「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

2) In some cases it is not clear whether the adopted data is from the vapor inhalation test or mist inhalation test.例文帳に追加

２）採用したデータが、蒸気の吸入試験であるか、ミストの吸入試験であるか不明な場合がある。 - 経済産業省

An address after scramble is recorded in a test result recording section 11c as a result of a function test.例文帳に追加

スクランブル後のアドレスは、ファンクションテスト結果としてテスト結果記録部１１ｃに記録される。 - 特許庁

The test pattern formed at the test pattern formation part 25 is detected by a pattern detecting device 30.例文帳に追加

テストパターン形成部２５に形成されたテストパターンは、パターン検出装置３０にて検出される。 - 特許庁

A flash memory 101 is set to a test mode by setting a test pad TP to a L level.例文帳に追加

テストパッドＴＰをＬレベルに設定することによってフラッシュメモリ１０１はテストモードにセットされる。 - 特許庁

A relay 8 of a test object removed from a control panel is attached to a pedestal 7 for test.例文帳に追加

制御盤１３から取り外した試験対象のリレー８を試験用台座７に取り付ける。 - 特許庁

DRAWING METHOD FOR TEST PATTERN, IMAGING DEVICE, AND RECORDING MEDIUM ON WHICH TEST PATTERN IS FORMED例文帳に追加

テストパターンの描画方法、および画像形成装置、並びにテストパターンが形成された記録媒体。 - 特許庁

(1) This is the pallet usable in the all processes of curing an adhesive, a leakage test, and a flow-path occlusion test.例文帳に追加

（１）接着剤硬化、リークテスト、流路閉塞テストの全ての工程で使用可能なパレット。 - 特許庁

As the inspection method of the semiconductor device, a test program is transmitted as a communication signal for every test.例文帳に追加

半導体装置の検査方法として、テストプログラムを通信信号として、テスト毎に送信する。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a separation area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、区切り領域２０で構成する。 - 特許庁

An STA script sentence 14 is generated together with a test circuit in the case of test synthesis (step S11).例文帳に追加

テスト合成時にテスト回路とともにＳＴＡスクリプト文１４を生成する（ステップＳ１１）。 - 特許庁

The laser power is adjusted by using test areas 1, until the test areas 1 (PCA) are used up.例文帳に追加

テストエリア１（ＰＣＡ）を使い尽くすまで、テストエリア１を用いてレーザパワーの調整を行う。 - 特許庁

The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items.例文帳に追加

試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time of a refresh test of redundancy area is shortened.例文帳に追加

リダンダンシーエリアのリフレッシュテストのテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The controller issues a test signal in which test information of first to m-th circuit devices is contained.例文帳に追加

コントローラは第１乃至第ｍ回路装置をテストした情報を有するテスト信号を発する。 - 特許庁

A timer 10 for a test is used for making a control part 2 measure a time in a test mode.例文帳に追加

テスト用タイマ１０は、制御部２がテストモード時に計時を行うために用いるものである。 - 特許庁

To provide a pot-type dyeing test machine by which the efficiency of a dyeing test is improved.例文帳に追加

染色試験効率を向上させることができるポット式染色試験機を提供する。 - 特許庁

The bulk density of the test piece 21 is calculated from the calculated weight and volume of the test piece 21.例文帳に追加

求めた供試体２１の重量および体積から、供試体２１の嵩密度を算出する。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a solid area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、ベタ塗り領域２０で構成する。 - 特許庁

Then test operation is performed for a test circuit 21 in accordance with an input of a surplus address.例文帳に追加

そして、その余剰なアドレスの入力に応じて、テスト回路２１にテスト動作を実行させる。 - 特許庁

The maximum compressive load is 193 KN (19.7 t) when obtained test pieces are subjected to the load test.例文帳に追加

試験片を荷重試験した際の最大圧縮荷重が１９３ＫＮ（１９．７ｔ）であった。 - 特許庁

Disclosed is a test system including at least 100 flash memory devices and a mass test board.例文帳に追加

少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。 - 特許庁

A primary accelerated test is executed relative to a test body of the cable at 100°C or higher.例文帳に追加

ケーブルの試験体に対して１００℃以上の加熱温度で一次加速試験を実施する。 - 特許庁

The test soil device is in the form of sheet material with a test soil substance 34 provided thereon.例文帳に追加

汚れ検査装置はその上にある検査汚れ物質３４付きのシート材料の形状である。 - 特許庁

A test pattern generated by a pattern generating circuit is written in a real cell array at the time of a test mode.例文帳に追加

試験モード時に、パターン生成回路が生成する試験パターンが、リアルセルアレイに書き込まれる。 - 特許庁

A distributed operating system for a semiconductor test system such as automatic test equipment (ATE) is described.例文帳に追加

自動テスト機器（ATE）のような半導体テストシステム用の分散オペレーティングシステムが記載されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test is performed using a low speed test device.例文帳に追加

低速なテスト装置を用いてテストをすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Therefore the test rate is properly shortened and whole test time for the semiconductor can be shortened.例文帳に追加

従って、テストレートが適切に短縮されて、半導体デバイスの全テスト時間を短縮化できる。 - 特許庁

Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8).例文帳に追加

最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。 - 特許庁

The memory cell test system 30 performs memory cell test for a semiconductor device in which a memory cell is formed.例文帳に追加

メモリセルテストシステム３０は、メモリセル部が形成された半導体装置に対し、メモリセルテストを行う。 - 特許庁

When the test mode setting is valid, the set test data are outputted as individual user data.例文帳に追加

テストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータを個別ユーザーデータとして出力する。 - 特許庁

When starting a radio wave propagation test, the test switch of a wireless base unit 6 is turned on (step 30).例文帳に追加

無線電波伝搬試験開始時、無線親機６の試験スイッチをオン作動にする（ステップ３０）。 - 特許庁

This method includes a step in which the recorder/player extends the additional extra space of a test disk by using the test disk having test reference information and test information is generated from the test disk, and a step in which reference information predicted with the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the test of the sideslip, etc., of a vehicle, wherein a drop in test accuracy due to the initial stress of the wheel of the test vehicle is prevented and a drop in test accuracy due to the unnatural posture of the test vehicle is prevented.例文帳に追加

被験車両の車輪の初期応力による試験精度の低下を防止し、又被験車両の不自然な姿勢による試験精度の低下を防止する、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

When a drum endurance test is conducted by adding a specific test load to a pneumatic tire 1 and running on a drum 3 with a test velocity, at least one of the test load and the test velocity is periodically moved up and down.例文帳に追加

空気入りタイヤ１に所定の試験荷重を加えながら所定の試験速度でドラム３上を走行させるドラム耐久試験を行う際に、試験荷重と試験速度の少なくとも一方を周期的に上下に変動させる。 - 特許庁

Also in one embodiment, the device comprises the conductor which conveys the test pattern which has the embedded test characteristics, and a receiver test circuit which judges whether the test pattern signal is received, and test characteristics are extracted, and extracted test characteristics adapt a predetermined test characteristics.例文帳に追加

一部の実施形態では、装置は、埋め込み試験特性を有する試験パターン信号を搬送する導体と、試験パターン信号を受信して試験特性を抽出しかつ抽出試験特性が予想試験特性に適合するか否かを判断する受信機試験回路と、を含む。 - 特許庁

First test writing processing is carried out for checking disk quality, and when the disk quality is bad, a test writing parameter is increased and sequence processing is changed to carry out second test writing processing.例文帳に追加

ディスクの品質をチェックする第一の試し書き処理を行い、ディスクの品質が悪い場合は、試し書きのパラメータを増やし、シーケンス処理を変え、第二の試し書き処理を行う。 - 特許庁

A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.例文帳に追加

中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁

The first test pad is set in the test pad arranging layer in the searched unoccupied area by the first test pad setting means 13.例文帳に追加

そして、第１テストパッド設定手段１３により、探索した空き領域におけるテストパッド配置層に第１テストパッドが設定される。 - 特許庁

The test system is acquired by improving a test system for testing the test object for inputting the TMDS signal by the IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test head where a base unit is slidably mounted to a test head body from the directions of both the sides of the test head body.例文帳に追加

ベースユニットを、テストヘッド本体の両側方向からスライド可能にして、テストヘッド本体に搭載することができるテストヘッドを実現する。 - 特許庁

A printed wiring board 1 is provided with a pair of test lands 9 and 11 constituted of a large area test land 5 and a small area test land 6.例文帳に追加

本発明のプリント配線板１は、大面積テストランド５と小面積テストランド６とよりなるテストランド対９、１１を有する。 - 特許庁

The logic circuit test apparatus 10 performs a test for the logic circuit into which the test point is inserted by the insertion section 130.例文帳に追加

論理回路試験装置１０は、挿入部１３０によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。 - 特許庁

To properly perform quality discrimination of a semiconductor device such that a test is performed in order of high temperature test and room temperature test.例文帳に追加

高温試験、常温試験の順に試験が行われる半導体装置の品質判別を適正に行うことができるようにする。 - 特許庁

To detect a test pattern of a projector even if the test pattern is superimposed on an input video image when detecting the test pattern.例文帳に追加

プロジェクタのテストパターン検出にあたり、入力映像にテストパターンを重畳しても、そのテストパターンの検出を可能にすることにある - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁