微鏡や測定機器などの比較的軽量で、振動を直ぐに減衰させる必要のある除振対象物の除振に好適であり、減衰応答が早く、優れた振動減衰性能を有する卓上使用に適した小型除振器と小型除振台を提供する。 - 特許庁

The microscope 100 includes: the objective optical system 4 having such a configuration; the variable power optical system 6 including at least one movable lens and configured to vary power by moving the movable lens in the direction of an optical axis; and an imaging optical system 7 configured to image light emitted from the variable power optical system 6.例文帳に追加

また、顕微鏡１００は、そのように構成された対物光学系４と、少なくとも１つの可動レンズを含み、可動レンズが光軸方向に移動することにより変倍する変倍光学系６と、変倍光学系６から射出された光を結像させる結像光学系７と、を含む。 - 特許庁

In a wafer supporting device 5 or a wafer observing device 1, a wafer W facing a light transmission member 14 fitted in an opening 12 of a wafer holder 11 is positioned with respect to an objective lens 3 of an inverted microscope 2 facing an opening 6 of a base 7, and then the wafer holder 11 is fixed to the base 7 by a fixing mechanism 31.例文帳に追加

ウェハ支持装置５延いては観察装置１では、ベース７の開口６に臨む倒立型顕微鏡２の対物レンズ３に対して、ウェハホルダ１１の開口１２に嵌められた光透過部材１４に臨むウェハＷの位置合せが行われた後、固定機構３１によってベース７に対してウェハホルダ１１が固定される。 - 特許庁

The optical radiation pressure measuring device, the resonance frequency regulating method, the aperture diameter inspection device and the near field microscope provided with the aperture diameter inspection device utilize that a frequency characteristic of the resonance body is changed by the optical radiation pressure P when incident light 18 is irradiated on a reflecting means 64 provided on the resonance body.例文帳に追加

共振体に設けられた反射手段６４に入射光１８を照射したときの光放射圧Ｐにより共振体の周波数特性が変化することを利用した光放射圧測定装置、共振周波数調整方法、開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

The position of the light emitting point (chip surface active layer) of the semiconductor laser 21 is detected by an adjusting optical system consisting of a microscope 32 and a CCD camera 33 through a polarizing beam splitter 22, and a deviation from a prescribed position is calculated to perform the translational adjustment (positional adjustment in X and Y directions) for the semiconductor laser 21.例文帳に追加

半導体レーザ２１の発光点位置（チップ面活性層）を、偏光ビームスプリッタ２２を介して顕微鏡３２およびＣＣＤカメラ３３からなる調整光学系により検出し、所定の位置からのずれを算出して半導体レーザ２１の並進調整（ＸＹ方向位置調整）を行う。 - 特許庁

The fluorescence microscope system is provided with: a sample (S) containing fluorescent substance; a glass plate (G) for supporting the sample; an illumination light source (I_L) used for illuminating the sample; and a microscopic optical system (M) including an objective lens (Ob) facing the sample so as to obtain the illuminated image.例文帳に追加

本発明による蛍光顕微鏡システムは、蛍光物質を含む標本（Ｓ）と、前記標本を支持するガラスプレート（Ｇ）と、前記標本の照明に用いられる照明光源（Ｉ_L ）と、前記照明による像を取得するために前記標本に向けられている対物レンズ（Ｏｂ）を含む顕微鏡光学系（Ｍ）を備えている。 - 特許庁

This microscope device comprises an image formation optical system, a lighting system which illuminates an object surface of the image formation optical system, an imaging element arranged in the image formation region of the image formation optical system, and a detector which detects light quantity in the image formation region and in a predetermined region other than the imaging element.例文帳に追加

顕微鏡装置は、結像光学系と、結像光学系の物体面を照明する照明装置と、結像光学系の結像領域内に配置される撮像素子と、結像領域内であって撮像素子以外の所定領域における光量を検出する検出装置とを備えている。 - 特許庁

An electron microscope is provided with axial-symmetry lenses (10, 11) arranged between two multipoles (8, 9), a rotating compensation lens (12) giving rotating action to electrons in a surface perpendicular to the optical axis is arranged in a collecting light surface of an electron orbit to be made between the axial-symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

With the spherical aberration correction device of the electron microscope with two axial symmetry lenses (10, 11) between two multipole elements (8, 9), a rotation correction lens (12) giving electrons rotation action within the plane vertical to the light axis is arranged in a converging face of an electron orbit generated between the axial symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

The controller 50 of the microscope obtains the mutual distance (d) of diaphragm images divided into two by a pupil division prism 33 by using data from an AF line sensor 37, and obtains representative wavelength λ showing the spectral characteristic of the reflected light from the sample 1 by using data from a spectral characteristic sensor 40.例文帳に追加

この顕微鏡の制御装置５０は、瞳分割プリズム３３で二つに分割された絞り像の相互間隔ｄをＡＦ用ラインセンサ３７からのデータを用いて求めると共に、試料１からの反射光の分光特性を示す代表波長λを分光特性センサ４０からのデータを用いて求める。 - 特許庁

In the illuminator for the microscope, the light directing member is equipped with a switching mechanism for selectively arranging one of two or more kinds of light directing members between the sample placing plate and the surface light source.例文帳に追加

本発明の課題は、試料を載置するための光学的に透明な試料載置板と、試料載置板に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源と、前記面光源と前記試料載置板の間に照明光の拡散を制限する光指向部材とを備えている、顕微鏡用照明装置において、前記光指向部材は、複数種類の光指向部材のうちの一つを選択的に前記試料載置板と前記面光源との間に配置する切り換え機構を備えていることを特徴とする顕微鏡用照明装置によって解決される。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

In the illuminator of the microscope provided with a holding member holding a plurality of filter cassettes, at least one 50 of the plurality of the filter cassettes is provided with a dichroic mirror 66 reflecting the illumination light and the angle of the dichroic mirror 66 to the objective lens is changed by a cam mechanism provided in the filter cassette 50.例文帳に追加

複数のフィルタカセットを保持する保持部材を備えている顕微鏡の照明装置において、複数のフィルタカセットの少なくとも１つのフィルタカセット５０に照明光を反射するダイクロイックミラー６６を設けるとともに、対物レンズに対するダイクロイックミラー６６の角度をフィルタカセット５０に備えたカム機構によって変化させるようにした。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１１を上下移動させるＺステージ１５と、被検体２１に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系３０と、合焦検出結果に基づいてＺステージ１５を制御する信号処理部４１と、対物レンズ１１の移動量を測定する測定部４２とを有する。 - 特許庁

An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.例文帳に追加

照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁

To prevent reattachment of chips produced during modification by removal to a substrate in a step of removing defective portions remaining so as to be different from a state expected by design against a design in a light shielding film Cr, an absorbing film TaN, a phase film MoSi left without being removed in the process and the substrate Qz by using a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

プロセス工程で除去されず残ってしまった遮光膜Ｃｒ、吸収膜ＴａＮ、位相膜ＭｏＳｉ、や基板Ｑｚの設計とは異なり残留した欠陥部分を原子間力顕微鏡の探針を用いて除去する工程において、除去修正時に発生する削り屑の基板への再付着を防止する。 - 特許庁

In the method for analyzing the materials in the microcapsule of the sample for observation containing the microcapsule by the transmission electron microscope, the sample for observation is used as the sample for observation containing the microcapsule, where the microcapsule including monomer capable of photopolymerization is irradiated with light.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む観察用試料のマイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法であって、該マイクロカプセルを含む観察用試料として、光重合可能なモノマーが内包されたマイクロカプセルに光照射をした観察用試料を用いることを特徴とする、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.例文帳に追加

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

The surface atom visualizing apparatus 1 is equipped with an exciting unit 2 for irradiating the surface atom of the solid sample 5 with high-energy exciting light 9 for exciteing itinerant valence electrons, to convert the same into photoelectrons and an electron microscope unit 3 for forming an atomic image on the surface of the solid sample 5, on the basis of the photoelectrons excited from the itinerant valence electrons by the exciting unit 2.例文帳に追加

表面原子可視化装置１は、固体試料５の表面原子に高エネルギ励起光９を照射し、遍歴的な価電子を励起して光電子に変換する励起ユニット２と、励起ユニット２によって遍歴的な価電子から励起された光電子に基づいて、固体試料表面上の原子像を生成する電子顕微鏡ユニット３とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed.例文帳に追加

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This scanning confocal microscope has selecting means (21) for selecting the luminance signal of an optimum wavelength band from a plurality of the luminance signals varying in the wavelength bands of the light outputted after photoelectric conversion by imaging means and image building means (20) for building the three-dimensional images or the images of a deep depth of focus by utilizing the luminance signal of the optimum wavelength band.例文帳に追加

撮像手段で光電変換されて出力される光の波長帯域の異なる複数の輝度信号から最適な波長帯域の輝度信号を選択する選択手段（２１）と、この最適な波長帯域の輝度信号を利用して三次元画像或いは焦点深度の深い画像を構築する画像構築手段（２０）とを備えた走査型共焦点顕微鏡である。 - 特許庁

The high pressure sample container for the optical microscopic observation 10 for observing the sample under high pressure by a microscope includes: a container body 12; a cover 14 detachably attached to the container body 12; and an observation window 32 provided in at least one of the container body 12 and the cover 14 and emitting light emitted from the sample.例文帳に追加

本発明は、高圧力下における試料を顕微鏡観察するための光学顕微観察用高圧力試料容器１０であって、容器本体１２と、この容器本体１２に着脱可能に装着される蓋体１４と、前記容器本体１２及び前記蓋体１４の少なくとも一方に設けられ、試料から放射される光を放出する観察窓３２とを備えている。 - 特許庁

When illumination light from the illumination module attached to the incident section 101A enters, spreading luminous flux thereof, the illumination light which passes through lenses 271 through 274 and exits from a projection section 101C forms an image on the image-side focal plane of the objective lens of the microscope.例文帳に追加

入射部１０１Ａに装着された照明モジュールからの照明光が光束が広がりながら入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面において結像し、照明モジュールからの照明光が平行光束として入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面に平行光束として入射する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 produces a confocal effect by a line slit member 5a arranged in a position optically conjugate to the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6, between the light source part 2 and the objective optical system 6 and intercepts the self-fluorescence by a line slit member 15a arranged in a position optically conjugate to the line slit member 5a in the imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２と対物光学系６の間で、且つ、対物光学系６の試料１２側の焦点位置と光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材５ａにより共焦点効果を生じさせ、撮像光学系１３内でラインスリット部材５ａと光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材１５ａにより自家蛍光を遮断する。 - 特許庁

The optical filter is provided with two optical elements 1 and 2 operating to separate luminous flux and an optical element 3 which is arranged between those two optical elements and operates to eliminate polarization, wherein at least one of the three optical elements being a microscope element which has a structure finer than the wavelength of incident light and operates to separate luminous flux or eliminate polarization by optical anisotropy.例文帳に追加

光束分離作用を有する２つの光学素子１，２と、これら２つの光学素子の間に配置され、偏光解消作用を有する光学素子３とを有し、３つの光学素子のうち少なくとも１つの光学素子を、入射光の波長より細かい構造の光学的異方性による光束分離作用又は偏光解消作用を持つ微細構造素子として光学フィルタを構成する。 - 特許庁

The laser scanning microscope is equipped with an illumination beam path for illumination of a sample, and a detection beam path for wavelength-dependent sensing of the light from the sample, whereby filters for selection of the detection wavelengths are provided, characterized in that at least one graduated filter spatially variable in regard to the threshold wavelength between the transmission and reflection is provided in several partial beam paths for the selection of the wavelengths.例文帳に追加

この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 - 特許庁