「Light microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning type laser microscope device that can easily and accurately control the light intensity of laser light having a plurality of wavelengths or whose abnormal place can easily be specified.例文帳に追加

複数波長のレーザ光の光強度を簡易に正確に制御し、あるいは簡易に装置の異常箇所が特定できる走査型レ−ザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope having a scattered light reducing means that has a particularly compact configuration and at the same time a good scattered light reducing effect, and to provide a beam splitter unit.例文帳に追加

とりわけ小型の構造形状を有し、同時に非常に良好な散乱光低減作用を有する散乱光低減手段を有する顕微鏡及びビームスプリッタユニットを提供すること。 - 特許庁

In a scanning confocal microscope 100 including a galvanometer mirror 5 for scanning a sample, light from the sample is spectrally diffracted by utilizing a VPH grating 1, and the spectrally diffracted light is detected a photodetector 13.例文帳に追加

標本を走査するガルバノミラー５を備えた共焦点走査型顕微鏡１００は、ＶＰＨグレーティング１を利用して標本からの光を分光し、光検出器１３で検出する。 - 特許庁

To solve the problem that it is incapable of effectively using a light emitting diode as a light source for illumination and selecting an excitation wavelength in a conventional fluorescence measurement apparatus such as a fluorescence microscope.例文帳に追加

従来の蛍光顕微鏡等の蛍光測定装置では、発光ダイオードを照明用光源として有効に用い、且つ、励起波長の選択を行えるようにすることができない。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of performing both of observation by means of visible light and measurement by means of infrared light without using a movable mirror.例文帳に追加

本発明は、可動ミラーを使用せず、かつ、可視光による観察と赤外光による測定を同時に実行することが可能な赤外顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

when these pieces of dna bind to specific genes or areas of chromosomes on the slide, they light up when viewed under a microscope with a special light. 例文帳に追加

このdnaの断片がスライドグラス上で特定の遺伝子や染色体領域と結合した場合、特殊なライトと顕微鏡を用いて観察すると、結合している部分が光って見える。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an AF device that detects a focus position error and carries out AF control with the small amount of reflected light from AF light, and a microscope device including the AF device.例文帳に追加

ＡＦ光の反射光量が小さい場合あっても、焦点位置誤差を検出してＡＦ制御を行うことができるＡＦ装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

In a Koehler type illumination system in which an object is illuminated by introducing laser light to the peripheral part of an objective lens of a microscope, the rotational zone total reflection illumination mechanism is characterized in that the direction of illumination with the laser light is rotatable around the axis of the objective lens 56 of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入し物体を照明するケーラー式照明系において、前記レーザ光による照明方向を顕微鏡対物レンズ５６の軸心を中心に回転可能としたことを特徴とする回転式輪帯全反射照明機構。 - 特許庁

In the microscope having at least one beam splitter and the scattered light reducing means in the beam path of the microscope, the scattered light reducing means is constituted as a black glass plate (6) that has a (mirror surface) polished surface coated with antireflection film (7).例文帳に追加

顕微鏡ビーム路における少なくとも１つのビームスプリッタと、散乱光低減手段とを有する顕微鏡において、前記散乱光低減手段は、反射防止膜（７）が被着された（鏡面）研磨表面を有する黒色ガラスプレート（６）として構成されることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

The auxiliary illuminating arrangement is employed and mounted on the slit lamp microscope having a microscope body 1, a jaw table section 2, the slit lamp 3 which irradiates the eye of the patient supported by the jaw table section with slit light, an imaging device 4 for photographing an image of slit light reflected in the eye of the patient, and a video capture means 5.例文帳に追加

顕微鏡本体１と、顎台部２と、顎台部によって支持された患者の眼にスリット光を照射する細隙灯３と、患者の眼に映ったスリット光の像を撮影する撮像装置４と、ビデオキャプチャー手段５とを有する細隙灯顕微鏡に装着されて使用される。 - 特許庁

To make a laser beam incident on a microscope main body as parallel light of a uniform beam diameter without reducing joint efficiency relative to an optical fiber even in the case where a wavelength changes when fluorescence observation is carried out such that a laser beam emitted from the laser light source is guided to a microscope main body by the use of the optical fiber.例文帳に追加

レーザ光源から出射されたレーザ光を光ファイバを用いて顕微鏡本体に導入して蛍光観察を行う際に、波長が変化しても光ファイバへの結合効率を低下させることなく、かつ、均一なビーム径の平行光として顕微鏡本体に入射させる。 - 特許庁

A light intensity measuring unit 1 for measuring intensity of light emitted from a microscope includes: an aperture diaphragm 3; a field diaphragm 5; at least one measuring lens 4 arranged between the aperture diaphragm 3 and the field diaphragm 5; and an interface section 2a for being mounted to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット１は、開口絞り３と、視野絞り５と、開口絞り３と視野絞り５の間に配置される少なくとも１枚の測定レンズ４と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部２ａとを含んで構成される。 - 特許庁

When emitting light onto the surface of a measurement sample 10 during two-dimensional scanning, the light receiving system 180 of the scanning laser microscope receives laser light which is reflected on the surface and reaches through an objective lens 150 and a confocal diaphragm 170, and outputs information on the quantity of light.例文帳に追加

受光系１８０は、二次元走査させながら測定サンプル１０の表面に照射したときに該表面で反射して対物レンズ１５０及び共焦点絞り１７０を通過して到来するレーザ光を受光して、その光量の情報を出力する。 - 特許庁

To optically connect light from a re-imaging area to a light receiving surface of a photodetector with no light protruded therefrom without using a photodetector having a large light receiving surface, when a confocal volume is enlarged for measuring a sample solution with a low emitting particle concentration in an optical analysis technique using an optical system of a confocal microscope or a multiphoton microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、発光粒子濃度の低い試料溶液の計測のために、コンフォーカル・ボリュームを拡大した場合に、大きな受光面を有する光検出器を用いることなく、再結像領域からの光線がはみ出さずに光検出器受光面まで光学的に連結されるようにすること。 - 特許庁

The light-shielding device 7 for the microscope includes a first light-shielding part 16 having an opening abutting on the entire periphery of the leading end of the optical member 9, located nearest the stage side of the imaging optical system of the microscope 1 or nearest the stage side of the illuminating optical system thereof, and the light-shielding device 7 prevents external light from being incident on a specimen 3.例文帳に追加

顕微鏡１における結像光学系中の最もステージ側に位置する光学部材９、又は照明光学系中の最もステージ側に位置する光学部材の先端の外周全体に当接する開口部が形成された第１遮光部１６を有し、外部からの光が試料３へ入射することを防ぐことを特徴とする顕微鏡用遮光装置７。 - 特許庁

To provide a human sperm number-detecting kit capable of measuring human sperm numbers without using a microscope or a spectrophotometer by enzymatically producing NADH from fructose in a human semen and then adding luciferase emitting light with NADH thereto.例文帳に追加

顕微鏡や分光光度計などの設備がなくとも一般人が容易に測定できる精子数測定キットを開発すること。 - 特許庁

To provide an illuminating device for a laser scanning type microscope prepared in the cross-sectional direction of at least one of substantially uniform illumination light beams.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡用の、本質的に均質な照明光線内の少なくとも一つの断面方向に準備された照明装置 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of highly accurately detecting light from a sample while shortening a period of time required for scanning.例文帳に追加

走査に要する時間を短縮しつつ、標本からの光を高感度に検出することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope in which light irradiating a visual field can be freely changed to any one of a visible ray, UV ray and IR ray or combination of these.例文帳に追加

視野に照射する光を、可視光、紫外線、赤外線、またはこれらの組み合わせに自在に変更可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope apparatus where a clear fluorescence image is obtained by preventing external light from mixing with weak fluorescence emitted from a specimen, while reducing the size of the overall apparatus.例文帳に追加

装置全体を小型化し、試料から発生する微弱な蛍光への外光の混入を防止して鮮明な蛍光画像を得る。 - 特許庁

To provide a thermal lens microscope in which operation is simple, wavelength is continuously variable, and inexpensive incoherent light can be used.例文帳に追加

より簡便な操作が可能で、波長が連続的に可変で、安価なインコヒーレント光の使用をも可能とする熱レンズ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of detecting a second harmonic wave emitted in a direction opposite to the direction in which incident light advances.例文帳に追加

入射光の進行方向と反対方向に放射される第２高調波を検出することができるレーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of accurately irradiating an aimed position in a sample with stimulating laser light even when an observing method is switched.例文帳に追加

観察方法を切換えても、試料内の狙った位置に正確に刺激レーザ光を照射できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope cable of compensating the rotation of polarized light with a simple configuration even in the case of using a high- performance objective lens.例文帳に追加

高性能な対物レンズを用いる場合であっても、簡単な構成で偏光の回転を補償することのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a laser scanning method that can accurately control an irradiation position even if a plurality of light controllers are used.例文帳に追加

複数の調光部を用いても照射位置を正確に制御できる走査型レーザ顕微鏡及びレーザ走査方法を提供すること。 - 特許庁

The scanning microscope (100) is provided with at least one light source (4), an objective lens (10) and at least one detector (12).例文帳に追加

走査型顕微鏡（１００）は、少なくとも１つの照射源（４）、対物レンズ（１０）および少なくとも１つの検出器（１２）を備えている。 - 特許庁

Light from a microscope 10 transmits through a hole 5b of a Cr film 5 of a mask 4 and is delivered onto the resist film 2 through a microlens 3b.例文帳に追加

顕微鏡１０からの光は、マスク４のＣｒ膜５の孔５ｂを通過し、マイクロレンズ３ｂを透過してレジスト膜２上に照射される。 - 特許庁

To apply a laser scanning confocal microscope device to measurement using a plurality of lights having at least different wavelengths as excitation light.例文帳に追加

少なくとも波長の異なる複数の光を励起光として用いる測定にレーザ走査型顕共焦点微鏡装置を適用可能にする。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can always project TEM image correctly on a light-receiving face of a TV detector without monitoring by a fluorescent screen.例文帳に追加

蛍光板でモニターしなくても、ＴＶ検出器の受光面にＴＥＭ像を常に正しく投影可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Laser beam generated by a laser beam source 11 is transmitted by an objective lens 12 of a microscope and then converted into parallel light by a collimator lens 14.例文帳に追加

レーザー光源１１により発生したレーザー光は顕微鏡対物レンズ１２を透過後、コリメータレンズ１４で平行光に変換される。 - 特許庁

To provide a microscope device for accurately and efficiently acquiring information regarding light quantity and favorably acquiring image information of a sample.例文帳に追加

光量に関する情報を精度良く且つ効率良く取得して、試料の像情報を良好に取得できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A pigment 1006 of an observation object is arranged on a sample holder 1005, and incident light 1008 from a light source 1003 is made to enter, and light passing the hyper lens 1007 is received by a microscope 307 and measured by a CCD camera 309.例文帳に追加

被観察物体の色素１００６をサンプルホルダ１００５に並べ、光源部１００３からの入射光１００８を入射し、ハイパーレンズ１００７を通過した光を顕微鏡３０７で受け、ＣＣＤカメラ３０９で観測する。 - 特許庁

The optical microscope 100 has a ring diaphragm 14 through which illuminating light from a light source 11 is made to pass in an illumination part, and a light shielding ring 17 corresponding to the ring diaphragm 14 on the rear side focal plane of a dispersion objective lens 8.例文帳に追加

光学顕微鏡１００は、照明部に光源１１からの照明光を通過させるリング絞り１４を有し、分散対物レンズ８の後ろ側焦点面にリング絞り１４に対応する遮光リング１７を有する。 - 特許庁

To reduce the influence of achromatic aberration at an objective lens in a color microscope furnished with a plurality of light sources, in which a color image is obtained by condensing light having different wavelengths of the light sources on a specimen through the common objective lens.例文帳に追加

複数の光源を具備し、これらの光源の波長の異なる光を共通の対物レンズを通して試料に集光させることによりカラー画像を得るカラー顕微鏡において、対物レンズでの色収差の影響を低減する。 - 特許庁

The light released by the illumination light source 11 for alignment is guided to an alignment light exit section 13 for darkfield illumination across an optical fiber 14 and irradiates a work mark WAM from outside the optical path of the imaging system of the alignment microscope 1.例文帳に追加

アライメント用照明光源１１が放出する光は、光ファイバ１４を介して暗視野照明用アライメント光出射部１３に導かれ、アライメント顕微鏡１の結像系の光路外からワークマークＷＡＭを照明する。 - 特許庁

The microscope has an illuminating optical system 7 and a light guide 5 for guiding illuminating light to the illuminating optical system 7, and an emission position 5b of the illuminating light can be moved within a plane perpendicular to an optical axis I of the illuminating optical system 7.例文帳に追加

照明光学系７と、前記照明光学系７に照明光を導くライトガイド５を有し、前記照明光の出射位置５ｂは、前記照明光学系７の光軸Ｉに垂直な面内で移動可能である顕微鏡。 - 特許庁

In a polarization microscope image of crystals at the surface of an aluminum alloy, when the light and dark contrast in the microscope image is graded into three levels of equal intervals, the area ratio of crystals having each contrast level each falls within the range of 20-50%.例文帳に追加

アルミニウム合金表面の結晶の偏光顕微鏡観察像において、明暗コントラストを３段階に等分したとき、各段階のコントラストを有する結晶の面積分率を、それぞれ２０〜５０％の範囲とする。 - 特許庁

In this scanning probe microscope, illumination light generated from an optical microscope 7, reflected by a beam splitter 13 and a mirror 21 and transmitted through a half mirror 22, is irradiated obliquely on the rear face of the cantilever 14 and is incident obliquely on a sample face.例文帳に追加

光学顕微鏡７から発生し、ビームスプリッタ１３およびミラー２１で反射してハーフミラー２２を透過した照明光は、カンチレバ１４の背面を斜めから照射すると共に、試料面に斜めから入射する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of improving efficiency of using illuminating light with a simple composition, in the microscope apparatus having an illumination optical system which illuminates a sample from the objective lens side obliquely with respect to the optical axis and from a plurality of directions.例文帳に追加

試料を対物レンズ側からその光軸に対して斜めにかつ複数の方位から照明する照明光学系を有する顕微鏡装置において、簡易な構成で照明光の利用効率を向上させる。 - 特許庁

Three or more position detecting systems 14a, 14b, and 14c are provided to an exposure light TTR microscope mounted on the scanning aligner, and the position detecting systems 14a, 14b, and 14c are each provided with a drive mechanism for making the TTR microscope observe an optional position.例文帳に追加

走査型露光装置に搭載されている露光光ＴＴＲ顕微鏡に３つ以上の位置検出系１４ａ，１４ｂ，１４ｃを設け、各位置検出系は個々に任意の位置を観察するための駆動機構を備える。 - 特許庁

To provide a photoelectron microscope, having a light source system for reliably performing a high-resolution measurement, such as work function distribution measurement and magnetic domain distribution measurement, and to provide a high-sensitivity measurement method by the photoelectron microscope.例文帳に追加

仕事関数分布測定や磁気ドメイン分布測定など、高分解能測定を確実に行うための光源システムを備えた光電子顕微鏡、及び、この光電子顕微鏡による高感度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system varying ratios of light quantities divided to respective optical paths according to imaging conditions and microscope operations, and quickly and easily imaging a clear microscopic image.例文帳に追加

本発明では、撮影条件や顕微鏡操作に応じて各光路に分割される光量比率を変更することができる顕微鏡システムにおいて迅速かつ簡便に鮮明な顕微鏡画像を撮影できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁