「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(183ページ目) - Weblio英語例文検索

To simplify a device and to reduce cost without needing to provide an exclusive terminal for an output monitor in adding a testing function.例文帳に追加

テスト機能を付加するに際し、出力モニタ専用に端子を設ける必要がなく、デバイスの簡素化およびコストの低減を図る。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ANTIMICROBIAL ACTIVITY, MEDICINE AGAINST ANTIMICROBIAL HELICOBACTER PYLORI, METHOD FOR PREVENTING OCCURRENCE OF HELICOBACTER PYLORI AND METHOD FOR USING PLUM EXTRACT例文帳に追加

抗菌力試験法および抗耐性ピロリ菌薬、ピロリ菌の発生を予防する方法ならびに梅抽出物の使用方法 - 特許庁

To provide a sample fixing device which fixes properly a sample on a sample stand with a simple mechanism, and also to provide a hardness testing machine.例文帳に追加

簡易な機構で試料を試料台に好適に固定する試料固定装置及び硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

A vibrator characteristic testing apparatus adopting the method of this invention comprises: a network analyzer 6, an upper electrode 2; a lower electrode 3; a vibrator chip 4; a bush 5; and a personal computer 1.例文帳に追加

ネットワークアナライザ６，上電極２，下電極３，振動子片４，ブッシュ５およびパーソナルコンピュータ１からなっている。 - 特許庁

The connector 1 for a test head is so arranged to carry a test head 3 of an IC tester for connecting the test head to a testing part of an automatic handler.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストヘッド３を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラのテスト部に接続するテストヘッドの接続装置１である。 - 特許庁

To provide a device that can erect testing pole corresponding to various diameters of the poles, and at the same time, can surely maintain the erected state.例文帳に追加

種々の柱径に対応して試験柱を立設することができ、かつ、立設状態を確実に維持できる装置を提供する。 - 特許庁

The LAPD testing apparatus is provided with: a communication channel 108; a LAPD terminator 106; and first and second communication terminals 102, 104.例文帳に追加

通信回線１０８と、ＬＡＰＤ終端装置１０６と、第１及び第２通信端末１０２及び１０４とを具える。 - 特許庁

An evaluation region partitioned with the second light shielding layer 122 is disposed on the region 200 for testing accuracy of landing.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００には、第２の遮光層１２２によって区画される評価領域が設けられている。 - 特許庁

Further, a testing means for acquiring the information on the operation of the switching elements integrated on the substrate is provided on the substrate.例文帳に追加

基板には、さらに、基板上に集積された、スイッチング素子の動作についての情報を取得するテスト手段が設けられる。 - 特許庁

An erasing current control circuit 8 controls a current flowing to the second eraser head 4 according to the reproduced testing signal.例文帳に追加

消去電流制御回路８は、再生される試験信号に応じて第２の消去ヘッド４に流れる電流を制御する。 - 特許庁

To enable progress of testing work to be reported to a test manager and a man in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

試験作業の進捗状況が、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつ、プッシュ型的に通知を可能とする。 - 特許庁

Besides, the information on the progress conditions of the entrusted test and the test schedule is disclosed to a specified or unspecified client or testing place.例文帳に追加

また、受託試験の進捗状況、試験計画の情報を特定又は不特定の顧客または試験所に公開する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The distributed testing system can be so expanded as to interface with physical agents and heterogeneous measurement without technical adjustment.例文帳に追加

分散テストシステムは、技術的な調整なしに物理エージェントおよびヘテロジニアスな測定にインタフェースするよう拡張可能である。 - 特許庁

To provide a lubricating characteristic testing device of a transmission capable of executing easily attitude control of a transmission under test.例文帳に追加

試験用トランスミッションの姿勢制御を容易に行うことのできるトランスミッションの潤滑特性試験装置を提供すること。 - 特許庁

For confirming the quality of the captured and processed image, the imaging system (15) used in this testing is checked.例文帳に追加

捕捉され処理された画像の質を確認するために、この試験において使用される画像形成システム（１５）も点検される。 - 特許庁

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁

To provide a dynamic balance testing machine capable of stably measuring a rotating test object, owing to the fixed position of the axial direction.例文帳に追加

回転する被試験体の軸方向位置が一定となり安定した測定を行うことができる動釣合試験機の提供。 - 特許庁

To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a LAPD testing apparatus that eliminates the need for connection to a test apparatus such as a protocol analyzer or a switch compatible with the ISDN when carrying out an LAPD test.例文帳に追加

ＬＡＰＤ試験のとき、プロトコルアナライザ等の試験機もしくはＩＳＤＮ対応交換機との接続を不要とする。 - 特許庁

To provide an LSI-testing adaptor, which can reduce costs for the test by suppressing an increase in the circuit scale of an LSI device.例文帳に追加

ＬＳＩデバイスの回路規模の増大を抑えたままテスト費用を削減することができるＬＳＩテスト用アダプタを提供する。 - 特許庁

A testing apparatus is used for checking operations of an internal circuit for probing pad on the basis of the inspection data and response data for inspection.例文帳に追加

テスト装置は、検査用データと検査用応答データとに基づいてプロービングパッドに対する内部回路の動作をチェックする。 - 特許庁

MAGNET ASSEMBLY, INSTRUMENT FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX BY USING THE MAGNET ASSEMBLY, METHOD FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX, AND TESTING METHOD例文帳に追加

磁石構成体、並びにこの磁石構成体を用いた漏洩磁束測定装置、漏洩磁束測定方法及び検査方法 - 特許庁

To provide a device for rocking/rotation testing for carrying out both an endurance test and a performance test on machine parts, etc.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor and a tester in which a test signal at a good reliability and good efficiency can be detected upon testing a substrate.例文帳に追加

基板の検査に当たり、信頼性良くかつ効率の良い検査信号が検出できるセンサ及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

To potentiate high-speed testing of a tested object and to make it possible to obtain an output value of the tested object.例文帳に追加

高速に被試験対象の試験を行うことができ、被試験対象の出力値を得ることができるを目的にする。 - 特許庁

To provide a data processor capable of testing whether a secure circuit is normal or not while keeping the confidentiality of the secure circuit.例文帳に追加

セキュア回路の秘密性を保ちながら、当該セキュア回路が正常であるか否かをテストできるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

When a fault is not found, a signal showing that the mixed memory array contains no fault is given to the external testing device.例文帳に追加

障害が見つからなかった場合、メモリ混載アレーは障害を含まないことを示す信号を外部試験装置に与える。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

A tester 2 receives testing conditions, and tests the semiconductor chip on a wafer via a probe 6, according to the accept/reject test program.例文帳に追加

テスタ２は、テスト条件を受信して、合否判定テストプログラムに従い、プローバ６を介してウエハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can markedly shorten time for testing a memory cell part with a small number of additional circuits.例文帳に追加

少ない付加回路でメモリセル部のテスト時間を大幅に短縮することができる半導体集積回路装置を実現する。 - 特許庁

A plurality of power source pads 17 for testing the wafer electrically connected to the line 13 are formed on the line 13.例文帳に追加

電源ライン１３上に、電源ライン１３と電気的に接続された複数のウェハテスト用電源パッド１７が形成されている。 - 特許庁

With such a testing jig board, required continuity test can be executed for all wiring networks of the tested board.例文帳に追加

本発明の検査方法は、上記の検査用治具基板を用い、各配線ネットワークの導通検査と、絶縁検査を行う。 - 特許庁

The obtained prepreg article is characterized in that the number of times of folding endurance thereof measured under a load of 9.8N by an MIT testing machine is 100 times or above.例文帳に追加

得られたプリプレグ物は、ＭＩＴ試験機にて荷重９．８Ｎで測定した耐折回数が１００回以上である。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。 - 特許庁

While the testing control is performed using one of the tanks, changeover preparation control is performed in the other tank.例文帳に追加

また、一方の槽を活用して試験制御が実行されている間は、他方の槽において移行準備制御が実行される。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of vibrating easily a specimen in the running direction of a truck and in the vertical direction.例文帳に追加

供試体を台車の走行方向と上下方向とに容易に振動させることができる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

To provide a system for a voluntary test for communication facility, which improves the efficiency of total testing works for the voluntary test for the communication facility prior to use.例文帳に追加

通信設備の使用前自主検査の全体の作業の効率化が図れる設備自主検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加

半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁

To ensure an efficient and reliable balance test by eliminating loading/ unloading of testing weights and other major preparatory work.例文帳に追加

試験用おもりの搬入・搬出や大掛かりな準備工事を不要とし、効率よく確実に秤試験を実施できるようにする。 - 特許庁

To improve testing efficiency using a TEG, resulting in increasing a yield.例文帳に追加

本発明の目的は、ＴＥＧを用いた検査効率を向上させることにあり、それによって歩留まりを向上させることにある。 - 特許庁

To provide an eyesight testing apparatus in which the size is small, and the handling can be easily done, and which can perform the different eyesight testings of the maximum number.例文帳に追加

小型で容易に取り扱いができ、最大数の異なる視力検査を実行可能な視力検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pipe testing device which can easily and accurately test the finishing of a steel pipe before lining by a simple data measuring.例文帳に追加

簡単なデータ測定により容易にかつ正確に原管の仕上り検査を可能にした原管検査装置を提供する。 - 特許庁