「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

A test mode signal STM1 inputted form a test mode terminal 14 is supplied for the control input of the MUX 3 via a test mode input part 4.例文帳に追加

テストモード端子１４より入力されるテストモード信号ＳＴＭ１はテストモード入力部４を介してＭＵＸ３の制御入力に付与される。 - 特許庁

A test pattern for failure verification, comprising the input test pattern and the expectation value test pattern, thus generated, is used to verify the logic circuit.例文帳に追加

このようにして生成された入力テストパターンおよび期待値テストパターンからなる故障検証用テストパターンを用いて論理回路の検証を行う。 - 特許庁

When a user specifies a required test chart based on identifiers registered in the test chart list, the test chart is printed by a printing section 34.例文帳に追加

そして、テストチャートリストに登録された識別子に基づいて、ユーザが所望のテストチャートを指定した場合に、このテストチャートを印刷部３４によって印刷する。 - 特許庁

An electronic test system having an object oriented hierarchical structure including classes that allow a test developer to design a desired electronic test system is provided.例文帳に追加

試験開発者が所望の電子テストシステムを設計できるクラスを含むオブジェクト指向型階層構造を有する電子テストシステムが提供される。 - 特許庁

Next, a retest is automatically made according to the test condition stored in the test condition memory portion 24 with respect to the test determined to be block failure.例文帳に追加

ついで、ブロック不良と判断されたテストについて試験条件記憶部２４に格納されている試験条件に従い自動的に再試験を行う。 - 特許庁

A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.例文帳に追加

通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁

In test mode setting, with all channels selected by a selector 12, a test signal is inputted from a test pin 13 to the selector 12 on its subsequent state side.例文帳に追加

テストモード設定時に、セレクタ１２において全チャンネルを選択状態とし、テストピン１３からセレクタ１２の後段側にテスト信号を入力する。 - 特許庁

A corrosion test is performed on a corrosion test cycle condition SAE J2334, using four kinds of test pieces with different shapes made of molten-zinc-plated steel plate, for example.例文帳に追加

例えば、溶融亜鉛めっき鋼板からなり、形状が異なる４種類の試験片を用いて、SAE J2334腐食試験サイクル条件で腐食試験を行なう。 - 特許庁

To quickly and also accurately extract the test place of a program module being an object and to present it to a person in charge of a test when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールの試験箇所を迅速かつ的確に抽出して試験担当者に提示する。 - 特許庁

To allow reusing a test pattern and a test sequence already generated when a sequence circuit having the already generated test pattern, is changed.例文帳に追加

テストパターンが既に生成されている順序回路に回路変更が行われた場合に、既に生成されたテストパターン、テストシーケンスを再利用することを可能にする。 - 特許庁

The generated test case is automatically executed by the test case launcher or manually selected by a user so as to lead to a test execution result.例文帳に追加

生成されたテスト・ケースは、テスト実行結果をもたらすために、テスト・ケース・ランチャによって自動的に実行されるか、またはユーザによって手動で選択される。 - 特許庁

The tensile test is performed by using the tensile test piece 17, and the elongation percentage and the breaking strength of the coating film 16 broken prior to the test seal 11 are measured.例文帳に追加

この引張試験片１７を用いて引張試験を行い、試験シール１１よりも先に破断する塗膜１６の伸び率および破断強度を測定する。 - 特許庁

One test strip is extracted from the apparatus, by moving one end part of the strip for test in the direction of the other strips for test.例文帳に追加

一枚の検査用細片は、当該検査用細片の端部を残りの検査用細片に向けて移動させることによって当該装置から取り出される。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

An output signal obtained by inputting the prescribed test signal STEST to the test circuit 10 is varied in accordance with cut off or non-cut-off of the fuse 11 for cut off test.例文帳に追加

テスト回路１０に所定のテスト信号Ｓ_TESTを入力して得られる出力信号は、切断試験用ヒューズ１１の切断の有無に応じて異なる。 - 特許庁

To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program.例文帳に追加

テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。 - 特許庁

A single test means 13 directs the difference integrating means 15 to acquire the developer's single test environment, and conducts a single test after the environment is constructed.例文帳に追加

単体テスト手段１３は、差分組込手段１５に開発者の単体テスト環境を取得するように指示し、環境構築後に単体テストを行う。 - 特許庁

A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加

テストは、簡単なテストベクタを用いてＡＴＥ（自動試験装置）上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁

The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.例文帳に追加

テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

The LSI 1 is transited from a general operation mode to a test mode by asserting a test mode signal TM1 and a test mode signal TM2 to H-level.例文帳に追加

ＬＳＩ１は，テストモード信号ＴＭ１およびテストモード信号ＴＭ２がＨレベルにアサートされることによって，通常動作モードからテストモードに遷移する。 - 特許庁

At a second test step, second test data is acquired from the plurality of semiconductor devices under environmental conditions different from those of the first test step.例文帳に追加

第２試験ステップにより上記複数の半導体装置から上記第１試験ステップとは異なる環境条件による第２試験データを取得する。 - 特許庁

The transmission part 1 transmits the connection request signal in the case that this signal passes the test, and the persistence test is executed again in the case that the signal does not pass the test.例文帳に追加

試験の結果が合格であった場合、送信部１は接続要求信号を送信し、不合格であった場合は再度パーシステンス試験を実施する。 - 特許庁

By the use of oscillator of a DSS formula to generate test signal, frequency switching time of test signal is shortened to shorten the test time.例文帳に追加

テスト信号の生成にＤＤＳ方式の発振器を用いることにより、テスト信号の周波数切り替え時間が短縮し、テスト時間が短縮される。 - 特許庁

By independently heating the upper and lower press plates, the high-temperature compression test of the test piece TP can be performed in a state that a temperature difference is provided between the upper and under surfaces of the test piece TP.例文帳に追加

このように上下圧盤を独立に加熱することで、供試体ＴＰの上下面に温度差を持たせての高温圧縮試験が可能となる。 - 特許庁

To provide a test plug configured so as not to be connected to a test terminal when the test plug is not short-circuited by a short-circuit tool.例文帳に追加

テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供すること。 - 特許庁

Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

When the fixture 1 for the shearing tests is lowered and comes into contact with the test piece, the flat surface section 2b is attached firmly to the test piece while rotating.例文帳に追加

せん断試験治具１が下降し試験片に接触すると平面部２ｂは回転しながら試験片に密着する。 - 特許庁

To easily perform burn-in test on a semiconductor chip as it is a bare chip.例文帳に追加

半導体チップをベアチップのまま容易にバーンイン試験をする。 - 特許庁

The pin 28 for the conducting test is contacted with the crimp terminal 8.例文帳に追加

導通検査用のピン２８は圧接端子８に接触する。 - 特許庁

Since the function is applied similarly to various test pieces, determination by √At=f(hr) is applicable even when a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

The memory test operation is executed in parallel in each memory cell block.例文帳に追加

メモリテスト動作は、各メモリセルブロックにおいて並行に実施される。 - 特許庁

When this held code is decoded by means of a test decode circuit 7, respective selectors 8a-8e are controlled, and a test path is selected.例文帳に追加

この保持されたコードはテストデコード回路７によりデコードされて、各セレクタ８ａ〜８ｅが制御され、テスト経路が選択される。 - 特許庁

A VCL-MIN test is thereby executed easily.例文帳に追加

これによりＶＣＬ−ＭＩＮ試験を容易に行うことができる。 - 特許庁

A test assembly 2000 is designed for testing product circuitry of a product die 2011.例文帳に追加

製品ダイ2011の製品回路をテストするためのテストアセンブリ2000。 - 特許庁

The test is getting closer so I'd like to study properly. 例文帳に追加

私はテストが近いのでちゃんと勉強したいと思います。 - Weblio Email例文集

How difficult is it for her to pass that test?例文帳に追加

そのテストは、彼女が合格するにはどれくらい難しいですか？ - Weblio Email例文集

A test lens 12 is positioned on the measuring optical axis Ls.例文帳に追加

この測定光軸Ls上に被検レンズ１２が位置決めされる。 - 特許庁

The logic verification is executed with the log as a test task.例文帳に追加

そして、当該ログをテストタスクとして論理検証を実行する。 - 特許庁

The color of the test paper is changed depending on the amount of a 1, 3 glucan.例文帳に追加

α１，３グルカンの量によって試験紙の色が変わる。 - 特許庁

A test fuel is irradiated with epithermal neutrons (S22), and the intensity of the gamma rays emitted from the test fuel is measured (S23).例文帳に追加

試験燃料に熱外中性子を照射し（Ｓ２２）、その試験燃料から放出されるガンマ線強度を測定する（Ｓ２３）。 - 特許庁

A test signal is transmitted through the xDSL modem 110.例文帳に追加

テスト信号をｘＤＳＬモデム１１０を通じて送信させる。 - 特許庁

A gray pattern 31 is test printed by each print engine 12-15.例文帳に追加

各プリントエンジン１２〜１５によりグレーパターン３１をテストプリントする。 - 特許庁

Next, the address for a second test is applied to an address terminal 21.例文帳に追加

次に、第２のテスト用アドレスをアドレス端子２１へ印加する。 - 特許庁

FERROELECTRIC SEMICONDUCTOR MEMORY OF WHICH TEST TIME IS SHORTENED例文帳に追加

試験時間を短縮した強誘電体半導体記憶装置 - 特許庁