「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

User-entered text to help user know what the test is about. 例文帳に追加

ユーザー入力の項目。 テスト内容について入力します。 - NetBeans

The test is performed preferentially from the segment having small access frequency.例文帳に追加

また、アクセス頻度の低いセグメントから優先的に試験行う。 - 特許庁

Even if the test piece TP is destroyed and the oil is ejected from the test piece TP, the oil does not reach the hermetically closed chamber SP2.例文帳に追加

供試体ＴＰが破壊され、供試体ＴＰから油が噴出しても、その油が密閉室ＳＰ２に達することはない。 - 特許庁

A cross-color correction factor is derived from both the test signals.例文帳に追加

両試験信号からクロスカラー補正ファクターが導出される。 - 特許庁

The test fuel is also irradiated with thermal neutrons (S24), and the intensity of the gamma rays emitted from the test fuel is measured (S25).例文帳に追加

また、試験燃料に熱中性子を照射し（Ｓ２４）、その試験燃料から放出されるガンマ線強度を測定する（Ｓ２５）。 - 特許庁

An interval between the test patches is measured by the toner concentration sensor 26.例文帳に追加

トナー濃度センサ２６によってテストパッチの間隔を測定する。 - 特許庁

An output is received in response to the performance of the subsystem test.例文帳に追加

サブシステム・テストの実行に応答して、出力が受け取られる。 - 特許庁

Cache representation of the microprocessor design under the test is initialized.例文帳に追加

テスト中のマイクロプロセッサ設計のキャッシュ表現を初期化する。 - 特許庁

A suitable test signal is applied to the membrane and the semiconductor wafer, and the response of the semiconductor wafer to the test signal is measured.例文帳に追加

適切な試験信号をメンブレインと半導体ウエハに印加し、試験信号に対する半導体ウエハの応答を測定する。 - 特許庁

In the step S10, the test of a wafer under test is terminated in midstream, and the wafer is stored in an output cassette OC1.例文帳に追加

ステップＳ１０では、現在試験中のウェハの試験が途中終了され、当該ウェハをアウトプットカセットＯＣ１に格納する。 - 特許庁

A continuity test is conducted on each sub-harness in steps S2a, S2b.例文帳に追加

ステップＳ２ａ，Ｓ２ｂで各サブハーネスに導通検査が施される。 - 特許庁

Then, a test mode signal is input by the test mode setting input pin 4, and its state is stored by the shift register 7.例文帳に追加

次に、テストモード設定用入力ピン４からテストモード信号が入力され、その状態は、シフトレジスタ７に記憶される。 - 特許庁

And I think being able to differentiate between those two is the turing test you want me to perform.例文帳に追加

その2つを区別させることが 僕がやるべきテストだと - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is our test site on maui, flying across the sky.例文帳に追加

これは私たちのマウイ島の実験場で、凧を飛ばしています - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This training camp is also a test to see if you are fit to take part in missions.例文帳に追加

任務に参加できるかどうかの テストも兼ねています。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Dad was my litmus test for what a real cop is supposed to be.例文帳に追加

パパは 私のお手本だった どんな警官になるべきかのね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

5. When the reaction is over, place the test-tube on a damp cloth. 例文帳に追加

５．反応が終わったら、濡れ雑巾の上に試験管をおく。 - Tanaka Corpus

a test procedure in which the identity of those receiving the intervention is concealed from both the administrators and the subjects until after the test is completed 例文帳に追加

テストが終了するまで、介入を受ける者のアイデンティティが管理者と対象者の両方から隠されるテスト手順 - 日本語WordNet

5. When the reaction is over, place the test-tube on a damp cloth.例文帳に追加

５．反応が終わったら、濡れ雑巾の上に試験管をおく。 - Tatoeba例文

That is a test which tests your English vocabulary and pronunciation skills. 例文帳に追加

それは、英語の語彙や発音などの能力を試す試験です。 - Weblio Email例文集

floating solids that form in urine when it is left to stand after a urine test 例文帳に追加

雲翳という,採尿を放置した時に生ずる浮遊物 - EDR日英対訳辞書

an instrument that is a sealed automatic earthquake meter used to detect an underground nuclear test 例文帳に追加

地下核実験探知用封印自動地震計という計器 - EDR日英対訳辞書

This signals a test failure if expr is true, with msg or None for the error message.例文帳に追加

エラー内容はmsgに指定された値か、またはNoneとなります。 - Python

A first test switch 12 is installed to the first water supply valve 4.例文帳に追加

第１の給水弁４に第１のテストスイッチ12を取り付ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The problem is devising a standard test to assess that.例文帳に追加

問題は、それを評価する標準試験を考案することだ。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

An electrocardiogram is a test that measures the electrical activity of the heart.例文帳に追加

心電図は心臓の電気的活動を計測する検査です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

Next, the address for the first test is applied to an address terminal 21.例文帳に追加

次に、第１のテスト用アドレスをアドレス端子２１へ印加する。 - 特許庁

Furthermore, a test result of blood sampled from a participant is received (Step S15) and the received test result is displayed (Step S17).例文帳に追加

また、参加者から採取された血液の検査結果を受信し（ステップＳ１５）、受信した検査結果を表示する（ステップＳ１７）。 - 特許庁

A non-ejecting nozzle is detected by reading out the test pattern by a read out device.例文帳に追加

テストパターンを読取器で読み取って不吐ノズルを検出する。 - 特許庁

But the "interest" test is repeated on each byte in the result. 例文帳に追加

でも「おもしろい」判定は、結果のすべてのバイトに適用される。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The test device is operated corresponding to the input test signal group, and supplies a test pattern signal to the device to be tested corresponding to the first clock, the device to be tested is operated by the test pattern signal input corresponding to the first clock, while generates a test result.例文帳に追加

テストデバイスは入力されたテスト信号群に対応して動作し、第１クロックに対応して被テストデバイスにテストパターン信号を供給し、被テストデバイスは第１クロックに対応して入力されたテストパターン信号で動作するとともにテスト結果を生成する。 - 特許庁

To perform a stable test of a test object by a suction method, even when the whole test object is covered with a cover or a cover is divided into those for a large number of leaking spots, like cases where leaking spots of the test object are not clear, or the test object has a large number of leaking spots.例文帳に追加

検査対象物のどこから漏れか分らない場合や漏れ個所が多数ある場合のように、カバーで検査対象物全体を覆う場合やカバーを多数の漏れ個所に分ける場合でも、吸引法によって安定した検査を行える。 - 特許庁

Among test data i, wherein yi is an undefined value and a data NNtrain(i) is correctly learned, a test data iA for providing a minimum d(i, NNtrain(i)) is found out (Step 1).例文帳に追加

y_iが未定義値でかつデータN Ntrain(i)が正しく学習されているテストデータiの中で最小のd(i, N Ntrain(i)）を与えるテストデータi_Aを見つける（ステップ１）。 - 特許庁

At that time, the transmission of the test radio wave is delayed so that the test radio wave is transmitted after the door of a pipe shaft is closed.例文帳に追加

その際、試験電波の発信を遅延させ、前記操作手段の操作後パイプシャフトの扉を閉めた後に試験電波が発信するようにする。 - 特許庁

When the test load being applied to the test piece, i.e., a tensile load, is increased by displacing a lower loading section downward, a large elongation occurs in the test piece as the test piece begins to fracture and the test load applied to the test piece decreases.例文帳に追加

下側荷重負荷部１６を下方へ変位させて、試験片に加わる試験荷重である引張荷重を増大させて行くと、その試験片に破壊が発生し始めたときに、その試験片に大きな伸びが発生するため、それまで試験片に加わっていた試験荷重が低下する。 - 特許庁

The subsystem is equipped with a transport system moving the carrier through the instrument where various modules perform operations on the test devices including sealing the test devices, loading the test devices into an incubation station, incubating the test devices, reading the test devices and disposing of the test devices.例文帳に追加

このサブシステムは、担体を器具を通して移動させる運搬システムを備え、ここで様々なモジュールが、試験装置の密封、培養ステーション内への試験装置の装填、試験装置の培養、試験装置の読取、および試験装置の処分を含む操作を試験装置上で行う。 - 特許庁

The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.例文帳に追加

並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁

To provide a successive approximation type A-D converter capable of reporting a defective circuit to the outside without awaiting the end of a test when the defective circuit is detected on the way of the test then stopping the test on the way of the test, thereby shortening the test time and reducing manpowers for the test.例文帳に追加

テストの途中で回路の不良が検出された場合、テストの終了を待たずに回路の不良が外部へ告知され、テストの途中でテストの中止ができ、テスト時間の短縮・省力を行えるようにした逐次比較型ＡＤ変換装置を提供する。 - 特許庁

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.例文帳に追加

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

Since the test circuit is provided on the other test wafer 210 separated from the test object wafer 10 on 1 to 1 of the test object chip CP, a number of the chips CP can be simultaneously tested in parallel during the wafer test without increasing the area of the test object chip CP.例文帳に追加

試験回路を、試験対象チップＣＰと１対１に、試験対象ウェハ１０とは別のテストウェハ２１０上に備えるので、試験対象チップＣＰの面積を増加させることなく、ウェハテスト時において、同時に多数個のチップＣＰを並列にテストすることができる。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

To execute a test that is the same as a terminal interface loopback test, even when using an ATM.例文帳に追加

ＡＴＭを利用する場合であっても端末インタフェース折り返し試験と同様の試験を実行可能とする。 - 特許庁