「X-ray diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray diffracting apparatus for appropriately discriminating diffraction patterns from a plurality of crystals which are necessary for analyzing the crystalline structure of a sample.例文帳に追加

本発明は試料の結晶構造を解析するのに必要な、複数の結晶からの回折パターンを適切に識別するＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

This crystal is, for example, characterized by an X-ray powder diffraction pattern given by copper radiant rays which are passed through a monochromator and have a λ of 1.5418Å.例文帳に追加

本発明の結晶は、例えば、モノクロメーターを通したλ＝１．５４１８Åの銅放射線で得られるＸ線粉末回折パターンにおいて特徴づけられる。 - 特許庁

To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.例文帳に追加

タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁

The negative collector uses copper or copper alloy wherein the ratio (200)/(111) of the X-ray diffraction intensity on the (200) face of a XRD device having a CuKα line as a ray source to that on the (111) face is from 0.3 to 4.0.例文帳に追加

負極集電体として、ＣｕＫα線を線源とするＸＲＤ装置による（２００）と（１１１）面のＸ線回折強度比（２００）／（１１１）が０．３以上、４．０以下の銅または銅合金を用いる。 - 特許庁

The crystal forms are four kinds of new crystal forms except known crystal forms, and are defined by the main peaks of powder X-ray diffraction patterns, respectively, obtained with copper K-alpha 1X ray (wavelength: 1.54056 angstrom).例文帳に追加

既知の結晶形態以外の４種の新規結晶形態であり、銅Ｋ−アルファ１Ｘ線（波長１．５４０５６オングストローム）を用いて得られる粉末Ｘ線回折パターンの主要ピークによって各々定義される。 - 特許庁

The X-ray diffraction pattern of a residual part after the hydrate phase of the hydrate product is dipped into a 5-10 vol% sulfuric acid aqueous solution and absolutely dried has a halo form having a peak in 24±1° (expressed by Cukα2θ).例文帳に追加

水和生成物の水和相を5乃至10容量％の硫酸水溶液中にて浸漬した後の絶乾処理した残査部分のX線回折パターンが、24°±１°（Cukα2θ表示）にピークを持つハロー図形を示す。 - 特許庁

To provide a selection inspection method for a mother shell expected to prepare a pearl satisfactory gloss, by measuring the orientation of an aragonite crystal in a pearl layer inside the shell by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明は、貝殻内部の真珠層におけるアラゴナイト結晶の配向性を、X線回折により測定することで、光沢のよい真珠を作ることができると思われる母貝の選別検査法を提供する。 - 特許庁

In the dust core, the soft magnetic particles are composed of mixed particles of Fe-Si-Al alloy particles and Fe-Ni alloy particles, and when the dust core is analyzed by X-ray diffractometry, the next diffraction peak intensity ratio is 0.45 or less.例文帳に追加

この圧粉磁心は、前記軟磁性粒子は、Fe-Si-Al合金粒子とFe-Ni合金粒子と混合粒子で構成され、当該圧粉磁心をX線回折法により分析した際、次の回折ピーク強度比が0.45以下である。 - 特許庁

Then, when the imaging plate 7a is dismounted from the X-ray diffraction device 5 and mounted on a reading device 11, image information of the diffraction ring is read from the imaging plate 7a, and the image information of the diffraction ring is analyzed by an evaluation device 12, to thereby evaluate the residual stresses or the like in the rail 1.例文帳に追加

次に、イメージングプレート７ａをＸ線回折装置５から取り外して読取装置１１に装着すると、イメージングプレート７ａから回折環の画像情報が読み取られて、この回折環の画像情報を評価装置１２が解析してレール１の残留応力などを評価する。 - 特許庁

The spherical porous silica particles combinedly have the fine pores of mesopores and micropores, have a diffraction peak showing a regular arrangement structure of the fine pores at a diffraction angle of 0.3 to 2.0 degrees (CuKα) in small angle X-ray diffraction, and have a particle diameter of 20 to 500 μm.例文帳に追加

メソポアとマイクロポアの微細孔とを併せ持ち、小角Ｘ線回折において回折角０．３乃至２．０度（ＣｕＫα）に細孔の規則配列構造を示す回折ピークを有し、且つ粒径が２０乃至５００μｍの球状粒子からなる球状多孔質シリカ粒子。 - 特許庁

This is a catalyst for the fuel cell which contains RuTe_2 as an active component, and the half width of a maximum diffraction peak in a region of diffraction angle 2θ (±0.3) 27° or more and 29° or less by X-ray diffraction method (Cu-Kα line) of RuTe_2 is 1.80° or less.例文帳に追加

活性成分としてＲｕＴｅ_２を含む触媒であって、ＲｕＴｅ_２のＸ線回折法（Ｃｕ−Ｋ_α線）による回折角２θ（±０．３゜）が２７゜以上２９゜以下の領域における最大回折ピークの半値幅が、１．８０゜以下である燃料電池用触媒。 - 特許庁

The copper alloy containing 2.0 to 4.0mass% Ti is characterized in that other impurity elements are ≤0.01mass% in total and that the diffraction peak of a β phase (TiCu_3) observed on an X-ray diffraction pattern is <1/10 of the diffraction peak of (111) if largest.例文帳に追加

Ｔｉを２．０〜４．０質量％含有する銅合金において、他の不純物元素が合計で０．０１質量％以下であり、Ｘ線回折パターン上に見られるβ相（ＴｉＣｕ_３）の回折ピークが最大のものでも（１１１）の回折ピークの１／１０未満であることを特徴とする銅合金。 - 特許庁

The graphitized carbon fiber to be incorporated into a thermally conductive polymeric composition has a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak (101) to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加

熱伝導性高分子組成物に含有される黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁

In this mold copper plate 1 for continuous casting, the coated layer 5 composed of mainly nitride of Ti is formed on the copper plate surface at the side in contact with solidified shell and the ratio (XTi/XTiN) of X-ray diffraction strength of Ti and X-ray diffraction strength of TiN in the coated layer, is 0.05-0.8.例文帳に追加

本発明の連続鋳造用鋳型銅板１は、凝固シェルと接触する側の銅板表面に、主にＴｉの窒化物からなる被覆層５が形成され、当該被覆層におけるＴｉのＸ線回折強度とＴｉＮのＸ線回折強度との比（ＸＴｉ／ＸＴｉＮ）が０．０５〜０．８であることを特徴とする。 - 特許庁

The substantially non-photosensitive thermographic recording material contains a phase II behenic acid silver and/or a phase III behenic acid silver having a specific X-ray diffraction spectrum, by 1% to a phase I behenic acid silver having a specific X-ray diffraction spectrum, in a thermosensitive element constituted of a substrate, the phase I behenic acid silver, a reducer and a binder.例文帳に追加

支持体ならびに特定のＸ線回析スペクトルを有する相Ｉベヘン酸銀と還元剤及び結合剤からなる感熱要素に、特定のＸ線回析スペクトルを有する相ＩＩベヘン酸銀及び／又は相ＩＩＩベヘン酸銀を相Ｉベヘン酸銀に対して１％含有することを特徴とする実質的に非−感光性のサーモグラフィ記録材料。 - 特許庁

In the ceramic film depositing method for growing a film on a substrate by spraying aerosol containing ceramic powder on the substrate to collide the ceramic powder on the substrate, the ceramic film is deposited by using the highly crystalline ceramic powder in which the half-width of the highest intensity diffraction ray peak of the X-ray diffraction ray when C-Kα ray is used is below 0.3°.例文帳に追加

セラミックス粉体を含むエアロゾルを基板に吹き付け、セラミックス粉体を基板に衝突させることによって基板上に膜を成長させるためのセラミックス膜の形成方法において、Ｃｕ−Ｋα線を使用したときのＸ線回折線の最強度回折線ピークの半値幅が０．３°未満である結晶性の高いセラミックス粉体を用いてセラミックス膜の形成を行う。 - 特許庁

An X-ray residual stress measuring method, which comprises a means for depositing a metal film of a known X-ray diffraction angle over a surface of a measured object, and a means for measuring a residual stress by irradiating the measured object surface with X rays, executes the X-ray residual stress measurement as holding the metal film deposit over the measured object surface.例文帳に追加

測定対象物の表面にＸ線回折角度が既知の金属の膜を付着させる手段と、測定対象物表面にＸ線を照射して残留応力を測定する手段とからなるＸ線残留応力測定方法において、測定対象物表面に金属膜を付着させた状態でＸ線により残留応力測定することを特徴とするＸ線残留応力測定方法。 - 特許庁

This method for producing the dielectric ceramic composition comprising barium titanate, a glass component and an additive component is characterized by using a barium titanate raw material in which a (111) plane diffraction peak is observed in an X-ray diffraction using Cu-Kα beam as the X-ray source, and the half-value width of the diffraction peak is controlled to be 0.2° or less.例文帳に追加

チタン酸バリウムと、ガラス成分と、添加物成分とを有する誘電体磁器組成物を製造する方法であって、Ｘ線源にＣｕ−Ｋα線を用いたＸ線回折において、（１１１）面の回折ピークが観察され、該回折ピークの半値幅が０．２°以下に制御されたチタン酸バリウム原料を用いて、前記誘電体磁器組成物を製造することを特徴とする誘電体磁器組成物の製造方法。 - 特許庁

The electrostatic charge image developing toner contains at least a binder resin, a colorant, a release agent and a modified resin, wherein the release agent has a diffraction peak 2θ in the range of 15 to 20° in X-ray diffraction using Cu Kα-ray, and the toner including the release agent has also the diffraction peak in the same range.例文帳に追加

少なくとも結着樹脂、着色剤、離型剤、変性体樹脂を含有する静電荷像現像用トナーにおいて、ＣｕのＫα線を用いたＸ線回折において２θが１５〜２５°の範囲に回折ピークを持つ離型剤が、該離型剤を含有したトナーにおいても同じ範囲に回折ピークが現れることを特徴とする。 - 特許庁

The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加

貝殻または真珠由来の原料をＸ線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁

A carbon material for the electric double-layer capacitor electrode uses oil raw coke as a raw material, such that a graphite-like crystal structure parameter (Ip/Io) at a diffraction peak of a (002) surface of an X-ray diffraction intensity curve is >0.3 and ≤0.8.例文帳に追加

Ｘ線回折強度曲線の（００２）面の回折ピークにおける黒鉛的結晶構造パラメーター（Ｉｐ／Ｉｏ）が０．３＜Ｉｐ／Ｉｏ≦０．８である石油生コークスを原料とする電気二重層キャパシタ電極用炭素材。 - 特許庁

To provide a new method for producing such an alkaline earth thioaluminate-based fluorescent compound that only the diffraction pattern of a perfect alkaline earth thioaluminate compound is detected and no other substances' diffraction patterns are recognized in the X-ray diffractometry.例文帳に追加

Ｘ線回折分析において完全なアルカリ土類チオアルミネート化合物の回折パターンのみ検出され、他の物質の回折パターンが認められないアルカリ土類チオアルミネート系蛍光体化合物の新規な製造法を提供する。 - 特許庁

The copper-base alloy excellent in press workability, in which, as to the X-ray diffraction intensity of the cross section of the material, the sum of the diffraction intensity of {111} and that of {222} becomes two or more times that of {200}, and its manufacturing method are provided.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

The FeF_3 powder is impalpable powder of half-width of 0.2 rad or more of diffraction peak in (012) plane by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明の正極活物質は、アルカリ金属イオンを挿入・脱離可能なＦｅＦ_３粉末からなる正極活物質であって、ＦｅＦ_３粉末は、Ｘ線回折による（０１２）面の回折ピークの半値幅が０．２ｒａｄ以上である微粉末である。 - 特許庁

The Al electrode layer 4 is an oriented film grown by epitaxial growth and is also a polycrystalline thin film having a twin structure in which a diffraction pattern observed in an X-ray diffraction pole figure has a plurality of symmetry centers.例文帳に追加

Ａｌ電極層４は、エピタキシャル成長した配向膜であり、かつＸ線回折極点図において観察される回折パターンが複数の対称中心を有する双晶構造を持つ多結晶薄膜となるようにされる。 - 特許庁

Lithium manganate of which the variation of a half-value width of an essential diffraction line by the X-ray diffraction under a charging condition of 0%-100%, is 25% or less, is used in a positive electrode active material, and amorphous carbon is used in a negative electrode active material.例文帳に追加

正極活物質に充電状態０％乃至１００％間のＸ線回折による主要回折線の半値幅変化を２５％以下としたマンガン酸リチウムを用い、負極活物質に非晶質炭素を用いた。 - 特許庁

The RHx compound (R represents one metal element in rare earth elements, H is hydrogen and (x) is 2 or around 2) has an FCC (face-centered cubic) structure and a crystalline structure showing high diffraction intensity on the (311) plane than the diffraction intensity on the (111) plane by X-ray diffraction pattern analysis.例文帳に追加

本発明のＲＨｘ（Ｒは希土類元素のうちのいずれか一の金属元素。Ｈは水素元素。ｘは２又はその近傍。）化合物は、ＦＣＣ構造を有し、かつ、Ｘ線回折パターン結果において（１１１）面の回折強度よりも（３１１）面の回折強度のほうが大きい結晶構造を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

An area other than the crystal grain of a measuring object is coated thinly with an amorphous liquid material, an amorphous powder of high X-ray absorptivity is further applied thereto to be fixed, and only the crystal information about a specified crystal is thereby acquired by X-ray diffraction.例文帳に追加

測定対象である結晶粒以外の領域を非晶質の液状材料で薄く塗布して覆い、さらにＸ線吸収率が高い非晶質粉末を塗布して固着させて特定の結晶についての結晶情報のみをＸ線回折によって得る。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うＸ線回折法及びＸ線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

A measurement control device 11 reads the wavelength data of the first-order ray from a storage device 14, according to the characteristic X-ray type of a specified element to obtain the actual spectroscopic wavelength position and the measurement wavelength range, based on the diffraction order.例文帳に追加

測定制御装置１１は指定された元素の特性Ｘ線種に従って記憶装置１４から１次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。 - 特許庁

In X-ray diffraction of CuKα ray, an oxotitanium phthalocyanine compound is obtained by hydrolizing a dihalogenotitanium phthalocyanine compound having a main peak at 7.4° of 2θ (±0.2°) in a mixture of water and a water soluble organic solvent.例文帳に追加

ＣｕＫα線のＸ線回折において、２θ（±０．２゜）の７．４゜にメインピークを有するジハロゲノチタニウムフタロシアニン化合物を水と水可溶性有機溶剤との混合物中で加水分解することによってオキソチタニウムフタロシアニン化合物を得る。 - 特許庁

The -Z surface of the quartz Lambert's ore is angularly measured by a conventional X-ray diffraction device and the Z-axis is rotated by an angle (38°13'-θ) centering around the X-axis on the basis of the r-surface to cut the quartz Lambert's ore in parallel to the obtained surface.例文帳に追加

補助ブロックの−Ｚ面を従来のＸ線回折装置で測角し、そのｒ面を基準にＸ軸を中心にＺ軸を角度（３８°１３′−θ）回転させ、得られた面に平行に水晶ランバード原石を切断する。 - 特許庁

The method for X-ray analysis of the sample includes directing of a beam of X-rays to impinge on an area of the periodic feature on the surface of the sample, and receiving the X-rays scattered from the surface in a reflection mode so as to detect a diffraction spectrum in the scattered X-rays as a function of the azimuth.例文帳に追加

試料をＸ線解析する方法は、試料の表面上の周期構造の領域に衝突するようにＸ線ビームを方向付け、方位角の関数として散乱Ｘ線の回折スペクトルを検出するように反射モードで表面から散乱したＸ線を受け取ることを含む。 - 特許庁

The characteristic of this electrophotographic photoreceptor is to use a photosensitive layer comprising a dihydroxysilicon phthalocyanine compound having 9.3, 13.4, 20.0, 23.9 and 27.4° Bragg angles 2θ(±0.3°) in an X-ray diffraction pattern with Cu-Kα radiation on an electrocoductive support.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線によるＸ線回折パターンにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）９．３，１３．４，２０．０，２３．９，２７．４°にピークを有するジヒドロキシシリコンフタロシアニン化合物、およびそれを含有する電子写真感光体。 - 特許庁

Alternatively, in the Mo target material, the relative intensity ratio R_(110) in the (110) plane standardized by the main peak 4 points in the X-ray diffraction of the sputter face is ≥40%.例文帳に追加

また、好ましくは、スパッタ面のＸ線回折における主ピーク４点で規格化した（１１０）面の相対強度比Ｒ_（１１０）が４０％以上であるＭｏターゲット材である。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction measuring method capable of evaluating crystalline orientation of a drawn wire material, without requiring work for cutting or the like and without requiring labors and time for parallel array.例文帳に追加

切断などの加工や平行に並べたりする手間を要することなく、伸線材の結晶配向性を評価することが可能なＸ線回折測定方法を提供する。 - 特許庁

A material that has a half-value width B of a reflection peak under the reflective X-ray diffraction corresponding to the (440) face of lithium manganate of a spinal structure is B≤0.145, is used as a positive electrode active material.例文帳に追加

スピネル構造のマンガン酸リチウムの（４４０）面に対応する反射Ｘ線回折での反射ピークの半価幅Ｂが、Ｂ≦０．１４５であるものを正極活物質として用いる。 - 特許庁

(Step 2) The crystal size of t is determined by a following equation from a half value width w of a peak observed when q of a scattering vector is in a range of 5<q<30 nm^-1 on the X-ray diffraction pattern acquired.例文帳に追加

（ステップ２）得られたＸ線回折図形で、散乱ベクトル：ｑが、５＜ｑ＜３０ｎｍ^-1の範囲に観察されるピークの半値幅：ｗより次式により結晶サイズ：ｔを求める。 - 特許庁

The half width of a peak of a crystal face (111) obtained by X-ray diffraction of a face to be sputtered is made to 0.3 or less and the variation of the half width is made to 30% or less.例文帳に追加

スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１１）のピークの半値幅を０．３以下、またはそれと半値幅のバラツキを３０％以下とする。 - 特許庁

In the X-ray diffraction pattern of the NOx absorbent material a peak due to the (111) face of BaCO3 is present and the intensity ratio (IA/IF) of the intensity IA of the peak after long-term use to the initial intensity IF is 0.2-1.例文帳に追加

そのＸ線回折パターンには、ＢａＣＯ_３の（１１１）面のピークが存在し、このピークの耐久後強度（Ｉ_Ａ）と初期強度（Ｉ_Ｆ）との強度比Ｉ_Ａ／Ｉ_Ｆが、０．２〜１である。 - 特許庁

In the tungsten sputtering target, a crystal orientation ratio (110)/(200) of crystal surfaces (110) and (200) found by X-ray diffraction of a surface to be sputtered is 0.1 to 6.5.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１０）及び（２００）の結晶方位比率（１１０）／（２００）が０．１〜６．５であることを特徴とする。 - 特許庁

The area shielded is changed according to the incident angle θ of the incoming X-ray, and a regularly or substantially optimum valid diffraction area on the curved dispersive crystal 3 can be thus used.例文帳に追加

遮蔽される領域は入射Ｘ線の入射角θに応じて変化し、常に最適又はそれに近い湾曲分光結晶３上の有効回折領域を用いることができる。 - 特許庁

In addition, it is expected that the present invention will provide a reliable and reproducible method for quantitative measurement of a very small amount of active oxygen produced therefrom through the X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

また、本発明は、その時に発生する微量の活性酸素をＸ線回折分析で定量して、信頼性及び再現性ある活性酸素発生量の測定技術を提供する。 - 特許庁

This titanium hydride has microcrystal grains in which the half width value of the peak in the (1, 1, 1) plane as the strongest line of titanium hydride TiH1.971 by X-ray diffraction is 0.2122 degree or more.例文帳に追加

水素化チタンは、Ｘ線回折による水素化チタンＴｉＨ_１．９７１の最強線である（１，１，１）面におけるピークの半価幅値が０．２１２２ｄｅｇｒｅｅ以上である微小結晶粒を持つ。 - 特許庁

<Positions (lattice plane distance d/Å) by the lattice plane distance display of the peaks in the X-ray diffraction pattern>: 12.4±0.8, 10.8±0.5, 9.0±0.3, 6.0±0.3, 3.9±0.3, 3.4±0.1.例文帳に追加

＜Ｘ線回折パターンにおけるピークの格子面間隔表示による位置（格子面間隔ｄ／Å）＞１２．４±０．８、１０．８±０．５、９．０±０．３、６．０±０．３、３．９±０．３、３．４±０．１ - 特許庁