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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Process Measurementの意味・解説 > Process Measurementに関連した英語例文

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Process Measurementの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 792



例文

A measurement processing section 44 performs a measurement process based on the video signal.例文帳に追加

計測処理部44は、映像信号に基づいて計測処理を実行する。 - 特許庁

SHAPE MEASUREMENT METHOD, PROCESS METHOD USING THE SAME, AND SHAPE MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

形状測定方法、これを用いた加工方法、および形状測定装置 - 特許庁

Measurement operation for leak determination is performed in the order of a pressurization process, a balance process, a measurement process, and an exhaust process.例文帳に追加

リーク判定の測定動作は、加圧工程、バランス工程、測定工程、排気行程の順に行われる。 - 特許庁

Line width measurement is repeatedly performed during the development process.例文帳に追加

この線幅の測定は,現像中繰り返し行われる。 - 特許庁

例文

MAINTENANCE AND INSPECTION DEVICE FOR PROCESS MEASUREMENT CONTROL SYSTEM例文帳に追加

プロセス計測制御システム保守点検装置 - 特許庁


例文

MEASUREMENT OF INTEGRATED CIRCUIT INTERCONNECTING PROCESS PARAMETERS例文帳に追加

集積回路の相互接続プロセスパラメータの測定 - 特許庁

A process DB 17 stores process data acquired by the process measurement part 15.例文帳に追加

プロセスDB17は、プロセス測定部15によって取得されたプロセスデータを格納する。 - 特許庁

To provide a process error measurement method and a process error measuring apparatus that minimize process errors, and an overlay measurement method and an overlay measuring apparatus that utilize them.例文帳に追加

工程エラーを最少化するための工程エラー測定方法及び装置と、これを利用したオーバーレー測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A measurement processing section 47 performs a measurement process based on the frame image or the odd-field image.例文帳に追加

計測処理部47は、フレーム画像または奇数フィールド画像に基づいて計測処理を実行する。 - 特許庁

例文

To suggest a process configuration reducing a load on signal processing of measurement data or a load on arithmetic processing of measurement data.例文帳に追加

計測データの信号処理又は演算処理負担を軽減する処理構成を提案する。 - 特許庁

例文

The method of manufacturing the piezoelectric resonator includes a base side wafer measurement process S3, a load capacity value calculation process S4, a cover side wafer measurement process S5 and an etching process S7 in the previous process of a layout junction process S8.例文帳に追加

圧電共振子の製造方法は、配置接合プロセスS8の前工程に、基体側ウェハ測定プロセスS3と負荷容量値演算プロセスS4と蓋体側ウェハ測定プロセスS5とエッチングプロセスS7とを含む。 - 特許庁

(a) Does the person in charge of credit risk measurement at the financial institution have sufficient knowledge with regard to the measurement technique and understand the modeling process of credit risk measurement? 例文帳に追加

a.金融機関の担当者は、計測手法に関する知識を十分持ち、信用リスク計測のモデル化の過程について理解しているか。 - 金融庁

(i) Does the person in charge of market risk measurement at the financial institution have sufficient knowledge with regard to the measurement technique and understand the modeling process of market risk measurement? 例文帳に追加

(ⅰ)金融機関の担当者は、計測手法に関する知識を十分持ち、市場リスク計測のモデル化の過程について理解しているか。 - 金融庁

To provide a method to simulate a stress (strain) measurement process using a microscopic spectroscopic measurement, particularly a microscopic Raman measurement.例文帳に追加

顕微分光計測、特に、顕微ラマン計測を用いた応力(歪み)計測過程をシミュレートする方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, while a measurement process of the sample can be smoothly progressed, the measurement load of each measurement unit 41 can be uniformized.例文帳に追加

これにより、円滑に検体の測定処理を進めることができると共に、各測定ユニット41の測定負荷を均一化することができる。 - 特許庁

To provide a measurement device and a combined measurement device equipped with the measurement device, which accelerate a process from a measurement to an ejection by performing a process of the measurement, a stock and an ejection without stopping a container transfer, and also to provide a measurement method.例文帳に追加

容器の移動を停止させることなく計量、ストック、排出等の工程を行うことで、計量から排出までの工程を高速化することが可能な計量装置およびこれを備えた組合せ計量装置、計量方法を提供する。 - 特許庁

To automatically process the measurement of funnel viscosity, especially the measurement of funnel viscosity due to a process corresponding to an API standard.例文帳に追加

ファンネル粘度の計測、特にAPI規格に準じた手順によるファンネル粘度の計測を自動処理する。 - 特許庁

The factor analysis device is inputted with measurement data of a plurality of characteristic values measured in the production process of the product, and measurement order or process order thereof.例文帳に追加

製造物の製造工程において測定する複数の特性値の測定データと、その測定順序または工程順序を入力とする。 - 特許庁

A graph showing the relation between the measurement results obtained in the measurement process and the calculated results obtained in the calculation process is formed.例文帳に追加

そして、測定プロセスで得られた測定結果と演算プロセスで得られた演算結果との関係グラフを作成する。 - 特許庁

A semiconductor manufacturing system 1 is composed of an oxidation process unit 2, a film thickness measurement unit 3, a process condition calculation unit 4, and an atmospheric pressure measurement unit 5.例文帳に追加

酸化処理部2、膜厚測定部3、処理条件算出部4及び気圧測定部5を備える半導体製造システム1を構成する。 - 特許庁

A process status/external input estimating means 4 estimates non-measurement data related to a process status.例文帳に追加

プロセス状態/外部入力推定手段4は、プロセス状態に関する非計測データを推定する。 - 特許庁

To provide an exposure apparatus executing an exposure process through a liquid and a measurement process well.例文帳に追加

液体を介した露光処理及び計測処理を良好に行うことができる露光装置を提供する。 - 特許庁

To improve precision of a measurement process by a color correction process suitable for a color of a part to be measured.例文帳に追加

測定対象部位の色彩に適した色補正処理により、測定処理の精度を向上する。 - 特許庁

To predict and determine normality/abnormality in a subsequent process based on a measurement value in a preceding process.例文帳に追加

前工程における測定値から後工程における正常異常を予測して判定する。 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PROCESS PARAMETER OF SEMICONDUCTOR FABRICATION PROCESS USING OPTICAL MEASUREMENT例文帳に追加

光計測を用いた半導体製造プロセスのプロセスパラメータの測定方法 - 特許庁

The optical measurement model includes one or more process parameters and dispersion.例文帳に追加

光学測定モデルは、1つ以上のプロセスパラメータ、及び分散を含む。 - 特許庁

In the pressurization process, volume data on the objects 2 under measurement are automatically estimated.例文帳に追加

加圧工程では、被測定物2の容積データを自動推定する。 - 特許庁

To facilitate optimization of the mass flow measurement process of a cryogenic fluid.例文帳に追加

低温流体の質量流量測定プロセスの最適化を容易にする。 - 特許庁

The "visualization" process 305 presents visualization to the measurement standards.例文帳に追加

「視覚化」プロセス305は、測定基準に対応する視覚化を提示する。 - 特許庁

MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR LITHOGRAPHY PROCESS例文帳に追加

リソグラフィプロセスのための計測システムおよび計測方法 - 特許庁

To enable sure measurement of the surface temperature of a treatment target in a laser process.例文帳に追加

レーザプロセスにおいて被処理体の表面温度を的確に測定する。 - 特許庁

To judge the state of vibrations of a measurement object by a simple process.例文帳に追加

単純な処理で測定対象物の振動の状態を判定すること。 - 特許庁

This optical measurement method includes a homogenizing process performed after a liquid diluent is added to a sample containing the measurement target, a filtering process for removing a solid substance, an adding process for adding insoluble fine particles not causing the emission due to an excitation wavelength to a specimen in a concentration of 1-10% and a process for measurement and evaluating the measurement target.例文帳に追加

測定対象物を含有する試料に希釈液を加えて行う均質化工程と、固形物を取り除く濾過工程と、励起波長による発光がない不溶性微粒子を検体に対し濃度1〜10%となるよう加える添加工程と、測定対象物の測定評価工程を備える。 - 特許庁

To provide a technique for accurate temperature measurement in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造プロセスの正確な温度測定技術を提供する。 - 特許庁

MONITORING OF OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPIC PROCESS AND MEASUREMENT OF MATERIAL CHARACTERISTICS例文帳に追加

光学放出分光工程監視及び材料特性測定 - 特許庁

To provide a radio measurement collection method using UE configured to perform a process of retaining a measurement log including a measurement result of a radio environment according to a measurement configuration set by a measurement configuration message received from a network.例文帳に追加

ネットワークから受信した測定構成メッセージによって設定された測定構成に従って、無線環境の測定結果を含む測定ログを保持する処理を行うUEを用いた無線測定収集方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement characteristic verification device, and a measurement characteristic verification method for verifying measurement characteristics of a gap measurement device in application of a new gap measurement device to an execution process.例文帳に追加

新規の隙間計測装置を実施工に適用するに際しての、隙間計測装置の計測性の検証を可能にした計測性検証装置、及び計測性検証方法を提供する。 - 特許庁

This thinning operation is carried out by the three processes: a measurement process of measuring the thickness of the SOI layer, an oxidation process of selectively oxidizing the surface of the SOI layer based on the measurement result obtained through the measurement process, and a removal process of selectively removing a silicon oxide formed through the oxidation process.例文帳に追加

この薄化は、SOI層の厚さを測定する測定工程と、測定工程における測定結果に基づいて、SOI層の表面を選択的に酸化する酸化工程と、酸化工程により形成された酸化シリコンを選択的に除去する除去工程とにより行う。 - 特許庁

A measurement method of reinforcing steel corrosion inside the concrete includes a deformation measurement process for measuring the deformation on the surface of the concrete, and a corrosion state estimation process for estimating the corrosion state of the reinforcing steel inside the concrete based on the measurement result in the deformation measurement process.例文帳に追加

コンクリート内部の鉄筋腐食計測方法は、コンクリートの表面のひずみを計測するひずみ計測工程と、ひずみ計測工程による計測結果に基づいて、コンクリート内部の鉄筋の腐食状態を推測する腐食状態推測工程とを含む。 - 特許庁

The vibration of the polymeric material is performed in either of a measurement process, an injection process or a dwelling process in the injection molding cycle.例文帳に追加

高分子材料の振動は、射出成形サイクル中の計量工程、射出工程、保圧工程の何れかで行う。 - 特許庁

To allow inspection of the inside of a process apparatus at any time and measurement of the inside of a process chamber without disassembling the process chamber.例文帳に追加

いつでもプロセス装置内部の検査ができ、プロセス室内部の測定がプロセス室を分解する必要なしに行う。 - 特許庁

When the process is carried in the vehicle, the IC tag 2 provides the PCs 5 to 8 in the process with measurement results obtained in the process.例文帳に追加

工程に車両が搬入されると、ICタグ2は、前の工程において得られた計測結果を当該工程内PC5〜8に提供する。 - 特許庁

To detect a final point highly accurately and to improve flatness of CMP process by carrying out highly accurate film thickness measurement by specifying a measurement position in-situ measurement during CMP process.例文帳に追加

CMP加工する際、in-situで計測位置を特定して高精度に膜厚計測を行ない、高精度な終点検出を行うとともに、CMP加工の平坦性の向上を図ること。 - 特許庁

A measurement part 205 then measures a processing time between the business process that is the start point of measurement and the business process that is the end point of measurement both defined in advance by the extended model definitions 106.例文帳に追加

そして、測定部205により、予め拡張モデル定義106に定義された測定の開始点となるビジネスプロセスと当該測定の終了点となるビジネスプロセスとの間の処理時間を測定する。 - 特許庁

Then, a device 300 to be measured generates measurement data showing the start time and end time of the measurement target process or the like based on the measurement result, and transmits it to a measurement host device 400.例文帳に追加

そして、測定対象装置300は、該測定結果に基づいて測定ターゲットプロセス等の起動時間、終了時間を示す測定データを生成し、これを測定ホスト装置400に送信する。 - 特許庁

The detection is performed based on a detection of an impedance variation, which is produced when the process electrode moves through a measurement region, of the measurement region.例文帳に追加

検出は、加工電極が測定領域(3)を経て移動するときに生じる測定領域のインピーダンスの変化の検出に基づいて行われる。 - 特許庁

As the results, the measurement of the axial force accompanied by fastening process of the bolt can be accomplished even in the case of the measurement error happened.例文帳に追加

その結果、測定エラーが発生した場合でもボルトの締付け作業に伴う軸力測定を完了させることができる。 - 特許庁

To perform measurement in a real time by measuring emission at the same time as irradiation, and to prevent any waste from being generated in the process of measurement.例文帳に追加

照射と同時に発光が計測できるようにしてリアルタイムで計測が可能であり、かつ廃棄物が計測の過程で発生しないようにする。 - 特許庁

MEASUREMENT DEVICE FOR MEASURING PARAMETER OF BLADE ROTOR AND MEASUREMENT PROCESS FOR MEASURING WITH THE DEVICE例文帳に追加

ブレードロータのパラメータを測定するための測定機器とかかる機器により測定するための測定プロセス - 特許庁

例文

To enable measurement accurate in a depth direction by making a matching process easy in a three-dimensional information measurement of an object using a plurality of images.例文帳に追加

複数の画像を用いた測定物の3次元情報の測定において、対応付け処理を容易とし、奥行き方向の精度のよい測定を可能とする。 - 特許庁

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