「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

The test piece subjected to the calcium corrosion test is set in a constant-temperature and constant-humidity environment, and a plurality of test piece images are photographed at intervals of time.例文帳に追加

カルシウム腐食法の試験片を恒温恒湿環境内におき、時間間隔をあけて複数の試験片画像を撮影する。 - 特許庁

If a test switch 90 provided on the emergency warning device 25 is operated, a test voice message 110 indicating a fire notification test is output from the emergency warning device 25 and a device event signal 112 indicating the fire notification test is transmitted to an alarm, and a test voice message 114 indicating the fire notification test is output therefrom.例文帳に追加

緊急警報装置に設けた試験スイッチ９０を操作すると、緊急警報装置で火災報知試験を示す試験音声メッセージ１１０が出力されると共に報知試験を示す装置イベント信号１１２が警報器に送られ、火災報知試験を示す試験音声メッセージ１１４が出力される。 - 特許庁

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁

A 1st test program 1 is installed to the 1st terminal device 10 and the communicating function which is to be the subject of the test is integrated.例文帳に追加

第１の端末装置１０には、第１テストプログラム１がインストールされ、試験対象となる通信機能が組み込まれる。 - 特許庁

Terminal of the electronic device waiting test is separated from the test terminal by releasing compression of the resilient device after completing the test, and the electronic device waiting test is moved to a tray area where vacuum is broken and released.例文帳に追加

試験完了後に弾性装置の圧縮が解除されることで、試験待機電子装置の端子と試験端子が分離し、更に試験待機電子装置がトレイエリアに移動され、真空が破壊されて釈放される。 - 特許庁

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

When the extraction processing of the test case is executed, the priority order for extraction is set in each test case based on each test result of each test case according to the set priority order of the logics.例文帳に追加

テストケースの抽出処理が実行されると、設定されたロジックの優先順位に従い、各テストケースの各回のテスト結果に基づいて、抽出のための優先順位が各テストケースに設定される。 - 特許庁

The test handler provides the test handler, having a method opening an insert which is arranged at the other part of area, by making a test tray moved after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁

The issued points are determined by a multiplying factor to a grade of each test decided in advance registered in the test information 112, and the multiplying factor is changed between when taking a test or the like wherein the taken test is a source issuing the points and when taking a test except the test.例文帳に追加

発行されるポイントは、試験情報１１２に登録されている事前に定められた各試験の点数に対する乗率により決定し、受験する試験がポイントを発行する元となった試験等と、それ以外の試験を受験する場合とで乗率を変化させる。 - 特許庁

To provide a device for a test item extraction system, a test item extraction method, a recording medium in which a test item extraction program is recorded and the test item extraction program to enable uniform extraction of a test item even when the extraction is performed by anyone without being influenced by knowledge and experience of a test operator.例文帳に追加

試験作業者の知識及び経験に左右されずに、誰が行なっても均一な試験項目の抽出を可能とする試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラムの提供。 - 特許庁

A multicycle test step and a single cycle test step are provided, the test for the multicycle path is carried out while holding the date, using the clock enable signal to the FFI in the data output side, when executing the multicycle test step, and the test is carried out while bringing constitution not capturing the data, as to the multicycle path, when executing the single cycle test step.例文帳に追加

マルチサイクルテストステップと、シングルサイクルテストステップとを設けて、マルチサイクルテストステップ時には、データの出し側のFF1に対してクロックイネーブル信号を用いて、データをホールドしてマルチサイクルパスのテストを行い、シングルサイクルテストステップ時に、マルチサイクルパスに関してはデータをキャプチャさせない構成をとってテストを行う。 - 特許庁

Even if one of the semiconductor test circuits is failed, a semiconductor test is continued by interconnecting two semiconductor test circuits and causing the other semiconductor test circuit to implement a test allocated to the failed semiconductor test circuit.例文帳に追加

本発明は、２台の半導体試験回路を相互接続することにより一方の半導体試験回路が故障した場合でも故障した半導体試験回路の割当て分をもう一方の半導体試験回路が行うことにより半導体試験を継続出来ることを特徴とする。 - 特許庁

Upon inspections, the test valve 8 is closed and the water discharge valve 9 is opened.例文帳に追加

点検時はテスト弁８を閉塞して水抜き弁９を開放する。 - 特許庁

When the operation power source is selected, the non-volatile memory is operated with an operation mode, when the test power source is selected, it is operated with a test mode.例文帳に追加

動作電源が選択された場合、不揮発性メモリを動作モードで動作させ、検査電源が選択された場合、検査モードで動作させる。 - 特許庁

The first program section is programmed when a test of an internal circuit is passed.例文帳に追加

第１プログラム部は、内部回路のテストがパスしたときにプログラムされる。 - 特許庁

Then, the tracer gas is introduced, and the leakage from the test object 11 is detected.例文帳に追加

その後、トレーサガスを導入し、被試験体１１の漏れを検出する。 - 特許庁

When a fuse blow confirming test is performed, a switch is made a conduction state.例文帳に追加

ヒューズブローの確認試験をするときは、スイッチを導通状態にする。 - 特許庁

The first test coupon and the second test coupon which is longer than the first test coupon are prepared, and each signal attenuation amount of the first test coupon and the second test coupon is measured, respectively, under identical condition, and the difference between measured values of each attenuation amount of the second test coupon and the first test coupon is used as a measured value of the signal attenuation amount.例文帳に追加

第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。 - 特許庁

The tearDown method is a test finalizer method and is run after each test case in the test class.A test finalizer method is not required for running tests, but you may need a finalizer to clean up any data that was required when running the test cases.例文帳に追加

tearDown メソッドはテスト終了メソッドであり、テストクラスの各テストケースのあとに実行されます。 テストの実行にテスト終了メソッドは必須ではありませんが、テストケースの実行時に求められたデータをクリーンアップするために終了メソッドが必要になる場合があります。 - NetBeans

A test data voltage is applied to the data lines through a data pad.例文帳に追加

データパッド部は、データラインに検査用データ電圧を印加する。 - 特許庁

A test pattern signal is generated by a test pattern image generating means 11, and the signal is transmitted to a writing means 12.例文帳に追加

テストパターン像発生手段１１ではテストパターン信号が生成され、その信号が書き込み手段１２へ送られる。 - 特許庁

The plate 5 for a test in which a code for a test is written is arranged at a predetermined position on the optical information reader 2.例文帳に追加

テスト用コードが記されたテスト用プレート５を、光学的情報読取装置２に対して所定位置に配置する。 - 特許庁

Selection is performed between an operation power source and a test power source.例文帳に追加

動作電源および検査電源間で選択を行なう。 - 特許庁

When performing the delay test, the transmission gate is turned on.例文帳に追加

ＩＯ伝搬遅延試験時は、トランスミッションゲートをＯＮとする。 - 特許庁

A state of the SDRAM is calculated after a radiation test.例文帳に追加

放射線試験後にＳＤＲＡＭの状態が算出される。 - 特許庁

My aim is to to get 800 points on the test after half a year. 例文帳に追加

私の目標は、半年後にテストで800点とることです。 - Weblio Email例文集

The objective of our test is to confirm your level. 例文帳に追加

私たちのテストの目的はレベルの確認をするためです。 - Weblio Email例文集

The test data is erased by overwriting after power adjustment.例文帳に追加

テストデータはパワー調整後に上書きされて消去される。 - 特許庁

An oxidation degradation test is performed on a new oil to prepare a degraded oil.例文帳に追加

新油の酸化劣化試験を行って劣化油を作る。 - 特許庁

The selector circuit 4 is switched by a test mode signal.例文帳に追加

セレクタ回路４は試験モード信号によって切り替えられる。 - 特許庁

Therefore, a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a test voltage pad is cut off after finish of a test.例文帳に追加

したがって、テスト終了後にテスト電圧パッドを切断しても、昇圧回路にリーク電流が流れなくなる。 - 特許庁

Then, a series of processing is executed for each test item.例文帳に追加

上記した一連の処理をテスト項目ごとに実行する。 - 特許庁

A polarity test of the current transformer 15 is implemented.例文帳に追加

これにより、計器用変流器１５の極性試験を行う。 - 特許庁

A test control circuit 13 is arranged inside the chip 11.例文帳に追加

チップ１１内には、テスト制御回路１３が配置される。 - 特許庁

Then, the image of the recorded test pattern is read and the width of each fine line is determined from the image of the read test pattern.例文帳に追加

そして、記録されたテストパターンの画像を読み取り、読み取ったテストパターンの画像から各細線の幅を求める。 - 特許庁

A calibration is implemented for inspections of devices under test (15, 30 and 115).例文帳に追加

被測定デバイス(15,30,115)の試験のために校正を実行する。 - 特許庁

To provide a medium test method and a device, and a program, wherein a medium test which is suitable for DTM is applied.例文帳に追加

媒体試験方法及び装置並びにプログラムにおいて、ＤＴＭに適した媒体試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

In response, a sample test of an identified product is scheduled and the result of the sample test is stored in a database.例文帳に追加

これに応答して、識別された製品のサンプルテストがスケジューリングされ、サンプルテストの結果がデータベースに格納される。 - 特許庁

A wafer test is performed on a wafer, after the wafer test, a protection film is attached onto the surface of a chip other than those of terminals for conforming wafers.例文帳に追加

ウエハに対しウエハ試験を行ない、ウエハ試験後、良品には端子以外のチップ表面に保護膜を付加する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

a test to determine whether there is a blockage of the spinal canal 例文帳に追加

脊柱管の遮断があるかを決定するための検査 - 日本語WordNet

a test to insure that a vehicle is roadworthy 例文帳に追加

車が道路上の使用に適することを保証するテスト - 日本語WordNet