「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(186ページ目) - Weblio英語例文検索

The center of a cap depth adjusting screw is shifted to an opposite side of a moving claw, and structure with one fixed side is thereby formed to be stabilized, since the testing cap gets unstable when the cap is closed in case of forming the both claws of the testing cap into a movable type in order to be fit to the injection port of different diameter.例文帳に追加

異径の注水口に合わせる為に、テストキャップの両方の爪を可動式にするとキャップを閉めこんだ時に不安定になる為、キャップ深さ調整ネジの中心を、移動爪と反対側にずらして、片側を固定した構造にして安定させた。 - 特許庁

To provide a method for testing concrete capable of molding a sample with secured parallelism in both ends, without requiring end face finishing of the sample, and capable of executing a compression test of the concrete under the condition where the quality of the molded sample is maintained, and to provide further a mold for the sample used favorably in the testing method for the concrete.例文帳に追加

供試体の端面仕上げを要することなく、両端の平行度が確保された供試体を成型し、成型された供試体の品質を維持した状態で、コンクリートの圧縮試験を行うことを可能としたコンクリートの試験方法を提案すること。 - 特許庁

The semiconductor wafer 200 comprises a plurality of semiconductor chip regions 220 including the ferroelectric memory device 100, a chip region 210 for testing, and circuits 230, 240 for connecting the plurality of semiconductor chip regions 220 to the chip region 210 for testing.例文帳に追加

本発明の半導体ウエハ２００は、強誘電体メモリ装置１００を含む複数の半導体チップ領域２２０と、試験用チップ領域２１０と、複数の半導体チップ領域２２０と試験用チップ領域２１０とを接続する配線２３０，２４０と、を含む。 - 特許庁

To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

To provide an IC-testing apparatus, and a control method and a memory medium in an IC-testing apparatus whereby a throughput is improved by individually and concurrently executing a signal application process for measurement and a process for communication control.例文帳に追加

本発明の課題は、測定用の信号印加処理と、通信制御用の処理とを個別に並行して実行することにより、スループットを向上させるＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

To provide a solar battery module durability testing device for automatically testing mechanical strength and durability of solar battery modules and also the durability in an environment close to an actual usage state where the modules are attached onto a roof by using frame bodies and support metal fittings.例文帳に追加

太陽電池モジュールの機械的強度や耐久性、モジュールを枠体や支持金具を用いて屋根に取付けた実際の使用状態に近い環境での耐久性について自動的に試験できる太陽電池モジュールの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

The method further includes a step of testing the selected mathematical model using the sampled version of the correction signal in such a manner that the selected mathematical model can be used without necessity of testing duration that is in addition to a period of time used for the training.例文帳に追加

方法は、訓練に使用される期間に加えた検査持続時間の必要なしに、選択された数学的モデルを使用することが可能であるように、補正信号のサンプリングされたバージョンを使用して、選択された数学的モデルを検査する工程を更に含む。 - 特許庁

The pair of tools for testing piping withstand pressure are provided inside a pipe 4 in a connected state with each other with a connecting component 3, and each of the tools is brought into close contact with an internal surface of the pipe to close a section 6 to be tested for the testing of withstand pressure.例文帳に追加

この１対の配管耐圧試験用治具は、連結部材３で互いに連結された状態で配管４の内部に設置され、その状態でそれぞれが配管の内周面に密接することにより試験対象部６を耐圧試験用に閉止する。 - 特許庁

This system for testing the plurality of integrated circuit(IC) devices (DUT) of testing objects is provided with an interface circuit coupled to a tester to receives a data value from a single channel or a plurality of channels so as to provide error information as to the DUT.例文帳に追加

テスト対象の複数の集積回路（IC）デバイス（DUT）をテストするためのシステムであって、このシステムは、単一チャンネルまたは複数チャンネルのテスターからデータ値を受け取って、DUTに関するエラー情報を提供するための、前記テスターに結合されたインターフェース回路を備える。 - 特許庁

To provide a memory device which realizes cost reduction and which shortens time required for writing and reading data, and to provide a semiconductor testing device which shortens time for testing a semiconductor device by being provided with the memory device.例文帳に追加

コストの低減を図ることができ、且つデータの書き込み及び読み出しに要する時間を短縮することができる記憶装置、及び当該記憶装置を備えることによって半導体デバイスの試験時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To make a transition to a test mode easily, quickly and reliably by previously forming two electrodes for testing, which are short-circuited to each other in the test mode of a wiring board, and contriving the configuration of the two electrodes for testing.例文帳に追加

配線基板のテストモードで互いに短絡される２つのテスト用電極をあらかじめ基板本体に形成しておくと共に、２つのテスト用電極の構成に工夫を講じることによって、テストモードへの移行を容易かつ迅速に、しかも確実に行う。 - 特許庁

To provide a network testing apparatus which when testing whether or not a relay device for establishing an Ethernetwork mounts an Ethernet-OAM, easily carries the test and carries out the test only with the relay device which is minimally necessary for a various test.例文帳に追加

イーサネットワークを構築する中継装置がＥｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭを実装しているか否かを試験するのに際して、簡単に試験を実施することが可能であることと、各種試験に必要な最低限の中継装置のみで試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

In this card torsion testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードのねじり試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードのねじり試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置１において、試験装置３にデバイス２を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路６及び補正データ作成・保存回路７がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁

To enable the use of elements in a spare region as spare elements after verification of a semiconductor testing apparatus, by electrically providing defective elements, without physically destroying the elements, in a semiconductor device for verifying a semiconductor testing apparatus that tests the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を試験する半導体試験装置を検証するための半導体装置において、素子を物理的に破壊せずに電気的に不良素子を設け半導体試験装置の検証後スペア領域の素子をスペア素子として使用することができるようにする。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁

(4) A Registered Inspection Body must, before starting the work of Testing of Organisms, determine regulations concerning the implementation of said work of Testing of Organisms, as stipulated in the ordinance of the competent ministries, and obtain the approval of the competent minister thereto. The same shall apply when wishing to change these. 例文帳に追加

４　登録検査機関は、その生物検査の業務の開始前に、主務省令で定めるところにより、その生物検査の業務の実施に関する規程を定め、主務大臣の認可を受けなければならない。これを変更しようとするときも、同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a highly reliable genetic testing method and testing apparatus, with which an abnormal operation associated with a temperature control mechanism of a reaction vessel for amplifying a target nucleic acid can be easily detected, and the temperature locality of the reaction vessel for amplifying a target nucleic acid is reduced.例文帳に追加

標的核酸増幅の反応容器の温度制御機構に係る異常動作を容易に認識し、これによって標的核酸増幅の反応容器の温度ローカリティを低減し、高信頼性の装遺伝子検出方法及び検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a battery sealing agent testing device and a battery sealing agent testing method wherein determination of presence or not of coating of the sealing agent to be applied to the inner wall in the vicinity of an opening part of a metallic exterior can and of quality decision of a coating plaque in a battery manufacturing process can be carried out exactly.例文帳に追加

電池製造過程において金属製外装缶の開口部付近の内壁に塗布される封口剤の塗布の有無、塗布斑の良否を的確に判定することができる電池封口剤検査装置および電池封口剤検査方法を提供する。 - 特許庁

The test circuit 30 outputs an output of the circuit block 10 set as a testing target without passing through the circuit block 20 and transmits an input value input without passing through the circuit block 10 to the circuit block 20 set as a testing target.例文帳に追加

テスト回路３０は、テスト対象として設定された回路ブロック１０の出力を回路ブロック２０を経由せずに出力すると共に、回路ブロック１０を経由せずに入力された入力値をテスト対象として設定された回路ブロック２０へ伝送する。 - 特許庁

By posing negative pressure at frequency corresponding to rainfall the enclosure experiences, from the air leak testing arrangement 20, and, after that, by implementing air leak tests of the enclosure 10 with the air leak testing arrangement 20, thus pass or fail of waterproof function is checked from the result.例文帳に追加

そして、エアリーク試験装置２０から密閉筐体１０が遭遇する降雨回数に対応する回数の負圧を加え、その後に密閉筐体１０のエアリーク試験をエアリーク試験装置２０により実行して、その結果により防水機能の合否を確認する。 - 特許庁

To provide a rubber friction/abrasion characteristic testing method and a rubber friction/abrasion characteristic testing apparatus in which, when rolling a rubber test member on a turn table, evaluation accuracy can be improved by excluding influences of a lateral force with a circumferential speed difference within a contact area.例文帳に追加

回転台の台上でゴム試験部材を転動させる際に、接地面内の周速差に伴う横力の影響を排除して評価精度を高めることができるゴム摩擦・摩耗特性試験方法とゴム摩擦・摩耗特性試験装置を提供する。 - 特許庁

The device 1 has a temperature regulation part 3, and regulates the atmospheric temperature in the sample W exposed thereto and a temperature of the sample itself, i.e. testing environment temperatures, by feeding air temperature-regulated in the temperature regulation part 3 into a testing chamber 2.例文帳に追加

熱疲労評価装置１は、温調部３を有し、温調部３において温度調整された空気を試験室２に送り込むことにより、試料Ｗがさらされる雰囲気温度や試料自体の温度、すなわち試験環境温度を調整することができる。 - 特許庁

To provide an abrasion testing method of a printing surface, which provides measuring data of high objectiveness, reproducibility and reliability with respect to the friction resistance of the printing surface, and also to provide glossy paper manufactured by putting the measuring data, which is obtained by the abrasion testing method, into practical use.例文帳に追加

印刷面の耐擦性について、客観性、再現性及び信頼性の高い測定データを提供し得る印刷面の摩耗試験方法、及び該摩耗試験方法により得られた測定データを活用して製造された光沢紙を提供すること。 - 特許庁

When the test body 3b is a material for a rolling motion component, a rolling motion component simulated body 3 which is a simulated component for testing is manufactured and included in components, and the rolling motion component simulated body 3b is immersed in the lubricant and a testing device is actuated.例文帳に追加

被試験体３ｂが転動部品用の材料である場合、転動部品を試験用に模した部品である転動部品模擬体３を、前記被試験体３ｂを構成要素に含めて製作し、この転動部品模擬体３ｂを潤滑油に浸漬して動作させる。 - 特許庁

Article 71 A person who intends to receive the license examination shall submit a license examination application document (Form No. 14) to the Director of the Prefectural Labour Bureau (to a designated testing institution for a person who intends to receive a license examination that the designated testing institution is to implement). 例文帳に追加

第七十一条　免許試験を受けようとする者は、免許試験受験申請書（様式第十四号）を都道府県労働局長（指定試験機関が行う免許試験を受けようとする者にあつては、指定試験機関）に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

The control unit outputs an optical signal for testing the dummy signal transmission unit, according to a fault search instruction outputted from a monitoring terminal and confirms the reception of the optical signal for testing via the signal monitoring unit, thereby verifying the alarm information stored in the log memory unit.例文帳に追加

制御部は、監視端末が出力する障害探索指令に応じて、ダミー信号送信部の試験用光信号を出力し、信号モニタ部で試験用光信号の受信を確認することでログ記憶部に記憶されている警報情報を検証する。 - 特許庁

The fatigue damage monitoring system is provided with a crack detecting apparatus 1 having a thin tabular sacrificial testing piece 4 stuck to the structure 3 that the fatigue damage is predicted and an image pickup apparatus 2 for detecting a developing state of the crack in an artificial crack part 46 provided on the sacrificial testing piece 4.例文帳に追加

疲労損傷を予知しようとする構造物３に貼付された薄板状の犠牲試験片４と、犠牲試験片４に設けた人工亀裂部４６の亀裂進展状態を検出する撮像装置２を有する亀裂検出装置１とを備える。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test processing means assigns a plurality of picture frames out of the plurality of original picture frames 31-35 as testing picture frames and conducts in a trial manner at least part of processing generating reproduction pictures by interpolation or the like based on the correlation between the testing picture frames.例文帳に追加

試験処理手段は、それら複数のオリジナル画像フレーム３１〜３５のうちの複数の画像フレームを試験用画像フレームとして、試験用画像フレーム間の相関に基づいて内挿等により再現画像を生成する処理の少なくとも一部を試験的に行なう。 - 特許庁

The contact pin 1 is mounted to an element-testing apparatus used for testing the electrical characteristics of electronic components, such as a semiconductor device, and a contact part 12a of the contact pin 1 to be brought into contact with electrodes of the electronic parts can be characteristically detached and attached.例文帳に追加

半導体素子等の電子部品の電気的特性試験に用いられる素子試験装置に搭載されたコンタクトピン１であって、前記電子部品の電極に接触させるコンタクトピン１の接触部１２ａが脱着可能であることを特徴とする。 - 特許庁

By the memory 2 of 1st specification, a row address strobe signal RAS of a 1st activation control signal is activated at an effective timing, and read or write is executed by catching a testing address given to a partially shared address bus while operating by using a testing clock as reference.例文帳に追加

第１の仕様のメモリ２は、第１の活性化制御信号ロウアドレスストローブ信号ＲＡＳが有効のタイミングにおいて活性化され、テスト用クロックを基準に動作して、一部共有のアドレスバスに与えられたテスト用アドレスをとらえてリードまたはライトを実行する。 - 特許庁

To provide a seated-on-water-bottom type cone testing apparatus which can be simply and safely operated by a diver, and allows a survey to be easily rapidly conducted, without making scaffolding built on a water surface as before or making a testing machine operated by remote control aboard a working craft as before.例文帳に追加

潜水士によって簡易に、かつ安全に操作でき、従来のごとく水面上に足場を組んだり、作業船上から試験機を遠隔操作することなく、簡単に、かつ迅速に調査ができる水底着座型コーン試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rolling/sliding fatigue life testing method for steel materials such as a material for rolling motion components and the like, capable of minimizing disturbances, simulating an actual device as possible, and efficiently generating early breakage caused by hydrogen brittleness, and a testing device for this method.例文帳に追加

なるべく外乱が少なく、なるべく実機を模擬して、水素脆性起因の早期損傷を効率よく起こさせることができる転動部品材料等の鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a characteristic testing machine of a wet powder capable of being adapted to a wide range of a raw material and capable of obtaining a parameter widely used, even among different raw materials and among different products, and to provide a characteristic testing method and a kneading state evaluation method of the wet powder.例文帳に追加

広範囲の原料に適用でき、かつ異なる原料及び製品間でも汎用的に使用できるパラメータを得ることのできる、湿潤粉体の特性試験装置及び方法、並びに湿潤粉体の混練状態評価方法を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.例文帳に追加

半導体試験装置１１において、制御部１０は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部１８に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁

To aim at the density increase and cost reduction of a semiconductor testing device to be used for testing a semiconductor chip having a spherical connecting terminal and a semiconductor device (in general terms as a hereafter referred to semiconductor device).例文帳に追加

本発明は球状接続端子を有する半導体チップ及び半導体装置（以下、総称して半導体装置という）に対し試験を行なう際に用いる半導体試験装置に関し、高密度化及び低コスト化を共に実現することを課題とする。 - 特許庁

To provide a composition capable of restraining the diazonium coupling of the background and a color change thereof to a minimum, when measuring an analyte selected from among leukocyte, esterase and protease in a sample, and to provide a testing tool and a testing method that uses the same.例文帳に追加

試料中の、白血球、エステラーゼ及びプロテアーゼから選択される分析対象物を測定する際に、バックグラウンドのジアゾニウムカップリング及び色の変化を最小に抑えることのできる組成物、それを用いる試験具及び試験方法を提供する。 - 特許庁

(2) In areas other than (1), all livestock farms are going to be subject to testing, in which at least one head of cattle is going to be tested in each farm in the first shipment. Only those farmers whose tested cattle show the levels of radioactive cesium sufficiently below the maximum limits are going to be approved to ship and slaughter their cattle. These farmers are going to continue to be subject to regular testing following such approval.例文帳に追加

（２） （１）以外の区域においては、全戸検査（農家ごとに初回出荷牛のうち１頭以上検査）し、基準値を十分下回った農家については、牛の出荷・と畜を認めることとし、その後も定期的な検査の対象とする。 - 厚生労働省