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Test Isの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 12776



例文

A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20.例文帳に追加

試験光源20の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ(バンドパスフィルタ)22を設置する。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ102に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ104に蓄積する。 - 特許庁

A program control part 11 operates the test target program 1 of the test case registered in the test case storage 18, and its output result is stored in a test result storage 19.例文帳に追加

プログラム制御部11は、テストケース記憶装置18に登録されたテストケースを元に被テスト対象プログラム1を操作し、その出力結果をテスト結果記憶装置19に格納する。 - 特許庁

Then, each item of (1) an identifier of the sub-test, (2) the present test flow context information 300, (3) the test number, and (4) the base number is correlated in a test number database 600 (108).例文帳に追加

ついで、テスト番号データベース600内で、(1)サブテストの識別子、(2)現在のテストフローコンテキスト情報300、(3)テスト番号、(4)ベース番号、の各項目を関連づける(108)。 - 特許庁

例文

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁


例文

The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.例文帳に追加

前記トレッド溝4を形成した試験片3を作成する試験片作成工程と、該試験片3を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁

In addition, since descriptions of the coupling codes are unified, test man-hour for a coupling test or the like is also reduced.例文帳に追加

また、結合コードの記述が統一されるため、結合テストなどのテスト工数も図ることができる。 - 特許庁

A test terminal board 200 is provided with an I/O expander 120 and test signal terminals 121 to 124.例文帳に追加

試験端子基板200は、I/Oエクスパンダ120と、試験信号端子121〜124とを備えている。 - 特許庁

The test piece holder, incorporated with the internal standard, is controlled so as not to stop at a test piece mounting position.例文帳に追加

そして内部標準を組み込んだ試験片ホルダーは試験片載置位置に停止しないよう制御する。 - 特許庁

例文

The unit test is executed in a host environment 320 for a further perfect and accurate test of a program unit.例文帳に追加

ユニットテストは、プログラムユニットのより完全で正確なテストのためにホスト環境320において実行する。 - 特許庁

例文

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

In place of the input analog signal, a test signal is inputted to execute a predetermined test.例文帳に追加

入力アナログ信号に代えテスト信号を入力して、所定のテストを行うように構成される。 - 特許庁

The modeling test case is compared to plural components to extract a modeling test case as a difference.例文帳に追加

モデル化テストケースを、複数のコンポーネント間で比較することで差分となるモデル化テストケースを抽出する。 - 特許庁

The same test input value as that inputted from one input test pin is inputted to circuits K_1-K_N.例文帳に追加

回路K_1〜K_Nには、1個の入力テストピンから入力された同一のテスト入力値が入力される。 - 特許庁

A test selector is used and different test structures TC1 and TC2 are multiplexed to prove pads PP1 and PP2.例文帳に追加

テストセレクタを用い、プローブパッドPP1、PP2に対し、異なるテスト構造TC1、TC2を多重化する。 - 特許庁

An address AD generated for a memory access test is input to memory test devices TST and WS.例文帳に追加

メモリアクセス試験のために生成されたアドレスADがメモリ試験装置TST、WSに入力される。 - 特許庁

A test pattern generated by a test pattern generating circuit 13 is recorded on a phase transition recording disk 1.例文帳に追加

相変化記録ディスク1にテストパターン発生回路13によって発生されたテストパターンが記録される。 - 特許庁

In the clinical test company 5, the specimen 40 is tested according to the electronic form 26 of the test request.例文帳に追加

臨床検査会社5では検査依頼の電子フォーム26にしたがって検体40の検査を行う。 - 特許庁

In image data on the test chart, the space between neighboring black bars on the test chart is used as a white bar.例文帳に追加

テストチャートの画像データは、テストチャートの隣接する黒バー間の間隙を白バーとして使用する。 - 特許庁

To suppress the damage of a thermostatic tank when an inner-pressure test for loading a test piece with high-pressure oil is performed.例文帳に追加

供試体に高圧油を負荷する内圧試験を行った際の恒温槽の被害を抑える。 - 特許庁

A color-classified test pattern is printed in a test printing region of a recording paper 16 using each printing head 12.例文帳に追加

記録紙16上のテスト印字領域に色別のテストパターンが各印字ヘッド12により印字される。 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ST12において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

As such, by the separation of the real execution data from the test data, the influence of the test is isolated from the real execution data.例文帳に追加

このように本番用とテスト用とで、データを分けてテストの影響を本番用データから切り離す。 - 特許庁

This image processing device is provided with a JTAG test means executing a JTAG test on an integrated circuit.例文帳に追加

画像処理装置は、JTAGテストを集積回路に実行するJTAGテスト手段を備えている。 - 特許庁

The energization test of the detection means 90 is conducted by loading the analyzing apparatus 60 with an energization test cassette.例文帳に追加

検出手段90の通電検査は、分析装置60に通電検査用カセットを装着して行う。 - 特許庁

A method for designing a semiconductor integrated circuit is based on a TPI (Test Point Insertion) method.例文帳に追加

本発明によれば、TPI(Test Point Insertion)手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

The test pattern output from the function test pattern output part 21 is input into the LSI 11.例文帳に追加

一方、ファンクションテストパターン出力部21から出力したテストパターンは、LSI11へと入力される。 - 特許庁

By this constitution, it is possible to reduce costs in comparison with an expensive test apparatus provided by a test maker.例文帳に追加

この構成により、テスターメーカーが提供する高額な試験装置は用いずに、低コスト化が図れる。 - 特許庁

During the pressure test, the control rod drive system driving water pump is operated to maintain the test pressure.例文帳に追加

耐圧試験中は、制御棒駆動系駆動水ポンプを運転して上記試験圧力が保持される。 - 特許庁

The method is provided which determines a sensor field of view with respect to a test patch and aligns the test patch with the sensor field of view.例文帳に追加

センサの視野をテストパッチに対して決定し且つテストパッチをセンサ視野に位置合わせする方法。 - 特許庁

Most PC systems probe for the keyboard during the Power-On Self-Test (POST) and will generate an error if the keyboard is not detected. 例文帳に追加

たいていの PC システムは Power-On Self-Test (POST)の間にキーボードを検出し、もし見つからなければエラーとなります。 - FreeBSD

When you run the test the println text for each methods will appear in the JUnit Test Results output window.If you do not add the println, there is no output to show that the methods were run. 例文帳に追加

println を追加しないと、メソッドが実行されたことを示す出力は表示されません。 - NetBeans

Test writing is performed for a track T1 and a track T2 being adjacent to it with a same test power Pwt.例文帳に追加

トラックT1とこれに隣接するトラックT2に同じテストパワーPwtで試し書きを行う。 - 特許庁

To automatically extract test items in just proportion when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、試験項目を過不足なく自動的に抽出することができるようにする。 - 特許庁

a test result that reveals the presence of a specific disease or condition for which the test is being done. 例文帳に追加

検査対象となった特定の疾患や病態が存在するということを示した検査結果。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

guaiac is used in the fecal occult blood test (a test for blood in human stool samples). 例文帳に追加

グアヤクは便潜血反応検査(ヒトの便サンプル中の血液の有無を調べる検査)に使用されている。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

For example, a test of the flash memory chip 3 is performed during a data holding period of a hold-test of the SRAM chip 2.例文帳に追加

たとえばSRAMチップ2のホールドテストのデータ保持期間内にフラッシュメモリチップ3のテストを行なう。 - 特許庁

Test result is transmitted to the test apparatus or a higher-level apparatus 12 through an asynchronous serial data communication.例文帳に追加

検査結果は、調歩同期式シリアルデータ通信で検査装置または上位制御装置12に伝送する。 - 特許庁

A test mode register 5 is set to a test mode, a semiconductor integrated circuit device 1 is made a voltage force mode and the prescribed voltage is forced.例文帳に追加

テストモードレジスタ5をテストモードに設定して、半導体集積回路装置1を電圧フォースモードにし、所定の電圧をフォースする。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ3からテスト出力データ6とハッシュ値7とが返されると、テスト結果判定手段1cにより、テスト出力データ6と、テスト仕様書1dに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

A test control trunk 40 decodes the test line information, recognizes the test line, monitors the state of use of the test line, and transmits the line switching signal for avoiding the closing of the line during the test when the line is idle to perform test control.例文帳に追加

試験制御トランク40は、試験回線情報の解読を行い試験回線を認識して、試験回線の使用状態を監視し、回線が空きの場合は、試験中の回線閉塞を回避するための回線切替信号を送出して、試験制御を行う。 - 特許庁

If the RTT test of the other individual request authentication processing is passed, the RTT test for the AKE request being processed is regarded as passed, and authentication processing is continued without carrying out the RTT test.例文帳に追加

そして、当該他の個別リクエスト認証処理のRTTテストがパスした場合には、処理中のAKEリクエストについてのRTTテストがパスしたものとして、RTTテストを実行せずに認証処理を進める。 - 特許庁

Also, after test data is written in a memory cell, the self-test circuit discriminates whether the data read out from the memory cell is same as the written test data or not, the comparison result is accumulated.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、試験データをメモリセルに書き込んだ後に、そのメモリセルから読み出した読み出しデータが、書き込んだ試験データと同じか否かを比較し、その比較結果を蓄積する。 - 特許庁

After performing wafer level burn-in, a WLBI mode is released, test data is read out from a memory core 2 by an external tester via a pin 10 under a test mode, and test data is compared with an expected value.例文帳に追加

ウェハレベルバーンインの実行後に、WLBIモードを解除し、テストモード下で、ピン10を介して、外部テスタがメモリコア2からテストデータを読み出し、テストデータと期待値とを比較する。 - 特許庁

To provide a mobile terminal device in which a test terminal is disposed at a position where the test terminal is not visible for eyes of a user ordinarily but can be easily connected with a measuring instrument in the test.例文帳に追加

携帯端末装置において、試験用端子を、通常時にはユーザの目に触れることがなく、テスト時には容易に測定装置と接続可能な位置に配置する。 - 特許庁

After the printing of the serial number, the probe is moved in a return direction to draw the saliva sampling needle out of the test tube and the guide is loaded with the new test tube from a test tube housing case (208).例文帳に追加

シリアル番号の印字後、プローブは戻り方向に移動して、試験管から針が抜かれ、試験管収納ケース(208)から新たな試験管が装填される。 - 特許庁

Also, a result storage position where processing to store a test result to be obtained for the test conditions of the object to be tested in predetermined variables is executed on the test program is acquired.例文帳に追加

また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト(DMA)を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When conducting the leak test, only gas in the low pressure conduit is used to conduct the leak test in the gas supply inner pipe, and air purge work after the leak test is not required.例文帳に追加

漏洩試験の際には、低圧導管内のガスのみを用いてガス供内管における漏洩試験を行い、漏洩試験後のエアーパージ作業を不要にしている。 - 特許庁

例文

A circuit for generating an input signal exclusive to the burn-in test is not provided in the logic circuit 2, and the burn-in test is carried out using an input signal for the scanning test.例文帳に追加

ロジック回路2は、バーンイン試験専用の入力信号を生成するための回路を具備せず、スキャン試験用の入力信号を用いてバーンイン試験が行われる。 - 特許庁




  
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