「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

A low-speed test pattern generated by an external low-speed LSI tester is input to be transmitted to an inner circuit by converting the input low-speed test pattern to a high-speed test pattern.例文帳に追加

外部の低速ＬＳＩテスタから発生された低速のテストパターンを入力し、この入力した低速のテストパターンを高速のテストパターンに変換して内部回路に与える。 - 特許庁

The tester comprises a vibration part 1a for vibrating the test body, a drive control means (for example, CPU8 and the like) and is a vibration tester 100 for conducting the vibration test of a test body.例文帳に追加

供試体を加振する加振部１ａと、加振部の駆動を制御する駆動制御手段（例えば、ＣＰＵ８等）と、を備え、供試体の振動試験を行う振動試験装置１００である。 - 特許庁

By setting each test switch 4, etc., into a collectively closed state, a test signal from the test signal control circuit 1 is transmitted to the direct current indicators 3, etc., to thereby enable operation confirmation.例文帳に追加

試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。 - 特許庁

The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.例文帳に追加

遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

(i) a plan for conducting test business concerning the employees, equipment, methods for conducting test business and other matters is appropriate for the proper and reliable implementation of test business; and 例文帳に追加

一　職員、設備、試験業務の実施の方法その他の事項についての試験業務の実施に関する計画が、試験業務の適正かつ確実な実施のために適切なものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The disintegration time measuring value is the time until the test tablet disintegrates by applying a specific shear to the test tablet from above while wetting the test tablet with water at 37°C from underneath.例文帳に追加

崩壊時間測定値は、試験錠を３７℃の水により下部から湿潤させつつ、この試験錠に上方から特定のシェアをかけ、試験錠が崩壊するまでの時間である。 - 特許庁

In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.例文帳に追加

この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片ＴＰの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

The end point control employs a large volume relative to the test chamber volume upon which is drawn a deep vacuum and then exposed to the test chamber to quickly exhaust the sterilant gas from the test chamber.例文帳に追加

終了時点制御では、検査チャンバが大きく減圧されて殺菌ガスが急速に排出される時点で、その検査チャンバの容積に比べて大きな容積を用いる。 - 特許庁

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99.例文帳に追加

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。 - 特許庁

A part in a specified section for performing test recording is given test recording while changing reference recording power, and the other part is given test recording by similar reference recording power to decide the optimum recording power from the result of each test recording.例文帳に追加

テスト記録を行うための特定区間中の一部には基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行い、残りの区間には同様の基準記録パワーによりテスト記録を行って、各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。 - 特許庁

Further, by performing a voltage measuring test when the test target is provided with a power supply circuit and is recognized as a test target, a voltage measuring test can be performed even with a comparatively inexpensive tester having constraints in a voltage measuring unit without using an expensive tester.例文帳に追加

さらに、電源回路を備え検査対象と認識された時に電圧測定検査を行うことにより、高価なテスターを用いることなく、電圧測定ユニットに制約のある比較的安価なテスターにおいても、電圧測定検査を行うことができる。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

The device comprises: a light source 5 which is placed on one side of the test object 3 and radiates light to the test object 3; and imaging means 1 which is placed on the other side of the test object 3 and captures the image corresponding to the transmitted beam through the test object 3.例文帳に追加

そして、検査対象３の一方の面側に配置され検査対象３に光を照射する光源５と、検査対象３の他方の面側に配置され検査対象３を透過した光に応じた画像を撮像する撮像手段１と、を備えている。 - 特許庁

The positional information, which is identified by the GPS receiver 2, is filed as a test data file along with the test data acquired by the penetration test, and processed by a data processing means such as a notebook-size personal computer 30, so that the address of the test location and the like can be automatically obtained.例文帳に追加

そして、このＧＰＳ受信機２の割り出した位置情報を貫入試験によって得られた試験データとともに試験データファイルにファイル化してノート型パソコン３０等のデータ処理手段で処理し、試験地の住所等を自動的に求める。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

When residual of the test region becomes less, a region touching internally to an outer peripheral test region (a part of or whole outer peripheral guard region) is made newly an expansion test region, a region touching internally to the expansion test region is made newly the outer peripheral guard region.例文帳に追加

テスト領域の残量が少なくなった時、外周テスト領域に内接する領域（外周ガード領域の一部、あるいは全部）を新たに拡張テスト領域とし、拡張テスト領域に内接する領域を新たに外周ガード領域とする。 - 特許庁

A score increase deciding means 4 compares the calculated score with a score before test vector addition and when the score is not sufficiently increased, an additional test vector abandoning means 6 is started to delete the added test vector from the test vector buffer 106.例文帳に追加

得点上昇分判定手段４は、この得点と、テストベクトル追加前の得点とを比較して、得点が十分に上昇しなかった場合は、上記追加されたテストベクトルをテストベクトルバッファ１０６から削除すべく追加テストベクトル破棄手段６を起動する。 - 特許庁

By this constitution, as an independent test circuit is not required for the dual port memory 11 and a memory test of a conventional march pattern can be performed, circuit scale is suppressed and a test of the dual port memory 11 can be realized without increasing wirings and terminals of the test circuit.例文帳に追加

この構成により、デュアルポートメモリ１１用に独立したテスト回路を持つ必要がなく、これまでのマーチパターンのメモリテストを行えるため、テスト回路の配線や端子を増やすことなく、回路規模を抑えてデュアルポートメモリ１１のテストを実現することができる。 - 特許庁

The vehicle test system 1 includes the environmental test room 2 where a performance test of a vehicle M is performed under a predetermined environment, and the sealed measurement room (SHED 3) where a transpiration gas measurement test is performed for measuring the transpiration gas emitted from the vehicle M.例文帳に追加

車両試験システム１は、所定の環境下における車両Ｍの性能試験が行われる環境試験室２と、車両Ｍから蒸散される蒸散ガスを測定する蒸散ガス測定試験が行われる密閉測定室（ＳＨＥＤ３）とを備えている。 - 特許庁

In a test process, the power supply potential and grounding potential of the protective diode 26 are supplied from probes each of which is installed on the pads 27 and 28, a probe is installed also on the test pad 28, and a test operation is carried out.例文帳に追加

検査工程においては、この保護ダイオード２６の電源とグランドの電位は、電圧印加用パッド２７と接地電圧印加用パッド２８に立てられたプローブから供給され、検査用パッド２２にもプローブが立てられ、検査が行われる。 - 特許庁

The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスタ３５から、テストモード選択用のデータをＢＩＳＴ回路４０内のＢＩＳＩ制御回路５０に入力すれば、この制御回路５０から、テストクロックｔｃｋに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁

At this time, return test light which passes through the multi-layer film filter 116 is also transmitted to the port 2 although it is a little, but a fiber grating 112 reflects the return test light, so that none of the return test light is made incident on a transmitter 114.例文帳に追加

このとき、わずかながら多層膜フィルタ１１６を通過してしまう戻り試験光がポート２にも伝送されるが、ファイバグレーティング１１２によって反射されるため、送信器１１４に戻り試験光が入射することはない。 - 特許庁

A target test piece is fixed, and a flight member is discharged at a predetermined speed from a high-precision flight member discharging device which is to collide with the test piece for measuring the time history of the deformation quantities of the respective parts of the test piece at collision.例文帳に追加

対象とする試験片を固定し、飛翔体を高精度飛翔体発射装置から前記試験片に所定速度で発射して衝突させ、衝突時の試験片各部の変形量の時刻歴を計測する。 - 特許庁

Though the request from the G2 test part 9 and G3 test part 10 is put in a standby state, the waiting time of a G1 test part 8 is 4CPU_-C which is the same as for its single verification and needs no adjustment.例文帳に追加

これにより、Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０の要求は待たされることになるが、Ｇ１テスト部８の待ち時間は、単体検証時と同じ４ＣＰＵ＿Ｃで条件は同じになり、新たな調整の必要がなくなる。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 1 includes a controlling scanning test component circuit which a test value is scanned therein and outputs the test value to a combination circuit 203 and an observing scanning test component circuit which the test value scanned in the controlling scanning test component circuit is scanned therein in parallel and an output value output by the combination circuit 203 based on a test value from the controlling scanning test component circuit is input thereto to scan out the output value.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路１は、テスト値がスキャンインされ、当該テスト値を組み合わせ回路２０３に出力する制御用スキャンテスト構成回路と、制御用スキャンテスト構成回路にスキャンインされるテスト値が並列的にスキャンインされるとともに、組み合わせ回路２０３が制御用スキャンテスト構成回路から出力されたテスト値に基づいて出力する出力値が入力され、当該出力値をスキャンアウトする観測用スキャンテスト構成回路とを備えたものである。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁

After a test mode is set, an input side of a switch is switched to a pulse output line side.例文帳に追加

テストモードに設定された後、スイッチの入力側がパルス出力ライン側に切り換えられる。 - 特許庁

Information showing that a drive test zone is expanded is included in the newest RMD.例文帳に追加

さらに、ドライブテストゾーンが拡張されていることを示す情報が、最新のＲＭＤに含まれている。 - 特許庁

At S12, a test is conducted to confirm whether or not a high-limit switch is off and the fryer controller indicates an unusual high-limit.例文帳に追加

ここで、ハイリミットスイッチがＯＦＦとなり、フライコンの表示がハイリミット異常となることをテストする。 - 特許庁

A second synchronization test is met when a first synchronization word is detected in the received data.例文帳に追加

第２の同期テストは、第１の同期ワードが、受信されたデータで検出される時に満たされる。 - 特許庁

A semiconductor wafer is mounted on a test stage, and power is fed for each separated heater (S1).例文帳に追加

半導体ウエハを検査ステージに載置して、各分割発熱体に所定の電力を供給する(S1)。 - 特許庁

Each region is separately formed, and integrity test is performed separately before a final assembly.例文帳に追加

各領域は別個に形成され、最終的な組立ての前に個々に、保全性試験が実施される。 - 特許庁

Furthermore, the jitter is detected, when a recording is performed by varying the recording power in a test area.例文帳に追加

また、テストエリア内において記録パワーを種々変化させて記録したときのジッタを検出する。 - 特許庁

Retrieving operation is performed (step 28), and it is discriminated whether the test address coincides with the retrieving address.例文帳に追加

検索操作を行って（ステップ２８）、検査アドレスと検索アドレスとの一致を判断する（ステップ２９）。 - 特許庁

Before sticking of the head slider, wiring work of the slider is finished and a property test is performed.例文帳に追加

ヘッドスライダを接着する前に、同スライダの配線作業を完了して、特性試験を実施する。 - 特許庁

Since the mechanism is separated from the comparator 15, it is not necessary to design or test any different comparator.例文帳に追加

機構は比較器から分離されているので、異なる比較器を設計、試験する必要は無い。 - 特許庁

While temperature is being raised, high-temperature overheated steam is supplied from a high temperature tank 40 to a test chamber 12.例文帳に追加

昇温時は、高温槽４０から高温の過熱蒸気を試験室１２に供給する。 - 特許庁

When a defect is found in the head slider in the test, the head slider is detached from the suspension.例文帳に追加

上記テストにおいてヘッド・スライダに欠陥が見つかると、ヘッド・スライダはサスペンションから取り外される。 - 特許庁

Since the transmission propriety is verified through the transmission reception of the test signal, the verification is performed at high speed.例文帳に追加

試験信号の送受信により伝送可否が検証されるので，検証が高速化される。 - 特許庁

An air blowing mechanism for supplying air is connected to a laboratory at which a test body is placed.例文帳に追加

試験体を設置する試験室には、風を供給する送風機構が接続されている。 - 特許庁

Under this condition, when a test switch 18 is pressed, a magnet coil 2 of the electric lock 1 is magnetized.例文帳に追加

この状態で試験スイッチ１８を押圧操作すると、電気錠１のマグネットコイル２が付勢される。 - 特許庁