「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Wealth, no less than poverty, is a test of character. 例文帳に追加

富は貧困に劣らず人格の試金石となる. - 研究社 新英和中辞典

The number of flo pairs created is also dependent upon test configuration.例文帳に追加

flo のペアの数も、テストの構成から求められる。 - XFree86

When high voltage is applied to the pin X0, a test mode is started.例文帳に追加

ピンＸ０に高電圧が印加されると、テストモードに入る。 - 特許庁

To improve test efficiency while reducing a risk that, though test object software is normally operated, it is determined as a test failure due to a time difference of processing time between the test object software and a test simulator.例文帳に追加

テスト対象ソフトウェアが正常動作しているにもかかわらず、テスト対象ソフトウェアとテストシミュレータとの処理時間の時間差によりテスト失敗と判定されてしまう危険性を少なくしつつ、テスト効率を向上させる。 - 特許庁

When a sub-test in the test flow 200 is executed, a database 400 of the test number is indexed by using index information including (1) an identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (104).例文帳に追加

テストフロー２００内のサブテストが実行されると、テスト番号のデータベース４００が、（１）サブテストの識別子と（２）現行テストフローコンテキスト情報３００とを含む索引情報を使用して索引付けされる（１０４）。 - 特許庁

To structure a piled raft test object, a spread foundation test board having a predetermined size and being in contact with the peripheral ground is formed on a pile head part of the test pile protruding from the ground, in a manner that the test board is structurally integrated with the test pile.例文帳に追加

地盤から突き出した試験杭の杭頭部に、周辺地盤と接する一定大きさの直接基礎試験盤を前記試験杭と構造的に一体化して形成し、パイルド・ラフト試験体を構成する。 - 特許庁

To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.例文帳に追加

テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁

When an operation test is performed for a driver part 10, a test signal to be supplied to the driver part 10 is generated in a test circuit 20.例文帳に追加

ドライバ部１０に対しての動作テストを行う時に、ドライバ部１０に供給されるテスト信号をテスト回路２０によって生成する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit in which the number of test terminals is decreased and the scale of the circuit is reduced.例文帳に追加

テスト端子数を少なくすると共に、回路規模を小さくした半導体集積回路のテスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

According to this, the test is performed at the operation speed of the SOC to shorten the test time, and even after the SOC is mounted on a board, the test can be performed.例文帳に追加

これにより、ＳＯＣの動作速度でテストを行い、テスト時間を短縮させ、ＳＯＣがボードに実装された後にもテストを行える。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit test device having a test station 21 and a test station 31, when the test station 31 is in the standby state of being ready for testing during testing of the test station 21, testing of the test station 21 is forcibly ended, and then testing at the test station 21 and the test station 31 is simultaneously started.例文帳に追加

テストステーション２１とテストステーション３１とを備える半導体集積回路試験装置において、テストステーション２１が試験を行っている最中にテストステーション３１がテストをすることが可能な待機状態になった場合に、テストステーション２１のテストを強制的に終了した後で、テストステーション２１及びテストステーション３１における試験を同時に開始する。 - 特許庁

The WWW server 20 for a test decides the acceptance/ rejection of a test for a security hole test object, on the basis test contents from the terminal 1, performs a security hole test, when there is a system where a security hole test can be performed and generates security hole test results.例文帳に追加

検査用ＷＷＷサーバ２０は、端末１からの検査内容に基づいて、セキュリティホール検査対象に対する検査の可否を判断し、セキュリティホール検査が実施可能なシステムであれば、セキュリティホール検査を実施し、セキュリティホール検査結果を生成する。 - 特許庁

The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.例文帳に追加

電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁

A person in charge of the test conducting server 304 previously sets test reservation terminating date and time which is the last date and time for a user to make a reservation for the test, test questions distribution start date and time, test questions distribution terminating date and time, test time, and test answer transmitting time.例文帳に追加

試験実施サーバ３０４の担当者は、ユーザが試験の予約を行う最後の日時である試験予約終了日時と、試験問題配布開始日時と、試験問題配布終了日時と、試験時間と、試験解答送信時間とを予め設定する。 - 特許庁

Further, a bending preventing plate 3 is arranged on the test air downstream side of the test piece 1 to prevent the bending of the test piece 1.例文帳に追加

また、試験片１の試験空気下流側に撓み防止板３を配置することにより、試験片１の撓みを防止できる。 - 特許庁

To discriminate whether or not an analyte test strip prepared to be used together with a test meter is suitable to be used together with the test meter.例文帳に追加

検査計と共に使用するための検体検査ストリップが、その検査計と共に使用するのに適切なものかを判別する。 - 特許庁

A logical circuit selecting one test result out of test result signals 21 to 24 of the plurality of test circuits 41 to 54 is provided.例文帳に追加

複数のテスト回路５１〜５４のテスト結果信号２１〜２４の中から一のテスト結果を選択する論理回路を設ける。 - 特許庁

The connector 1 for a test head is so arranged to carry a test head 3 of an IC tester for connecting the test head to a testing part of an automatic handler.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストヘッド３を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラのテスト部に接続するテストヘッドの接続装置１である。 - 特許庁

For example, a predetermined test signal is generated by a test signal generation part 13 according to a test start request.例文帳に追加

たとえば、テスト開始要求にしたがって、テスト信号生成部１３より、あらかじめ定められたテスト信号が発生される。 - 特許庁

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.例文帳に追加

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁

A test signal generation unit 41A is provided in a first device 2A and transmits a test signal A to a test signal inspection unit 42B.例文帳に追加

テスト信号生成部４１Ａは、第１のデバイス２Ａに設けられ、テスト信号検査部４２Ｂへテスト信号Ａを送信する。 - 特許庁

By a test mode designation signal (Norm/Test Mode), a semiconductor integration circuit (IC_Chip) is set to the test mode.例文帳に追加

テストモード指定信号Ｎｏｒｍ／Ｔｅｓｔ Ｍｏｄｅにより半導体集積回路ＩＣ＿Ｃｈｉｐは、テストモードに設定される。 - 特許庁

To provide a test mode circuit capable of easily resetting test mode, even when the circuit is carelessly shifted to the test mode.例文帳に追加

不用意にテストモードに移行してしまった場合でも、そのテストモードを簡単に解除することが出来るテストモード回路を提供する。 - 特許庁

This invention is for the semiconductor test system which executes a virtual test operation without connecting to a prober, and the semiconductor test method.例文帳に追加

本発明はプローバと接続せずに仮想テスト動作を実行する半導体テストシステム及びその半導体テスト方法に関する。 - 特許庁

A test machine 5 is connected while being branched logically from the node B apparatus 1 and performs a test different from that of the load test machine 2.例文帳に追加

試験機５はノードＢ装置１から論理的に分岐して接続し、負荷試験機２と違った別の試験を実施する。 - 特許庁

If the test plug 21 is mounted on the main body 11 of the test spring, the lock pawl portion 25a is engaged into the lock recess 15b, and the test plug 21 is locked on the main body 11 of the test spring.例文帳に追加

試験用プラグ２１が試験弾器本体１１に装着されると、係止爪部２５ａが係止用凹部１５ｂに係合し、試験用プラグ２１は試験弾器本体１１にロックされる。 - 特許庁

Test point list data and test log data are inputted, and a log data label test point list collation processing part 12 decides whether or not a test point recorded in the test log data is registered with the test point list data.例文帳に追加

試験ポイント一覧データと試験ログデータとを入力し、ログデータラベル・試験ポイント一覧照合処理部１２において、試験ログデータ中に記録された試験ポイントが試験ポイント一覧データに登録されているか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a software test device capable of promoting efficiency of the whole test work by totalizing test results every time the test is finished for one test item without requiring totalization work after finishing the test.例文帳に追加

１つのテスト項目に対するテストが終了する毎にテスト結果を集計することによって、テスト終了後に集計作業を行う必要がなく、テスト作業全体を効率化することのできるソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

In the head selection test, the test data with the skewness is read out, it is confirmed whether read data is accurate or not.例文帳に追加

ヘッド・セレクション・テストは、スキューをもったテスト・データを読み出して、読み出したデータが正確なデータであるかを確認する。 - 特許庁

A test facilitating circuit is structured so that the test result of an IP 12 is extracted to the outside the SOC 11 via a test result storage circuit 15, which subjects the test result of the IP 12 to signature-compression.例文帳に追加

本発明は、ＩＰ１２のテスト出力をシグネチャ圧縮するテスト結果格納回路１５を介して、ＩＰ１２のテスト結果をＳＯＣ１１の外部に取り出すように構成される。 - 特許庁

An electric testing is also conducted simultaneously with the waterproof test.例文帳に追加

また、防水試験と同時に電気試験が行える。 - 特許庁

A test control signal Ten is made a high level.例文帳に追加

そして、テスト制御信号Ｔｅｎをハイレベルにする。 - 特許庁

My goal is to get a score of 800 on that test. 例文帳に追加

私の目標はそのテストで800点を取ることです。 - Weblio Email例文集

This is result of the test done 3 weeks ago. 例文帳に追加

これは3週間前に行われたテストの結果です。 - Weblio Email例文集

The diagnostic is excellently used for an exhalation test.例文帳に追加

本発明の診断剤は、呼気テストに用いるとよい。 - 特許庁

(b) Acoustic vibration test machines, the rated output of which is greater than 4 kilowatts 例文帳に追加

ロ　定格出力が四キロワット以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

The objective of the present guidelines is to prescribe matters related to certification of compliance of test facilities, etc.例文帳に追加

本要領は、労働安全衛生規則 - 厚生労働省

This is a test you have to bear with your own hands.例文帳に追加

これは お前自身の手で 乗り越えるべき試練だ。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is a test you must overcome on your own, yusei!例文帳に追加

これは お前自身の手で 乗り越えるべき試練だ。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is the endurance test result of the new gaudi.例文帳に追加

これが 新型ガウディの 動作評価テストの結果です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is the test result of tsukuda manufacturing's valve system.例文帳に追加

これが 佃製作所製バルブシステムの テスト結果です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

In case you're wondering, this is our strength test.例文帳に追加

興味があるなら、これが我々の体力テストです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A random odd number is a lot harder to test.例文帳に追加

ランダムな奇数の場合 調べるのはずっと難しい - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

His score on the English test is quite satisfactory. 例文帳に追加

彼の英語のテストの得点は全く申し分がない。 - Tanaka Corpus

If he is absent, we will not have an English test. 例文帳に追加

もし彼が休んだら、英語のテストはないでしょう。 - Tanaka Corpus