「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

A steam generator and a means for spraying generated steam to the bottom part in the test chamber are installed in the test chamber, to thereby provide steam into the test chamber at a fixed rate, and hereby a saltwater spray test is executed with the temperature in the test chamber kept constant without lowering humidity.例文帳に追加

蒸気発生機及び発生させた水蒸気を試験槽内の底部に吹き付ける手段を試験槽に取り付けて、試験槽内に水蒸気を一定の割合で供給することにより、湿度を下げることなく、試験槽内の温度を一定に保持して、塩水噴霧試験を行う。 - 特許庁

Since the relationship between the data acquired by the constrained test and the data acquired by the unconstrained test is acquired by the constrained test of less number of times, for definite and high precision, the data at the constrain test can be acquired at high precision based on the data acquired only by the unconstrained test.例文帳に追加

拘束試験で得られるデータと非拘束試験で得られるデータの関係が、回数が少ない拘束試験で得られて確定的に高精度に知られているので、非拘束試験のみで得たデータに基づいて、拘束試験を行った時のデータを高精度に得ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a bending test device and a bending test method in which a light-weight and compact loading jig can be used, a test piece can be easily aligned against and welded to the loading jig, the test piece is free from twist during transportation, etc., and only a pure bending moment is imparted to the test piece.例文帳に追加

本発明は、軽量、コンパクトな載荷治具が使用でき、試験体と載荷治具との芯出し及び溶接も容易であり、運搬時等に試験体にねじれが発生することもなく、且つ試験体に純粋な曲げモーメントのみを付与させることが可能な曲げ試験装置および曲げ試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

試験プログラムＰＲに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ３に格納した後、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の一回目の試験を行う。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

A remote test instruction part 5a is provided on the side of the residential ward receiving board 1, and a test command designated with the address of the fire receiver 2 for the house is transmitted.例文帳に追加

遠隔試験指示部５ａは住棟受信盤１側に設けられ、住戸用火災受信機２のアドレスを指定した試験コマンドを送信する。 - 特許庁

On a surface Sa of a sheet S, a solid image test pattern TPa is formed.例文帳に追加

シートＳの一方面Ｓａに、ベタ画像テストパターンＴＰａを形成する。 - 特許庁

The body 2 to be tested is housed in a test tank 1, and the test tank 1 is connected to a water supplying tank 4 through a hydraulic system pipe 5 and a return system pipe 8.例文帳に追加

試験槽１内に被試験体２を収納し、試験槽１と給水タンク４を水圧系統配管５と戻り系統配管８により接続する。 - 特許庁

The calibration method is provided for calibrating transient behavior of a TLP test system.例文帳に追加

ＴＬＰ試験システムの過渡的な挙動を較正するための較正方法。 - 特許庁

The wafer frame 24 is carried to a test station 4 by an xyzθ table 5.例文帳に追加

ウェーハフレーム２４をＸＹＺθテーブル５でテストステーション４に搬送する。 - 特許庁

This scan test circuit is constructed by connecting scanning flip-flops 1 in cascade.例文帳に追加

スキャン用フリップフロップ１を縦列接続してスキャンテスト回路を構成する。 - 特許庁

An off-set of the test result histogram HCUT to the reference histogram HEXP is also found.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

Test data are recorded onto an optical disk 10 while recording power is varied to various levels.例文帳に追加

記録パワーを種々変化させてテストデータを光ディスク１０に記録する。 - 特許庁

A time loss caused by operating a remote controller for starting the test mode is eliminated, and the test mode is started simply and at high speed.例文帳に追加

したがって、試験モードの起動のためのリモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。 - 特許庁

In the inspection test, therefore, it is not necessary to search for communication cables to be connected to the inspection subject devices, and work of the inspection test is simplified.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

The hearing test is executed on a Web connected to the Internet.例文帳に追加

インターネットに接続されたＷｅｂ上で、聴力検査を実施するものとする。 - 特許庁

The elastic deformation quantity of the testing machine is calculated by a calibrating test piece.例文帳に追加

較正用試験片によって試験機の弾性変形量を算出する。 - 特許庁

The secondary side piping is provided with a discharge pipe mounting port for test.例文帳に追加

また二次側配管には、試験用排出管取付口が設けられている。 - 特許庁

Temperature adjustment of fuel and engine oil for the engine under test is the same as the above.例文帳に追加

供試エンジンの燃料およびエンジンオイルの温度調節も同様とする。 - 特許庁

A test pile 12 is buried in ground 20; and a jack 16 for adding a vertical load is provided on the top surface 12U of the test pile 12.例文帳に追加

試験杭１２が地盤２０に埋設され、試験杭１２の上面１２Ｕには鉛直方向の荷重を付加するジャッキ１６が設けられている。 - 特許庁

Then, image data for one preview display or one test print is created.例文帳に追加

そして、１つのプレビュー表示又はテスト印刷用の画像データを作成する。 - 特許庁

The test lens L is arranged on a nose piece 9 being a measuring base point of a lens meter, and first of all a first power of the test lens L in the air is measured.例文帳に追加

被検レンズＬをレンズメータの測定基点となるノーズピース９上に配置し、まず空気中における被検レンズＬの第１のレンズ度数を測定する。 - 特許庁

A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.例文帳に追加

テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁

Therefore, an electricity test of a state of conduction between the external electrode terminals 9a and 9b for test is conducted to determine whether the peeling is occurring.例文帳に追加

したがって、テスト用外部電極端子９ａおよび９ｂの導通状態を電気テストすることによって、当該剥離の有無を判定できる。 - 特許庁

A self-organizing map is created with the clinical test result as learning data.例文帳に追加

臨床検査結果を学習データとして自己組織化マップを作成する。 - 特許庁

A gray patch of a test print is separated to three colors and subjected to photometry by a densitometer 35.例文帳に追加

テストプリントのグレーパッチを濃度計３５で三色分解測光する。 - 特許庁

After a function test process, dummy test data is supplied to the semiconductor integrated circuit device to perform a post-processing process, at which a clock speed is gradually reduced.例文帳に追加

機能試験手順の後、半導体集積回路装置にダミーテストデータを供給して後処理手順を行い、その際クロック速度を徐々に低下させる。 - 特許庁

That is, the inputs are an operation procedure file 1, a setting contents file group 3, and a test expectation value group 5, while the output is a test output group 6.例文帳に追加

即ち入力には、動作手順ファイル１、設定内容ファイル群３、及びテスト期待値群５があり、出力にはテスト出力群６がある。 - 特許庁

Also, necessity for a vehicle test using a prototype vehicle as a resolution is displayed with respect to the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

また、レベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については、解決策として試作車を用いた実車試験が必須である旨が表示される。 - 特許庁

Using the analogue signal input terminal 1 and the A/D converter 5, the test mode is set, so that only a single test mode setting terminal 3 is required.例文帳に追加

アナログ信号入力端子１及びＡ／Ｄコンバータ５を利用して、テストモードの設定を行うので、テストモード設定用端子３は１個で済む。 - 特許庁

The lid member 20 is mounted on the valve blocking member 10 at the non-using time of the test hole, and the plug member 40 is mounted on the valve blocking member 10 at the using time of the test hole.例文帳に追加

試験孔の非使用時に弁閉塞具１０に蓋具２０を取り付け、試験孔の使用時に弁閉塞具１０にプラグ具４０を取り付ける。 - 特許庁

In the first place, the in-circuit test is executed relative to only the specific circuit part, and, in the case of no defective part, shift to the function test of the whole board is executed.例文帳に追加

まず特定回路部分のみについてインサーキットテストを実行し、不良箇所がないときは、ボード全部についてのファンクションテストに移行する。 - 特許庁

The oil mist is flowing into the test vessel 2 from the oil mist generation device 1.例文帳に追加

テスト容器２には、オイルミスト発生装置１からオイルミストが流入する。 - 特許庁

The cause of its death is still not known, but a test for bird flu was negative. 例文帳に追加

死因はまだわかっていないが，鳥インフルエンザの検査は陰性だった。 - 浜島書店 Catch a Wave

To solve the problem that it is difficult to precisely inspect pixels by an array test of an array substrate having a built-in driving circuit since the test is influenced by characteristics difference of analog switches.例文帳に追加

駆動回路を内蔵したアレイ基板のアレイテストでは、アナログスイッチの特性差の影響を受けるために画素の検査を精度良く行うことが難しい。 - 特許庁

In this case, the end mark EM is larger than the test pattern TP, so that even when the test pattern TP is printed, the presence of the end mark EM can be detected.例文帳に追加

エンドマークＥＭはテストパターンＴＰよりも大きいため、テストパターンＴＰが印刷されたとしても、エンドマークＥＭの有無を検出することが可能である。 - 特許庁

To simply perform a transmission test even when an ATM network is in an operation system.例文帳に追加

ＡＴＭ網が運用系にあるときでも簡単に伝送試験を行う。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory that a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a pad for test is separated after finish of the test.例文帳に追加

テスト用のパッドをテスト終了後に切り離しても昇圧回路にリーク電流が流れないようにした不揮発性半導体メモリを提供する。 - 特許庁

If a test related to a medical report is identified, information designated from a DICOM object belonging to the test is acquired by a data acquisition unit 23.例文帳に追加

医用レポートに関連する検査を特定すると、データ取得部２３によって前記検査に属するＤＩＣＯＭオブジェクトから指定された情報を取得する。 - 特許庁

The electronic mail including a predetermined specific character string in the portable terminal device 1, is transmitted from the test operator when the communication test is performed.例文帳に追加

通信試験を行う場合に試験操作者から携帯端末装置１に予め決められた特定の文字列を含む電子メールを送信する。 - 特許庁

A freezing trap 33 is installed in the low-pressure flow channel, and the steam in the test gas transmitted through the test membrane is condensed to ice by the freezing trap.例文帳に追加

また、低圧流路に氷結トラップ３３を設置し、試験膜を透過した試験ガス中の水蒸気を氷結トラップにより氷に凝縮するものである。 - 特許庁

When a primary selector circuit 186 is to activate the inverter IVS, a test signal is supplied from a test pad TP to a receiver circuit 411.例文帳に追加

１次選択回路１８６がインバータＩＶＳを活性化させるときには、レシーバ回路４１１にはテストパッドＴＰからテスト信号が供給される。 - 特許庁

Test pads 11 for allowing a virtual current for the test to flow into a photodiode PD is arranged on a wafer 1 where a light receiving amplifier element chip is formed.例文帳に追加

受光アンプ素子チップが形成されるウェハ１上において、フォトダイオードＰＤにテスト用の仮想電流を流し込むためのテストパッド１１を配置する。 - 特許庁