「X-ray diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

This catalyst for decomposing a volatile organic matter containing a titanium oxide supporting at least, a cobalt oxide, (1) shows at least, a diffraction pattern of Co_3O_4 in X-ray diffraction measurement, and (2) is characterized in that the titanium oxide alone shows photocatalytic activity under exposure to a visible light.例文帳に追加

少なくともコバルト酸化物を担持した酸化チタンを含む触媒体であって、（１）Ｘ線回折測定で少なくともＣｏ_3Ｏ_4の回折パターンを示し、かつ（２）前記酸化チタンは酸化チタンのみで可視光線の照射下で光触媒活性を示す揮発性有機物分解用触媒体である。 - 特許庁

Here, Ip represents a maximum value of intensity of a part above a tangent drawn to both bottoms of the diffraction peak of the (002) surface, and Io represents the remaining X-ray intensity obtained by subtracting scatter intensity of air from measured diffraction intensity at an angle 2θ indicating Ip.例文帳に追加

（ここで、Ｉｐとは（００２）面の回折ピークの両裾に接線を引き、その接線から上の部分の強度の最大値であり、ＩｏとはＩｐを示す回折角２θにおける実測回折強度から空気の散乱強度を差し引いた残りのＸ線強度である。） - 特許庁

Lithium manganate satisfying that a Li/Mn composition ratio is 0.55 to 0.60, and the variation of half-value width of a main diffraction line by X-ray diffraction under a charging condition of 0% to 100%, is 25% or more is used as a positive electrode active material, and amorphous carbon is used in a negative electrode active material.例文帳に追加

正極活物質にＬｉ／Ｍｎ組成比が０．５５以上０．６０以下で、充電状態０％乃至１００％間のＸ線回折による主要回折線の半値幅変化を２５％以上としたマンガン酸リチウムを用い、負極活物質に非晶質炭素を用いた。 - 特許庁

The size of a crystallite measured by a Hall method from the integration width of each diffraction peak acquired from an X-ray diffraction pattern is larger than 600 Å and less than 800 Å in the cathode active substance for the lithium secondary battery.例文帳に追加

前記正極活物質において、Ｘ線回折パタ−ンから得られる各回折ピ−クの積分幅からＨａｌｌ法によって測定した結晶子の大きさが600Åより大きく、800Å未満であることを特徴とするリチウム二次電池用正極活物質である。 - 特許庁

The perovskite complex oxide is generated by adding a hydroxide of an alkaline earth element to titanium oxide slurry and reacting it therewith, which is obtained by dispersing a titanium oxide powder, for which an integration width of a diffraction peak on a (101) plane to be measured by X-ray diffraction is less than or equal to 2.0°, in water.例文帳に追加

Ｘ線回折によって測定される（１０１）面の回折ピークの積分幅が２．０°以下である酸化チタン粉末を水に分散させた酸化チタンスラリーに、アルカリ土類元素の水酸化物を添加して反応させることによりペロブスカイト型複合酸化物を生成させる。 - 特許庁

The feed material 11 is one in which a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than that corresponding to the (111) plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

フィード材１１は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。 - 特許庁

A cerium oxide abrasive is provided that contains slurry, wherein ceric oxide having 2.5 or more of an integrated intensity ratio a/b, when the diffraction intensity by the face (111) obtained by X-ray diffraction is (a), the diffraction intensity by the face (200) is b is dispersed in a medium, and a method of grinding a predetermined substrate with this ceric oxide abrasive is provided.例文帳に追加

Ｘ線回折法で得られる（１１１）面による回折強度ａと（２００）面による回折強度ｂがａ／ｂの積分強度比で２．５以上である酸化セリウムを媒体に分散させたスラリーを含む酸化セリウム研磨剤及びこの酸化セリウム研磨剤で、所定の基板を研磨することを特徴とする基板の研磨法。 - 特許庁

The SiC film is coated on the glassy carbon material by a chemical vapor deposition(CVD) method, the X-ray diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) of the film is ≤10 kc.p.s, and the diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) is ≥80% of the diffraction peak strength of the whole crystal faces (hkl).例文帳に追加

ＣＶＤ法によりＳｉＣ膜を被覆したＳｉＣ膜被覆ガラス状炭素材において、Ｘ線回折によるＳｉＣ膜のＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が１０ｋｃ．ｐ．ｓ以下であり、該ＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が全結晶面（ｈｋｌ）の回折ピーク強度の８０％以上であることを特徴とする。 - 特許庁

This thin film of the wax composition consists of a composition containing the wax and has >1.0 value of a ratio (Ib/Ia) of diffraction intensity Ia in the normal direction of surface of the thin film of the wax composition in X-ray diffraction peaks developed by accompanying with the orientation of the crystallized wax to diffraction intensity Ib in a direction making right angle to the normal direction.例文帳に追加

本発明のワックス組成物薄膜は、ワックスを含有する組成物からなり、結晶化した前記ワックスの配向に伴い発現するＸ線回折ピークの前記ワックス組成物薄膜表面の法線方向の回折強度Ia及び該法線方向と９０度をなす方向における回折強度Ibの比Ib/Iaが１．０より大きい値である。 - 特許庁

This glass substrate for a display, comprising a glass substrate on whose surface a metal ion diffusion-preventing film 2 is formed, characterized in that the metal ion diffusion-preventing film 2 is a crystalline SnO2 film having a half-value width of ≤1 at one or more diffraction peaks at diffraction angles of about 26.5°, about 37.9° and about 51.6° by X-ray diffraction.例文帳に追加

表面に金属イオン拡散防止膜２が形成されたガラス基板よりなるディスプレイ用ガラス基板において、該金属イオン拡散防止膜２がＸ線回折による回折角約２６．５°、約３７．９°及び約５１．６°のいずれか１以上の回折ピークにおける半値幅が１°以下の結晶性ＳｎＯ_２膜であるディスプレイ用ガラス基板。 - 特許庁

The hydraulic alumina has a broad peak top at 2θ=25±5° in a powder X-ray diffraction spectrum at 1.5405Å wave length, and 10-20° half-value width measured by using the base line of the broad peak as a standard.例文帳に追加

この水硬性アルミナは、波長１．５４０５Åにおける粉末Ｘ線回折スペクトルが、２θ＝２５±５°にブロードなピークの頂点を有し、ブロードなピークのベースラインを基準とした半値幅が１０°〜２０°である。 - 特許庁

The lattice distortion of a plating film measured by using an X-ray diffraction apparatus is 0.02 to 0.35% and the carbon content in the plating film is 0.01 to 0.07 wt.%.例文帳に追加

Ｘ線回析装置を用いて測定したメッキ皮膜の格子歪が０．０２〜０．３５％であり、かつメッキ皮膜中の炭素含有量が０．０１〜０．０７重量％である亜鉛メッキ品により課題を解決できる。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、Ｘ線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁

In the thermosensitive recording material having a thermosensitive recording layer and a protective layer on one side of a support, the peak intensity of the X-ray diffraction of the support is at least 60,000 cps.例文帳に追加

支持体の一方の側に感熱記録層と保護層とを有する感熱記録材料において、前記支持体のＸ線回折ピーク強度が６００００ｃｐｓ以上であることを特徴とする感熱記録材料である。 - 特許庁

The first cBN sintered compact contains 70 to 99.5 vol.% of cBN, wherein the remaining part comprises a bond phase and an inevitable impurity, a residual stress measured by X-ray diffraction of a face (220) of cBN is -40 MPa or less.例文帳に追加

第一のcBN焼結体は、cBNを70体積％以上99.5体積％以下含有し、残部が結合相及び不可避不純物からなり、cBNの（220）面のＸ線回折により測定した残留応力が-40MPa以下である。 - 特許庁

The electronic part has a ratio of 0.02-1 of a maximum peak intensity of X-ray diffraction of a product existing on the surface of the dielectric porcelain composite to that of the dielectric porcelain composite.例文帳に追加

前記誘電体磁器組成物表面に存在する生成物のＸ線回折における最高ピーク強度と、前記誘電体磁器組成物の最高ピーク強度の比を０．０２〜１である電子部品とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring distortion by which the distortion of a distorted layer in a horizontal direction and a vertical direction are speedily and simply measured by an X-ray diffraction in a laminated distorted wafer.例文帳に追加

貼り合せ歪みウェーハにおいて、Ｘ線回折法により、歪み層の水平方向、垂直方向の歪み量をより短時間で簡便に測定することを可能にする歪み量測定方法を提供する。 - 特許庁

The evaluation of the crystallinity of the aluminum electrode film 34 by the specific resistance value requires less trouble and time compared with a prior art method evaluating by using an x-ray diffraction method or the like, and a used apparatus is comparatively inexpensive.例文帳に追加

この比抵抗値によるアルミニウム電極膜３４の結晶性の評価は、Ｘ線回折法などを用いて評価する従来の方法に比べて、手間や時間がかからず、また用いる装置も比較的安価である。 - 特許庁

The copper-based alloy excellent in press-workability and its manufacturing method are characterized in that the total of diffracted intensities of {111} and {222} is twice or more of the diffracted intensity of {200} in surface X-ray diffraction of materials.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

A third arithmetic means 38 discriminates the reciprocal lattice point group forming X-ray diffraction at every twin crystal component based on the crystal azimuth matrix at every twin crystal component to form display data for three-dimensionally displaying them in the same way.例文帳に追加

第３演算手段３８は，結晶方位行列に基づいて，Ｘ線回折が生じる逆格子点群を，双晶成分ごとに区別して，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 - 特許庁

It is preferable that the electrolytic manganese dioxide has a (110)/(021) peak intensity ratio of 0.50-0.80 in the X-ray diffraction peak pattern, and an interplanar distance between the (110) planes of 4.00-4.06 Å.例文帳に追加

電解二酸化マンガンのＸ線回折ピークにおける（１１０）／（０２１）のピーク強度比が０．５０以上０．８０以下、（１１０）面の面間隔が４．００Å以上４．０６Å以下であることが好ましい。 - 特許庁

In the electrode, the ratio I (111)/I (200) of the peak intensity I (111) for the (111) face and the peak intensity I (200) for the (200) face in the X-ray diffraction measurement of the catalyst material on the electrode surface is made 1.7 or less.例文帳に追加

電極表面の触媒物質のＸ線回折測定値における（１１１）面のピーク強度Ｉ（１１１）と（２００）面のピーク強度Ｉ（２００）との比率Ｉ（１１１）／Ｉ（２００）を、１．７以下とする。 - 特許庁

The parallel radiation (12) emitted from the sample (4) in a known apparatus for X-ray analysis (e.g.; diffraction) is analyzed corresponding to a wavelength and matched with a focus 20 by a parabolic multilayered mirror 14.例文帳に追加

公知のＸ線分析（例えば、回折用）の装置における試料（４）から発する並行放射線（１２）は波長に応じて分析され、方物面多層鏡１４によって焦点２０に焦点が合わされる。 - 特許庁

This aluminum nitride sintered compact contains carbon in which a peak can not be detected at a position of 10-90° reflection angle in an X-ray diffraction chart or is equal to or lower than the detection limit in a matrix composed of aluminum nitride.例文帳に追加

窒化アルミニウムからなるマトリックス中に、Ｘ線回折チャートでは反射角が１０〜９０°の位置でピークを検出することができないか、検出限界以下であるカーボンを含有する窒化アルミニウム焼結体。 - 特許庁

In the ceramic substrate for semiconductor producing/inspecting apparatus, conductors are arranged on a ceramic substrate containing carbon by such a quantity as a peak can not be detected on an X-ray diffraction chart or lower than a detection limit.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか、検出限界以下であるカーボンを含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

In a surface layer part forming a rolling face 2a, half-power band width of diffraction X ray in martensite crystal is 6.0° or less, hardness is Hv 653 or more, and amount of remaining austenite is less than 2.0 vol.%.例文帳に追加

そして、転がり面２ａをなす表層部において、マルテンサイト結晶での回折Ｘ線の半価幅を６．０°以下とし、硬さをＨｖ６５３以上とし、残留オーステナイト量を２．０体積％未満とする。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

The aromatic polyamide particles having improved chemical resistance are made of an aromatic polyamide and have a crystallinity of the particles of 8-35% as determined by wide-angle X-ray diffraction.例文帳に追加

芳香族ポリアミドからなる芳香族ポリアミド粒子であって、広角Ｘ線回折より求めた該粒子の結晶化度が８〜３５％であることを特徴とする耐薬品性が向上した芳香族ポリアミド粒子とする。 - 特許庁

The sputtering target is made from Ru or an Ru alloy, and the content ratio of a crystal orientation on a face (002) in an integrated intensity value measured on the surface of the target with an X-ray diffraction analysis is set to be 0.05 or larger.例文帳に追加

ＲｕまたはＲｕ合金からなるスパッタリングターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された積分強度値における（００２）面の結晶方位含有比を０．０５以上とする。 - 特許庁

The crystal orientation ratio of a peak intensity of crystal faces (111) and (200) obtained by the X-ray diffraction of the face to be sputtered is made to 0.1-0.4 and the variation of the crystal orientation ratio is made to 40% or less.例文帳に追加

また、スパッタリングされる面のＸ線回折により求められた結晶面（１１１）と（２００）のピーク強度の結晶方位比率を０．１〜０．４、またはそれと結晶方位比率のバラツキを４０％以下とする。 - 特許庁

A fiber has a mean diameter of about 1 to about 4 μm, and a degree of crystallization of at least about 5 to about 50% that can be detected by an X-ray diffraction, and has a size of crystal of about 50 to about 500 A.例文帳に追加

ファイバーは約１〜約１４μｍの平均直径を有し、Ｘ線回折により検出される少なくとも約５〜約５０％の結晶化度を有し、かつ約５０〜約５００Ａの結晶の大きさを有する。 - 特許庁

A crystalline structure observed in the surface side of the electrophotographic photoreceptor by X-ray diffraction analysis exhibits a ≤0.8 ratio of the reflection intensity in a 101 direction of crystal plane to the peak reflection intensity in a 110 direction of crystal plane.例文帳に追加

電子写真用感光体表面がわからみた結晶構造のＸ線回折で得られる面方位１１０の反射強度のピーク値に対する、面方位１０１の反射強度の比率が０．８以下とする - 特許庁

In the orientating properties of the crystal of a metal measured by the X-ray diffraction of the metal mask, the ratio of the peak strength on a (220) face to the sum of those on a (111) face, a (200) face and the (220) face is set to be at least 0.4.例文帳に追加

メタルマスクのＸ線回折により測定したメタルの結晶の配向性において、（１１１）面、（２００）面及び（２２０）面ピーク強度の合計に対する（２２０）面のピーク強度比が０．４以上にする。 - 特許庁

The negative electrode active material used is a carbon whose inter layer distance d(002) by an X-ray diffraction method is not less than 0.377 nm, and the size of the crystalit in the c-axial direction is not larger than 1.29 nm.例文帳に追加

負極活物質として、Ｘ線回折法による層間距離ｄ（００２）が０．３７７ｎｍ以上であり、ｃ軸方向の結晶子の大きさＬｃが１．２９ｎｍ以下である炭素材料を用いる。 - 特許庁

In the stamper used as a die for pattern transfer, at least the outermost surface of each projecting part is formed of a material 110 having no crystalline peak in X-ray diffraction.例文帳に追加

パターン転写の型として用いられるスタンパであって、少なくともそのスタンパの凸部最表面を、Ｘ線回折において結晶性ピークを有していない材料１１０で形成することにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method where a compound in electrolytic slime can be identified precisely and easily by using X-ray diffraction method, so that an available metal containing noble metals is separated with high efficiency from the electrolytic slime to be purified and treated.例文帳に追加

電解スライムから貴金属を含む有価金属を効率良く分離精製処理するため、Ｘ線回折法を用いて電解スライム中の化合物を正確に且つ容易に同定できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phthalocyanine crystal which has a main diffraction peak at the Bragg angle (2θ±0.2°) of 27.2° for CuKα characteristic X ray (wavelength: 1.541Å) and which has the high sensitivity and excellent stability.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線（波長１．５４１Å）に対するブラッグ角（２θ±０．２°）２７．２°に主たる回折ピークを示すフタロシアニン結晶であって、高感度で且つ安定性にも優れたフタロシアニン結晶を提供する。 - 特許庁

The polymorphic crystals of donepezil hydrochloride (I)-(IV) and (V) represented by the chemical formula characterized in a powder X-ray diffraction pattern and an infrared absorption spectrum have excellent thermal stability and low hygroscopicity.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターンおよび赤外吸収スペクトルにおいて特徴付けられる、下記化学式で表される塩酸ドネペジルの多形結晶(I)〜(IV)と(V)は、優れた熱安定性および低吸湿性を有する。 - 特許庁

In the mean time, theoretical diffraction X ray intensity is calculated based on the orientation density distribution function ρ, and the characteristic parameter of the orientation density distribution function is obtained so that the theoretical rocking curve approaches the measurement rocking curve most.例文帳に追加

一方，配向密度分布関数ρに基づいて理論的な回折Ｘ線強度を計算し，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も近づくように配向密度分布関数の特性パラメータを求める。 - 特許庁

The catalyst contains USY zeolite obtained using NaY having a peak intensity appearing in (111) plane not higher than 30 in X-ray diffraction and a noble metal of Group VIII in the periodic table.例文帳に追加

Ｘ線回折において１１１面に現れるピークの強度が３０以下であるＮａＹを原料として得られたＵＳＹゼオライトと周期律表第VIII族の貴金属を含む触媒により上記課題が解決された。 - 特許庁

The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has a crystallite size in the direction of (a) axis as determined by X-ray wide angle diffraction of 30-80 Å.例文帳に追加

水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、Ｘ線広角解析より求めたａ軸方向の結晶子の大きさが３０〜８０Åであることを特徴とする。 - 特許庁

This C. I. Pigment Yellow 12 is characterized by showing ≥0.94 and ≤1.80 half value width of peak intensity within 8.0 to 11.8° (2θ) in an X-ray diffraction measurement after drying the wet cake of the pigment at 90°C.例文帳に追加

顔料のウェットケーキを９０℃で乾燥した後のＸ線回折測定において、8.0〜11.8度（2θ）にある強度ピークの半価幅が０．９４以上１．８０以下であることを特徴とするＣ．Ｉ．ピグメントイエロー１２。 - 特許庁

In a measuring method of an X-ray diffraction pattern of the translin crystal, the translin crystal obtained using sodium formate as a precipitant is frozen in crystallizing solution containing polyalcohol, and X-ray diffraction data is collected in a frozen state.例文帳に追加

トランスリン結晶のＸ線回折像の測定方法、該結晶のＸ線回折像より得られる３次元構造座標、該構造座標を含むデータベース若しくは記録媒体、該構造座標を用いるトランスリンの機能を調節する能力を有する化合物の同定方法、該３次元構造座標を用いるトランスリンに潜在的に結合しうる化合物からなる化合物群の調製方法、及び、該３次元構造座標を用いるトランスリンの変異体の作製方法。 - 特許庁

In the substrate for flexible print circuit having a crystalline thin film layer of copper on a sheet-like substrate, composed of aromatic polyamide, X-ray diffraction intensity ratio of the (200) face, and the (111) face of copper crystal is in the range of 0.3≤I(200)/I(111)≤1.0.例文帳に追加

芳香族ポリアミドからなるシート状基材上に結晶性の銅の薄膜層を有するフレキシブルプリント回路用基板であって、銅結晶の（２００）面と（１１１）面のX線回折強度比が０．３≦Ｉ（２００）／Ｉ（１１１）≦１．0の範囲であることを特徴とするフレキシブルプリント回路用基板。 - 特許庁

The residual life is predicted based on an existing amount of a micro void in an objective sample, by finding preliminarily a relation between a lapse time and the micro void measured by a small-angle X-ray diffraction method, when predicting the residual life of the brittle creep fracture in the molding component comprising the organic polymer material.例文帳に追加

有機高分子材料からなる成形部品の脆性クリープ破壊の余寿命を予測するに当たり、予め経過時間と小角X線回折法で測定したミクロボイド量の関係を求めておくことで、目的とする試料のミクロボイドの存在量から余寿命を予測する。 - 特許庁