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Test Isの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 12773



例文

Also, the ADC test result is only a 1-bit Flag signal, so that the number of terminals of the ADC test circuit can be greatly reduced.例文帳に追加

また、ADCテスト結果がわずか1ビットのFlag信号であり、ADCテスト回路の端子数を大幅に減らすことができる。 - 特許庁

To obtain a flash point detecting device which is suitable for a test of the dielectric strength of a gas insulated electric device and can improve the efficiency of test operation.例文帳に追加

ガス絶縁電気装置の耐電圧試験に適し、試験作業の能率を向上させることができる閃絡点検出装置を得る。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置100が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

About one out of two conductors constituting a differential impedance test pattern 104, conductor of a characteristic impedance test pattern 105 is connected.例文帳に追加

差動インピーダンステストパターン104を構成する2本の配線のうち、1本について特性インピーダンステストパターン105の配線を接続する。 - 特許庁

例文

Address signals TA0-TA9 for test being independent respectively are inputted to each DRAM 11-14, and a test of each DRAM 11-14 is performed.例文帳に追加

各DRAM11〜14に対しそれぞれ独立の試験用アドレス信号TA0〜TA9を入力し、各DRAM11〜14の試験を実施する。 - 特許庁


例文

In the operation test, data transfer for test is executed for each combination of the value of interface voltage and the value of operation voltage.例文帳に追加

この動作テストにおいては、インターフェース電圧の値と動作電圧の値との各組み合わせ毎に、テスト用のデータ転送が実行される。 - 特許庁

After that, generates a test pattern B (S4 and S5) and readjsuts DAC1 to DAC4 to ensure that the test pattern density is equal (S6).例文帳に追加

その後、テストパターンBを生成して(S4、S5)、テストパターン濃度が等しくなるようにDAC1〜DAC4の再調整を行う(S6)。 - 特許庁

An image of the test chart 29 spatially focused by the test lens 12 is captured by an imaging part 20 within a predetermined frame range.例文帳に追加

被検レンズ12によって空中結像されたテストチャート29の像を、撮像部20によって所定のフレーム範囲で撮像する。 - 特許庁

Test data is recorded on the test area (PCA) of the optical disk 100 by variously varying the record power and then reproduced by a signal processing part 16.例文帳に追加

記録パワーを種々変化させて光ディスク100のテストエリア(PCA)にテストデータを記録し、信号処理部16で再生する。 - 特許庁

例文

A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself.例文帳に追加

車両試験装置上に積載された試験車両Vとの間に張架したベルト11を介して、試験車両Vを固定する。 - 特許庁

例文

The width of a ridge test pattern 10e of the first test pattern 10 is made smaller than contact terminal patterns 21a, 22a, 23a of the fixed contact 2.例文帳に追加

第1テストパターン10の畝状テストパターン10eの幅を固定接点部2の接点端子パターン21a,22a,23aより細くする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern 96 is recorded on a land 90 with a predetermined recording light quantity, and test patterns 98 and 99 are recorded on grooves 92 and 94 with various recording light quantities.例文帳に追加

ランド90に予め定めた記録光量でテストパターン96を記録し、グルーブ92,94に種々の記録光量でテストパターン98,99を記録する。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路101〜103は、テスト時に3ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

At least one modulator head is disposed adjacent to and on the test part and detects a failure position of the substrate positioned at least at the test part.例文帳に追加

少なくとも一つのモジュレータヘッドは、テスト部上に隣接配置され少なくともテスト部に位置した基板の不良位置を検出する。 - 特許庁

The image of a test pattern is formed on the photoreceptor drums 21 for four primary colors YMCK so as to form the image of a test patch 51 on the transfer belt 11.例文帳に追加

4原色YMCK感光ドラム21上にテストパターンを作像して、転写ベルト11上にテストパッチ51を像形成する。 - 特許庁

An image shift value is calculated by subtracting a difference associated with a test frame from a filtered image including the test frame.例文帳に追加

画像シフト値は、テストフレームに関連付けられた差を、このテストフレームを含むフィルタリングされた画像から減算することによって計算される。 - 特許庁

A test writing information recording control means performs control so that predetermined test writing information is written in a part of a user area U.例文帳に追加

試し書き情報記録制御手段は、ユーザ領域Uの一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of positioning and fixing a workpiece which is placed on and conveyed by a workpiece conveying pallet at the test position.例文帳に追加

ワーク搬送パレットに載せられて搬送されてくるワークを試験位置で位置決め固定できる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To evaluate the propagating speed of a crack in a test piece under a fixed stress intensity factor while a desired arbitrary load is applied to the test piece.例文帳に追加

任意所望な荷重が試験片に負荷されつつ、一定応力拡大係数下で亀裂進展速度を高精度に評価すること。 - 特許庁

To prevent erroneous operation of a characteristic test of an optical path even when a test light cutoff filter is not arranged actually.例文帳に追加

試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしまうことを防止する。 - 特許庁

The ultrasonic wave coming from within the test body is received via air by a reception element 40, thereby inspecting the test body.例文帳に追加

前記試験体内から漏洩した超音波を空気を介して受信子40で受信することにより試験体の検査を行う。 - 特許庁

Thus, it is possible to make an existing application and an application for a test coexist, and to easily realize the migration of the distributed application after the test.例文帳に追加

これにより、既存アプリケーションとテスト用アプリケーションの共存を可能にし、テスト終了後の分散アプリケーションの移行も容易にする。 - 特許庁

In the image processing apparatus, an image pickup section 11 outputs a test image signal obtained by picking up the monochromatic test pattern where a black frame is arranged on a white background.例文帳に追加

撮像部11は白地の背景に黒枠を配置したモノクロのテストパターンを撮像して得たテスト画像信号を出力する。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern.例文帳に追加

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

A small number of test print sheets where a compact test patch, where a plurality of different colors are adjacent, is printed in a plurality of sets may be used.例文帳に追加

複数の異なる色が隣接する小型のテストパッチが複数組印刷されたテストプリントシートを少ない枚数だけ使用してもよい。 - 特許庁

Before storing system information in a disk 18, test write is executed to a dedicated test cylinder to inspect the state of each head.例文帳に追加

ディスク18にシステム情報を保存する前に、テスト専用シリンダに対して試験的にライトを実施し、各ヘッドの状態を検査する。 - 特許庁

From the wafer map data 30 which shows whether an effective chip area passed a test or not, one of defective chip coordinates is selected with a test data "1".例文帳に追加

有効チップ領域の検査合否を表すウエーハマップデータ30から検査データが“1”である不良チップ座標を1つ選択する。 - 特許庁

Then the measured value of the test color is corrected according to the measured value of the correction colors which are indicated in the proximity of the test color in a step S205.例文帳に追加

そしてステップS205で、試験色の測色値を、該試験色近傍に表示された補正色の測色値に基づいて補正する。 - 特許庁

Feature test macros allow the programmer to control the definitions that are exposed by system header files when a program is compiled. 例文帳に追加

機能検査マクロ (feature test macro) により、プログラマはプログラムがコンパイルされる際にシステムのヘッダファイルにより公開される定義を制御することができる。 - JM

(3) The film frame is put on a test device, and the test device re-tests the plurality of semiconductor devices based on the information of the first map.例文帳に追加

(3) フィルムフレームをテスト装置に置き、テスト装置が、第1マップの情報に基づき、複数の半導体デバイスに再テストを行う。 - 特許庁

The development solvent pack is mounted on the upper part of the test paper at one end of the lengthwise direction of the test paper with the opening faced downward.例文帳に追加

展開溶媒パックを、試験紙の長さ方向の一端部でこの試験紙より上方に、その開口を下方に向けて取り付ける。 - 特許庁

The test device for analyzing the glucose concentration in a blood sample is fitted to take out the test sensor from the sensor package.例文帳に追加

血液試料中のグルコース濃度を分析するための試験装置は、センサパッケージから試験センサを取り出すように適合されている。 - 特許庁

A static power current IDDQ is measured at a plurality of strobe points with application of a test signal to a CMOS integrated circuit 50 under test.例文帳に追加

試験対象のCMOS集積回路50にテスト信号を印加して静止電源電流I_DDQ を複数のストローブ点で測定する。 - 特許庁

A failure state database memory for memorizing data associating a self-diagnosis result of the test object with the order of test items is added.例文帳に追加

被試験体の自己診断結果と試験項目の順序を対応付けたデータを記憶する故障状況データベース記憶器を付加する。 - 特許庁

An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加

このBGA型ICの電気的特性試験は、アウターリード5aと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁

To provide a ristocetin cofactor test reagent which is used in a blood coagulation test, stable for a long time and ready for immediate use例文帳に追加

血液凝固試験に使用するための、長期の安定性を有し、即時に使用可能なリストセチン補因子試験の試薬の提供。 - 特許庁

This latch circuit 61 is reset by only a test enable-signal TEN outputted from a test enable-signal generating circuit.例文帳に追加

このラッチ回路61は、試験イネーブル信号発生回路から出力される試験イネーブル信号(TEN)TENのみによってリセットされる。 - 特許庁

To conduct a test without requiring authoring of additional test software every time a message exchange pattern application is tested.例文帳に追加

メッセージ交換パターンアプリケーションがテストされるたびに、追加のテストソフトウェアのオーサリングを必要とすることなく、このテストを実施可能とする。 - 特許庁

The test substance measurement method includes using a polynucleotide that contains the recognition site of the zinc finger region and is specifically combined with a test substance.例文帳に追加

被検物質測定方法では、ジンクフィンガー領域の認識部位を含み被検物質に特異的に結合するポリヌクレオチドを用いる。 - 特許庁

To properly test a semiconductor memory even when the waveform of an input signal supplied to the semiconductor memory in a test is not normal.例文帳に追加

試験時に半導体メモリに供給される入力信号の波形が正常でないときにも、半導体メモリを正しく試験する。 - 特許庁

The command make test does not generate any human-readable result, but it can be used to make sure that the XML is syntactically correct and that the build runs fine. 例文帳に追加

make test コマンドは、XML が、構文的に正確でビルドが上手く実行されるか確認を行います。 可読形式の結果は生成しません。 - PEAR

The setUp function can access the test globals as the globs attribute of the test passed.Optional argument globs is a dictionary containing the initial global variables for the tests.例文帳に追加

tearDown ははglobs 属性を介してテストのグローバル変数にアクセスできます。 オプション引数 globs は辞書で、テストのグローバル変数の初期値が入ります。 - Python

The manufacturing equipment is equipped with a test container 10 for inspecting the function of the processing unit and a detecting unit for detecting the test container 10.例文帳に追加

製造設備は、処理装置の機能を検査するためのテスト容器10と、テスト容器10を検出する検出ユニットとを備える。 - 特許庁

4-1) When the substance is negative in human heritable epidemiology data, heritable mutagenicity test, or in vivomutagenicity test (somatic cells or germ cells)例文帳に追加

4-1)ヒト経世代疫学データ、経世代変異原性試験あるいは in vivo 変異原性試験(体細胞あるい生殖細胞)で陰性の場合 - 経済産業省

On the client side 2 remote from a test site 1 for testing a protection relay system 4, a means 7 for relaying a test unit 5 and personal computers 8 and 9 at the test site 1 is arranged with terminals 32, 33 and 34 being transmitted with the conditions of a test performed at the test site 1 and test data in real time through a router 13 and a modem 12.例文帳に追加

保護継電装置4の試験をおこなう試験地1と離間した顧客側2に、試験地1で試験装置5とパソコン8、9とを中継している中継手段7に、ルータ13とモデム12を介して、試験地1でおこなわれている試験の状態や試験データがリアルタイムで送られてくる端末装置32、33、34を配置する。 - 特許庁

例文

Since rotating shaft 34 of the first test probe 18A is inserted into an insertion hole of the second test probe 18B, the first test probe 18A and the second test probe 18B are connected to each other in a relatively rotatable manner to allow the first test probe 18A and the second test probe 18B to be integrated thereby providing a scissors-like structure.例文帳に追加

第2のテストプローブ18Bの挿通孔に第1のテストプローブ18Aの回動軸34を挿入することで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが相対的に回動自在に連結され、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。 - 特許庁




  
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