「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

When a scan test mode signal designating the scan test mode is input, the selection circuit 15 masks the HW fixed key.例文帳に追加

スキャンテストモードを指定するスキャンモード信号が入力すると、モード選択回路１５は、ＨＷ固定鍵をマスクする。 - 特許庁

The system is provided with plural kinds of test modules for improving a test system that tests an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、複数種類の試験モジュールにより、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

This semiconductor test system is provided with a simulator 1, a semiconductor test device 2, a data converting device 3, and a waveform displaying device 4.例文帳に追加

半導体試験システムは、シミュレータ１、半導体試験装置２、データ変換装置３、波形表示装置４を備える。 - 特許庁

After a color copying machine outputs a test chart (color patch) in each gradation correction mode (S601), the test chart (color patch) is read (S602).例文帳に追加

カラー複写機により、グラデーション補正の各モードにおいて、テストチャートを出力した(S601)後、テストチャート（カラーパッチ）を読み取る(S602)。 - 特許庁

When the test image exhibits a desired image level, a correction value of the test image is set as the photographing condition for main photographing.例文帳に追加

これが所望の画像レベルであればこのときの補正値を本撮影のための撮影条件として設定する。 - 特許庁

the reference interval for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加

ある検査の基準範囲は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the normal range for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加

ある検査の正常範囲は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide an apparatus for determining the performance of a test plug which is small and superior in portability and has excellent visibility of a test and a measurement result.例文帳に追加

小型で可搬性に優れ、試験および測定結果の視認性に優れたテストプラグの判定装置を提供する。 - 特許庁

To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁

To perform accurate leakage test, by circumventing a tracer gas from accumulating in a room in which a leakage test system is arranged.例文帳に追加

リークテストシステムが配置された部屋にトレーサーガスが蓄積されるのを回避し、高精度のリークテストを行えるようにする。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop which is a hold-free small test circuit, and allows a test with an actual operation frequency to be possible.例文帳に追加

ホールドフリーの小規模なテスト回路であり、且つ実動作周波数でのテスト可能なスキャンフリップフロップを提供する。 - 特許庁

example: test of a conversion device is carried out in a state approved test laboratory of a manufacturer, sealing happens after the installation 例文帳に追加

事例：変換器の試験は製造事業者の州政府承認の試験所で行われ，封印は設置後行われる - 経済産業省

The width of a trench test pattern 20e of the second test pattern 20 is made smaller than gap pattern 24, 25 of the fixed contact 2.例文帳に追加

第２テストパターン２０の溝状テストパターン２０ｅの幅を固定接点部２の間隙パターン２４、２５より細くする。 - 特許庁

A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

To provide a piping pressure test data collection system which can easily and reliably perform a pressure test at a low cost, and which is excellent in the applicability of the test result.例文帳に追加

容易かつ安価に信頼性の高い耐圧試験を行うことができ、試験結果の活用性にも優れた配管耐圧試験データ収集システムを提供する。 - 特許庁

This urine component test paper 20 of the color identification test paper is provided with a stick-like base 22 and the three circular test pieces 24 bonded to one side face of the base 22.例文帳に追加

呈色試験紙である尿成分試験紙２０は、スティック状のベース２２と、ベース２２の片側の面に貼付された３個の円形状の試験片２４を備える。 - 特許庁

To enable a test of high accuracy wherein, with a simple circuit with few number of gates, a test pattern is easily generated, related to a test of an input/output part of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入出力部のテストに、テストパターンの作成が容易で、少ないゲート数の単純な回路でよく、精度の高いテストを可能とすること。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう（ステップＳＰ４）。 - 特許庁

To reduce test time while securing reliability of the test, in a data retention test for a semiconductor memory in which data retention is changed with time.例文帳に追加

データ保持特性が経時的に変化する半導体メモリをも考慮したデータ保持特性試験において、試験の信頼度を確保したまま時間の短縮を図る。 - 特許庁

In this memory test circuit, two test routes are used, that is, a direct memory BIST mode and a redundancy memory BIST mode in order to expand a test range.例文帳に追加

本発明のメモリテスト回路では、テスト範囲を拡大するために、ダイレクトメモリＢＩＳＴモードとリダンダンシメモリＢＩＳＴモードとの２つのテスト経路を実現している。 - 特許庁

The test device 1 is for the performance test of a breaker 100 and capable of carrying out a performance test on different types of breakers 100.例文帳に追加

試験装置１は、ブレーカ１００の動作試験を行う試験装置であり、異なる種類のブレーカ１００について、動作試験を行うことができるように構成されている。 - 特許庁

Erasing power of the laser beam for erasing data already recorded in a test region (test recording region) of PCA of the optical disk is decided before test recording.例文帳に追加

テスト記録前に、光ディスクのＰＣＡのテスト領域（テスト記録領域）に既に記録されているデータを消去するためのレーザ光の消去パワーが決定される。 - 特許庁

Information for identifying the processes carried out on respective test substrates and reusable processes selected for respective test substrates is stored in a history database of the test substrates.例文帳に追加

各々のテスト基板上で行なわれたプロセス及び各々のテスト基板に対して選択された再生利用プロセスを識別する情報がテスト基板の履歴データベースにストアされる。 - 特許庁

A test signal of a plurality of bits in which only a test control signal T1 becomes a high level and test control signals T2 to Tn become a low level is inputted to a decoder DEC.例文帳に追加

また、デコーダＤＥＣにテスト制御信号Ｔ１のみがハイレベルとなり、テスト制御信号Ｔ２乃至Ｔｎがロウレベルとなる複数ビットのテスト信号を入力する。 - 特許庁

The first to m-th control circuits test respective defects of the first to m-th circuit devices, using the test signal, and stop the test when the defect is observed.例文帳に追加

第１乃至第ｍ制御回路は、前記テスト信号を用いて前記第１乃至第ｍ回路装置の各々の欠陥をテストし、欠陥が発見されればテストを止める。 - 特許庁

A built-in test circuit and a radio communication circuit are mounted into a semiconductor integrated circuit device, and the built-in test circuit is controlled by a radio signal to execute test.例文帳に追加

半導体集積回路装置内に内蔵テスト回路および無線通信回路を搭載し，無線信号により内蔵テスト回路を制御しテストを実施する。 - 特許庁

To put it concretely, a common region only for test circuit for conducting the test on a plurality of chips is formed on the wafer, and test circuits are removed from the respective chips 112.例文帳に追加

ウェハ１１１上のチップ１１２を接続できる配線と、その配線を電気的に遮断できる構成を持ち、全てのチップを一度にテストできる構成とする。 - 特許庁

Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).例文帳に追加

したがって、付加前テストケース中に０を入力データとしたテストベクタが存在する場合には（Ｓ５０）、−０を入力データとしたテストベクタが付加される（Ｓ６０）。 - 特許庁

To carry out a withstand voltage test that produces a result of determination even when the test is forcibly terminated from outside in the middle of test time set by a timer.例文帳に追加

耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。 - 特許庁

A test information management apparatus 1 performs a test concerning the propriety of software behavior in a device that is installed with the software, and manages the result of the test.例文帳に追加

本発明に係るテスト情報管理装置１は、ソフトウェアを実装した装置においてソフトウェアの挙動の適否に関するテストを行い、そのテスト結果を管理する。 - 特許庁

A reliability test may be further performed to improve performance, whereby the binary hypothesis test may be performed only if the reliability test is passed.例文帳に追加

性能を向上させるためにさらに信頼性テストを実行することができ、それにより信頼性テストに合格した場合にのみ、バイナリ仮説テストを実行することができる。 - 特許庁

The test data is inputted to the OR element 17, and the OR element 17 masks the second test data on the basis of a mask signal asynchronous with a clock signal and outputs the first test data.例文帳に追加

ＯＲ素子１７は、テストデータが入力され、クロック信号とは非同期であるマスク信号に基づいて、第２のテストデータをマスクして、第１のテストデータを出力する。 - 特許庁

Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).例文帳に追加

次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁

A test device 100 includes a test tank 1 having an installation space 1a where a solar cell panel 3 is installed, a light source 2 disposed outside the test tank 1, and the like.例文帳に追加

試験装置１００は、太陽電池パネル３が設置される設置空間１ａを有する試験槽１、試験槽１外に配置された光源２等を有する。 - 特許庁

At first, the pickup 24 is moved to the test recording area of a disk 22, with the test pattern signal recorded on the disk 22 by switching to the test pattern generating circuit with a switching circuit.例文帳に追加

まず、ピックアップ２４をディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号をディスク２２に記録する。 - 特許庁

By this constitution, all of the selection of the test tubes, the pasting of the label to the test tubes and the supply of the test tubes to the rack after the label is pasted are automatically performed.例文帳に追加

これにより、試験管の選択、試験管へのラベルの貼付及びラベル貼着後の試験管のラックへの供給を全て自動的に行うことが可能である。 - 特許庁

The BIST logic circuit is operated in a normal mode or a test mode in response to control data received through a system bus to output test result data in the test mode.例文帳に追加

ＢＩＳＴロジック回路は、システムバスを介して受信される制御データに応答してノーマルモードまたはテストモードで動作し、テストモードでテスト結果データを出力する。 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第１のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

The indentation test of the indenter 14 is performed with respect to the test piece S to calculate the Young's modulus of the test piece S on the basis of the indentation quantity and elastic recovery in the maximum load.例文帳に追加

試験片Ｓに対して前記圧子14の押込み試験を行ってその最大荷重における押込み量と弾性回復量に基づいてヤング率を算出する。 - 特許庁

A test management apparatus 10 is placed to an attendant board 10-1 to perform user interface control with maintenance personnel and transmits test line information to designate a test line.例文帳に追加

試験管理装置１０は、受付台１０−１に配置され、保守者とのユーザインタフェース制御を行い、試験回線を指定するための試験回線情報を送出する。 - 特許庁

To provide a heating test device and a heating test method of an exhaust system member where the atmosphere of the test could be made more similar to the atmosphere under the condition that the exhaust member is mounted on an engine.例文帳に追加

試験雰囲気をより機関搭載状態に近づけることのできる排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法を提供することにある。 - 特許庁

An instruction generation parameter required for generating a test instruction stream is generated (201), and on the basis of the parameter, the test instruction stream generated (202) by test instruction string generating processing.例文帳に追加

試験命令列を生成するために必要な命令生成パラメータを作成（２０１）し、試験命令列生成処理が前記パラメータを基に試験命令列を作成（２０２）する。 - 特許庁

Moreover, when a plurality of test programs are executed, the order of reading of the test programs is rearranged according to the storage positions of the test programs on a recording medium.例文帳に追加

さらに、複数の試験プログラムが実行される場合、試験プログラムの読み込み順序が、記録媒体上の試験プログラムの格納位置に応じて並べ替えられる。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to appropriately test the hardness of a film, because of deformation such as curling of a test piece, when performing pencil scratch test on a functional film material.例文帳に追加

機能性フィルム材料の鉛筆引掻き試験を行う際、試験片のカールなどの変形のため、適切に膜の硬度を試験出来ないという問題を解決すること。 - 特許庁