「calibration reference」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The flow rate of the reference point gas becomes constant and, when the calibration gas purity meter 15 continues the concentration of 100% of the reference gas for a constant time or above, the reference point of the gas purity meter 2 of the dynamo is set.例文帳に追加

基準点ガス流量が一定となり、校正用ガス純度計１５が基準ガス濃度100％を一定時間以上継続したとき、発電機ガス純度計２の基準点設定を行う。 - 特許庁

Accordingly, the base-side joint and head-side joint of the calibration tool are sandwiched between a base-side reference surface and a head-side reference surface, and the operating head is positioned in the temporary reference position on a three-dimensional space.例文帳に追加

以て、較正治具のベース側接合部とヘッド側接合部とを、ベース側基準面とヘッド側基準面とで挟持して、操作ヘッドを３次元空間上の仮基準位置に位置決めする。 - 特許庁

In intermediate calibration, at least one reference light emitting element is driven with calibration data and light emitted by the reference light emitting element is measured as well as the light representative of the light emitted by the light emitting elements.例文帳に追加

中間較正の時、少なくとも１つの基準発光素子が較正データによって駆動され、基準発光素子によって放射された光が発光素子によって放射された光を代表する光と同様に測定される。 - 特許庁

A radio wave outputted from an oscillator 10 through a distributor 50 is supplied only to a reference antenna element 21 to be a reference for phase calibration and a calibration target antenna element 22 out of a plurality of transmission antenna elements 20.例文帳に追加

複数の送信アンテナ素子２０のうち、位相の校正の際の基準となる基準アンテナ素子２１と校正対象アンテナ素子２２のみに対して、分配装置５０を介して発振器１０から出力される電波を供給する。 - 特許庁

The tester is provided with a reference voltage source, a voltage generation part for conducting calibration due to a voltage of the reference voltage source and for supplying a voltage to the tested object, and a voltage measuring part for conducting calibration due to the voltage of the reference voltage source and measuring an output of the tested object.例文帳に追加

本装置は、基準電圧源と、この基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象に電圧を供給する電圧発生部と、基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象の出力を測定する電圧測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

Fail-safe mechanisms are provided based on clinical acceptability of reference and analyte data and quality of sensor calibration.例文帳に追加

基準及びアナライトデータの臨床的受容性ならびにセンサ較正の品質に基づいてフェールセーフメカニズムが実現される。 - 特許庁

To easily place a subject of three-dimensional input and a reference body for calibration on proper positions.例文帳に追加

３次元入力の対象物およびキャリブレーションのための標準物体を適正位置に容易に配置できるようにする。 - 特許庁

The sensor 10 can be calibrated using a calibration set of one or a plurality of matched sensors and a reference analyte data pair.例文帳に追加

センサ(10)は、1つ又は複数のマッチするセンサ及び基準アナライトデータ対の較正集合を使用して較正できる。 - 特許庁

A reference plane 40 stipulating a world coordinate system is measured in three dimensions by a rangefinder 10 that is an object of calibration.例文帳に追加

ワールド座標系を規定する基準平面４０を校正対象のレンジファインダ１０により三次元計測する。 - 特許庁

Further, the image processing apparatus calculates calibration information of the cameras on the basis of difference data between the norm image data and the reference image data.例文帳に追加

また、基準画像データと参照画像データとの差分データに基づいてカメラのキャリブレーション情報を算出する。 - 特許庁

In accordance with the position of a measurement device, the light passes to a sample X (measurement position) or to a reference criterion 7 (calibration position) thereafter.例文帳に追加

測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。 - 特許庁

To provide a reference gauge capable of acquiring more accurate calibration than a current gauge, regardless of diameters of measurement pins of measuring machines.例文帳に追加

測定機の測定ピンの直径を問わず、現在のゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲージを得る。 - 特許庁

REFERENCE MEMBER FOR LENGTH MEASUREMENT, CALIBRATION METHOD FOR ELECTRON BEAM MEASURING APPARATUS USING THE SAME, AND ELECTRON BEAM MEASURING APPARATUS例文帳に追加

測長用標準部材及びそれを用いた電子ビーム測長装置の校正方法及び電子ビーム測長装置 - 特許庁

This cyclodextrin derivative functions as a stable mass-calibration reference substance for MALDI-TOF-MS.例文帳に追加

このシクロデキストリン誘導体は安定なＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ−ＭＳ用マスキャリブレーション標準物質として機能した。 - 特許庁

Next, the calibration coefficients are calculated from the loop back functions by setting other branches 1 to 2 as the reference branch.例文帳に追加

続いて、他のブランチを基準ブランチに設定して同様にループバック伝達関数からキャリブレーション係数を算出する。 - 特許庁

A reference mark 4B is provided at a grid in a central part of a diced check pattern 4A to be defined as a calibration pattern 4.例文帳に追加

市松模様のチェックパターン４Ａの中心部のマス目に基準マーク４Ｂを設けてキャリブレーションパターン４とする。 - 特許庁

To reduce the number of cameras for offset calibration, in the case where a projected reference member is used for the correction of the offset of a bonding device.例文帳に追加

オフセット補正に突起状のリファレンス部材を用いる場合にオフセット較正用カメラの台数を減少する。 - 特許庁

A calibration signal is supplied from a calibration signal source built in the frequency conversion circuit to the frequency conversion circuit, a characteristic of the reference band is measured to store a difference with respect to the ideal characteristic.例文帳に追加

周波数変換回路内蔵の校正信号源から校正信号を周波数変換回路に供給し、基準帯域の特性を測定し、理想特性との差分を記憶する。 - 特許庁

To ensure remote calibration for an on-site calibration-involved organization or an on-site user in an industrial field by remotely supplying a reference variable for precision measurement, and its authentication.例文帳に追加

精密計測を行うための基準量を遠隔供給することにより、被校正機関あるいは産業界の利用者の現場における遠隔校正、および、その認証を行う。 - 特許庁

To provide a calibration method using a calibration marker that can provide three reference points arranged at exactly the same distance with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で正確に等距離に配置された３つの基準点を提供することが可能なキャリブレーション用マーカを用いるキャリブレーション方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a calibration device capable of acquiring the same results of calibration for all optical sensor elements even if a brightness reference image cannot be obtained under the same conditions.例文帳に追加

同じ条件で明基準画像が取得できない場合であっても、すべての光センサ素子に対して、同様のキャリブレーション結果を取得できるキャリブレーション装置を実現する。 - 特許庁

REFERENCE WAFER FOR CALIBRATION OF DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, METHOD OF CALIBRATION OF DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, THE DARK FIELD INSPECTION SYSTEM, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

暗視野検査装置校正用基準ウエハ、暗視野検査装置校正用基準ウエハの製造方法、暗視野検査装置の校正方法、暗視野検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁

The positions of each inherent calibration mark and the common calibration mark are acquired by means of the reference mark camera of the first and second units, and the relative position of both units is acquired previously based on the positions of the calibration mark 160 thus acquired.例文帳に追加

第一，第二の各ユニットにおいて基準マークカメラにより１つずつの固有較正マークと共通較正マークとの位置を取得し、それら取得した較正マーク１６０の位置に基づいて両ユニットの相対位置を予め取得しておく。 - 特許庁

This method also comprises generation of calibration information by processing information reflecting the reference image and the calibrated image, and calibration of the image-taking device and/or a driver for the image-capturing device by using the calibration information.例文帳に追加

該方法は基準画像を反映する情報と較正画像とを処理することによって較正情報を生成することと、その後該較正情報を用いて画像取得装置および／または画像取得装置のためのドライバを較正することをさらに含む。 - 特許庁

The calibration data generating part generates calibration data by verifying defocus amount outputted from a focus detection part at the focusing position of the photographic lens obtained in the focus control test with the focus control test as the reference of calibration.例文帳に追加

校正データ作成部は、焦点制御テストを校正の基準として、焦点制御テストの際に求めた撮影レンズの合焦位置において焦点検出部から出力されるデフォーカス量を検証することにより、校正データを作成する。 - 特許庁

A preliminary step is to use values obtained by measuring three reference loads and true values of the values to calculate both a basic calibration parameter enabling low-accuracy calibration within a wide range of impedance and a quadrant-by-quadrant calibration parameter enabling high-accuracy calibration using each of four quadrants into which a range on a Smith chart is divided.例文帳に追加

低精度だが広いインピーダンスの範囲で校正可能な基本校正パラメータと、スミスチャート上の範囲を４つに分割した各象限でそれぞれ高精度に校正可能な各象限別校正パラメータとを、それぞれ、３つの基準負荷を測定した値とそれらの真値とに基づいて算出しておく。 - 特許庁

A calibration plane 5 with high flatness precision is maintained on a moving mechanism 4 with smaller area than the reference plane 3.例文帳に追加

また，上記参照平面３よりも小面積で，且つ平面精度の高い構成平面５を，移動機構４上に保持させる。 - 特許庁

A fail-safe mechanism is realized based on the clinical acceptability of the reference and the analyte data, and based on the quality of the sensor calibration.例文帳に追加

基準及びアナライトデータの臨床的受容性ならびにセンサ較正の品質に基づいてフェールセーフメカニズムが実現される。 - 特許庁

REFERENCE BODY FOR CALIBRATION IN MEASUREMENT OF BLOOD SUGAR LEVEL AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF BLOOD SUGAR LEVEL BY USING IT例文帳に追加

血糖値測定における校正用参照体ならびにこれを用いた血糖値測定方法及び血糖値測定装置 - 特許庁

To perform accurate timing calibration taking into account any influence of a semiconductor relay between a driver and a reference comparator.例文帳に追加

ドライバと基準コンパレータとの間の半導体リレーの影響を考慮した正確なタイミング校正を行うことを目的とする。 - 特許庁

Then, the calculated evaluation value group is compared with a reference evaluation value group to set an evaluation value multiplying coefficient for the purpose of calibration.例文帳に追加

そして、算出した評価値群と基準評価値群とを比較して、校正のために評価値乗じる係数を設定する。 - 特許庁

When a reference substance is used, a quantity is determined by the response factor (RF) or the calibration curve using an internal standard. 例文帳に追加

内標準物質を使用する場合には、感度係数法(RF)又は内標準を用いた検量線でＨＣＢを定量する。 - 経済産業省

(i) The applicant is a person who performs calibration of a measuring instrument using specified standard instruments, etc. or a person who manufactures a specified reference material by using appliances, machines or equipment pertaining to a designation pursuant to the provision of Article 134, paragraph 1 and performs calibration of a measuring instrument or valuing of a reference material by using the specified reference material so manufactured. 例文帳に追加

一　特定標準器等を用いて計量器の校正を行うもの又は第百三十四条第一項の規定による指定に係る器具、機械若しくは装置を用いて特定標準物質を製造し、これを用いて計量器の校正若しくは標準物質の値付けを行うものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

When the gravitational acceleration is changed, an output from the calibration sensor mechanism 3 based on a calibration weight used as a reference weight is detected, and stored in a memory of a computing unit 7 as a correction coefficient.例文帳に追加

重力加速度が変化したような場合には、基準分銅となる校正おもりを基にした校正用センサ機構３の出力を検出し、演算器７のメモリに補正係数として記憶する。 - 特許庁

A semiconductor device includes a plurality of the output circuits and a calibration circuit that generates a calibration signal for setting the output impedance of a plurality of output circuits to a reference value.例文帳に追加

半導体装置であって、複数の出力回路と、前記複数の出力回路の出力インピーダンスを基準値に設定するためのキャリブレーション信号を生成するキャリブレーション回路とを有する。 - 特許庁

Then, the colorimetry device determines, on the basis of a colorimetry value of reference patches in front and behind some calibration patch and a colorimetry value of their undercoat, whether it has passed the inside of that calibration patch, in which way it processes colorimetry values of the calibration patches according to the result of the determination.例文帳に追加

すると、測色装置は、あるキャリブレーション用パッチの前後の基準パッチの測色値と下地の測色値とに基づいて、そのキャリブレーション用パッチの内部を通過したかどうかを判定し、キャリブレーション用パッチの測色値をその判定結果に応じて処理する。 - 特許庁

The reference signal is impressed to the buffers 11-1 to 11-n, when the switches 12-1 to 12-n are switched to a terminal b input with the reference signal, in calibration.例文帳に追加

キャリブレーション時、その切替器１２−１〜１２−ｎが基準信号の入力される端子ｂに切り替えられると、その基準信号がバッファ１１−１〜１１−ｎに印加される。 - 特許庁

Based on the calibration values, position coordinates of the target mark 93, and position coordinates of the reference mark 43, the setting device 91 calculates position coordinates of the reference mark 43 in the inherent coordinate system.例文帳に追加

設定装置９１は、較正値、ターゲットマーク９３の位置座標および基点マーク４３の位置座標に基づいて、固有座標系における基点マーク４３の位置座標を算出する。 - 特許庁

The reference bias value is input into the adder 33, the reference gain value is input into the multiplier 34 to control the irradiation laser output from the semiconductor laser element 2 by automatic calibration.例文帳に追加

基準バイアス値を加算器３３に入力し、基準ゲイン値を乗算器３４に入力し、自動的なキャリブレーションにより、半導体レーザ素子２の照射レーザ出力を制御する。 - 特許庁

The color set acquisition section 2 acquires a color set including a source color and a reference color from an image obtained by an imaging apparatus, the area detection section 4 detects the object area of color calibration having color information similar to the source color, and the calibration processing section 5 calibrates the color information of the object area of color calibration with color information of the reference color.例文帳に追加

カラーセット取得部２が、撮像装置で得られる画像からソースカラーとリファレンスカラーとを含むカラーセットを取得し、領域検出部４が、ソースカラーに類似する色情報を有する色校正対象領域を検出して、校正処理部５が、色校正対象領域の色情報をリファレンスカラーの色情報にそれぞれ校正する。 - 特許庁

The calibration system can thereby determine the space positions and the directions of the reference targets 400, 401, 403 with respect to the sensor 240.例文帳に追加

これにより、較正システムは、センサ（２４０）に対する基準ターゲット（４００、４０１、４０３）の空間位置および方向を決定できる。 - 特許庁

Each calibration mark PRM on a reference wafer SW includes a first pattern and a second pattern each having a predetermined width and crossing perpendicularly to each other.例文帳に追加

基準ウエハＳＷ上の各較正用マークＰＲＭは、所定幅を有し、直交する第１パターンと第２パターンとを含んでいる。 - 特許庁

To provide a calibration method and a program of a laser marker capable of allowing a bright line to agree easily with a reference position of an irradiation object.例文帳に追加

被照射体の基準位置に輝線を容易に合わせることができるレーザー墨出し器の校正方法、プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a camera calibration method for adjusting a mounted state of a camera without using image information in which a reference line is imaged.例文帳に追加

基準線が撮像された画像情報を用いることなく、カメラの取付け状態を校正するカメラキャリブレーション方法を提供する。 - 特許庁

The sensor calibration system is provided for calibrating a sensor 240 with respect to the external reference frame related to a gauging station 200 of a manufacturing site.例文帳に追加

製造現場のゲージングステーション（２００）に関連する外部基準フレームに対してセンサ（２４０）を較正する較正システムを提供する。 - 特許庁