「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a plasma processing apparatus where a test piece can be heated to a high temperature without breaking a test piece stand, and heating efficiency is excellent by eliminating contamination to the test piece due to the abnormal electric discharge of the test piece.例文帳に追加

試料台の異常放電による試料への汚染がなく、試料台を破損せずに、試料を高温まで加熱することができ、しかも加熱効率の優れたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small test piece supplying device with a novel and simple turning mechanism of a test piece, which can supply the test piece such that the test piece is aligned either face up or down.例文帳に追加

試験片の反転機構として斬新かつシンプルなものを採用し、装置全体の小型化を図るとともに、試験片を表向きまたは裏向きのいずれか一方向にそろえて供給できるようにする。 - 特許庁

On the basis of clock for test from the input terminal, the test pattern generating means generates the digital signal for test which is based on the test pattern, and supplies the signal to an input side of the DAC.例文帳に追加

テストパターン発生手段は、テスト用クロック信号入力端子からのテスト用クロックに基づいて、前記テストパターンに従ったテスト用ディジタル信号を発生し、ＤＡＣの入力側に供給する。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

To provide a test tube plug remover capable of quickly and exactly removing a plug from a test tube even if test tubes have different sizes or a different kind of the plug is put in the test tube.例文帳に追加

試験管サイズが異なっていても試験管に異なる種類の栓が装着されていても、その栓を迅速且つ的確に当該試験管から取外すことのできる試験管栓取外し装置を提供。 - 特許庁

The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.例文帳に追加

回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁

To provide a test tube holder that can support a plurality of test tubes vertically and invertedly, can support a plurality of test tubes invertedly, when the test tubes are washed and dried, and is easy to handle.例文帳に追加

複数の試験管の直立、倒立支持が可能であり、試験管の洗浄、乾燥時において、複数の試験管を倒立して支持できること、取り扱いが容易である試験管ホルダーを提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method in which a test is completed without interruption even though input signals are interrupted or changed, and to provide a semiconductor integrated circuit including the test circuit.例文帳に追加

入力信号が中断又は変更されても、テストを中断させずに完了させることができるテスト回路、テスト方法、及びテスト回路を含む半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

When a fire occurrence is detected during the test, a test interruption part 70 interrupts the acoustic pressure measurement test and outputs a fire alarm sound of a different pattern showing the fire occurrence during the test.例文帳に追加

試験中断部７０は試験中に火災発生を検知した場合、音圧測定試験を中断し、試験中に火災が発生したことを示す異なるパターンの火災警報音を出力させる。 - 特許庁

The vacuum chamber 1 installs the theodolite 2 measuring changes of the alignment of the test piece 4 by a thermal vacuum test in an outer wall, when the thermal vacuum test is carried out to the test piece 4 arranged inside.例文帳に追加

内部に配設された供試体４に対して熱真空試験を行う際に、熱真空試験による供試体４のアライメントの変化を測定するセオドライト２を、外壁に組み込んだ真空チャンバ１。 - 特許庁

The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.例文帳に追加

テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A processing means is preset in a test condition memory portion 24 as a test condition when block failure is detected from an input portion 22 during a burn-in test, so that a burn-in board is attached/detached when block failure is detected during a burn-in test.例文帳に追加

予め入力部２２からバーンイン試験中にブロック不良を検出した場合の処理の仕方を試験条件として試験条件記憶部２４に設定しておき、バーンイン試験中にブロック不良を検出した場合には、バーンインボードの着脱を行う。 - 特許庁

Then, when registration processing of the test form data is performed, the test form data is stored only in a folder for which registration of the test form data has been permitted, and the test form data for which another folder has been set as a distribution destination folder is registered in an error folder.例文帳に追加

そして、テスト帳票データの登録処理を行う際には、テスト帳票データの登録を許可したフォルダにのみテスト帳票データを保存し、それ以外のフォルダが配信先フォルダとなっているテスト帳票データはエラーフォルダに登録する。 - 特許庁

The display control device 214 transmits a command exclusive to the test which is ineffective in the control to the sound lamp control device 272, and a test substrate device 280 receives the command exclusive to the test so that shooting of game balls is suspended when the live-shooting test is implemented.例文帳に追加

表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁

In this method, the test process of a semiconductor device under test is proceeded when a customer tray of a loader section is not vacant, while the number of the semiconductor devices under test mounted on a buffer tray of a loader side buffer section is counted if the customer tray is vacant.例文帳に追加

本発明はローダ部のカスタマートレイが空いていなければ、被検査半導体素子の検査過程を進行し、空いていれば、ローダ側バッファ部のバッファトレイに搭載された被検査半導体素子の数をカウントする。 - 特許庁

A telephone line to which a test signal including a specific frequency component is injected is monitored, and when test signal is detected on the telephone line, the characteristics of the test signal with the specific frequency is enhanced.例文帳に追加

または、特定の周波数成分を含んだ試験信号の注入に関して電話回線をモニタし、電話回線上に検出された時に、その特定の周波数において試験信号の特性を増加する。 - 特許庁

In this method, an appearance of a test patch which is printed by an image forming system after the test patch is stabilized, is predicted by applying a transfer function to the color of the test patch newly printed.例文帳に追加

本発明による方法は、新たに印刷されたテストパッチのカラーに伝達関数を適用することによって、画像形成システムにより印刷されたテストパッチの安定後の外観を予測する。 - 特許庁

When the test is on process, the database 30 also registers information indicating the fact, and test is carried out immediately without waiting by referencing the information when the test is not being executed.例文帳に追加

データベース３０にはまた、試験実行中のときはそのことを示す情報が登録され、この情報を参照することで、実行中でない場合には、待機することなく速やかに試験が実施される。 - 特許庁

A thermo-element 210 for heating the circuit element 202 up to the test temperature by thermoelectric effect is installed, and when a life test is executed, the circuit element 202 is heated up to the test temperature by thermoelectric effect of the thermo-element 210.例文帳に追加

回路要素２０２を熱電効果により試験温度とする熱電素子２１０を設け、寿命試験を実行するときは熱電素子２１０の熱電効果で回路要素２０２を試験温度とする。 - 特許庁

When a test resuming order 63 is input, the internal target signal producing circuit 5b is controlled, and the switch 55 is closed so as to resume the test from the target value upon interruption of the test.例文帳に追加

試験再開指令６３が入力されると、試験中断時の目標値から試験が再開されるように、内部目標信号発生回路５ｂを制御するとともに、スイッチ５５を閉じる。 - 特許庁

The test program complying with the operation specifications by generation processing 11 for the test program is generated to add the test program to the test program 4 when determination is made to the absence of the test program complying with the operation specifications and necessity of the addition of the test program by determination processing 10 after a result is obtained by retrieving the attribute comparison result 8 by determination processing 9.例文帳に追加

判断処理９にて属性比較結果８を検索した結果、動作仕様に対するテストプログラムが存在しないと判断され、判断処理１０にてテストプログラムの追加が必要であると判断されたとき、テストプログラムの生成処理１１にて前記動作仕様に対応したテストプログラムを生成してテストプログラム４に付加する。 - 特許庁

A test environment is constructed based on the acquired user system information, and the operation of the system to which software update patch is applied is verified in the test environment, and whether or not the system is normally operated in the test environment is confirmed.例文帳に追加

そして取得したユーザシステム情報を基にテスト環境を構築して、そのテスト環境においてソフトウェア更新パッチを適用したシステムの動作を検証し、テスト環境においてシステムが正常に動作するかを確認する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

The system is constituted so that a control/monitor terminal 25 of a ground test device server 24 and a user office facility 14 of a thermal vacuum test facility 10, a vibration test facility 11, a sound test facility 12, and an impact test facility 13 are mutually connected through an Internet network 15.例文帳に追加

熱真空試験設備１０、振動試験設備１１、音響試験設備１２、衝撃試験設備１３の地上試験装置サーバ２４及びユーザオフィス設備１４の制御監視端末２５はインタネット網１５経由にて相互に接されている。 - 特許庁

A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.例文帳に追加

続いて、テスト効率比較ステップＳ１１１にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップＳ１１２において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁

In an ozone exposure test method and an ozone exposure test apparatus, the humidity in a test tank during the ozone exposure test of a material to be measured is adjusted to a range of ±2%RH with respect to predetermined humidity to perform an ozone exposure test.例文帳に追加

被測定試料のオゾン暴露試験を行なう間の試験槽内の湿度を所定の湿度に対して±２％ＲＨの範囲内で調整してオゾン暴露試験を行なうことを特徴とするオゾン暴露試験方法、並びにオゾン暴露装置。 - 特許庁

Next, this test pattern data are reproduced with rotation speed being lower than speed at the time of test writing of this test pattern data (e.g. 1/2 times), after it is amplified by ta pre-amplifier 4, it is supplied to a quality evaluating means 22.例文帳に追加

次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い（例えば、１／２倍の）回転速度で再生し、プリアンプ４で増幅した後、品質評価手段２２に供給する。 - 特許庁

A test pattern generated with the test pattern generation circuit 1 is given to the related circuit of the selected bank and the test pattern given from a tester is given to the related circuit of the other banks.例文帳に追加

選択されたバンクの関連回路にテストパターン発生回路１で生成されたテストパターンを与えるとともに、他のバンクの関連回路にはテスタから与えられたテストパターンを与える。 - 特許庁

After a test resist film consisting of a chemically amplifying resist material is formed, the test resist film is subjected to pattern exposure and developing to form a test resist pattern 14A.例文帳に追加

化学増幅型レジスト材料よりなるテスト用レジスト膜を形成した後、該テスト用レジスト膜に対してパターン露光及び現像を行なって、テスト用レジストパターン１４Ａを形成する。 - 特許庁

The reaction line is constituted, for example, of an endless track system type provided successively with a plurality of test piece holders, and the internal standard is incorporated in a test piece mounting portion itself of the test piece holder.例文帳に追加

反応ラインは、例えば複数の試験片ホルダーを連ねた無限軌道方式のものから構成され、内部標準は試験片ホルダーの試験片載置箇所自体に組み込む。 - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

A test signal given to the integrated memory is varied in synchronization with a test clock signal, an invalid state is set by a control signal being not synchronizing with this test clock signal, and given to the memory (3).例文帳に追加

混載メモリへ与えられるテスト信号をテストクロック信号に同期して変化させかつこのテストクロック信号と非同期の制御信号で無効状態を設定し、メモリ（３）へ与える。 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

A demultiplexer 7b demultiplexes the test signal from the multiplexed signal and a test signal inverter 5b in the conference room B inverts the demultiplexed test signal, the inverted signal is multiplexed with the voice signal in the conference room B and the multiplexed signal is transmitted to the conference room A.例文帳に追加

会議室Ｂは、試験信号を分離して試験信号反転器５ｂで反転させて、会議室Ｂの音声信号と多重して会議室Ａに送信する。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a frame relay line test method by which a test of a frame relay line is conducted under a condition close to an actual operating state, even missing of a test packet can be detected and no error due to an intermingled packet from other line is caused.例文帳に追加

実際の使用状態に近い条件で試験が行え、試験用パケットの紛失も検知でき、他回線からのパケット混入によるエラーが発生しないようにする。 - 特許庁

To provide a test implementation method in which the test is efficiently carried out with few human resources and scoring of the test is promptly performed with a fair rule.例文帳に追加

少ない人材で効率的に試験を実施することができ、且つ試験の採点を公平な基準で迅速に行うことができる試験の実施方法を提供することである。 - 特許庁

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

The test handler has a method of opening an insert which is arranged at the other part of area, by moving a test tray after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

The test piece 100 is clamped by a fall preventive member against the test piece support member 15 before the test piece support member 15 is vertically directed above the first sprocket 11.例文帳に追加

試験片支持部材１５が第１スプロケット１１の上方において鉛直方向を向く前には、試験片１００は倒れ防止部材により試験片支持部材１５との間で挟持される。 - 特許庁

Voltage is applied to the test piece via an applying electrode, and resistivity in each portion of the test piece S is measured by electrically connecting between the test piece S and measuring electrodes P1-n.例文帳に追加

試験体に印加用電極を介して電位を与えると共に、測定用電極Ｐ１〜ｎと試験体Ｓとを導通させて試験体Ｓの各部位における比抵抗を測定する。 - 特許庁

A rigid part 2 is bonded to a test piece 7 and, in this state, the rigid part 2 is pulled in the direction crossing the surface direction of the test piece 7 to investigate the peel strength of the test piece 7.例文帳に追加

本方法は、試験片７に剛体部２を接着した状態で、剛体部２を試験片７の面方向と交差する方向に引張り、試験片７の剥離強さを調べる。 - 特許庁

An annular support 2 concentric with a test piece 1 is disposed on one side of the test piece 1 with disk-like form, and a concentric annular force point 3 different from the support 2 is disposed on another side of the test piece 1.例文帳に追加

円板状試験片１の一面に、この試験片１と同心円状支点２を配置し、試験片１の他面に、支点２と異なった同心円状力点３を配置する。 - 特許庁

The pickup 24 is first moved to a test recording area of an optical disk 22, switching it to a test pattern generating circuit 64 by a switching circuit 62 and a test pattern signal is recorded in the optical disk 22.例文帳に追加

まず、ピックアップ２４を光ディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号を光ディスク２２に記録する。 - 特許庁