Test Isの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12773件
It is possible to reduce the number of pins of a test interface since test input and output signals can be unwired by using this means.例文帳に追加
本手段を用いれば,テスト入出力信号を無線化できるためテストインターフェースの少ピン化を図れる。 - 特許庁
To provide a test disk production system which can examine the test disk after it is completed.例文帳に追加
テストディスクを作成した後に、作成したテストディスクを評価することができるテストディスク作成システムを提供する。 - 特許庁
The test piece is held between a pair of test piece holding members provided in parallel across a predetermined interval.例文帳に追加
所定の間隙を隔てて平行に設けられた一対の試験片保持部材の間に試験片を保持する。 - 特許庁
A recording required item is recorded in a test log 3 by a test log creation part 34, and fed back to the developer.例文帳に追加
要記録事項が試験ログ作成部34により試験ログ3に記録され、開発者にフィードバックされる。 - 特許庁
A test circuit 10 including a fuse for cut off test (parity fuse) 11 is provided in a redundant memory cell selection decoder 20.例文帳に追加
冗長メモリセル選択デコーダ20に、切断試験用ヒューズ(パリティ・ヒューズ)11を含むテスト回路10を設ける。 - 特許庁
To apply the cause and effect graph technique, that is a hardware test technique, to the generation of hardware test items.例文帳に追加
ソフトウェア・テストの技法である「原因−結果グラフ」技法をハードウェアのテスト項目生成にも適用可能とすること。 - 特許庁
Test body data 2 which is characteristic to the X-ray photographing device are input from a test body data input means 1.例文帳に追加
試験体データ入力手段1からX線撮影装置に固有な試験体データ2を入力する。 - 特許庁
Only the test vector effective for performing the verification therefore is adopted and the total number of test vectors can be reduced.例文帳に追加
したがって、検証を行う上で効果的なテストベクトルのみが採用され、テストベクトルの総数を削減できる。 - 特許庁
This device is provided by improving a test board device to be electrically connected to a test head of an IC tester.例文帳に追加
本発明は、ICテスタのテストヘッドに電気的に接続するテストボード装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
Therefore, a test pattern is given directly to the parity cell array and an incorporated self-test of a semiconductor memory can be performed.例文帳に追加
したがって、試験パターンをパリティセルアレイを直接与えて半導体メモリの組み込み自己検査を実施できる。 - 特許庁
A laboratory test is performed in a predetermined condition on a tire which has the same configuration with a tire for the real car test.例文帳に追加
実車試験のタイヤと同じ構成のタイヤに対して予め設定した条件でラボ試験を実施する。 - 特許庁
To carry out a more precise lighting test in which a temperature of a panel itself is reflected at the time of lighting test of a plasma display panel.例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行う。 - 特許庁
Preferably, the contact of the test substance with the cells is performed by administering the test substance to zebra fishes.例文帳に追加
好ましくは,試験物質と細胞との接触は,ゼブラフィッシュに試験物質を投与することにより行う。 - 特許庁
A test valve 72 is provided between the automatic pressure regulating valve 56 and the hose connecting port 46 as a test valve system.例文帳に追加
試験用バルブ系統として、自動調圧弁56とホース接続口46との間に試験弁72を設ける。 - 特許庁
To provide a test specification preparing system in which the test specification of the program is automatically prepared by inputting a program.例文帳に追加
プログラムを入力してそのプログラムのテスト仕様書を自動作成するテスト仕様書作成システムを提供する。 - 特許庁
In addition, the test gas is heated in a very short time, and the reaction between components constituting the test gas can also be suppressed.例文帳に追加
さらに、極めて短時間に加熱されるため試験用ガスを構成する成分間での反応も抑えられる。 - 特許庁
The functional test pattern is inputted to a reference device 2 and a device under test 4, and both devices 2 and 4 are operated likewise.例文帳に追加
機能テストパターンは基準デバイス2と被検査デバイス4に入力し、各デバイス2,4は同じように動作する。 - 特許庁
A burst address for test outputted from the burst address generating circuit 7 for test is supplied to a column decoder 10.例文帳に追加
試験用バーストアドレス発生回路7から出力された試験用バーストアドレスは、カラムデコーダ10へ供給される。 - 特許庁
A gate array block 2 having a scanning test inapplicable circuit 21, 23, and a scanning test applicable circuit 22 is provided.例文帳に追加
この発明は、スキャンテスト不適用回路21、23と、スキャンテスト適用回路22を有するゲートアレイブロック2を備える。 - 特許庁
The imaging element is provided with a test signal generation means for outputting a digital signal for producing a test image.例文帳に追加
撮像素子にテスト画像を生成するためのデジタル信号を出力するテスト信号発生手段を設ける。 - 特許庁
A pattern generating circuit of the logic chip is operated in a first test mode, to generate an internal test pattern for the memory chip.例文帳に追加
ロジックチップのパターン発生回路は、第1試験モード時に動作し、メモリチップ用の内部試験パターンを発生する。 - 特許庁
The network test device uses at least two PN sequences applied to the network which is the object of the test.例文帳に追加
ネットワーク試験装置は、試験対象のネットワークに対して印加する少なくとも2つのPNシーケンスを用いる。 - 特許庁
Further, an inspection device is provided to the food testing system to test the test target positioned on the upstream side of the second belt conveyor 7.例文帳に追加
また、検査装置を備え、第2のベルトコンベア7より上流に位置する検査対象物を検査する。 - 特許庁
Then, the test scenario used for correction confirmation is registered in a test scenario storage file while being interlinked with the registering work.例文帳に追加
登録作業と連動して、修正確認に使用したテストシナリオをテストシナリオ格納ファイルに登録しておく。 - 特許庁
The test signal generating apparatus includes a signal processing circuit for outputting a test video signal wherein a moving picture is inserted to part of regions of a still picture.例文帳に追加
本発明は、静止画の一部領域に動画を嵌め込んで試験用映像信号を出力する。 - 特許庁
Then the test pattern is inputted from a scanning-in signal SI to perform the scanning test of the combination circuit 200.例文帳に追加
その後、スキャンイン信号SIからテストパターンを入力し、組み合せ回路200のスキャンテストを実行する。 - 特許庁
The management system software providing a function executed relating to the test is executed from the workstation for test.例文帳に追加
テストに関連して実行される機能を提供する管理システムソフトウエアはテスト用ワークステーションから実行される。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体試験方法並びにプログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To provide a test lens housing case which is available for using at a restricted space and convenient for handling test lenses.例文帳に追加
省スペースにて使用することが可能で、テストレンズの取り扱いが便利なテストレンズ収納器を提供する。 - 特許庁
In a test mode, the isolation unit isolates the two areas, and a test voltage is supplied from the voltage supply line.例文帳に追加
テスト時に、分離部で2つの領域を分離し、電圧供給線からテスト用の電圧を供給する。 - 特許庁
An output delay test of an IP macro 12 is conducted by performing a delay test between the scan flip-flop 21, 22.例文帳に追加
IPマクロ12の出力遅延試験をスキャンフリップフロップ21、22間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁
a test result that does not show the specific disease, condition, or biomarker for which the test is being done. 例文帳に追加
検査において、対象となった特定の疾患、状態、バイオマーカーの存在が示されなかったという結果。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
the reference values for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加
ある検査の基準値は、健康な人で構成される集団の95%における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
When the parameter is reset, the test operation of the work flow is started again.例文帳に追加
前記パラメータが再設定されると、再度ワークフローのテスト動作が開始される。 - 特許庁
The reticle 1 is placed at the front focusing point of an optical system 2 which is under the test.例文帳に追加
レチクルには、複数の位置に計測パターン1a、1bが形成されている。 - 特許庁
The magnet coil 2 is demagnetized when pressing operation to the test switch 18 is released.例文帳に追加
試験スイッチ18の押圧操作を解除すると、マグネットコイル2が消勢される。 - 特許庁
Then the air is sucked, and the test reagent or the specimen is sucked.例文帳に追加
その後空気を吸入し、さらにその後試薬あるいは検体を吸入する。 - 特許庁
Data for which the substitution of characters is ended is outputted as the test data file.例文帳に追加
文字の置換が終了したデータはテスト用データファイルとして出力される。 - 特許庁
When the test environment is not found in advance, a heuristic method is used.例文帳に追加
テスト環境が予め見つからない場合には、発見的手法を利用する。 - 特許庁
Each time the test is run, the current output is compared to the content of Output.xml. 例文帳に追加
テストを実行するたびに、現在の出力が Output.xml の内容と比較されます。 - NetBeans
Each time the test is run, the current output is compared to the contents of Output.xml. 例文帳に追加
テストを実行するたびに、現在の出力が Output.xml の内容と比較されます。 - NetBeans
By the flip-flop (20), a serial scan path is formed and the test result is successively transferred.例文帳に追加
フリップフロップ(20)がシリアルスキャンパスを形成し、順次テスト結果を転送する。 - 特許庁
When the test is completed, it is notified to the SNMP unit 3 and confirmed by the SNMP manager 7.例文帳に追加
試験が完了すると、SNMPユニット3に通知され、SNMPマネージャ7で確認される。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which yield is high and a test time is short.例文帳に追加
歩留りが高く、テスト時間が短くて済む半導体装置を提供する。 - 特許庁
4) (Not classified): In the case where in vivo mutagenicity test data is available, and the substance is negative例文帳に追加
4)区分外(Not classified):in vivo 変異原性試験に関するデータがあり、陰性の場合 - 経済産業省
To provide an electrical connection appliance for test plug in which wiring work for test is performed easily and surely with little risk of electric shocks, and to provide an electrical test method that utilizes the electrical connection appliance for test plug.例文帳に追加
感電の危険が少なく、試験用の配線作業が容易で確実なテストプラグ用電気接続器具及びそのテストプラグ用電気接続器具を利用した電気試験方法を提供する。 - 特許庁
To solve the problem that a test administrator needs to repeatedly plan test conduction order since the administrator can not grasp test resources needed to conduct a test again after debugging is completed.例文帳に追加
ソフトウェア開発時のテスト管理者がバグ修正状況やバグ修正完了後の再テストに必要なテスト資源を把握することができないため、テスト実施順序を繰り返し立案しなければならない。 - 特許庁
In response to a test case list display request, a test case is retrieved under a retrieval condition of the combination of the presently managed request and test condition item, and the obtained test cases are listed and displayed.例文帳に追加
そして、テストケース一覧表示要求に対し、現在管理しているリクエストおよびテスト条件項目の組み合わせを検索条件としてテストケースを検索し、取得したテストケースを一覧表示する。 - 特許庁
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