「X-ray diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.1, 10.4, 15.5, 17.0, 20.0 and 20.2°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．１、１０．４、１５．５、１７．０、２０．０及び２０．２度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 5.0, 16.1,18.8,19.1,20.7,21.1 and 23.9 degree at a diffraction angle (2θ±0.1 in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、５．０、１６．１、１８．８、１９．１、２０．７、２１．１および２３．９度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

That is to say, it is preferable if a diffraction peak can be obtained at diffraction angles 2θ within the range of 42° or more and 44° or less when the Si alloy powder is put under a powder X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

つまり、このＳｉ合金粉末について粉末Ｘ線回折測定を行うと、回折角度２θが４２°以上４４°以下の範囲内に回折ピークが得られることが好ましい。 - 特許庁

This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 17.7, 18.9, 19.3, 20.2, 20.7, 21.3 and 25.5 degree at a diffraction angle (2θ±0.1) in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１７．７、１８．９、１９．３、２０．２、２０．７、２１．３および２５．５度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

(1) When a half-value width of a diffraction peak 'a' in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 22 to 27° is FWHMa, an FWHMa value is to be 0.6 or more.例文帳に追加

（イ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが２２〜２７°付近に存在する回折ピークａの半価幅をＦＷＨＭａとした時に、ＦＷＨＭａ値が０．６以上である。 - 特許庁

There is provided the crystal of a hydrate of 3-(2-cyanophenyl)-5-(2-pyridyl)-1-phenyl-1,2-dihydropyridin-2-one, which shows a diffraction peak at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 8.7° in a powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）８．７°に回折ピークを有する、３−（２−シアノフェニル）−５−（２−ピリジル）−１−フェニル−１，２−ジヒドロピリジン−２−オンの水和物の結晶。 - 特許庁

(3) an intensity peak ratio I_003/I_110 of the diffraction peak intensity I_003 of the (003) planes determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity I_110 in the (110) planes in the vicinity of 2θ=66° is 4 to 10.例文帳に追加

（３）前記Ｘ線回折像において測定される前記（００３）面回折ピーク強度Ｉ_００３と２θ＝６６°付近の（１１０）面回折ピーク強度Ｉ_１１０との強度比Ｉ_００３／Ｉ_１１０が、４以上１０以下であること。 - 特許庁

The graphitized carbon fibers have a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加

黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁

The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

This X-ray diffraction measuring method is provided for measuring X-ray diffraction by transmitting incident X-rays through a sample 48 in a direction almost along a predetermined rotation axis Zs while rotating the sample 48 around the rotation axis Zs.例文帳に追加

本発明のＸ線回折測定方法は、所定の回転軸線Ｚｓまわりに試料４８を回転させながらこの回転軸線Ｚｓに略沿った方向の入射Ｘ線を試料４８に透過させることにより、Ｘ線回折が測定される。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.例文帳に追加

Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁

This recording liquid contains, as the colorant, a pseudo- unidimensional organic phthalocyanine pigment of which a diffraction ray exhibiting the maximum strength is the main peak in the X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性フタロシアニン系有機顔料からなることを特徴とする色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

This active material for use in the second battery has β-FeOOH characterized in that in determination of X-ray diffraction using CuKα ray, a half width Y shows (211) plane diffraction peak of 0.2°<Y(2θ).例文帳に追加

二次電池用活物質として、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折測定で、半値幅Ｙが０．２°＜Ｙ（２θ）の（２１１）面回折ピークを示すことを特徴とするβ—ＦｅＯＯＨを備える。 - 特許庁

The color filter has a colored layer, wherein the colored layer shows a diffraction peak of which the half-value width is ≥0.6° at a Bragg angle of 28±1° in an X-ray diffraction spectrum for a Cu-Kα ray.例文帳に追加

着色層を有するカラーフィルタであって、該着色層が、Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２８±１°に、半値幅が０．６°以上の回折ピークを示すカラーフィルタ。 - 特許庁

To provide an airtight sample holder for x-ray diffraction measurement which is a holder to be used for holding a measurement target sample in a measurement instrument in an airtight state in x-ray diffraction measurement and is capable of easily setting a sample and preventing occurrence of such a problem that diffraction from a portion such as an x-ray transmission window other than the sample may be detected.例文帳に追加

Ｘ線回折測定において測定対象試料を気密状態で測定装置内に保持するために使用されるホルダーであって、試料のセットが容易で、かつＸ線透過窓等の試料以外の部分からの回折を検出する問題も生じさせないＸ線回折測定用気密試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.例文帳に追加

Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁

An X-ray imaging unit 11 is placed in a position at an approximate Talbot distance L from a diffraction grating for Talbot and is a unit for imaging X-rays diffracted by the diffraction grating for Talbot.例文帳に追加

Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。 - 特許庁

To enable detection for diffraction X rays as well appearing in a higher angle region as in the measurement of the stress of a sample in the X-ray diffraction apparatus using a curved PSPC(Position Sensitive Proportional Counter).例文帳に追加

湾曲ＰＳＰＣ（Position Sensitive Proportional Counter：位置感応型Ｘ線検出器）を用いたＸ線回折装置において、試料の応力測定のごとく高角度領域にあらわれる回折Ｘ線についても検出できるようにする。 - 特許庁

A diffraction condition of an X-ray relates not only to a y-directional component r_ijy of a bond vector r_ij connecting an A_i atom and an A_j within a test piece generating diffraction but also to an x-directional component r_ijx.例文帳に追加

即ち、Ｘ線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、Ａ_ｉ原子及びＡ_ｊ原子を結ぶボンドベクトルｒ_ｉｊのｙ方向成分ｒ_ｉｊｙみならず、ｘ方向の成分ｒ_ｉｊｘとも関係する。 - 特許庁

An angle ω0 where the intensity of light from the light source 4 entering the photodetector 5 is maximized, and an angle ω1 where the intensity of diffraction X-rays which are detected by an X-ray diffraction system that is set at a specific angle is maximized, are measured.例文帳に追加

次いで、測定対象試料を装着して同様に光強度が最大になる角度ω_２と回折Ｘ線強度が最大になる角度ω_３を測定し、次式に基づき測定対象試料の偏差角δを求める。 - 特許庁

Crystals used in WDS spectrometers generally have curved rather than flat surfaces, thus increasing the efficiency of focusing the Bragg diffraction X-rays into the X-ray detector. 例文帳に追加

WDS分光器で使われる結晶は、一般的に平面というよりは湾曲していた(湾曲に作られてきた); その結果、X線検出器の中にブラッグ回折X線を集光する効率を増大させた。 - 科学技術論文動詞集

The transition metal composite oxide has a maximum diffraction peak by a X-ray diffraction using CuKα-ray in 10°<2θ<20° as a single peak and does not have a peak with intensity of not less than 1/10 of the maximum diffraction peak in 20°<2θ<25°.例文帳に追加

遷移金属複合酸化物は、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折での最大回折ピークが１０°＜２θ＜２０°に単一ピークとして存在し、且つ２０°＜２θ＜２５°に最大回折ピークの１／１０以上の強度のピークが存在しない。 - 特許庁

The alkaline storage battery 1 is constructed so that at least a part of the crystal structure of the anode active material is changed by charge and discharge, and the anode active material is controlled so as to indicate a new diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ, by X-ray diffraction using a CuKα ray.例文帳に追加

アルカリ蓄電池１は、充放電により正極活物質の結晶構造の少なくとも一部が変化し、正極活物質がＣｕＫα線によるＸ線回折で回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に新たな回折ピークを示すようになることを抑制するように構成されている。 - 特許庁

When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon.例文帳に追加

回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。 - 特許庁

To provide a reflection type diffraction grating hologram which can generate X-ray having orbital angular momentum as diffraction wave, can weaken or completely extinguish unnecessary 0-order light, can easily change an emission direction of diffraction wave, further is capable of enlarging a diffraction grating and is easily prepared.例文帳に追加

軌道角運動量を持ったＸ線を回折波として発生させることができ、不要な０次の光を弱める又は完全に消すことができ、回折波の出射方向を容易に変えることができ、さらに、回折格子の拡大化が可能で、作成が容易な反射型回折格子ホログラムなどを提供する。 - 特許庁

In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed.例文帳に追加

保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。 - 特許庁

When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.例文帳に追加

ＧａＮ系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、Ｘ線回折法による回折ピークの現れる回折角度（２θ）が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が４０．２００°〜４０．４００°であるＮｄＧａＯ_3を用いるようにした。 - 特許庁

The objective receptor is composed of a titanylphthalocyanine crystal having the maximum diffraction peak at least at 27.2° as the diffraction peak (±0.2°) of the Bragg angle 2θ with the characteristic X-ray of CuKα (1.514A wavelength), a peak at 7.3° as the diffraction peak of the smallest diffraction angle and further a peak at 26.3°.例文帳に追加

ＣｕＫαの特性Ｘ線（波長１．５１４Å）に対するブラッグ角２θの回折ピーク（±０．２°）として、少なくとも２７．２°に最大回折ピークを有し、且つ最も低角側の回折ピークとして７．３°にピークを有し、且つ２６．３°にもピークを有するチタニルフタロシアニン結晶。 - 特許庁

For the ferrite with cadmium chloride structure (LiFeO_2 with CdCl_2 structure), the integrated intensity ratio of the diffraction peak of (003) against the diffraction peak of (104), obtained by the powder method of X ray diffraction, is 2.5 or more, or the half value width of the diffraction peak of (003) is 0.45 of less.例文帳に追加

この塩化カドミウム型フェライト（ＣｄＣｌ_2 型ＬｉＦｅＯ_2 ）は、粉末Ｘ線回折法により得られる、（１０４）の回折ピークに対する（００３）の回折ピークの積分強度比が２．５以上、または（００３）の回折ピークの半値幅が０．４５以下となっている。 - 特許庁

This magnesium omeprazole has a degree of crystallinity higher than 70% determined by X-ray powder diffraction.例文帳に追加

Ｘ線粉末回折によって測定して７０％より高い結晶化度を有するオメプラゾールマグネシウム。 - 特許庁

The oxide containing vanadium is an oxide containing vanadium that exhibits a main peak at 2θ=26.2°(±0.2°) in X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

バナジウム含有酸化物は、Ｘ線回折スペクトルにおいて２θ＝２６．２°（±０．２°）にメインピークを示すバナジウム含有酸化物である。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide a new carrier which contains an alcohol and which is based on magnesium chloride, having a specific X-ray powder diffraction spectrum.例文帳に追加

アルコールを含み、特別なＸ線粉末回折スペクトルを有する新規の塩化マグネシウムをベースとする担体を提供すること。 - 特許庁

The crystal is confirmed to be a single crystal β-FeSi2 phase from X-ray diffraction of the formed β-FeSi2.例文帳に追加

生成したβ−ＦｅＳｉ_2のＸ線回折から、結晶は単結晶β−ＦｅＳｉ_2相であることが確認された。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

The crystal of the L-psicose has angles of diffraction (2θ) of 15.2°, 18.8°, and 19.5° as main angles in powder X-ray diffractometry.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法で主な回折角（２θ）として１５．２°、１８．８°および１９．５°を示すＬ−プシコースの結晶。 - 特許庁

The fullerene whose half-width of peak of maximum intensity measured by X-ray diffraction is 0.20 ° or larger is reacted with the reactive gas.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における最大強度のピークの半値幅が０．２０°以上であるフラーレン類と反応性ガスとを反応させる。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

An X-ray diffraction pattern of the composite metal cyanide complex catalyst involved in this invention is represented by the figure.例文帳に追加

本発明に係る複合金属シアン化物錯体触媒の例のＸ線回折パターンを図に示す。 - 特許庁

Zirconium hydroxide having an X-ray diffraction pattern exhibiting amorphous characteristics and a BET specific surface area of 250 m^2/g or more is prepared.例文帳に追加

水酸化ジルコニウムを、Ｘ線回折パターンが非晶質の特徴を示し、かつ２５０ｍ^２／ｇ以上のＢＥＴ表面積を有するものとする。 - 特許庁

To provide a new X-ray photographing film capable of reliably photographing moire fringes without using a diffraction grating.例文帳に追加

回折格子を用いることなくモアレ縞を確実に撮像することができる新たなＸ線撮像フイルムを提供する。 - 特許庁

Further, the half peak width obtained by the X-ray diffraction analysis of martensite of the rolling element 3 is ≤7.6° for all rolling elements.例文帳に追加

また、転動体３のマルテンサイトのＸ線回折分析により得られたピークの半価幅は、全転動体ともに７．６°以下である。 - 特許庁

To provide a membrane X-ray diffraction apparatus capable of obtaining the crystal data of the minute area in a polycrystal membrane sample.例文帳に追加

多結晶薄膜試料における微小領域の結晶情報を得ることの可能な薄膜Ｘ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask.例文帳に追加

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

The particles 10 are formed so that the average size of crystallites 1 found by the X-ray diffraction method is ≥30 nm.例文帳に追加

金属磁性粒子１０は、Ｘ線回折法によって求められる結晶子１の平均の大きさが３０ｎｍ以上である。 - 特許庁