「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(184ページ目) - Weblio英語例文検索

The means for arranging the testing object is arranged between the wide range X-ray source and a smaller end face of the X-ray capillary lens.例文帳に追加

テスト物体を配置する手段は、広域Ｘ線源と、Ｘ線キャピラリレンズのより小さい端面との間に配置される。 - 特許庁

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time.例文帳に追加

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of independently testing a memory cell array section and a logic section in a memory circuit.例文帳に追加

メモリセルアレイ部とメモリ回路内ロジック部をそれぞれ独立してテストすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The testing mainframe processes the n-bit code word further to determine whether or not the device satisfies a predetermined operability criterion.例文帳に追加

試験メインフレームはｎビットコードワードを更に処理して、装置が操作性の所定の判定基準に及第するか否かを決定する。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit and a test system capable of easily testing in a current logic signal.例文帳に追加

容易に電流論理信号における試験が行える半導体集積回路及びテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

PRETREATMENT METHOD AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR FUEL REFORMING APPARATUS, OPERATION PRETREATMENT METHOD FOR FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM例文帳に追加

燃料改質装置の前処理方法および気密試験方法、並びに燃料電池発電システムの運転前処理方法 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

To provide a Kelvin connector which surely fixes a battery state testing device mechanically and electrically to a battery post.例文帳に追加

蓄電池の状態を試験するための器具をバッテリポストに対して機械的、電気的に確実に固定するケルビンコネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a testing jig capable of connecting electrically with semiconductor devices surely and stably, without pressing down semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置を押さえる必要なく、半導体装置と確実かつ安定した電気的接続が可能な検査治具を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor integrated circuit and a power supply device, capable of testing correctly a signal to be tested.例文帳に追加

被テスト信号のテストを正しく行うことが可能なテスト回路，半導体集積回路および電源装置の提供を図る。 - 特許庁

To provide a scan test system for testing operations of a component module of an integrated circuit and the interconnection between their component modules.例文帳に追加

集積回路の成分モジュールと、それらの成分モジュール間の相互接続と、の動作をテストする走査テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for performing a highly accurate direct current test, without causing significant increase in cost.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を招かずに高精度の直流試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS PROVIDED WITH CIRCUIT FOR TEST AND METHOD FOR TESTING ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS USING CIRCUIT FOR TEST例文帳に追加

テスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a testing connector for being surely connected to a flexible thin plate electrode extending from electronic components in parallel in one action.例文帳に追加

電子部品から平行に延びるフレキシブルな薄板電極にワンタッチで確実に接続できる試験用コネクタを提供する。 - 特許庁

To efficiently perform testing to be carried out when creating a control map stored and used in an engine control device.例文帳に追加

エンジン制御装置に格納されて使用される制御マップを作成するにあたり実施される試験を効率的に行うこと。 - 特許庁

To provide a substrate unit for reliability test capable of testing the reliability of a plurality of array light sources, at low cost.例文帳に追加

低コストで複数のアレイ光源の信頼性を試験することを可能とする信頼性試験用基板ユニットを提供する。 - 特許庁

To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁

High pressure control oil O is not supplied from a port of the testing solenoid valve 21 to the main steam stop valve 2, and the main steam stop valve 2 is closed.例文帳に追加

試験用電磁弁２１は閉動作のための第１ソレノイド２３および開動作のための第２ソレノイド２４を有する。 - 特許庁

MOBILE INTERNET MEASURING DEVICE WITH BASE STATION EMULATING FUNCTION, AND UL SYNCHRONIZATION ACQUISITION AND TERMINAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

基地局エミュレーティング機能を有する携帯インターネット計測器及びこれを利用したＵＬ同期取得及び端末のテスト方法 - 特許庁

To provide a testing mode control circuit of a semiconductor device that can execute plural kinds of test mode in an arbitrary order.例文帳に追加

複数種類のテストモードを任意の順番で実施することができる半導体装置のテストモード制御回路を提供する。 - 特許庁

To enhance the accuracy of temperature characteristic testing, while uniformizing the temperatures of a plurality of semiconductor devices whose temperature characteristics are tested.例文帳に追加

温度特性が試験される複数の半導体装置の温度の均一化を図り、温度特性試験の精度を向上する。 - 特許庁

To achieve the miniaturization of a load testing apparatus for linear actuator by providing a speed increasing mechanism in between an inertial load section and a linear actuator.例文帳に追加

本発明は、慣性負荷部とリニアアクチュエータとの間に増速機構を設け、装置の小型化を得ることを目的とする。 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

To provide a PTV (particle tracking velocimetry) testing apparatus for surely enabling execution of PTV processing in data post processing before performing stereoscopic photography.例文帳に追加

ステレオ撮影をする前に、データ後処理で確実にＰＴＶ処理を実行可能とするためのＰＴＶ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an engine cooling water circulation system for test which is capable of testing test pieces including more types of engines.例文帳に追加

より多くのタイプのエンジンを含む試験体の試験を実施可能な試験用エンジン冷却水循環システムを提供する。 - 特許庁

A liquid spraying nozzle 24 is disposed in the duct 10, and liquid mist can be produced by spraying liquid on the gas for testing.例文帳に追加

ダクト１０内には液体噴霧ノズル２４があり、試験用気体に液体を噴霧して液体ミストを発生させることができる。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor device, having a heat sink enabled to efficiently remove the heat generated when testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験中に生じる熱を効率よく奪うことのできるヒートシンクを備えた、半導体装置用ソケット。 - 特許庁

To provide a method for testing the perfectness of the artery line clamp and vein line clamp of an apparatus having a blood tube set.例文帳に追加

血液チューブ系セットを有する装置の動脈ラインクランプと静脈ラインクランプとの完全性を試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

The inverter testing device 10 tests a first inverter INV1 and a second inverter INV2 with these two inverters set on the device.例文帳に追加

インバータ試験装置１０は、第１インバータＩＮＶ１、第２インバータＩＮＶ２の２台をセットしてこれらの試験を行う装置である。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method thereof and a semiconductor chip which is capable of independently inspecting the semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップを単独で検査することができる半導体装置およびその検査方法および半導体チップを提供する。 - 特許庁

A power supply part 22 of the LSI testing apparatus 2 supplies power supply voltage to the LSI 11 and a reference voltage waveform point 121.例文帳に追加

ＬＳＩ試験装置２の電源部２２は、ＬＳＩ１１および基準電圧波形ポイント１２１へ電源電圧を供給される。 - 特許庁

A testing connector is connected with the computer backplane whereon each card throttle can be turned on with an external tester.例文帳に追加

コンピュータ・バックプレーンにテスト・コネクタが接続され、コンピュータ・バックプレーン上にある各カード・スロットを外部テスタによりオンにすることができる。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with an analog/digital converter and a test circuit for testing the analog/digital converter.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路は、アナログ／デジタル変換器と、このアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト回路とを備える。 - 特許庁

To provide a testing method capable of measuring the filling strength of catalyst particles (2) as their deformability and the dispersibility of the particle sizes.例文帳に追加

触媒粒子(2)の変形性、その粒子径の分散性として充填強度を測定しうる試験方法を提供する。 - 特許庁

A test system for testing objects to be tested, which process correlation dual sampling waveforms, is improved to acquire the present invention.例文帳に追加

本発明は、相関二重サンプリング波形を処理する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To improve an efficiency in match detection in a testing apparatus for match detection between signals outputted from a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号のマッチ検出を行う試験装置において、マッチ検出の効率を向上させる。 - 特許庁

To permit simultaneous execution of a plurality of testings in parallel under a restriction that the loading conditions of testing terminals are constant.例文帳に追加

試験端末の負荷状況が一定という制約下で、並行して複数の試験を同時に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing a water reservoir level detecting apparatus, whereby performance tests can be conducted without removal of electrode rods.例文帳に追加

電極棒を取り外すことなく動作試験を行うことのできる貯水槽水位検出装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD, ADAPTER DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS ELECTRICAL TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法、アダプター装置およびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置 - 特許庁

To automatically set the number of hardware access programs for testing a mechanism whose operation is different according to a hardware state.例文帳に追加

ハードウェアの状態により動作が異なる機構の試験を行うためのハードウェアアクセスプログラムの数を自動的に設定すること。 - 特許庁

To provide a method of testing for the presence of microorganisms in a hydrogen peroxide-containing gaseous environment and a kit including a cassette.例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境における微生物の存在を試験する方法、およびカセット含むキットの提供。 - 特許庁

To provide a method for testing animals, chemicals and humans about an infectious agent bearing a transmissible spongiform encephalopathy (TSE).例文帳に追加

伝達性海綿状脳症（ＴＳＥ）を担う感染因子について動物、薬品、およびヒトを試験する方法を提供する。 - 特許庁