「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

The substrate supporting member is a test table in which X, Y and Z axes are movable, while the prober positioning assembly is movable to the test table.例文帳に追加

基板支持部はＸ、Ｙ及びＺ軸の移動が可能なテストテーブルであり、プローバ位置決めアセンブリはテストテーブルに対して移動可能である。 - 特許庁

Or, if needed, the abnormity criterion level of the reticle test is adjusted.例文帳に追加

また、必要に応じて、レチクル検査の異常判定レベルを調整する。 - 特許庁

In a test mode where packet loss is simulated, a video signal or audio signal can be specified as a position where a packet of a test medium is dropped.例文帳に追加

パケットロスを模擬する試験モードでは、試験メディアのパケットをドロップさせる位置として、ビデオ信号およびオーディオ信号のいずれかを指定できる。 - 特許庁

This is an iq test and it determines how well you do in life.例文帳に追加

「生活の中で いかに良く行動できるか 測定する iqテストをします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

And there are two bars. one bar indicates that the test is working例文帳に追加

線が二本あり、一つ目はテストがちゃんと機能しているかを示し - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is an iq test and it determines how well you do in life.例文帳に追加

「生活の中で いかに良く行動できるか 測定する IQテストをします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

I don't know if the luger test was accurate at all. where the hell is this guy kennex?例文帳に追加

ルガー・テストが 正確かどうかは解らない 奴らはどこだ ケネックス? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Kakashi is amazing how to clarify the middle shinobi test with a single shot!例文帳に追加

一発で中忍試験をクリアするなんて やっぱりカカシは すごいよ! - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

When this test is over, enterprise and all of starfleet could be obsolete.例文帳に追加

このテストが終われば、エンタープライズや 艦隊の船は時代遅れになるさ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Do you really want to cruely test the person that is to be you're husband?例文帳に追加

自分の夫になる人を試すなんて 残酷な事 本気でするの? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

An ATM loopback plug is used when performing a loopback test on the Cisco 1401 router. 例文帳に追加

ATMループバック・プラグはCisco 1401ルータでループバック・テストを行うときに使われる。 - コンピューター用語辞典

the test is done after the tumor cells are removed from the body. 例文帳に追加

この検査は、体内から腫瘍細胞を摘出してから行われる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

The XSLT Designer is used to develop, deploy and test XSL Transformation Services. 例文帳に追加

XSLT デザイナーは、XSL 変換サービスの開発、配備、およびテストに使用されます。 - NetBeans

The TestLoader class is used to create test suites from classes and modules.例文帳に追加

TestLoaderクラスは、クラスやモジュールからテストスイートを作成するために使用します。 - Python

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited.例文帳に追加

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。 - 特許庁

The logic gate 4 is activated by a test mode selecting signal TM so that the output of a test circuit 21 is transferred to the gate of the protective transistor QN.例文帳に追加

論理ゲート４はテストモード選択信号ＴＭにより活性化されて、テスト回路２１の出力を保護トランジスタＱＮのゲートに転送する。 - 特許庁

A test pattern is automatically generated by an ATPG tool at a step 15.例文帳に追加

ステップ１５で、ＡＴＰＧツールによるテストパターンの自動作成を行う。 - 特許庁

The shape of the test surface is further measured by using the output from the sensor and the imaging magnification when the test surface is arranged at the conjugate position.例文帳に追加

さらに、共役位置に被検面を配置したときのセンサからの出力と該結像倍率とを用いて被検面の形状を計測する。 - 特許庁

Test writing data are recorded in an optical disk, the test writing data is reproduced from the optical disk, and magnitude of asymmetry is measured from the reproduced signal.例文帳に追加

そして、光ディスクに試し書きデータを記録し、光ディスクから試し書きデータを再生して、再生信号からアシンメトリの大きさを測定する。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve problems of a method for printing the test pattern of a printing image on the end of a continuous paper that the test pattern print area is limited, and the resulting information is little.例文帳に追加

連続紙の端部に印刷画像のテストパターンを印刷する方法では、テストパターン印刷領域が限られ、得られる情報が少ない。 - 特許庁

It will test both copies, and eventually tell us that the block is interesting. 例文帳に追加

チップは同じものをテストして、いずれおもしろいブロックを教えてくれる。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

A heat storage test apparatus 1 for evaluating the heat-resistance property of a test body T is provided with a heat source 13 that is disposed at a position separated from the test body T, radiates light to the test body T, and also radiates heat to the test body T; and a temperature sensor 15 that measures the temperature of the test body.例文帳に追加

試験体Ｔの耐熱性を評価するための蓄熱試験装置１であって、前記試験体Ｔから離間した位置に配置され前記試験体Ｔに対して光を照射すると共に前記試験体Ｔに対して放熱する熱源１３と、前記試験体の温度を測定する温度センサ１５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The universal type line test device 1 is provided with test circuits that conduct an insulation resistance test and a static capacitance test between a couple of core wires and between each core wire and ground, and a cross-contact test between each core wire and other wire without the need for changing the connection between a couple of core wires of a test object line and a ground wire.例文帳に追加

ユニバーサル型回線試験器１は、試験対象回線の一対の心線及び接地線との接続を替えること無しに、一対の心線間や、各心線と対地間の絶縁抵抗試験、静電容量試験、各心線に対する他の回線の混触試験をするための試験回路を備えることである。 - 特許庁

The test circuit 30 is used for shipping test of the 8 pin microcomputer, and outputs from the 2 input Ex-OR circuit EX1 a test enable signal Test Enable being a "High" level signal based on the test clock signal TCLK input from the terminal Pad 1 being the test terminal.例文帳に追加

テスト回路３０は８ピンマイコンの出荷テストなどを行うときに使用され、テスト端子である端子Ｐａｄ１から入力されるテストクロック信号ＴＣＬＫにもとづいて、２入力Ｅｘ−ＯＲ回路ＥＸ１から“Ｈｉｇｈ”レベルの信号であるテストイネーブル信号Ｔｅｓｔ Ｅｎａｂｌｅが出力される。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

Then, test printing data are created based on the test conditional information and test coordinates information, and, by printing based on the created test printing data, the test marks MT of different printing conditions (the laser output value and scanning velocity) are formed at each test printing position Pn in which the distance from the optical axis center C is made almost equal.例文帳に追加

そして、テスト条件情報とテスト座標情報に基づいてテスト印字データを生成し、生成したテスト印字データに基づく印字によって、それぞれ光軸中心Ｃから略等距離となるテスト印字位置Ｐｎに、異なる印字条件（レーザ出力値と走査速度）のテストマークＭＴを形成するようにした。 - 特許庁

The CPU 7 is connected to a test circuit 11, provides various status signals indicating the working condition of the protective relay for the test circuit 11, the test circuit 11 starts processing according to a test switch on signal by a test switch (not shown), and provides the prescribed test signal for one analog filter 2.例文帳に追加

更にまた、ＣＰＵ７はテスト回路11と接続しており、保護継電器の動作状況を表す種々のステータス信号をテスト回路11へ与えるべくなしてあって、テスト回路11はテストスイッチ（図示せず）によるテストスイッチＯＮ信号に応じて処理を開始し、また一つのアナログフィルタ２へ所定のテスト信号を与える。 - 特許庁

This is a selective test data log system, equipped with codes for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data and codes for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

選択的テストデータログシステムであって、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成するためのコードと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正するためのコードとを備える。 - 特許庁

The test data generation device previously stores basic test data wherein information related to a date is configured by a date function, substitutes information showing a test day inputted by an operator for the date function of the stored basic test data to generate the test data, and outputs the generated test data.例文帳に追加

テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。 - 特許庁

A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加

耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験（シーケンス試験）時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁

The image forming apparatus forms a test pattern only on one side of a recording paper, outputs the recording paper after the test pattern is fixed once, then forms the test pattern only on one side of the recording paper and outputs the recording paper after the test pattern is fixed once.例文帳に追加

画像形成装置は、記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力し、次に記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力する。 - 特許庁

Since it is not necessary to put these test tubes 12 in the test tube carriage 10 in an oriented states, the test tube can easily and promptly be put in compared with conventional technique wherein the oriented test tube is previously set in a special case.例文帳に追加

試験管１２を試験管搬送装置１０に整列状態で投入する必要がないため、予め専用ケース内に整列した試験管をセットしていた従来技術に比べ、試験管の投入をより容易かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁

To eliminate operation for unnecessary simulation, etc., by accurately measuring a description which is not covered by a verification test and preventing an unnecessary test from being generated when the coverage of test data used to test the function of a logic circuit is evaluated.例文帳に追加

論理回路の機能テストをする際に用いられるテストデータのカバレッジを評価する際、検証テストでカバーされていない記述を正確に計測し、不要なテストを作成することを防ぐことによって、不要なシミュレーション等の作業を省略する。 - 特許庁

When the flotation height of the glide test head is determined according to the rotational frequency during the certification test, a change amount of the thermal deformation using mechanism provided to the glide test head is adjusted so that the glide test head have a desired flotation height.例文帳に追加

サーティファイテスト時の回転数に応じてグライドテスト用ヘッドの浮上高さが決定した場合に、グライドテスト用ヘッドに設けてある熱変形利用機構の変化量を調整してグライドテスト用ヘッドを所望の浮上高さとなるようにしている。 - 特許庁

A storage is stored with test conditional information composed of laser output value and scanning velocity, and test coordinates information regarding each test printing position Pn in which the distance from the optical axis center C of a convergent lens 13 is made almost equal (test radius R2).例文帳に追加

記憶装置に、レーザ出力値と走査速度からなるテスト条件情報と、収束レンズ１３の光軸中心Ｃからの距離が略等距離（テスト径Ｒ２）となるテスト印字位置Ｐｎに関するテスト座標情報を記憶するようにした。 - 特許庁

Data to be recorded in a data area is stored in a memory 108 while test writing for a test writing area of an optical disk is performed, recording of data for the data area and test writing for the test writing area are performed alternately.例文帳に追加

光ディスクの試し書き領域へ試し書きが行われている間にメモリ１０８にデータ領域へ記録するデータを記憶させ、データ領域へのデータの記録と試し書き領域への試し書きとを交互に行うことを特徴とする。 - 特許庁

Then, test fluid 22 is brought into contact with the test reagent layer 32 and a change in the color or the like of the test reagent layer 32 or the test fluid 22 in that case is observed, thus indirectly estimating the presence or absence of the irregularities in the reagent layer 30.例文帳に追加

そして、そのテスト試薬層３２にテスト流体２２を接触させて、その際のテスト試薬層３２又はテスト流体２２の色等の変化を観察することにより、試薬層３０のむらの有無を間接的に推定できるようにする。 - 特許庁

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁

This instrument is equipped with a standard test-piece 23 and has a correcting mechanism 14 which performs correction by using this standard test-piece, and the correcting mechanism is equipped with a standard test-piece temperature controller which controls the temperature of the standard test-piece to hold constant temperature.例文帳に追加

標準試験片２３を備え、この標準試験片を用いて校正する校正機構１４を有し、前記校正機構が標準試験片を温度調節して常に一定の温度を保つ標準試験片温度調節器を備える。 - 特許庁

Then, before the second test piece 82 begins to press the first test piece 81 and after the second test piece 82 is pressed to the first test piece 81, the friction force is corrected on the basis of the measured voltage of the piezoelectric element 43.例文帳に追加

そして、第２の試験片８２を第１の試験片８１に押しつけ始める前、及び、第２の試験片８２を第１の試験片８１の押しつけ終わった後、に測定した圧電素子４３の電圧に基づいて、上述の摩擦力を補正する。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

The test element holder 19 contains at least one guide element 20 which is suitable for laterally guiding the test sample 5, so that the test element 5 in the test element holder 19 is held and guided on an outer region 23, and the test element 5 inserted into the test element holder 19 remains in a state where an inner region 24 including a sample application site 10 is exposed.例文帳に追加

試験エレメント保持具１９は試験エレメント５の側方の案内に好適な案内エレメント２０を備え、それによって試験エレメント保持具１９の試験エレメント５が外部領域２３で保持、案内され、試験エレメント保持具１９の中に挿入された試験エレメント５が、試料供給箇所１０を含む内部領域２４を露出した状態でとどまる構成になっている。 - 特許庁