X-ray diffractionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 997件
To provide a point-diffraction interferometer capable of inspecting surface quality of an extreme ultraviolet lithography optical system using a high-order harmonic X-ray source with excellent coherence.例文帳に追加
干渉性が優秀な高次高調波エックス線光源を利用して超紫外線リソグラフィー用光学系の表面品質を検査できるエックス線干渉計測装置を提供する。 - 特許庁
To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加
X線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁
Through X-ray diffractometry of the surface layer, a primary diffraction peak corresponding to at least one of the (111) crystal plane, (200) crystal plane and (311) crystal plane is observed.例文帳に追加
表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。 - 特許庁
In a sputtering target of high-purity TaN, the intensity peak ratio (101) plane:(110) plane is 1: 0.49±30%, where the intensity peaks are measured on the surface of the target through an X-ray diffraction method.例文帳に追加
高純度TaNからなるスパッタターゲットであって、ターゲット表面においてX線回折法で測定された (101)面のピーク強度と (110)面のピーク強度の比((101)/(110))が0.49±30% 以内である。 - 特許庁
This PBN vessel to be used in producing the subject compound semiconductor single crystal is so designed that the X-ray diffraction integral intensity ratio for (100)-face and (002)-face: {I (002)/I (100) } determined for the face perpendicular to the thickness direction of the PBN vessel is set at 8-50.例文帳に追加
PBN製容器の厚さ方向に垂直な面で測定した(100)面と(002)面のX線回折積分強度比{I(002)/I(100)}の値を8〜50に設定した。 - 特許庁
The biaxially stretched polyamide film is characterized by that the fine crystal size thereof measured by X-ray diffraction is within a range of 45-100 Å over the total width thereof and the sonic wave elastic modulus thereof is 1.6 GPa or more.例文帳に追加
フィルムの全幅に渡って、X線回折により測定される微結晶サイズが45〜100Åの範囲内にあり、且つ、音波弾性率が1.6GPa以上である。 - 特許庁
A ratio of peak intensity at (222) plane to that of (400) plane of the indium tin oxide of the ITO transparent conductive film at an X-ray diffraction is not less than 1:1 and not larger than 4:1.例文帳に追加
成膜されるITO透明導電膜は、X線回析において、酸化インジウム錫の(222)面のピーク強度と(400)面のピーク強度の比が1:1以上4:1以下である。 - 特許庁
When performing counting for "to" as time interval in a spectral diffraction position, the standard deviation Eo for the dispersion in the count N of X-ray total values which does not include statistical fluctuation is Sqrt (N).例文帳に追加
ある分光位置においてto時間計数したときの統計変動を含まないX線計数値Nカウントが持つばらつきの標準偏差EoはSqrt(N)である。 - 特許庁
The flake-like hydrous titanium oxide has such a layer structure that at least one peak of an X-ray diffraction pattern shows 2-4 nm d-spacing of lattice planes.例文帳に追加
X線回折パターンの少なくともひとつのピークが2ないし4nmのd面間隔を示す層状構造を有することを特徴とする薄片状含水酸化チタンを開示する。 - 特許庁
To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.例文帳に追加
透過法によるX線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁
This is conductive paste containing silver powder, an organic binder and solvent, and peak width at half band width of the main peak in the X-ray diffraction measurements of the silver powder is 0.25 degree or less.例文帳に追加
銀粉末と、有機バインダと、有機溶剤とを含有する導電性ペーストであって、前記銀粉末のX線回折測定におけるメインピークの半値幅が0.25度以下である。 - 特許庁
Amount of average gaps Δx of each layer is acquired from a specific algebraic expression using a crystal lattice constant a0 and c0, and a surface to layer distance d112 obtained from X-ray diffraction of a carbon material.例文帳に追加
炭素材料のX線回折から得られる、結晶格子定数a_0 およびc_0と面層間距離d_112 を用い、特定の数式から各層の平均ずれ量Δxを求める。 - 特許庁
In the step of forming the ZnO film, the ZnO film having a (002) peak at least 5 times greater than the (100) peak, as measured by X-ray diffraction, is formed.例文帳に追加
上記ZnO膜を形成する工程では、一般的に、X線回折により測定される(002)ピークが(100)ピークよりも5倍以上大きいZnO膜を形成させる。 - 特許庁
The Ni-W-S alloy film 2 preferably has a finely uneven surface, and has an amorphous or microcrystalline X-ray diffraction pattern.例文帳に追加
このとき、Ni−W−S合金膜2の表面が微細凹凸面になっていることが好ましく、そのX線回折パターンがアモルファス状又は微結晶状であることが好ましい。 - 特許庁
The sputtering target is characterized in that it contains indium, tin, zinc and oxygen and only a peak ascribed to a bixbyite structure compound is practically observed by X-ray diffraction (XRD).例文帳に追加
インジウム、錫及、亜鉛及び酸素を含有し、X線回折(XRD)によってビックスバイト構造化合物のピークのみが実質的に観測されることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 特許庁
SODIUM CHANNEL SPECIFIC TO PERIPHERAL NERVOUS SYSTEM, DNA ENCODING THE SAME, CRYSTALLIZATION, X-RAY DIFFRACTION, COMPUTER MOLECULAR MODELING, RATIONAL DRUG DESIGNING, DRUG SCREENING, AND METHODS FOR MANUFACTURING AND USING THE DRUG例文帳に追加
末梢神経系特異的ナトリウムチャンネル、それをコードするDNA、結晶化、X線回折、コンピューター分子モデリング、合理的薬物設計、薬物スクリーニング、ならびにその製造法および使用法 - 特許庁
The electrolytic slime is mixed with a solution of potassium formate, potassium carbonate, potassium hydroxide and dithylenediaminetetraacetic acid, and barium sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加
電解スライムを蟻酸カリウム、炭酸カリウム、水酸化カリウム及びジエチレントリアミン五酢酸の溶液と混合して、X線回折に影響を与える硫酸バリウムを溶解除去する。 - 特許庁
Preferably, the fluorine content is ≤0.5 mass% and the half-value width (2θ) of the maximum peak of cerium oxide by X ray diffraction measurement is 0.10-0.50°.例文帳に追加
また、そのフッ素は0.5質量%以下であることが好ましく、X線回折測定における酸化セリウムの最大ピークの半値幅(2θ)が0.10〜0.50°であるものが望ましい。 - 特許庁
To provide a new form of 1,4-diketo-3,6-di(4'-tert-butylphenyl)-2,5- dihydropyrrolo[3,4-c]pyrrole pigment having a distinguished color property and a distinguished X-ray diffraction pattern.例文帳に追加
際立った色特性及びX線回折図形を有する新規形態の1,4−ジケト−3,6−ジ(4′−tert-ブチルフェニル)−2,5−ジヒドロピロロ〔3,4−c〕ピロール顔料を提供すること。 - 特許庁
Since the charge transfer timing of the CCD sensor 22 is synchronized with its scanning moving distance, the X-ray intensity at each diffraction angle can be accumulated accurately by each CCD pixel.例文帳に追加
CCDセンサ22の電荷転送タイミングとその走査移動距離が同期しているので、個々の回折角度におけるX線強度を個々のCCD画素によって正確に蓄積できる。 - 特許庁
To perform measurements on wide energy regions in the system which diffracts, with a diffraction grating, the characteristic X-ray from a sample irradiated with an electron beam and collects spectra with an image sensor.例文帳に追加
電子線を照射した試料からの特性X線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、幅広いエネルギー領域の測定を行う。 - 特許庁
To derive accurately a stress without limiting the wavelength and the diffraction surface of an X-ray used for measurement, even when a material has orientation or elastic anisotropy.例文帳に追加
材料の配向性や弾性異方性がある場合においても、測定に用いるX線の波長と回折面を限定することなく、応力を精度良く導き出すことができるようにする。 - 特許庁
Using the slurry containing iron with a half band width of an X ray diffraction peak on (110) plane of iron being at least 0.2° and not more than 0.6° and a mean particle diameter being in a range of 0.01-5 μm, is preferable.例文帳に追加
鉄の(110)面のX線回折ピ−クの半値幅が0.2°以上0.6°以下、平均粒子径が0.01〜5μmの範囲である鉄含有スラリ−を用いることが好ましい。 - 特許庁
This manufacturing method includes synthesizing AlH_3, and ball-milling the synthesized AlH_3 in a condition of applying a force of 2 G to 20 G (where G represents gravity acceleration) to make an X-ray diffraction pattern of AlH_3 into a halo pattern.例文帳に追加
AlH_3を合成した後、2G〜20G(Gは重力加速度)の力を付与する条件でボールミリングを行い、X線回折パターンがハローパターンとなるAlH_3とする。 - 特許庁
As a positive electrode active material for a secondary battery, β-FeOOH is used with aspect ratio of particles of not more than 5, and with half-value width Y of 0.30 <Y(2θ) showing a (110) face diffraction peak with an X-ray diffraction method using a CuKα beam.例文帳に追加
二次電池用正極活物質として、粒子のアスペクト比が5以下のβ—FeOOHであって、さらにCuKα線を用いたX線回折法で、半値幅Yが0.3°<Y(2θ)の(110)面回折ピークを示すβ—FeOOHを用いる。 - 特許庁
The above problem can be solved by using a coloring agent composed of a pseudo-unidimensional crystalline organic color pigment exhibiting X-ray diffraction spectrum having the refraction line showing the maximum intensity and its n-th order ((n) is an integer of ≥2) diffraction lines as main peaks.例文帳に追加
X線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線とそのn次(n:2以上の整数)の回折線を主要ピークとして有する擬1次元結晶性カラー有機顔料からなる着色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁
In the lithium manganese multiple oxide, the peak intensity ratio (A/B) of the deffraction peak intensity (A) observed at 15.3±1.0° to the diffraction peak intensity (B) observed at 18.2±1.0° in a powder X-ray diffraction under the following measurement condition is expressed by 0.001<A/B.例文帳に追加
下記測定条件での粉末X線回折で15.3±1.0°に観測される回折ピーク強度(A)と18.2±1.0°に観測される回折ピーク強度(B)とのピーク強度比(A/B)が 0.001 < A/B であるリチウムマンガン複合酸化物。 - 特許庁
The carbon electrode includes carbon powder having a wood tar as a raw material and a diffraction line near 2θ=26° and 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuK_α for a line source as a claim 1.例文帳に追加
本発明の炭素電極は、請求項1として、木タールを原料とし、線源にCuKαを用いた粉末X線回折パターンにおいて、2θ=26°付近と2θ=44°付近に回折線を有する炭素粉末を含有することを特徴とする。 - 特許庁
Each of the feed material 11 and the seed material 12 has a surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and when the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.例文帳に追加
フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有し、かつ、表層のX線回折により(111)結晶面に対応した回折ピークが観察されるものである。 - 特許庁
Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加
また、その組織構造は、X線回折法によるパターン解析により金属Si及びSi化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁
Additional information can be imparted to an image without harming the color tone of an image by forming a first image region using a toner containing a crystallinity resin and a second image region using a toner containing no crystallinity resin, controlling a gloss or an X-ray diffraction intensity at the diffraction angle of a specified X-ray diffraction peak derived from the crystallinity resin to be different between the first image region and the second image region.例文帳に追加
結晶性樹脂を含有するトナーを用いた第1画像領域と、結晶性樹脂を含有しないトナーを用いた第2画像領域とを形成し、第1画像領域と第2画像領域とにおいて、結晶性樹脂に起因する特定のX線回折ピークの回折角におけるX線回折強度あるいは光沢度を異ならせることにより、画像の色調を阻害することなく画像中に付加情報を付与することができる。 - 特許庁
The incident angle θ of the X rays R_1 entering a sample S is changed at a predetermined angular velocity at the time measurement and the detected angle 2θ of the diffraction line due to the X-ray detector 10 is changed in the direction reverse to a θ-direction at an angular velocity twice the incident angle θ of X rays.例文帳に追加
試料Sへ入射するX線R_1の入射角度θは測定に際して所定角速度で変化し、X線検出器10による回折線検出角度2θはX線入射角θの2倍の角速度でθ方向と逆方向に変化する。 - 特許庁
This aqueous ink composition contains, as the main ingredients, a crystalline colored organic pigment of which the half value width of a diffraction ray with the maximum strength in the X-ray diffraction spectrum is 0.4° or lower and an organic compound having a hydrophilic site and a hydrophobic site in the molecule.例文帳に追加
X線回折スペクトルにおける最大強度を示す回折線が0.4°以下の半値幅を有する結晶性カラー有機顔料と、分子内に親水性部位と疎水性部位を有する有機化合物とを主成分として含むことを特徴とするインク組成物により、上記の課題を解決する。 - 特許庁
The negative electrode active material composed of a high-capacity layered silicate mineral is provided in which mineral a position of the highest peak in an X-ray diffraction spectrum thereof is shifted to a lower angle side with respect to a postion of the highest peak of an X-ray diffraction spectrum of an unprocessed layered silicate mineral.例文帳に追加
本発明は、未処理の層状珪酸塩鉱物について測定されるX線回折のスペクトルにおける最も高いピークの位置に対し、最も高いピークの位置が低角度側にシフトしたX線回折のスペクトルが測定される高容量層状珪酸塩鉱物からなることを特徴とする負極活物質を提供することにより、上記課題を解決する。 - 特許庁
The oxytitanium phthalocyanine composition shows the maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2°) of 27.3° on a powder X-ray diffraction spectrum by CuKα-X-ray, and a ratio of chlorinated oxytitanium phthalocyanine in the composition is 0.015-0.070 mass spectrum strength relative to a non-substituted oxytitanium phthalocyanine.例文帳に追加
CuKα特性X線による粉末X線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角(2θ±0.2°)27.3°に最大回折ピークを示すことを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物であって、該組成物中の塩素化オキシチタニウムフタロシアニンの割合が、無置換オキシチタニウムフタロシアニンに対してマススペクトル強度比で0.015〜0.070であることを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物。 - 特許庁
The image forming material comprises a perimidine-based squarylium dye that has a specific structure for showing diffraction peaks at least at Bragg angles (2θ±0.2°) of 17.7°, 19.9°, 22.1°, 23.2° and 24.9° in its X-ray powder diffraction spectrum measured by irradiation with X-rays generated from Cu target with a wavelength of 1.5405 Å.例文帳に追加
Cuターゲットで波長が1.5405ÅのX線照射により測定される粉末X線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角(2θ±0.2°)で、少なくとも17.7°、19.9°、22.1°、23.2°、24.9°に回折ピークを示す特定構造のペリミジン系スクアリリウム色素を含有することを特徴とする画像形成材料。 - 特許庁
By applying heat treatment to a metal magnetic powder containing Fe, Si, and Al produced by an atomize method, when the diffraction intensity by X-ray diffraction method from (111) is made to be I(111) and the diffraction intensity from (220) is made to be I(220), the metal magnetic powder is adjusted so as to be I(111)/I(220)≥0.025.例文帳に追加
アトマイズ法により作製したFe、SiおよびAlを含む金属磁性粉末に、熱処理を施して、X線回折法による(111)からの回折強度をI(111)、(220)からの回折強度をI(220)としたとき、I(111)/I(220)≧0.025からなる金属磁性粉末となるように調整する。 - 特許庁
When analyzed by X-ray diffraction measurement, this molybdenum exhibits, in at least part of the region corresponding to a sheet-thicknesswise depth of one fifth of the whole thickness from the surface, areas which each contain such a domain where the peak intensities of the (110) and (220) diffraction planes are each lower than the peak intensity of the (211) diffraction plane.例文帳に追加
本発明のモリブデン材は、表面から板厚方向に向かって全厚の5分の1の深さに該当する領域において、X線回折測定した場合、結晶回折面(110)および(220)のそれぞれのピーク強度が、(211)のピーク強度未満となる領域が存在する部分を少なくとも一部に有する。 - 特許庁
It is more preferable that the center line average roughness Ra75 in the surface of the plating layer is ≤0.8 μm, and the ratio of the diffraction intensity Iζof a ζ phase to the diffraction intensity Iδ_1 of a δ1 phase in the plating layer measured using an X-ray diffraction method is ≤0.1.例文帳に追加
めっき層表面の中心線平均粗さRa75が0.8μm以下であり、X線回折法を用いて測定されためっき層中のζ相の回折強度Iζとδ1相の回折強度Iδ_1との比であるIζ/Iδ_1が0.1以下であることはより好ましい実施態様である。 - 特許庁
The medicine comprises a crystal of a 1-methyl carbapenem compound represented by formula (I) or its pharmaceutically permissible salt as an active ingredient exhibits a specific main peak in a powder X-ray diffraction obtained by irradiation with copper K_α ray.例文帳に追加
銅のK_α線の照射で得られる粉末X線回折において、特定の主ピークを示すことを特徴とする式(I)で表される1−メチルカルバペネム化合物又はその薬理上許容される塩の結晶を有効成分として含有する医薬。 - 特許庁
To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.例文帳に追加
X線回折装置において、回折X線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁
This hydrophilic azo-based organic pigment is characterized by containing at least one sulfonic group and a monovalent or more-valent inorganic counter ion to be coupled with the sulfonic group and exhibiting an amorphous structure in X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加
少なくとも1つのスルホン酸基及び該スルホン酸基と結合する1価及び2価以上の無機対イオンを含み、X線回折スペクトルにおいて非晶質構造を示すことを特徴とする親水性アゾ系有機顔料により上記の課題を解決する。 - 特許庁
In the Mex layer, an index QI regulated by a ratio of diffraction strength I(200) and I(100) which are allotted on a (200) surface and a (111) surface is selected to be not less than 1, in the X-ray diffraction of material using a θ-2θ method.例文帳に追加
MeX層において、θ−2θ法を使用する材料のX線回折において(200)面および(111)面にそれぞれ割当てられる回折強度I(200)対I(111)の比によって規定される指数Q_Iは、1以上に選択される。 - 特許庁
The skirt portion 13 which is the sliding surface of a piston 10 is coated with a highly oriented specific graphite 15 (exhibiting a remarkable low frictional property) in which the full width at half maximum is equal to or less than 7° in the rocking curve at a (002) diffraction position of graphite-2H by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加
ピストン10の摺動面であるスカート部13が、X線回折測定によるグラファイト−2H 002回折位置でのロッキングカーブにおける半値幅が7°以下の高配向性の特定グラファイト(著しい低摩擦特性を示す)15で被覆されている。 - 特許庁
A pellet is obtained by cutting polyethylene terephthalate with an intrinsic viscosity of 0.70 dl/g or higher, whose diffraction peak intensity ratio of surface (100) and surface (110) is 1.4 or higher and 2.4 or lower when measured by the X-ray diffraction of the cut surface.例文帳に追加
固有粘度が0.70dl/g以上のポリエチレンテレフタレートを切断して得られるペレットであって、そのカット面のX線回折により測定した(100)面と(110)面の回折ピーク強度比が1.4以上2.4以下であることを特徴とするポリエチレンテレフタレート樹脂ペレット。 - 特許庁
Since the 2θ moving speed of the CCD sensor 27 is synchronized with the charge transfer in the CCD sensor 27, the same diffraction angle data are accumulated in respective picture elements of the CCD sensor 27, so as to allow quick and highly sensitive X-ray diffraction measurement.例文帳に追加
CCDセンサ27の2θ移動の速度と、CCDセンサ27における電荷転送とが同期するので、CCDセンサ27の各画素に同一の回折角度のデータを蓄積でき、それ故、高速で高感度のX線回折測定を行うことができる。 - 特許庁
Amorphous β-FeOOH having a mode diameter of particles of 10 μm or less and indicating the (110) face diffraction peak having a half- value width Y of 0.3<Y(2θ) in the X-ray diffraction method using the CuKα beam, is used as a positive electrode active material of the nonaqueous electrolyte secondary battery.例文帳に追加
非水電解質二次電池の正極活物質として、粒子のモード径が10μm以下で、CuKα線を用いたX線回折法で、半値幅Yが0.3°<Y(2θ)の(110)面回折ピークを示す非晶質β−FeOOHを用いる。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor exhibiting excellent evenness of halftone images together with fine line reproduction, in which an oxytitanium phthalocyanine pigment having a maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2) of 27.2° in CuKα X-ray diffraction is used, and an image forming method.例文帳に追加
CuKα線によるX線回折においてブラッグ角(2θ±0.2)27.2°に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニン顔料を使用して、ハーフトーン画像の均一性や細線再現性に優れた電子写真感光体及び画像形成方法の提供。 - 特許庁
The substrate with an ink accepting layer has at least one peak in an X-ray diffraction pattern, and the diffraction angle (2θ) of at least one peak has a layer containing a micelle-containing inorganic oxide (C) represented by the formula, 2θ=2sin^-1(λ/2d).例文帳に追加
X線回折パターンにおいて、少なくとも一つのピークを有し、かつそのうちの少なくとも一つのピークの回折角度(2θ)が(1)式で表されるミセル含有無機酸化物(C)を含んでなる層を有することを特徴とするインク受容層付基材である。 - 特許庁
A water-insoluble monoazo dyestuff has a crystal transformation characterized by an X-ray diffraction pattern (CuKα) showing a strong peak at a diffraction angle (2θ) of about 11.1° and four intermediate peaks at about 8.1°, about 21.8°, about 23.1° and about 25.2°, and is represented by the formula.例文帳に追加
回析角(2θ)約11.1°に1本の強いピーク、更に約8.1°、約21.8°、約23.1°、約25.2°に4本の中間ピークを示すX線回析図(CuKα)により特徴づけられる結晶変態を有する下記構造式で示される水不溶性モノアゾ染料。 - 特許庁
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