「charged object」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

IONIZER USING SOFT X-RAY, AND CHARGE ELIMINATING METHOD OF CHARGED OBJECT例文帳に追加

軟Ｘ線を利用したイオナイザー及び帯電物体の電荷除去方法 - 特許庁

OBSERVATION DEVICE AND METHOD OF SURFACE OF OBJECT USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線を用いた物体表面の観察装置及び方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, DIAPHRAGM FOR CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL METHOD, AND OBJECT INSPECTING DEVICE, OBJECT INSPECTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THESE例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム光学装置の絞り、荷電粒子ビーム制御方法、及びこれらを用いた物体検査装置ならびに物体検査方法、及び半導体素子 - 特許庁

The controller calculates capacity of the charged object based on output from the load cell LC whenever the object is charged on the container 10 while using the input means to acquire the charging history of charged objects.例文帳に追加

制御器は、投入物がコンテナ１０に投入される度に、ロードセルＬＣの出力に基づいて投入された投入物の投入量を演算するとともに、入力手段を用いて投入物の投入履歴を取得する。 - 特許庁

The charged object is charged into the bottle body 2, and a beverage can be prepared immediately before drinking the beverage.例文帳に追加

これで投入物がボトル本体２に投入されるので、飲用の直前に飲料を作成することができる。 - 特許庁

To provide a weighing equipment which can acquire a charging history of charged objects whenever the object is charged on a container.例文帳に追加

投入物がコンテナに投入される度に、投入物の投入履歴を取得できる計量装置を提供する。 - 特許庁

Because the probe 50 is exposed to the outside, and if another charged object exists, the probe 50 is affected by it and gets into a charged state.例文帳に追加

というのも、プローブ５０は外部に露出した状態になるので、他の帯電物があると、その影響により帯電してしまうからである。 - 特許庁

Air blow containing ions destaticizes the object and static electricity charged on the object to remove the attached matter from the object.例文帳に追加

そして、イオンを含んだエアブローによって対象物および対象物に帯電した静電気を除電し、対象物から付着物を取り除く。 - 特許庁

To equalize the distribution of ranges of charged particles in each irradiation object without forming an angle varying mechanism for the irradiation object, in a device or a method for irradiating each irradiation object with a charged particle beam while rotating a rotating body.例文帳に追加

回転体を回転させながら各被照射物に荷電粒子ビームを照射する装置または方法において、被照射物の角度可変機構を設けることなく、各被照射物中における荷電粒子の飛程の分布を均一化する。 - 特許庁

In this device, a test piece 1 is charged, and strips 3 repulsive to one another are brought close to the measured object 4 to detect the charged state of the measured object 4 by the attraction, repulsion, invariableness of the strips 3 to the measured object 4.例文帳に追加

試験片１を帯電し、短冊形が互いに反発した短冊３を被測定物体４に近接し、同短冊３が被測定物体４に吸引、反発、不変等で被測定物体の帯電状態を探知する装置。 - 特許庁

The metal powder 13 for an electrode attached to the charged photoreceptor drum 2 is transferred to a thin print object 1.例文帳に追加

薄い被印刷物１に帯電感光ドラム２に付着した電極用金属粉１３を転写する。 - 特許庁

SAMPLE FIXING TABLE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EQUIPPED WITH IT, AND OBSERVATION/ANALYSIS OBJECT PART IDENTIFYING METHOD例文帳に追加

試料固定台、及びそれを備えた荷電粒子線装置、並びに観察／解析対象箇所特定方法 - 特許庁

To provide a non-contact charger which correctly detects the presence or absence of a secondary apparatus as an object to be charged.例文帳に追加

非接触式充電器において、被充電物である二次側機器の有無を正確に検出する。 - 特許庁

To provide a practical structure capable of suppressing inclusion of charged particles into a plate-like object.例文帳に追加

板状対象物への荷電粒子の混入を抑制することが可能な実用的な構成を提供する。 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM FOR PARTICLE-OPTICAL IMAGING OF OBJECT, AND DEFLECTOR FOR CHARGED PARTICLE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

物体の粒子光学的結像のための検査系、荷電粒子用偏向器およびその操作方法 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of dealing with a minute component as an observation object.例文帳に追加

観察対象となる微細部品を取り扱うことの可能な荷電粒子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

In the charged-particle beam irradiation equipment 1, the controller 6 modifies a scanning speed in the irradiation of an object with the charged-particle beam R along an irradiation line so as to compensate the marginal sections in the dose distributions of the charged-particle beam R.例文帳に追加

荷電粒子線照射装置１では、制御装置６が、照射ラインに沿って荷電粒子線Ｒを照射するときの走査速度を、荷電粒子線Ｒの線量分布における辺縁部が補正されるように変更する。 - 特許庁

This charged particle irradiation device is provided with a circular accelerator 1 for emitting the charged particle accelerated in the orbital plain 11, a charged particle transporting means 3 for transporting the charged particle accelerated by the circular accelerator 1 through a specified path in the orbital plain 11, and an irradiation device 7 for irradiating an object to be irradiated 9a with the charged particle transported by the charged particle transporting means 3.例文帳に追加

この発明に係る荷電粒子照射装置は、軌道平面１１内で加速された荷電粒子を出射する円形加速器１と、円形加速器１で加速された荷電粒子を軌道平面１１内の所定経路を介して輸送する荷電粒子輸送手段３と、荷電粒子輸送手段３で輸送された荷電粒子を照射対象９ａに照射する照射装置７とを備えている。 - 特許庁

The surface of the plate-like object 9 is treated by this adjustment while suppressing injection of the charged particles into the plate-like object 9.例文帳に追加

この調節により、板状対象物９への荷電粒子の入射を抑制しながら板状対象物９の表面に処理を施す。 - 特許庁

To inhibit a trouble as caused by the discharge of static electricity charged on an object along with an accurate detection of an object's impedance.例文帳に追加

被検体のインピーダンスを精度よく検出するとともに、被検体に帯電した静電気の放電による故障を抑制する。 - 特許庁

In the multilayer structure body 12 like this, the first charged film 13 and the second charged film 14 are strongly bound together by Coulomb force generated between the positive electric charge of the first charged film 13 and the negative electric charge of the second charged film 14, while being tightly contacted to the object to be processed.例文帳に追加

このような多層構造体１２は、第一の帯電膜１３の正の電荷と、第二の帯電膜１４の負の電荷との間で生じるクーロン力によって、第一の帯電膜１３と第二の帯電膜１４とが互いに強く結び付けられているとともに、被処理体とも強固に密着した形態をなす。 - 特許庁

In this charged-particle beam irradiation device, a gas container in which gas including no oxygen is filled is installed on an irradiation route of a charged-particle beam, and the charged-particle beam irradiated from a charged-particle beam irradiation part is irradiated onto an object to be irradiated through the gas container.例文帳に追加

荷電粒子線照射装置において、荷電粒子線の照射経路に酸素を含まない気体が充填されたガス容器が設けられ、荷電粒子線照射部から照射された荷電粒子線がかかるガス容器中を通って被照射体に照射される。 - 特許庁

The charged particle beam device irradiating a charged particle beam 101 onto an object 106, converting a detected signal 104 from the object to image data to display on a screen, includes a charged particle beam control section 3 scanning the charged particle beam in an arbitrary direction and irradiating it to a discrete position on the object, and an image processing system 13 containing an image data rearranging section 5 rearranging the image data.例文帳に追加

荷電粒子ビーム１０１を被対象物１０６に照射し、被対象物からの検出信号１０４を画像データに変換し画面上に表示する荷電粒子ビーム装置であって、荷電粒子ビームを任意の方向に走査し、被対象物上の離散的な位置に照射する荷電粒子ビーム制御部３と、画像データを並び替える画像データ並び替え部５を含む画像処理システム１３とを有する。 - 特許庁

When a charged object 7 and a charged human body come close to an electronic apparatus, since the insulating component 3 concurrently serving as a protective cover too is provided in the switch 1 mounted on the printed circuit board 5, there is no direct discharge from the charged object 7.例文帳に追加

帯電した物体７や人体が電子機器に接近した場合、プリント基板５上に装着されたスイッチ１には、保護カバーを兼ねた絶縁性部品３が設けられているため、帯電した物体７等から直接放電することは無い。 - 特許庁

To effectively execute static elimination on a front surface or back surface of a flat charged object in a short time by stably supplying a sufficient quantity of air ions required for the static elimination to respective places of the front surface or back surface of the flat charged object.例文帳に追加

平板状の帯電物体の表面または裏面の各所に、その除電に要する十分な量の空気イオンを安定して供給し、該帯電物体の表面または裏面の除電を短時間で効果的に行なう。 - 特許庁

Therefore, a surface potential of a charged object W can be measured even under such a use condition that the sensor body S can not approach the charged object W due to an interfering matter surrounding it.例文帳に追加

従って、周囲に干渉物があってセンサ本体Ｓを帯電物Ｗに近づけることが不可能な使用状況下であっても、帯電物Ｗの表面電位を計測することが可能となる。 - 特許庁

To allow to detect film thickness of a charged object without increase of the number of components or cost increase, without unnecessarily rotating the charged object effectively using a means provided to an image forming apparatus which controls an amount of discharged electric charge constant without the need for newly providing a means for measuring DC current, etc. in order to detect the film thickness of the charged object.例文帳に追加

被帯電体の膜厚を検知するために、直流電流を測定するための手段などを新たに設ける必要がなく、放電電荷量を一定に制御する画像形成装置が備えている手段を有効に利用して、部品点数の増加やコストアップを招くことなく、しかも不必要に被帯電体を回転させることなく、当該被帯電体の膜厚を検知することを可能とする。 - 特許庁

The gas cupola has: a furnace body 1 having a melting chamber 10 melting the charged object 2 using metal as base material and a molten metal outlet 11 discharging metal melted in the melting chamber 10; and a plurality of the combustion burners 4 blasting combustion flame 41 on the charged object 2 in the melting chamber 10 and melting the charged object 2 of the meting chamber 10.例文帳に追加

ガスキュポラは、金属を基材とする装入物２を溶解する溶解室１０と溶解室１０で溶解された溶湯を吐出させる溶湯吐出口１１とをもつ炉体１と、炉体１に設けられ燃料を燃焼させて燃焼火炎４１を形成し燃焼火炎４１を溶解室１０内の装入物２に噴出し且つ溶解室１０の装入物２を溶解させる複数の燃焼バーナ４とを有する。 - 特許庁

The charging member is constituted by covering a semiconductor silicone elastic body layer with a resin layer and charges the object to be charged by being made to abut the object to be charged and applying voltage between itself and the object to be charged, wherein polyol crosslinked or peroxide crosslinked polyvinylidene fluoride and/or polyol crosslinked or peroxide crosslinked polyvinyl fluoride are used as the resin for forming the resin layer.例文帳に追加

半導電性シリコーン弾性体層に樹脂層を被覆してなり、被帯電体に当接させ、該被帯電体との間に電圧を印加することにより、被帯電体を帯電させる帯電部材において、樹脂層を形成する樹脂としてポリオール架橋又は過酸化物架橋したポリフッ化ビニリデン及び／又はポリオール架橋又は過酸化物架橋したポリフッ化ビニルを用いる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam in a charged particle beam device having a sample such as a photo-mask as a measurement object, in which a high precision adjustment of the device conditions can be carried out even if charged electrons are deposited on a backside of the sample.例文帳に追加

本発明は、ホトマスクのような試料を測定対象とする荷電粒子線装置において、試料裏面に帯電が付着していたとしても、高精度に装置条件の調整を行い得る荷電粒子線の提供を目的とするものである。 - 特許庁

The portion (2) of the object to be measured which is irradiated with an acoustic wave focus beam (1) is in a charge distributed state in which many positive charged particles (3) are present, and thus the electromagnetic waves induced by the positive charged particles (3) and negative charged particles (4) do not completely negate each other to produce an actual electromagnetic wave (6).例文帳に追加

例えば、音波集束ビーム（１）が照射される被測定物体の部分（２）では、正の荷電粒子（３）が多い電荷分布状態であるので、正の荷電粒子（３）及び負の荷電粒子（４）が誘起する電磁波は完全に打ち消し合わず正味の電磁波（６）が誘起される。 - 特許庁

In the mask 3 used for selectively irradiating an object to be irradiated with the charged particle beam by selectively transmitting the beam through the mask 3, the region through which the charged particle ray is transmitted is covered with a protective film 6.例文帳に追加

荷電粒子線を選択的に透過させて被露光対象に照射するためのマスク３であって、荷電粒子線を透過させる領域を保護膜６で覆うようにした。 - 特許庁

A nozzle 5 is formed at the upper end of the chamber 1, and the charged particles generated in the chamber 1 are sprayed to a charged body S of a static elimination object through the nozzle 5.例文帳に追加

チャンバ１の上端部にノズル５を設け、チャンバ１内で生成された荷電粒子をノズル５を介して、除電対象となる帯電体Ｓに吹き付けるように構成する。 - 特許庁

Accordingly, since the metal 51 is shielded electrostatically, even if another charged object W exists near it, the metal 51 is not affected nor gets into the charged state.例文帳に追加

従って、金属体５１が静電遮へいされるので、近傍に他の帯電物Ｗがあったとしても、その影響を受けて金属体５１が帯電してしまうことがない。 - 特許庁

To provide a particle beam medical treatment device in which energy of the charged particle beam can be confirmed before the accelerated charged particle beam is irradiated on an irradiation object.例文帳に追加

加速された荷電粒子ビームを照射対象に照射する前に荷電粒子ビームのエネルギーを確認できる粒子線治療装置を提供することにある。 - 特許庁

The charging device 7 has a power supply side coil 21 at its inside, and the object to be charged W having a power receiving side coil 41 and a storage battery 70 at its inside can be charged in a non-contact manner by the electromagnetic induction of the charging device 7.例文帳に追加

充電器７は給電側コイル２１を内蔵し、受電側コイル４１および蓄電池７０を内蔵した被充電物Ｗは、充電器７によって電磁誘導により非接触で電気を充電しうる。 - 特許庁

To expose a pattern on an object to be exposed by controlling the irradiation light of charged corpuscular beams on the basis of suitably selected correction exposure information and calibration information for correcting the dispersion of irradiation light mutually between charged corpuscular beams.例文帳に追加

適切に選択された補正露光情報と、荷電粒子線相互間で照射光のばらつきを補正するためのキャリブレーション情報とに基づき、荷電粒子線の照射光を制御して被露光体にパターンを露光する。 - 特許庁

To provide an electrostatic atomizing device capable of stably generating mist of electrically charged fine particles for a long period of time without being influenced by negative charge upon discharging mist of electrically charged fine particles into an object space.例文帳に追加

対象空間内に帯電微粒子ミストを放出するに際して、マイナス帯電の影響を受けず帯電微粒子ミストを長時間に亘って安定的に生じさせることのできる静電霧化装置を提供する。 - 特許庁

The neutral particle beam treatment device 10 comprises a charged particle removing means for removing charged particles remaining in the neutral particle beam, and a holding table 48 for holding the treated object 18 irradiated with the neutral particle beam.例文帳に追加

中性粒子ビーム処理装置１０は、中性粒子ビーム中に残留する荷電粒子を除去する荷電粒子除去手段と、中性粒子ビームが照射される被処理物１８を保持する保持台４８とを備えている。 - 特許庁

A radiation field forming device 13 which irradiates a radiation object with a charged particle beam emitted by a charged particle beam generating device 2 is equipped with an RMW device 20.例文帳に追加

荷電粒子ビーム発生装置２から出射された荷電粒子ビームを照射対象に照射する照射野形成装置１３は、ＲＭＷ装置２０を備える。 - 特許庁

The foreign objects, such as, the residual toner adhering to a photoreceptor 2 after the transfer operation and the discharge product are charged by a bias showing a polarity same as that of the charged potential of the foreign object by a first charging member 8.例文帳に追加

転写後に感光体２に付着する残留トナーや放線生成物等の異物が第１帯電部材８により、異物の帯電位と同極性のバイアスで帯電される。 - 特許庁

To provide a charged potential operation device acquiring a charged potential in consideration of the degree of charging and charge relaxation without collecting a PB (Press Board) of a transformer which is an evaluation object.例文帳に追加

評価対象の変圧器のＰＢを採取することなく、帯電度及び電荷緩和を考慮した帯電電位を得ることができる帯電電位演算装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a charge neutralizing method in which high performance and high density charge neutralization of the charged object can be made under a decompression state (in vacuum) even if it is strongly charged and has a three dimensional shape.例文帳に追加

帯電物体を、強帯電であってもかつ三次元形状であっても減圧下（真空中）で高性能かつ高密度の除電ができる除電方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the charge on the electrically charged particle irradiated surface of the object is speedily neutralized by the radical 19 and the build up of the charge and the electrifying can be prevented regardless of the irradiated portion or the non-irradiated portion of the charged particles.例文帳に追加

これにより、対象物の荷電粒子照射面上の電荷をラジカル１９によって速やかに中和することができ、荷電粒子の照射部位、非照射部位に関わらず電荷の蓄積、帯電を防止できる。 - 特許庁

An irradiation field forming apparatus 13 for irradiating an irradiation object with a charged particle beam emitted from a charged particle beam generator 2 is provided with an RMW (Range Modulation Wheel) apparatus 20.例文帳に追加

荷電粒子ビーム発生装置２から出射された荷電粒子ビームを照射対象に照射する照射野形成装置１３は、ＲＭＷ装置２０を備える。 - 特許庁