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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Light microscopeの意味・解説 > Light microscopeに関連した英語例文

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Light microscopeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 886



例文

The transmission illuminator for a microscope includes a glass plate 7 on which a sample 8 is mounted, a flat light source device 10 emitting substantially uniform illuminating light toward the glass plate 7, a light directional member 9 which restricts diffusion of the illuminating light emitted from the flat light source device 10 at least in one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料8を載置するためのガラスプレート7と、ガラスプレート7に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源10と、面光源10から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材9とを備えている。 - 特許庁

The optical microscope comprises a light source 11, a detector 27 for detecting the light from a specimen 21, a confocal optical system 30 for linearly collecting the light from the light source 11 and guiding the same to the specimen 21, and a diffraction grating 25 for diffusing the light passing through a slit 23 in the vertical direction with the slit 23.例文帳に追加

光学顕微鏡は、光源11と、試料21からの光を検出する検出器27と、光源11からの光をライン状に集光して試料21に導く共焦点光学系30と、スリット23を通過した光をスリット23と垂直方向に分散させる回折格子25と、を備えている。 - 特許庁

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided.例文帳に追加

測定対象Sからの反射光L3と参照光L2が合波され、その干渉光L4が干渉光検出手段6により検出され測定対象Sの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光L2の周波数変調を行う光変調部20が設けられている。 - 特許庁

The transmission illumination apparatus for the microscope is provided with a glass plate 7 for placing the sample 8, a surface light source 10 for emitting almost uniform illumination light towards the glass plate 7 and a light directing member 9 which limits diffusion of illumination light emitted from the surface light source 10 in at least one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料8を載置するためのガラスプレート7と、ガラスプレート7に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源10と、面光源10から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材9とを備えている。 - 特許庁

例文

In the microscope, sample light is detected, and at least one combination of a means SM influencing spatial phase circularly and a means RM influencing it in a radial direction is arranged in the exciting light beam and/or the deexciting light beam and/or the switching light beam.例文帳に追加

本発明の顕微鏡では、試料光が検出され、励起光線および/または脱励起光線および/またはスイッチング光線中に、空間位相に円形に影響を及ぼす手段SMおよび径方向に影響を及ぼす手段RMの少なくとも1つの組合せが配置されている。 - 特許庁


例文

To obtain a low-priced easy-handling microscope for increasing the resolution of an image detected within a wavelength extent including the wavelength areas of ultraviolet light and visible light and making a non-confocal image in an ultraviolet light wavelength area and a confocal image in a visible light wavelength area overlap each other.例文帳に追加

本発明は、紫外線及び可視光線の波長領域を含む波長範囲で検出された像の解像度を高くし、紫外線波長領域での非共焦点像と可視光線波長領域での共焦点像とを容易に重ね合わせることができる安価で取り扱いやすいものとする。 - 特許庁

This microscope is equipped with image-forming optical systems 4 and 11 forming a primary image O' of a sample, the projection optical system 15 projecting the primary image O' to the electronic imaging device 17, and a diaphragm 20 having a light-transmitting area where light is transmitted and a light-shielding area, where light is intercepted and controlling the irregular brightness.例文帳に追加

標本の一次像O’を形成する結像光学系4、11と、一次像O’を電子撮像素子17に投影する投影光学系15と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り20とを備えた顕微鏡。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of compensating the lowering of light quantity caused in the periphery area of the observed image of a sample, capable of successively and easily changing the light quantity of a light source and capable of changing the wavelength of illuminating light.例文帳に追加

試料の観察像の周辺領域で生じる光量の低下を補うことが可能な共焦点顕微鏡、光源光量を逐次容易に変化させることが可能な共焦点顕微鏡、及び照明光の波長を変化させることが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.例文帳に追加

光源21からの光をローションプリズム28によってS偏光とP偏光に分離して、被検物1とカンチレバー12との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー63を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁

例文

This confocal optical microscope 100 has an excitation optical system for irradiating a sample with excitation light, and the system is constituted of an excitation light source 101, a dichroic mirror 106 and an objective lens 107.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡100は励起光を試料に照射する励起光学系を有し、それは励起用光源101とダイクロイックミラー106と対物レンズ107とから構成される。 - 特許庁

例文

To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.例文帳に追加

簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁

To provide a light source device for a microscope that is easy to use by doing away with a problem of a combination of a lamp with a light control device by making it possible to suitably drive a plurality of lamps by a power source.例文帳に追加

1つの電源で複数のランプを適切に駆動可能とすることにより、ランプと調光装置の組み合わせの問題をなくし、使いやすい顕微鏡用光源装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a a vertical illuminator which can continuously adjust the light quantity of a plurality of light for illumination with respect to a specimen in a wide wavelength region and can be inexpensively configured and a fluorescent microscope.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い波長域で連続的に調整でき、安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

At this time, the light sources 23, 24 of the light source part 20 and the lenses 33, 34 of the deflection part 30 are arranged in a peripheral direction with nearly the same intervals so as to surround an imaging part 40 of the microscope 100.例文帳に追加

このとき、光源部20の光源23,24及び偏向部30のレンズ33,34は、顕微鏡100の結像部40を囲むように、円周方向に略等間隔で配置される。 - 特許庁

A scanning type microscope comprises a light source unit 120, an objective lens 115, a scanner unit 114, a pin hole array 113, an optical separator 112, a light quantity detector 116 and a position detecting system 117.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、光源ユニット120、対物レンズ115、スキャナユニット114、ピンホールアレイ113、光学的分離器112、光量検出器116、および位置検出システム117を有する。 - 特許庁

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope.例文帳に追加

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope includes a stage 17, an objective lens 14, an irradiation optical system for irradiating observation objects 15 and 18 with illumination light through the objective lens 14 and the illumination light antireflection unit 200.例文帳に追加

ステージ17と、対物レンズ14と、対物レンズ14を通して照明光を観察対象物15,18に照射するための照射光学系と、照明光反射防止ユニット200とを有する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope constituted so that a place where light reflectivity is extremely high or a place where light reflectivity is extremely low can be directly and visually displayed when they exist at one part of a sample.例文帳に追加

試料の一部に極端に光反射率が高い箇所又は低い箇所が存在する場合に、その箇所を直接的かつ視覚的に表示することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In a confocal microscope 11, luminous fluxes into which light is split by a light splitting member 22 and emitted from pin holes 22a and 22b are detected by the optical detectors 23a and 23b.例文帳に追加

共焦点顕微鏡11では、光分離部材22により分離されてピンホール22aおよび22bから射出される光束が光検出器23aおよび23bによりそれぞれ検出される。 - 特許庁

To provide a method for measuring a tilt angle of a liquid crystal cell, which can be carried out by measuring only once the intensity of transmitted light in the liquid crystal cell without requiring microscope optics.例文帳に追加

顕微光学系の必要がなく、液晶セルの透過光強度を1回測定するだけでできる液晶セルのチルト角測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple microscopic system for lightening the load on a control substrate and a light source, when attaching/detaching an illumination unit to/from a microscope body by hot plug.例文帳に追加

顕微鏡本体から照明ユニットを活線挿抜した際に、制御基板や光源への負荷を軽減することができる簡素な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a digital microscope which is not available before, by solving a problem that its luminance is not stable in a certain time period after a light source is lit.例文帳に追加

光源が点灯した後の一定時間において照度が安定しないという課題を解決し、従来にはなかったデジタル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correlatively evaluate both a SPM image and a light microscopic image with its resolution lower than that of the SPM image.例文帳に追加

SPM像とこれに比べて低分解能の光学顕微鏡像とを互いに関連づけて評価し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope is provided with a light source 10, an illumination optical system 20, a fluorescence filter set 100, an objective lens 30, an image forming lens 50 and a detector 60.例文帳に追加

顕微鏡は、光源10と、照明光学系20と、蛍光フィルターセット100と、対物レンズ30と、結像レンズ50と、検出装置60とを備えている。 - 特許庁

A scanning type confocal microscope system is provided with a photodetector 15 of normal sensitivity and a photodetector 19 of high sensitivity as means for detecting reflected light from a sample 10.例文帳に追加

本装置は、試料10からの反射光を検出する手段としてノーマル感度の光検出器15と高感度の光検出器19を備える。 - 特許庁

To provide an optical microscope in which the handling time and labor for attachment and detachment of a member shielding vertical illuminating light can be saved and the forgetting to mount the shielding member can be prevented.例文帳に追加

落射照明光を遮蔽する部材の着脱の手間を省き、遮蔽部材の装着忘れを防止することができる光学顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can detect the light emitted from a micro-region with high efficiency even a as small as possible photoirradiation and can rapidly measure a sample.例文帳に追加

できるだけ少ない光照射でも、微小領域からの発光を高効率で検出でき、試料を短時間で計測できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This near-field optical microscope is provided with a light source unit 10, the probe 20 of optical fiber, an oscillation unit 30 and a signal feedback unit 40.例文帳に追加

この近視野光学顕微鏡は、光源ユニット10と、光ファイバの探り針20と、発振ユニット30と、信号フィードバックユニット40とを備える。 - 特許庁

LIGHT QUANTITY ADJUSTING MECHANISM, ILLUMINATION UNIT HAVING THE MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING THE MECHANISM OR THE UNIT HAVING THE MECHANISM例文帳に追加

光量調節機構、それを備えた照明ユニット、及び光量調節機構又は光量調節機構を備えた照明ユニットを備えた顕微鏡 - 特許庁

To provide a focal position detector excellently detecting a focal point even when light quantity from an object is small and a fluorescence microscope equipped therewith.例文帳に追加

物体からの光量が少なくても良好に焦点検出を行える焦点位置検出装置およびそれを備えた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This scanning microscope is provided with an optical element 4 which produces at least partially spectrally diffusing illumination light within its illumination optical path 8.例文帳に追加

走査顕微鏡においては、照明光路(8)内に、少なくとも部分的にスペクトル拡散する照明光を生じさせる光学要素(4)を設ける。 - 特許庁

The focul positions of respective microscope objective lens parts fall within range of a fine adjustment of respective light spot forming positions p1, p2 on the optical axis X by the switching operation.例文帳に追加

この切り換え動作により各顕微鏡対物レンズ部の焦点位置が光軸X上の各光スポット形成位置p1,p2の微調整範囲に入る。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope capable of effectively utilizing illuminating light and enabling a user to stably observe a large sample with excellent operability.例文帳に追加

照明光を有効に利用できるとともに、大型標本の観察を操作性がよく、しかも安定して行うことができる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light from the object 1 for observation is formed by an image formation optical system (microscope optical system 20) and an observed image 12 is projected in the space.例文帳に追加

観察対象物1からの光が結像光学系(顕微鏡光学系20)によって結像されて空間中に観察像12が投射される。 - 特許庁

To determine a light illumination position for photo-stimulus in a visual field while performing microscope observation and to accurately photo-stimulate the determined illumination position.例文帳に追加

顕微鏡観察を行いながら、その視野内において、光刺激用の光の照射位置を特定し、かつ、特定された照射位置を精度よく光刺激する。 - 特許庁

To provide a microscope system which derives an amplitude transmittance distribution of light suitable for observing an image of an object in a best condition during observation.例文帳に追加

観察中の物体の像を最良の状態で観察するために適した光の振幅透過率分布を導き出す顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope preventing displacement of images when images obtained at the same time by a plurality of light detecting means are superposed.例文帳に追加

複数の光検出手段で同時に取得した画像を重ね合わせたときの画像のズレを防ぐことができる倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a heater suitably used for a microscope slide glass which allows transmission of visible light and also heats an observed object by electric heat.例文帳に追加

可視光を透過し、かつ、電熱によって被観察物を加熱することができ、顕微鏡のスライドガラスとして好適に用いることができるヒータを提供する。 - 特許庁

Parallel laser beams are made incident on the optical path of the microscope and formed into an image on a sample surface, and returning light from the sample surface is made incident on a photodiode.例文帳に追加

平行レーザー光線を顕微鏡光路に入射し、これを試料面に結像させ、該試料面からの戻り光をフォトダイオードに入射する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PHOTOPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

To measure an inclination and a distance of an object to be measured after being positioned using a microscope, without limiting the kind (wavelength) of measuring light.例文帳に追加

測定光の種類(波長)を制限することがなく、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物の傾きや距離を測定すること。 - 特許庁

When a microscope 16 is focused to the sample S2, the light passes through the lens 25, the pinhole plate 24, the lens 23 and the half mirror 22 and impinges on a detector 21.例文帳に追加

顕微鏡16がサンプルS2に合焦すると、光がレンズ25、ピンホール板24、レンズ23そしてハーフミラー22を通して検出器21に入射する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope having a high S/N ratio and a wide dynamic range and ensuring high speed response by restraining noise caused by return light.例文帳に追加

戻り光による雑音を抑制して高いS/N比と広いダイナミックレンジを有するとともに高速応答が可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A laser scan microscope image from a reflection light is provided at the same time, or sequentially, with the scanning of the laser beam 3, with two images displayed superimposed.例文帳に追加

また、レーザビーム3の走査と同時に、または相前後して反射光によるレーザ走査顕微鏡像が取得され、2つの像が重ね合わせて表示される。 - 特許庁

ELECTRON BEAM RADIATING DEVICE, AND ELECTRON BEAM DEPICTING DEVICE, SCAN-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND POINT LIGHT SOURCE-TYPE X-RAY RADIATING DEVICE USING IT例文帳に追加

電子ビーム照射装置およびこの電子ビーム照射装置を用いた電子ビーム描画装置、走査型電子顕微鏡、点光源型X線照射装置 - 特許庁

Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、TVカメラ28か31が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope capable of acquiring a fluorescent image good in contrast by effectively intercepting stray light from the periphery of a sample and to provide a shading member.例文帳に追加

試料周囲からの迷光を効果的に遮断し、コントラストの良い蛍光像を得ることができる蛍光顕微鏡および遮光部材を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope by which total reflection fluorescence observation having sufficient brightness and excellent contrast is performed by enhancing the use efficiency of illuminating light.例文帳に追加

照明光の利用効率を高め、十分な明るさで、コントラストのよい全反射蛍光観察を可能にした全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

The polarization interference microscope (1) for imaging the objects (5) comprises a light source (2), an illumination beam path (6), an imaging beam path (7) and an objective (4).例文帳に追加

対象物(5)を結像するための偏光干渉顕微鏡(1)は、光源(2)、照明ビーム路(6)、結像ビーム路(7)及び対物レンズ(4)を備える。 - 特許庁




  
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