「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

Write-in data is stored in a memory cell array 1, while test data required for correcting an error is generated for the write-in data and stored in a test data memory cell array 2.例文帳に追加

書き込みデータをメモリセルアレイ１に記憶すると共に、上記書き込みデータに対してエラー訂正に必要な検査データを生成して検査データメモリセルアレイ２に記憶する。 - 特許庁

When the magneto-optical disk device 200 is forcibly stopped by some or other reason, the controller 114 restarts the test by returning back to the top of the band whereon the test is performed.例文帳に追加

また、コントローラ１１４は、何らかの原因によって光磁気ディスク装置２００が強制停止されたとき、テストを行なっていたバンドの先頭に戻ってテストを再開する。 - 特許庁

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁

When all the sensor temperatures satisfy temperature rise conditions, the normal end of test run is determined, and an LED of a test run completion display part 11g is lighted (step S111).例文帳に追加

全てのセンサ温度が昇温条件を満たすときは試運転正常終了と判定され、試運転完了表示部１１ｇのＬＥＤが点灯する（ステップＳ１１１）。 - 特許庁

The test pattern is read by a first detecting part 9 and a second detecting part 10 to determine whether there is a recording failure in the test pattern by a record inspecting part 26.例文帳に追加

そしてこれを第１検出部９及び第２検出部１０によって読み込み、記録検査部２６によってテストパターンに記録不良があるか否かの判定を行う。 - 特許庁

The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).例文帳に追加

データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する（ステップ１００６）。 - 特許庁

The selector 110 is connected to a preceding stage of a flip-flop 100 serving as a start point for the objective path, and a test pattern is input to activate the objective path, in the test mode.例文帳に追加

また、対象パスの始点となるフリップフロップ１００の前段にセレクタ１１０を接続して、テストモード時には、対象パスを活性化するテストパタンを入力する。 - 特許庁

In an invalid data generating circuit (6), a test signal (SGT) is modified by a non-synchronous control signal (PTX), a test signal (TEOUT) is generated and given to the memory.例文帳に追加

無効データ発生回路（６）において、テスト信号（ＳＧＴ）を非同期制御信号（ＰＴＸ）で修飾してテスト信号（ＴＥＯＵＴ）を生成してメモリへ与える。 - 特許庁

From the A register 32, the test result information is read to generate replacement address data for testing, and from the B register 33, the test result information is read and output to the outside.例文帳に追加

Ａレジスタ３２よりテスト結果情報を読み出してテスト用の置換アドレスデータを生成し、Ｂレジスタ３３よりテスト結果情報を読み出して外部に出力する。 - 特許庁

The wiring pattern 111 for test is formed in a test region (the blank part) 102 on the substrate 100, and a real wiring pattern 2 is formed in a product region 101.例文帳に追加

基板１００上のテスト領域（余白部分）１０２にテスト用配線パターン１１１が形成され、製品領域１０１に実配線パターン２が形成される。 - 特許庁

The supporting part 30 detachably supports the test pin 40 so that the test pin is generally parallel to the standard axis, and it is integrally attached to the movable piece 20.例文帳に追加

保持部３０は、テストピン４０が基準軸と略平行になるようにテストピン４０を着脱自在に保持するものであり、可動片２０に一体的に取り付けられている。 - 特許庁

The test tire 1 is mounted to the trailer 2, and the trailer 2 is towed and made to travel by the towing means 6 so that the test tire 1 runs over the projection 4 for the curbstone.例文帳に追加

トレーラ２に試験タイヤ１を取り付け、試験タイヤ１が縁石用突起４を乗り越すように牽引手段６によりトレーラ２を牽引して走行させる。 - 特許庁

By this constitution, smooth rotation is ensured while load necessary for a usual bending strength test of concrete is supported without any flexure to perform a test.例文帳に追加

これにより、通常のコンクリートの曲げ強度試験に必要な荷重を、たわみを生じること無く支持しながら円滑な回転を確保して試験を行うことができるようになる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for a leak test in which a reinforcing member is not required during the leak test, and in which the monitoring of the pressure difference between the inside and the outside of a work is not required.例文帳に追加

漏洩試験に際して補強部材を不要とし、ワークの内外圧力差を監視する必要がない漏洩試験方法及び漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

Prior to the shipment of the product, the high voltage is applied to the test point TP, and after data are written into the EEPROM 30, voltage application to the test point TP is suspended.例文帳に追加

そして、製品出荷に先立ち、テストポイントＴＰに高電圧を印加しつつ、ＥＥＰＲＯＭ３０にデータを書き込んだ後、テストポイントＴＰへの電圧印加を停止する。 - 特許庁

Before recording information on the nonvolatile magnetic thin film memory device, test information is written on the memory cell, and after checking the test information recorded, regular data is recorded.例文帳に追加

不揮発磁気薄膜メモリ装置への情報の記録を行なう前に、メモリセルに情報の試し書きを行ない、試し書きの記録を確認した後、正規のデータを記録する。 - 特許庁

In the test substance immunomodulatory function evaluating method, the test substance is cultured with peripheral blood mononuclear cells, and granulysin in a culture supernatant is detected.例文帳に追加

被検物質を末梢血単核球とともに培養し、培養上清のグラニュライシンを検出することを特徴とする、被検物質の免疫賦活能評価方法。 - 特許庁

In this device, when a test image for fixing is formed on a recording body (S1), a required toner fixing quantity is calculated by a central control part from test image data acquired at S3 (S4).例文帳に追加

記録体Ｓ上に定着テスト画像Ｔが作成されると（Ｓ１）、統括制御部５４は、Ｓ３で得たテスト画像データからトナー要求付着量を算出する（Ｓ４）。 - 特許庁

A test chart is displayed on the monitor 50 of the personal computer 16 and the image of the test chart photographed by the AF CCD 20 is taken into the personal computer 16 at the time.例文帳に追加

パソコン１６では、モニタ５０にテストチャートが表示されると共に、そのとき、ＡＦ用ＣＣＤ２０により撮影されたそのテストチャートの映像が取り込まれる。 - 特許庁

In addition, the provision of the selector in which the ratio between the signal wire and the test stub wiring is N:1 enables obtaining a laminated semiconductor device in which the number of test signal pins is reduced.例文帳に追加

さらに信号線とテスト用スタブ配線との比をＮ：１とするセレクタを設けることでテスト用信号ピンを削減した積層半導体装置が得られる。 - 特許庁

When a parallel test in a semiconductor memory device is performed, write data is held in a dedicated latch circuit by using a command dedicated to the parallel test prior to issuing a WRITE command.例文帳に追加

半導体記憶装置のパラレルテスト実施時は、ＷＲＩＴＥコマンドの発行に先立ちパラレルテスト専用のコマンドにより書き込みデータを専用のラッチ回路に保持しておく。 - 特許庁

If the number of the semiconductor devices under test is larger than the residual nominal value, testing of the semiconductor devices under test mounted on the buffer tray is proceeded, while being stopped if smaller.例文帳に追加

被検査半導体素子の数が残余基準値より大きければ、バッファトレイに搭載された被検査半導体素子の検査を進行し、小さければ中止する。 - 特許庁

When a test button of an intercom master unit 1 connectable with an intercom slave 2 is pressed, an inspection signal is transmitted to the fire alarm 3 to request an operation confirmation test.例文帳に追加

ドアホン子器２との間で通話を可能とするインターホン親機１のテスト釦が押下されると、火災警報器３に点検信号を送信して動作確認テストを要求する。 - 特許庁

The member 16 to be treated is separated from the pH test paper, and the color of a discoloration part 18 of the pH test paper 14 is compared with a reference color to determine the pH value of the water 12.例文帳に追加

被処理部材１６をｐＨ試験紙から離し、ｐＨ試験紙１４の変色部１８の色を基準の色と比較して水１２のｐＨ値を求める。 - 特許庁

When performing the continuity confirmation test, the non-combined portion 5b of the reinforcement sheet 5 is rolled up to insert the probe of a tester in the test point 2a and the probe is brought into contact with the linear conductor 1.例文帳に追加

導通確認テストの際は補強シート５の非固着部分５ｂを捲り上げてテストポイント２ａにテスターのプルーブを挿入して線状導体１に接触させる。 - 特許庁

When washing of a paint film test piece 41 by the rotating test brush 24 is executed, washing water, in which minute abrasive grains having grain sizes of 5 μm or less are mixed, is supplied.例文帳に追加

回転される試験用ブラシ２４による塗膜試験片４１の洗浄を行うとき、５μｍ以下の微細砥粒が混在された洗浄水が供給される。 - 特許庁

The changing over of the IC 1 for FDD device into the test mode is carried out, provided that there is the input of a test mode shifting command within a fixed period posterior to the applying of the power source.例文帳に追加

ＦＤＤ装置用ＩＣ１のテストモードへの切り換えを、電源投入後の一定期間内にテストモード移行コマンドの入力があることを条件に実行する。 - 特許庁

If the digital signal outputted from the A/D converter 7 for the test input is not a value corresponding to the test input, it is proved that the failure exists in the analog power source 13.例文帳に追加

テスト入力に対してＡＤ変換器７が出力するデジタル信号がテスト入力に対応する値でない場合、アナログ電源１３の異常であることが分かる。 - 特許庁

An air conditioner 22 is set within a test dwelling house 2 housed within an environmental test room 11 that is a space which can be set to an optional temperature and humidity condition.例文帳に追加

任意の温湿度条件に設定することが可能な空間である環境試験室１１内に収容された試験住宅２内に、エアコン２２を設置する。 - 特許庁

The tangle error of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a projection part 3, and the comatic aberration of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a lens part 2.例文帳に追加

また、張出部３の透過波面測定により被検レンズ１の面倒れを求め、レンズ部２の透過波面測定により被検レンズ１のコマ収差を求める。 - 特許庁

Thus, air for testing is injected while monitoring an air pressure inside the air pipe 1A by using the test jig and the test adjustment of this heat sensing unit 1C is performed.例文帳に追加

これにより、試験治具を用いて空気管１Ａ内の空気圧を監視しながら試験用の空気を注入し、熱感知ユニット１Ｃの試験調整ができる。 - 特許庁

A communication test signal is output to the output terminal, read by the diagnostic device 3, and is compared with a tolerance bandwidth transition so as to test a communication function.例文帳に追加

通信検査信号が出力端子へ出力され診断装置３によって読み込まれて、通信の機能を検査するため許容差帯域推移と比較される。 - 特許庁

The stealth module is used for the bus data analyzer and is provided with a test bus extension part and a stealth means for separating the bus data analyzer from the test bus extension part.例文帳に追加

バスデータアナライザに用いるステルスモジュールであって、テストバス延長部と、前記バスデータアナライザを前記テストバス延長部から切り離すステルス手段と、を具備したもの。 - 特許庁

In this disintegration test method, a tablet 1 is put on a mesh 2 and a disintegration test liquid 3 is dropped from above the tablet 1 onto the tablet 1, to make the tablet 1 disintegrate.例文帳に追加

錠剤１をメッシュ２上に置き、錠剤１の上方から崩壊試験液３を錠剤１へ落下させることで錠剤１を崩壊させる崩壊試験方法。 - 特許庁

In a test mode, a test signal is given to each amplifier and the user registers from which loudspeaker an audio signal is outputted to a direction of listening control manager 36 in cross-reference with each amplifier.例文帳に追加

テストモードでは、各アンプへテスト信号を入力し、ユーザは、どのスピーカからオーディオが出力されるかを各アンプに対して聴取方向制御マネージャ３６に登録する。 - 特許庁

Alternatively, the test device is moved on the plane facing the dielectric lens, thereby being observed in a far field from which of the test device the electromagnetic wave is radiated.例文帳に追加

又、供試装置を誘電体レンズと対抗した平面上で動かすことにより、供試装置のどこから電磁波が放射しているのかを、遠方界で観測可能となる。 - 特許庁

To automatically remove test print from a charging object when test print is operated for the maintenance of a printer whose charging processing is automatically performed according to the number of printing.例文帳に追加

印刷枚数に応じて自動的に課金処理されるプリンタの、メンテナンス等のためにテスト印刷がされたとき、これを自動的に課金対象から除外する。 - 特許庁

The attenuation of the first attenuator 114 is made so that the level of the test carrier signal is a specified level when the test carrier signal reaches the center device 10.例文帳に追加

また、第１アッテネータ１１４の減衰量は、テストキャリア信号がセンター装置１０に到達した時点でのテストキャリア信号のレベルが、規定のレベルとなるようにする。 - 特許庁

Cross-functional coverage acquisition is set between functions having dependency, and a test procedure is created to test functions having no dependency in parallel.例文帳に追加

そして依存関係の有る機能間にクロスファンクションカバレッジの取得を設定し、依存関係の無い機能のテストは並行して実行するようにテスト実行手順を作成する。 - 特許庁

The progress degree of discoloration in a resin test piece is analyzed by a color difference meter, after the test piece is exposed to nitrogen oxides of a prescribed concentration at a prescribed temperature for a prescribed time.例文帳に追加

樹脂試験片を所定濃度の窒素酸化物に所定温度で所定時間暴露した後、該樹脂試験片の変色進行度合いを色差計で分析する。 - 特許庁

The time P is defined as the time from the timing for writing an image of a page forming the test pattern to the timing for writing an image where the correction value is reflected with the test pattern.例文帳に追加

時間Ｐを、テストパターンを形成するページの画像を書き出すタイミングから、テストパターンによる補正値を反映した画像を書き出すタイミングまでの時間とする。 - 特許庁

The impedance of the test pattern 62 is measured by a measuring instrument connected to the probe A.例文帳に追加

プローブＡと接続される計測器でテストパターン６２のインピーダンスを測定する。 - 特許庁

This device is obtained by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

With this setup, a test chip pattern is set equal in pattern density to a main chip pattern.例文帳に追加

これによって、テストチップのパターン密度を本チップのパターン密度と同等にする。 - 特許庁

A piston 2 is mounted on a pressure container 1 for material test in a state of being advanced and retracted.例文帳に追加

材料試験用の圧力容器１にピストン２を進退自在に設ける。 - 特許庁