「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area.例文帳に追加

そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

The sample is collected from the actual product structure 21 by a sample test collection apparatus 11, processed and converted into a test piece by a test piece processing apparatus 12 in the field.例文帳に追加

サンプル試験採取装置１１で実機構造物２１からサンプル試料を採取し、サンプル試料採取装置１１で採取したサンプル試料をその場で試験片加工装置１２により試験片に加工する。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

A self-test corresponding to a security function of an information processor is performed, and a security function for which self-test has failed and a function relating to the security function for which self-test has failed are made unavailable.例文帳に追加

情報処理装置のセキュリティ機能に対応した自己テストを実施し、自己テストに失敗したセキュリティ機能と自己テストに失敗したセキュリティ機能に関連した機能とを利用不可能にする。 - 特許庁

A passing module information storing means 105 associates a module where processing passes when a test of a plurality of test items is executed for the uncorrected source code with the test items to store the module.例文帳に追加

通過モジュール情報記憶手段１０５は、修正前のソースコードに対して複数のテスト項目のテストを実行した際に処理が通過するモジュールを、テスト項目と対応付けて記憶する。 - 特許庁

Since the test pad of the bond pad extension is disconnected from the electric components when not tested, the test pad of the bond pad extension test does not give any additional parasitic effects to the corresponding electric circuit device.例文帳に追加

テストしないとき、電気的構成要素からボンド・パッド延長部のテスト・パッドを切断できるので、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドは、対応する電気回路デバイスに付加的な寄生効果を与えない。 - 特許庁

The PCa3 is configured to transmit a calling sound for a test, and when receiving the calling sound for a test from the PCa3, the PCx4 and 5 return a calling sound for a test to the Pca3.例文帳に追加

ＰＣａ３はさらにテスト用発信音を送信可能であり、ＰＣｘ４、５は、ＰＣａ３からテスト用発信音を受信した場合、ＰＣａ３に対してそのテスト用発信音を返信する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus which has a ferroelectric memory and of which the test time can be shortened, and a test method therefore in a test in which stress voltage is applied to a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

強誘電体キャパシタにストレス電圧を与える試験において、試験時間を短縮することができる強誘電体メモリを有する集積回路装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

By this constitution, the density state in the test piece 30 becomes almost equal to that of the evaluation target layer of the on-the-spot ground, and the compression test is performed with respect to the test piece 30 in the state near to the actual execution time.例文帳に追加

これにより、供試体３０内部の疎密状態が、現地地盤の評価対象層とほぼ同等となり、実際の施工時に近い状態の供試体３０で圧縮試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a measuring device which can predefine release position of a destructive origin in thermal shock test to enhance the accuracy of the thermal shock test, as the utility of the test is increasingly grown.例文帳に追加

熱衝撃試験において、破壊始点の発生位置を予め定めることができれば、熱衝撃試験の実験精度を上げることができ、熱衝撃試験の有用性は益々増加している。 - 特許庁

When applied for the extensometer or the width meter, the mark bodies M are bonded to the test piece W, and an error caused by motion from an initial test start of a test piece W is corrected based on the three-dimensional position information.例文帳に追加

伸び計または幅計に応用する場合には、試験片Ｗにマーク体Ｍを貼着し、その３次元位置情報から、試験片Ｗの試験開始当初からの移動による誤差を補正する。 - 特許庁

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period.例文帳に追加

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

In a personal computer (PC), when instructions to output a test image is input by a test image forming section (Yes in #1), a command part instructs the output of the test image to an image forming apparatus (#2).例文帳に追加

パーソナルコンピュータ（ＰＣ）は試験画像生成部により試験画像を出力する指示が入力されると（♯１でＹＥＳ）、指令部は試験画像の出力を画像形成装置に指示する（♯２）。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

In this device, signal waveforms of a test signal and the response signal are generated and displayed by test signal generation data serving to test signal generation and determination data which is a determination standard for the response signal.例文帳に追加

本発明は、テスト信号の生成に供するテスト信号生成データ、応答信号の判定基準である判定データより、テスト信号、応答信号の信号波形を生成して表示する。 - 特許庁

From the outside of the sensor, a test voltage signal level and a test mode are controlled and from an output signal of the sensor during the test mode, characteristic variation information of the component such as the column amplifier or the output buffer amplifier is detected.例文帳に追加

センサ外からテスト用の電圧信号レベルとテストモードを制御し、テストモード時のセンサの出力信号から、列アンプ、出力バッファアンプなどの構成要素の特性ばらつき情報を検出する。 - 特許庁

Patterns of respective test patterns and a pad part are disposed, so that a same probe card is used for measuring the N-channel TFT test pattern 130 and the P-channel TFT test pattern 140.例文帳に追加

ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０の測定には同一のプローブカードが用いられるように、それぞれのテストパターンのパターン及びパッド部が配置されている。 - 特許庁

In this test data collation circuit 14, the test data are collated with expectation data within an expectation data ROM 16 and a collation result is extracted to an external CPU via a test result register 15.例文帳に追加

この試験データ照合回路１４において、期待値データＲＯＭ１６内の期待値データと照合し、その照合結果を試験結果レジスタ１５を介して外部のＣＰＵに取出すように構成する。 - 特許庁

Based on the result of the test determined to be appropriate of the independent chi-squared test and the accuracy probability test, it is estimated whether the manufacturing process causes the defective occurrence factor.例文帳に追加

独立性のカイ２乗検定と正確確率検定とのうち適すると判断した検定の結果に基づいて、その製造工程が不良品発生要因となっているかどうかの推定を行う。 - 特許庁

The recorded test pattern is reproduced (step S3), and based on plural of reproducing signals captured, the recording conditions capable of forming the first test mark and the second test mark favorably are selected, respectively (step S4).例文帳に追加

記録されたテストパターンを再生し（ステップＳ３）、得られた複数の再生信号に基づいて、第１テストマーク及び第２テストマークを良好に形成できる記録条件をそれぞれ選定する（ステップＳ４）。 - 特許庁

The frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E) are compared, and a test pattern group (C) for adjustment is then specified from among the respective test pattern groups (A-E) on the basis of an output value of a predetermined standard frequency.例文帳に追加

そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群（A〜E）の中から調整用テストパターン群（C）を特定する。 - 特許庁

To provide a method for specifying a tissue fusion system in a test executed before the system is used in surgical operation and automatically executing the test as a part of the starting procedure of self test when turning on a power supply.例文帳に追加

システムを外科手術に使用する前に実施する試験で特定され、電源投入時自己診断などの起動手順の一部として自動で試験を実施する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a method therefor capable of accurately and meticulously applying conforming article/nonconforming article discrimination to semiconductor chips formed on a substrate, which cannot be attained only by an electric selection test for discriminating whether or not a test specification is satisfied.例文帳に追加

基板に形成された半導体チップについて、試験スペックを満たすか否かを判定する電気的選別試験のみでは得られない正確且つきめ細かな良品／不良品判定を行う。 - 特許庁

The test light 11 is emitted to a direction parting from an opposite direction with respect to the display light 7 emitted from the display light emitting elements of the display part 1 from the test light emitting elements of the test light light emitting section 2.例文帳に追加

テスト光発光部２のテスト発光素子から、表示部１の表示発光素子から発光される表示光７に対して、反対方向に離れる方向にテスト光１１を発光させる。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

To segment a quality deterioration block, and to efficiently search for the cause of the quality deterioration by acquiring precision close to the line test of End-End even in a test environment in which a test block is divided.例文帳に追加

試験区間を分割して行う試験環境においてもＥｎｄ〜Ｅｎｄの回線試験に近い精度を得て、品質劣化区間の切り分けを行い、品質劣化原因の究明を効率よく行う。 - 特許庁

This invention is completed from such a conception that a labor for collecting test solution can be omitted by being brought into direct contact with the test solution instead of collection of the test solution by washing from a specimen.例文帳に追加

被検体から洗浄により被検液を採取する代わりに被検液に直接接触させることで被検液の採取の手数を減らすという着想から以下の発明を完成した。 - 特許庁

The data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter by the central management device 6, after receiving a test request from the central management device 6, and to perform a test communication (test call).例文帳に追加

データ通信装置７は、中央管理装置６からのテスト要求により、中央管理装置６により設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信（テストコール）を実施する。 - 特許庁

To produce a silver halide photographic sensitive material with photographic materials whose qualities are guaranteed without depending on a so-called "photographic property test", that is, a small-scale production test, and to produce pharmaceuticals, agricultural chemicals or cosmetics whose qualities are guaranteed without depending on an animal test.例文帳に追加

いわゆる「写真性試験」すなわち小規模製造試験に頼ることなく、品質を保証した写真用原料を用いてハロゲン化銀写真感光材料を製造すること。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2).例文帳に追加

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。 - 特許庁

Even for BGA structure semiconductor devices having different external shapes, pin pitches, and arrangements, a test is performed with the position of the contact pin 33 being in contact with the test pads 22 unchanged by standardizing the arrangement of the test pads 22.例文帳に追加

ＢＧＡ構造の半導体装置の外形、ピンピッチおよび配置が異なっても、テストパッド２２の配置を共通化して、テストパッド２２と接触するコンタクトピン３３の位置を変えずにテストを行う。 - 特許庁

To provide an automatic preparation apparatus of a test solution of a soil sample capable of preparing the test solution of the soil sample, without requiring labor until the oscillation in an oscillator is completed, after the weighing of the soil sample to a test container.例文帳に追加

土壌試料を試験容器へ秤量した後は、振とう機での振とうが終了するまで、人手をかけずに行える土壌試料の試験溶液自動作製装置を提供すること。 - 特許庁

The layout of the test pattern is optimized such that the print medium may be consumed at the minimum when printing the test pattern or the maximal measurement precision may be obtained from the test pattern.例文帳に追加

テストパターンのレイアウトはテストパターンのプリントで可能な限り少ない量のプリント媒体しか消費しないように、あるいはテストパターンから得られる測定結果の精度を最大にするように最適化する。 - 特許庁

The test circuit 100 is provided with a first clock generator 101, a second clock generator 102, the circuit 103 to be tested, a built-in self test circuit 104 for performing the test, and a tester synchronization circuit 105.例文帳に追加

テスト回路１００は、第１のクロックジェネレータ１０１と、第２のクロックジェネレータ１０２、テスト対象回路１０３と、テストを行う組み込み自己テスト回路１０４と、テスタ同期回路１０５を備える。 - 特許庁

To provide a software automatic test system which can perform automatic test even about software composed of image data including variable image data and with which artificial mistakes are reduced and a test time is shortened.例文帳に追加

可変イメージデータを含むイメージデータからなるソフトウエアについても自動テストを行うことができ、かつ、人為的なミスを削減し、テスト時間を短縮するようにしたソフトウエア自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

When the coincidence signal SWp is outputted, an interruption control circuit 154 outputs the test data held in the test data register 151 to heads of a plurality of test data latch circuits 114.例文帳に追加

割込み制御回路１５４は、一致信号ＳＷｐが出力された場合に、複数のテストデータラッチ回路１１４の先頭に対しテストデータレジスタ１５１に保持されているテストデータを出力する。 - 特許庁

The derivative structured document is applied to a test performing device 51 to test the structured document processor 55, and acceptable derivation patterns and non-acceptable derivation patterns are arranged by a test analysis device 52.例文帳に追加

その派生形の構造化文書をテスト実施装置５１にかけて、構造化文書処理装置５５をテストし、テスト解析装置５２で、受理できる派生パターンと受理できない派生パターンを整理する。 - 特許庁

An input/output analysis test bench is provided which associates and integrates an input analysis test bench for analyzing the input signals and an output analysis test bench for analyzing the output signals.例文帳に追加

入力信号を解析する入力解析テストベンチと出力信号を解析する出力解析テストベンチを、以上２つを関連付けし統合する入出力解析テストベンチを設ける。 - 特許庁

During a scan test, a specific gated clock cell equipped with the scan power control terminal is stopped (operated) using the scan power control circuit 3003, thereby performing a scan test without test division.例文帳に追加

スキャンテスト中スキャン電力制御回路３００３を用いて特定のスキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルを止める（動かす）ことでテスト分割なしでスキャンテストを行うことが可能となる。 - 特許庁

An external clock signal EXT.CLK externally given is synchronized with them by each test board synchronizing circuit TSC_1 and outputted to each semiconductor memory apparatus as a formed test board test signal.例文帳に追加

外部から与えられる外部クロック信号ＥＸＴ．ＣＬＫは、各テストボード同期回路ＴＳＣ_iによりこれに同期し、かつ整形されたテストボード試験信号として各半導体記憶装置に出力される。 - 特許庁

When the capsules 16 are at positions separated by an angle interval of 90° from the air leakage test positions, an helium leakage test is performed for the works put in the capsules 16 by a helium leakage test mechanism 40.例文帳に追加

カプセル１６が上記エアリークテスト位置から９０°の角度間隔だけ離れた位置にある時、カプセル１６に収容されたワークに対して、ヘリウムリークテスト機構４０によりヘリウムリークテストが実行される。 - 特許庁

When the control parameter adjustment device 10 receives the test termination signal from the test monitoring device 20, the control parameter calculated upon receipt of the test termination signal is applied to a control device 6.例文帳に追加

制御パラメータ調整装置１０は、テスト監視装置２０からテスト終了信号を受信した場合、該テスト終了信号受信時に算出された制御パラメータを制御装置６に適用する。 - 特許庁

To provide a simulator which can achieve an appropriate test to an electronic interlocking device and to achieve a test equivalent to a test performed by use of an actual machine even when the simulator is connected through a transmission path where general purpose high speed communication can be performed.例文帳に追加

電子連動装置に対する適正な試験を実現させるシミュレータを提供し、汎用の高速通信が可能な伝送路で接続した場合でも、実機使用と同等の試験を実現する。 - 特許庁