「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

A learning test region about one parameter of a disk is made length integral multiple of wobble beat period width caused in a reproduced wobble signal of wobble, test recording about one parameter value is performed for the learning test region, reproduction of test recording, reproduction evaluation, and preservation of a reproduction evaluation result are performed.例文帳に追加

ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると（Ｓ２０４）、オペレーションＰＣは、評価試験の結果データを評価関数により処理し（Ｓ２０６）、条件値を変化させた試験条件を２個抽出し（Ｓ２０８）、抽出した２個の試験条件と制御性能とで３次元グラフを作成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

Further, another embodiment is possible in which a test pattern is formed on an intermediate transcript in a transfer system; the test pattern is read; and the speed variation data of the intermediate transcript is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

また、転写方式において中間転写体にテストパターンを形成し、該テストパターンを読み取り、その読取結果から中間転写体の速度変動データを求め、記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

The 1st state is set to the storage means 19 first to test the accuracy of analog/digital conversion and when the result of test is defective, the 2nd storage state is set to the storage means 19 and the accuracy of analog/digital conversion is tested again.例文帳に追加

最初に記憶手段１９を第１の記憶状態としてＡ／Ｄ変換精度をテストし、不良であった場合には記憶手段１９を第２の記憶状態として再テストする。 - 特許庁

On the test base, the tested paper is placed, while a transparent adhesive tape T is set on the cylindrical face of the roller, and when the roller is rolled on the test base, the paper powder is collected onto the adhesive face of the transparent adhesive tape.例文帳に追加

試験台上に被試験紙、ローラ円筒面上に透明粘着テープＴをセットし、試験台上でローラを転がすことにより、透明粘着テープの粘着面に紙粉を採取する。 - 特許庁

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved.例文帳に追加

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部５０に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。 - 特許庁

The relative dielectric constant of the corrosion-preventing film 3 is 2.5 which is sufficiently small, and by performing the CASS test, no abnormality is observed on the test piece 1 attached with the corrosion-preventing film after passing 240 hr.例文帳に追加

防食膜３の比誘電率は２．５と充分に小さく、キャス試験を実施したところ防食膜付き試験片１は２４０時間経過しても異常が全く発生しなかった。 - 特許庁

When one test pattern is repeatedly printed, each recording element to be used is switched each time the test pattern is recorded in a single recording medium or a specified plurality of numbers of recording media.例文帳に追加

同一の前記テストパターンの印字を繰り返し行う場合に、1つあるいは既定の複数の記録媒体に前記テストパターンを記録するごとに、使用する前記記録素子を切りかえる。 - 特許庁

Before a performance recording to the optical disk is carried out, a test recording is made, and the relation among a recording laser power value, a β value and a C1 error value is found based on the test result.例文帳に追加

光ディスクに対する本番の記録を行う前に、テスト記録を行い、当該テスト記録の結果から記録レーザパワー値と、β値およびＣ１エラー値との対応関係を求める。 - 特許庁

According to this method, the virtual test flight is imitated without being visualized before the visualization of the virtual flight, and the region 6 of the hollow lumen 1 that is not visually recognizable during the test flight is detected.例文帳に追加

本方法によれば、仮想飛行の可視化前にまず仮想試験飛行が可視化なしに模擬され、試験飛行中視認不能な中空管（１）領域（６）が検出される。 - 特許庁

When starting hardware, a watchdog timer 25 monitors whether the test under execution is not abnormally stopped or not, and when the test is abnormally stopped, the hardware is reset and restarted.例文帳に追加

ハードウェアの起動に際して実行中のテストが異常停止していないかどうかをウォッチドッグ・タイマ２５によって監視し、異常停止に際してはハードウェアをリセットして再起動せしめる。 - 特許庁

When modulation degree change obtained by test-writing of test data in actual drive is included in the allowable range, optimum recording power is calculated from the modulation degree change as it is.例文帳に追加

実際のドライブでテストデータを試し書きして得られる変調度変化が許容範囲に含まれる場合にはそのまま変調度変化特性から最適記録パワーを算出する。 - 特許庁

A paper feed speed is increased regardless of the kind of paper in the test printing mode (step 212) and the paper is fed without removing skew (step 213) and, after cueing (step 211), test printing is performed.例文帳に追加

テスト印字モードでは紙種に関係なく給紙速度を高速にし（ステップ２１２）、スキュー取りを行わないで用紙を給送し（ステップ２１３）、頭出し（ステップ２１１）後にテスト印字する。 - 特許庁

When a cleaning member 4 is brought into contact with the test contact 11, a turntable 3 is moved slightly, and thereby the cleaning member 4 is moved to rub the surface of the test contact 11.例文帳に追加

クリーニング部材４がテストコンタクト１１に接触したときに、ターンテーブル３が微動することにより、クリーニング部材４が動いてテストコンタクト１１の表面を擦るようになっている。 - 特許庁

A clamping device (33) fixed to the baseplate (20) is moveable between a rest position wherein the device is not forced into contact with the test tool (100) and an actuated position wherein the test tool (100) is fixed in position.例文帳に追加

ベースプレート(20)に対して固定されたクランプ装置(33)は、試験ツール(100)に押付けられない休止位置と、試験ツール(100)を適所に固定する作動位置との間を移動可能である。 - 特許庁

An attachment 2 set with the test piece 3 is installed in the stage, and the moving speed when the test piece 3 is scanned is found by counting the number of pulses of encoder output waveforms 18 during a prescribed time.例文帳に追加

試験片３をセットしたアタッチメント２をステージに設置し、試験片３が走査したときの移動速度を所定時間中のエンコーダ出力波形１８のパルス数をカウントして求める。 - 特許庁

This circuit is constituted so that a flip-flop constituting a scan chain is reset when the scan test is started or finished by an edge of a mode signal for switching between an ordinary operation and the scan test.例文帳に追加

通常動作とスキャンテストを切り替える為のモード信号のエッジにより、スキャンテストが開始される際や終了される際にスキャンチェーンを構成するフリップフロップをリセットする。 - 特許庁

In a mode in which the waiting time is decided, a test pressure is given, the valves are closed in the same manner as in the test mode, and the piston 21 of an air cylinder 20 is moved at a set speed by a movement means 30.例文帳に追加

この待ち時間を決定するモードでは、上記テストモードと同様にテスト圧付与、弁閉じの後、エアシリンダ２０のピストン２１を移動手段３０により一定速度で移動させる。 - 特許庁

The memory chip 103B is equipped with a memory circuit which is a test object, and the logic chip 103A is equipped with an internal logic circuit 20 and a test processing circuit 21 electrically connected thereto.例文帳に追加

メモリチップ１０３Ｂは試験対象となるメモリ回路を備え、ロジックチップ１０３Ａは、内部ロジック回路２０と、これに電気的に接続されたテスト処理回路２１とを備える。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

To provide a hard coat film which is excellent in adhesiveness and leveling workability after a reliability test or a light-resistance test with a variation in temperature and humidity, is completed, and has fewer stripes, scratches and less unevenness when coating is made.例文帳に追加

本発明のハードコートフィルムの製造方法は、耐光試験後の密着性、耐擦傷性、鉛筆硬度等の塗膜硬度、塗工時のレベリング性に優れたハードコートフィルムを提供できる。 - 特許庁

To reuse a prepared program code even when a specification is changed, when a test program is prepared from the formal specification and when the program code is inserted manually into the test program.例文帳に追加

形式的仕様からテストプログラムを生成し、そのテストプログラムに手作業でプログラムコードを挿入した場合、仕様が変更されたときでも作成されたプログラムコードを再利用可能とする。 - 特許庁

When a connection confirmation test of a personal computer is instructed, after a UDP/IP PC connection confirmation test packet is broadcast toward all personal computers, a monitoring timer is started (steps 102, 103).例文帳に追加

パソコンの接続確認テストが指示されると、ＵＤＰ／ＩＰでＰＣ接続確認テストパケットが全てのパソコンに向けてブロードキャスト送信された後、監視タイマが起動される（ステップ102、103）。 - 特許庁

Each formation of tests 102, 202 is processed so that a redundant test is removed, and that a space for inserting therein new genetic material 108 into a group in the form of a random test vector is formed.例文帳に追加

更に、冗長なテストが排除され、及びランダムテストベクトルという形で集団内に新たな遺伝材料108を挿入する余地を形成するように、テスト102,202の各生成が処理される。 - 特許庁

As a result, since a test piece 60 is prevented from deforming, in a direction which is inclined with respect to the vertical direction and micro-vibrates upon the collision, testing accuracy of the test piece 60 is secured.例文帳に追加

これにより、試験片６０が鉛直方向に対して斜めの方向に変形されることおよび衝突時の微振動を抑制できるので、試験片６０の試験精度を確保できる。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

The analyzing processing part 11 analyzes the input command to determine whether it is a control command or a test condition setting command, and a test condition assigned by the command is stored when it is the test condition setting command.例文帳に追加

命令解析処理部１１は、入力された命令を解析してそれが制御命令であるのか試験条件設定命令であるのかを判別し、試験条件設定命令であれば当該命令で指定されている試験条件を記憶する。 - 特許庁

In order to evaluate the dopant concentration, the measurement plane 101 of the fixed test piece is polished to expose a semiconductor joint plane inside the test piece, and then a probe 703 of a spreading resistance measurement apparatus is brought into contact with the polished surface of the test piece, and then the dopant concentration is measured.例文帳に追加

そして、固定された試料の測定面１０１を研磨して試料内部の半導体接合面を露出させ、研磨された研磨面に対して広がり抵抗測定装置の端針７０３を接触させて濃度評価する。 - 特許庁

A test control circuit controls the output circuit so that at a first test mode, refresh-operation of the real cell array is prohibited and data read from the real cell array is outputted, at a second test mode, data read from the parity cell array is outputted.例文帳に追加

試験制御回路は，第１の試験モード時に，リアルセルアレイのリフレッシュ動作を禁止してリアルセルアレイから読み出されたデータを出力し，第２の試験モード時に，パリティセルアレイから読み出されたデータを出力するよう前記の出力回路を制御する。 - 特許庁

The semiconductor memory 703 is tested by a test circuit 702, each test result of plurality of digits is held by a data-holding means 706 in the test circuit 702, and the digit of the defective data, concerning the failures in the semiconductor memory 703, is designated.例文帳に追加

テスト回路７０２により半導体メモリ７０３のテストを行い、そのテスト回路７０２内のデータ保持手段７０６により、複数桁の各々のテストの結果を保持して、半導体メモリ７０３内の故障にかかる不良データの桁を指定する。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

The test control logic can be connected to the input pin, and is composed so that a test period is started based on the state of the input pin, and the state of the input pin is stored in a storage device during a test period.例文帳に追加

テスト制御ロジックは、入力ピンに接続することができ、入力ピンの状態に基づいてテスト期間を開始するように構成され、およびテスト期間中に、入力ピンの状態を、記憶デバイスに記録するように構成されている。 - 特許庁

After the lapse of a desired period, a base part 28a of a concrete test piece 28 filled in the inner form 14 is broken, the concrete test piece is pulled out of the structure concrete 26 with the inner form, and the inner form 14 is removed from the concrete test piece 28.例文帳に追加

所望期間経過後内型枠１４内に充填されたコンクリート試験片２８の基部２８ａを折り、コンクリート試験片を内型枠と共に構造体コンクリート２６から引き抜き、コンクリート試験片２８から内型枠１４を除去する。 - 特許庁

A test program is created using a microprogram of a spreadsheet program, which is one application software one is accustomed to use, thereby allowing even a user having little knowledge of semiconductor test systems to create the test program easily.例文帳に追加

通常使い慣れたアプリケーションソフトの一つである表計算ソフトのマイクロプログラムを利用してテストプログラムを作成するようにしたものであり、これによって、半導体試験装置の知識の浅いユーザでも容易にテストプログラムを生成することができる。 - 特許庁

To provide an IC test system which is capable of easily inputting the values of parameters for which a test is made on an IC to be tested, and capable of checking the values of the parameters for which a test is made on an IC to be tested in the form of the waveform.例文帳に追加

本発明の課題は、被試験ＩＣの試験を行うパラメータの値の入力を容易に行うことが可能な、また、被試験ＩＣの試験を行うパラメータの値の確認を波形で行うことが可能なＩＣ試験システムを提供することである。 - 特許庁

This semiconductor device module is equipped with switches SW11 or SW13 for connecting a test terminal TT to one end side of wiring which is a test object, and transistors M21 or M23 for imparting a ground potential VSS to the other end side of the wiring which is the test object.例文帳に追加

試験対象となる配線の一端側にテスト端子ＴＴを接続するスイッチＳＷ１１ないしＳＷ１３と、試験対象となる配線の他端側に接地電位ＶＳＳを与えるトランジスタＭ２１ないしＭ２３とを備える。 - 特許庁

The test piece 7 is retreated from the opening 4 and the auxiliary valve 5 with the valve element 51 closed, the deterioration state of the test piece 7 is visually confirmed, and the deterioration state of the inside of the valve casing 1 is grasped from the deterioration state of the test piece 7.例文帳に追加

また、弁体５１の弁閉状態で試験片７を開口４と補助弁５から退避させて、試験片７の劣化状況を目視により確認し、試験片７の劣化状況から弁箱１内部の劣化状況を把握する。 - 特許庁

When the control information for pulling a subscriber line into a tester is transmitted from the new test reception board system 1B, it is converted by the test command conversion part 62, and a subscriber line test is performed by the tester 10 provided inside a remote housing device 5 by the control of the test connection control part 61.例文帳に追加

新試験受付台システム１Ｂから加入者線を試験器に引き込むための制御情報が送信されると、試験コマンド変換部６２により変換されて、試験接続制御部６１の制御により、遠隔収容装置５内に設けられた試験器１０により加入者線試験が行われることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test device and its test system in which conditions separation of a test program is controlled without measuring a semiconductor memory actually, skewness correction under an arbitrary condition is performed and correction data are stored, skewness compensation can be performed by only read-out of data when a measurement test is performed actually.例文帳に追加

実際に半導体メモリを測定せずともテストプログラムの条件分離を制御し、任意の条件下のスキュー補正を実施して補正データを保存し、実際に測定試験を実行する際にはデータを読み出すだけでスキュー補正が行える半導体メモリ試験装置、及びその試験方式を提供することである。 - 特許庁

This device is provided with a test mode discriminating circuit 26 in which a test mode entry signal TME is activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a first time, and test mode signals TM1-TM4 are selectively activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a second time while the test mode entry signal TME is activated.例文帳に追加

１回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＥを活性化し、テストモードエントリ信号ＴＭＥが活性化されている間に２回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモード信号ＴＭ１〜ＴＭ４を選択的に活性化するテストモード判別回路２６を設ける。 - 特許庁

The method for measuring impact absorption energy using the machine for testing impact of dropping weight, measures the impact absorption energy of a test specimen by using the kinetic energy when a dropping weight is freely fallen without colliding the weight to the test specimen and the kinetic energy after the weight is collided to the test specimen and the test specimen is broken.例文帳に追加

落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法であって、落錘を試験片に衝突させずに自由落下させた際の運動エネルギーと、落錘が試験片に衝突し、破断させた後の運動エネルギーを用いて、当該試験片の衝撃吸収エネルギーを測定する。 - 特許庁

The angle of refraction of the transversal wave oblique angle probe 2 is largely set in order to detect the flaw extending into the test target from the surface of the test target and, by the ultrasonic wave transmitted from the transversal wave oblique angle probe 2, a transversal wave is propagated into the test target and a surface wave is propagated along the surface of the test target.例文帳に追加

横波斜角探触子２の屈折角は、試験体表面から内部に延びているきずを検出するために大きく設定されており、横波斜角探触子２から送信される超音波により、試験体内部に横波が伝搬するだけでなく、試験体の表面に沿って表面波も伝搬していく。 - 特許庁

An inhibit region 404m, obtained by expanding a pattern 104m in a test element region by an element isolation width, is formed on a test chip, based on of CAD data D3 provided with a test element pattern 104.例文帳に追加

テスト素子パターン１０４ｍを有するＣＡＤデータＤ３から、テスト素子領域のパターン１０４ｍを素子分離幅だけ拡大してテストチップ上に禁止領域４０４ｍを形成する。 - 特許庁

In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track.例文帳に追加

本発明の一つの実施形態において、磁気ディスクの欠陥検出テストは、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのライト・テストを行い、各データ・トラックにテスト・データをライトする。 - 特許庁

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.例文帳に追加

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁