「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

The test body comprising a low repulsive material is used to solve a problem wherein the test body is rushed into the junction pipe or the branch pipe by striking the turning blade 32, in the water flow test.例文帳に追加

排水通水試験では、試験体が旋回羽根３２に当たるなどによって合流管又は分岐管に飛び込むという問題を解消するために、低反発性材料からなる試験体を使用する。 - 特許庁

A detected violation place is corrected based on the correction method selected in response to a priority degree, and the test result is stored by performing the test by retransmitting the corrected program to the test means.例文帳に追加

そして、検出された違反箇所を、優先度に応じて選択された修正方法に基づいて修正し、修正されたプログラムを再びテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加

半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The bone head for test reset is fitted into the test cup 21 with the test cup 21 attached to the sliding surface 8S of the inner wall 8, thereby the length or others of a cervical part is selected by applying joint movement.例文帳に追加

内壁８の摺動面８Ｓに試験用カップ２１を取り付けた状態で、試験用カップ２１に試験整腹用骨頭を嵌め、関節運動を負荷することにより頚部の長さなどを選定する。 - 特許庁

A test result is stored by performing the test by transmitting the program to a test means under a condition set by the user, and is registered as code violation place information by detecting a code violation place from the program.例文帳に追加

ユーザにより設定された条件でプログラムをテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶し、プログラムから規約違反箇所を検出して規約違反箇所情報として登録する。 - 特許庁

The water-sensitive paper, discolored to density different corresponding to the adhesion amount of water droplets, is mounted on the test piece to perform impingement test and the relation between a position and the impingement amount of water droplets is calculated from the test result.例文帳に追加

また水滴の付着量に応じて異なる濃度に変色する感水紙を、供試体に装着して衝突試験を行い、その結果から位置と水滴の衝突量との関係を求める。 - 特許庁

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁

To provide a remote test system for a mobile phone in which an event to be grasped by naked eyes is confirmed at a test implementation base where a test is implemented so as to also cope with the case that an abnormal state occurs.例文帳に追加

試験を実施している試験実施拠点での肉眼で把握すべき事象を確認し、異常状態が発生した場合にも対応可能な携帯電話のリモート試験システムを提供すること。 - 特許庁

Following to a step (S1) for forming a first interlayer film and making contact holes, a first metallization for inspection mask is formed (S8) and leak current test or function test is conducted by inline test using a probe (S7).例文帳に追加

第１層間膜形成及びコンタクトホール形成工程（Ｓ１）後に、検査用マスクの第１金属配線を形成（Ｓ８）し、プローブを用いたインライン検査（Ｓ７）によりリーク電流検査や機能検査を行う。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

Then, when the test piece is broken, a tester main body is driven without removing the test piece from the tester main body and the broken surfaces of the broken respective test pieces are abutted to each other (steps S4 and S5).例文帳に追加

そして試験片が破断したならば試験機本体から試験片を取り外すことなく該試験機本体を駆動して、破断した各試験片の破断面が互いに突き合わせる（ステップＳ４,Ｓ５）。 - 特許庁

A tensile test is performed to a tensile test piece made of a metal material where hydrogen has penetrated, and destruction with a nonmetal inclusion affected by hydrogen as a starting point is generated in the tensile test piece.例文帳に追加

水素を侵入させた金属材料製の引張試験片に対して引張試験を行い、水素の影響を受けた非金属介在物を起点とする破壊を引張試験片に生じさせる。 - 特許庁

The test head is held by a holding body and is rotated from a withdrawn position, away from the top plate of the prober body to the position of a horizontal posture, then the test head is delivered to an elevating/lowering support mechanism provided in the prober body, the test head is lowered by the elevating/lowering support mechanism, and the test head is mounted on the prober body.例文帳に追加

テストヘッドを保持体により保持して、プローバ本体の天板から離れた退避位置から水平姿勢の位置まで回転させた後、このテストヘッドをプローバ本体に設けられた昇降支持機構に引き渡し、この昇降支持機構によりテストヘッドを下降させて、プローバ本体にテストヘッドを装着させる。 - 特許庁

When it is confirmed with the frequency counter that a difference between the frequency of the clock for test and a target frequency is within a predetermined range, an in-test level when the clock for test is generated by the VCXO is stored as a reference level in the memory, and the frequency of the clock for test is stored as a reference frequency.例文帳に追加

試験用クロックの周波数と目標周波数との差が所定の範囲内であることが周波数カウンタによって確認できたら、メモリに、この試験用クロックがＶＣＸＯによって発生された際の試験時レベルを基準レベルとして記憶させ、この試験用クロックの周波数を基準周波数として記憶させる。 - 特許庁

When the inter-bus information in the continuity test processing unit is not matched, it is determined that an error is caused.例文帳に追加

この連続検定処理部における各バス間の情報が不一致の場合にエラーとの判定を行う。 - 特許庁

A β value when recording power is variously changed within a test area and recording is performed is also detected.例文帳に追加

また、テストエリア内において記録パワーを種々変化させて記録したときのβ値を検出する。 - 特許庁

The wafer test host 101 is provided with a repair device 103 for determing the treatment of the memory device based on the synthetic test result.例文帳に追加

ウェハテストホスト１０１は、合成試験結果に基づいて、前記メモリデバイスの処理の判断を行うリペア装置１０３を備える。 - 特許庁

If a leak spot P exists in the airtight test section, a change such as pressure decline or the like in the airtight test section is observed.例文帳に追加

もし、気密試験区間に漏洩地点Ｐが存在する場合、気密試験区間の圧力低下等の変化が観測される。 - 特許庁

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

Then, when the one test pattern is displayed on the one screen, the individual test patterns [n] are displayed with the determined line pair density.例文帳に追加

そして、一画面上に一のテストパターンを表示させる際には決定されたラインペア密度で各テストパターン［ｎ］が表示される。 - 特許庁

A test solution, for example, a hybridization solution or the like being a target object is allowed to flow to the flow channel of the detector 1 to perform a test.例文帳に追加

この検出体１の流路に試験対象の、例えばハイブリダイゼーション溶液等の試験液を流し試験を行う。 - 特許庁

A route delay test is executed to an practically effective route based on information of the logic constitution from inside the route delay test.例文帳に追加

この経路遅延テストのうち論理構成の情報をもとに実効的に有効な経路に対して経路遅延テストを実施する。 - 特許庁

When a tension test is executed, an operator moves a gripping teeth holder 12 to grip an end part of a test piece by a gripping teeth.例文帳に追加

引張試験を実行するときには、オペレータがつかみ歯ホルダー１２を移動させて試験片の端部をつかみ歯により把持する。 - 特許庁

An operation verification system 1000 that is one embodiment includes a test execution device 500 and a test management device 600.例文帳に追加

実施の一形態である動作検証システム１０００は、試験実行装置５００と試験管理装置６００とを備える。 - 特許庁

In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置１００がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ３２をオン操作する。 - 特許庁

To provide a substrate test method with which a vivid image can be obtained and the reduction in test time is expected.例文帳に追加

鮮明な画像を得ることができ、検査時間の短縮を期待できる基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the test period is concluded, the user decides to purchase the PC or accounts the charges during the test period.例文帳に追加

試用期間が終了した時点で、ユーザに購入かそのまま試用期間の料金を決済するかの意思決定を行わせる。 - 特許庁

A TEG (Test Element Group) forms an electric characteristic evaluation pattern that is provided with a plurality of unit transistors T11, T12, T13, T21, T22, T23, T31, T32, and T33.例文帳に追加

ＴＥＧ（Test Element Group）１は、格子状に配列された複数の単位トランジスタＴ１１，Ｔ１２，Ｔ１３，Ｔ２１，Ｔ２２，Ｔ２３，Ｔ３１，Ｔ３２，Ｔ３３を備えた電気特性評価パターンである。 - 特許庁

To provide an IC tester which performs an accurate test even when a pin of a test object is switched by a switch.例文帳に追加

スイッチにより、被試験対象のピンを切り替えても、正確に試験が行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

When the test image is displayed at the display device in such a manner, the test relating to the display operation of the display device can be executed.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

The number of the master unit 1 and the slave units 3 capable of executing normal communication in the test communication is stored in cross-reference with the test communication number.例文帳に追加

試験通信において正常に通信できた親機１と子機３の番号を、試験通信番号対応に記憶する。 - 特許庁

For this purpose, an ultrasonic motor 200 for holding a test tube 1 by insertion is disposed in a step section inside a test tube guide pipe 101.例文帳に追加

このため、試験管１を挿入して保持する超音波モータ２００を、試験管ガイドパイプ１０１内側の段差部に設ける。 - 特許庁

To use a tool in a such a state that the performance of a test class is stopped in debugging the test class by a debugger.例文帳に追加

デバッガにてテストクラスのデバッグをするときに、テストクラスの実行を停止したままの状態でツールを使用できるようにする。 - 特許庁

At the time, before and after the transmission of test signals, RSSI is measured in the reception circuits 213 and 215 of a test object antenna.例文帳に追加

この際、試験信号の送信前後に、試験対象アンテナの受信回路２１３、２１５においてＲＳＳＩを測定する。 - 特許庁

After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).例文帳に追加

ウエハ状態でのデータ保持特性試験（ステップＳ４）終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える（ステップＳ６）。 - 特許庁

Then, the test signal T is reproduced from the test area at predetermined timing to calculate the quality deterioration of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加

所定のタイミングで、テスト領域のテスト信号Ｔを再生し、その評価結果からユーザデータＵの品質劣化を推定する。 - 特許庁

A test value 14 installed in the water flow detecting device has an angle valve structure, and the installation height of the test valve 14 is lowered.例文帳に追加

流水検知装置に設置される試験弁１４をアングル弁構造として、試験弁１４の設置高さを低くする。 - 特許庁

A semiconductor device 10 is provided with a self-test connection selecting circuit 16, an error detecting circuit 17, and a test control circuit 18.例文帳に追加

半導体装置１０にセルフテスト用の接続選択回路１６、エラー検出回路１７、テスト制御回路１８を設ける。 - 特許庁

An input delay test of the client designed circuit 14 is conducted by performing a delay test between the scan flip-flop 21, 24.例文帳に追加

顧客側設計回路１４の入力遅延試験をスキャンフリップフロップ２２、２４間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁

Based on the recording conditions for the first test mark and the second test mark, the recording condition for the shortest mark is obtained by estimation.例文帳に追加

第１テストマーク及び第２テストマークの記録条件に基づいて、最短マークの記録条件を推定により求める（ステップＳ５）。 - 特許庁

To start an application based on automatic test data even when a program menu system is different from that when test data were produced.例文帳に追加

検査データ作成時に対してプログラムメニューの体系が異なる場合でも自動検査データに基づいてアプリケーションを起動させる。 - 特許庁

For a toxicity test, the result of acute toxicity test could be required at an examination stage in case when the toxicity is concerned. 例文帳に追加

毒性試験については、審査段階で毒性を考慮する際、急性毒性試験の結果が求められる場合がある。 - 特許庁

The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).例文帳に追加

テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁

To provide a multilayer printed board capable of preventing the generation of a short circuit between a test pad and an inner electrode even when an inspection probe is stuck into the test pad.例文帳に追加

検査プローブがテストパッドに刺さってもテストパットと内部電極は短絡を起こさない多層プリント基板を提供する。 - 特許庁

A transfer circuit 20 is provided on the controller 14 to transfer test data supplied to the test pad TP1 to the second memory 13.例文帳に追加

転送回路２０は、コントローラ１４に設けられ、テストパッドＴＰ１に供給されたテストデータを第２のメモリ１３に転送する。 - 特許庁