「charged object」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

IONIZER USING SOFT X-RAY, AND CHARGE ELIMINATING METHOD OF CHARGED OBJECT例文帳に追加

軟Ｘ線を利用したイオナイザー及び帯電物体の電荷除去方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, DIAPHRAGM FOR CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL METHOD, AND OBJECT INSPECTING DEVICE, OBJECT INSPECTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THESE例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム光学装置の絞り、荷電粒子ビーム制御方法、及びこれらを用いた物体検査装置ならびに物体検査方法、及び半導体素子 - 特許庁

The charged object is charged into the bottle body 2, and a beverage can be prepared immediately before drinking the beverage.例文帳に追加

これで投入物がボトル本体２に投入されるので、飲用の直前に飲料を作成することができる。 - 特許庁

The charged particle beam device for irradiating charged particle beam on an object is provided with a heating device to heat the object.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置は、対象物に荷電粒子ビームを照射する荷電粒子ビーム装置において、対象物を加熱する加熱装置１を備える。 - 特許庁

To provide a weighing equipment which can acquire a charging history of charged objects whenever the object is charged on a container.例文帳に追加

投入物がコンテナに投入される度に、投入物の投入履歴を取得できる計量装置を提供する。 - 特許庁

Air blow containing ions destaticizes the object and static electricity charged on the object to remove the attached matter from the object.例文帳に追加

そして、イオンを含んだエアブローによって対象物および対象物に帯電した静電気を除電し、対象物から付着物を取り除く。 - 特許庁

The controller calculates capacity of the charged object based on output from the load cell LC whenever the object is charged on the container 10 while using the input means to acquire the charging history of charged objects.例文帳に追加

制御器は、投入物がコンテナ１０に投入される度に、ロードセルＬＣの出力に基づいて投入された投入物の投入量を演算するとともに、入力手段を用いて投入物の投入履歴を取得する。 - 特許庁

Because the probe 50 is exposed to the outside, and if another charged object exists, the probe 50 is affected by it and gets into a charged state.例文帳に追加

というのも、プローブ５０は外部に露出した状態になるので、他の帯電物があると、その影響により帯電してしまうからである。 - 特許庁

In this device, a test piece 1 is charged, and strips 3 repulsive to one another are brought close to the measured object 4 to detect the charged state of the measured object 4 by the attraction, repulsion, invariableness of the strips 3 to the measured object 4.例文帳に追加

試験片１を帯電し、短冊形が互いに反発した短冊３を被測定物体４に近接し、同短冊３が被測定物体４に吸引、反発、不変等で被測定物体の帯電状態を探知する装置。 - 特許庁

When a charged object 7 and a charged human body come close to an electronic apparatus, since the insulating component 3 concurrently serving as a protective cover too is provided in the switch 1 mounted on the printed circuit board 5, there is no direct discharge from the charged object 7.例文帳に追加

帯電した物体７や人体が電子機器に接近した場合、プリント基板５上に装着されたスイッチ１には、保護カバーを兼ねた絶縁性部品３が設けられているため、帯電した物体７等から直接放電することは無い。 - 特許庁

Therefore, a surface potential of a charged object W can be measured even under such a use condition that the sensor body S can not approach the charged object W due to an interfering matter surrounding it.例文帳に追加

従って、周囲に干渉物があってセンサ本体Ｓを帯電物Ｗに近づけることが不可能な使用状況下であっても、帯電物Ｗの表面電位を計測することが可能となる。 - 特許庁

To equalize the distribution of ranges of charged particles in each irradiation object without forming an angle varying mechanism for the irradiation object, in a device or a method for irradiating each irradiation object with a charged particle beam while rotating a rotating body.例文帳に追加

回転体を回転させながら各被照射物に荷電粒子ビームを照射する装置または方法において、被照射物の角度可変機構を設けることなく、各被照射物中における荷電粒子の飛程の分布を均一化する。 - 特許庁

The surface of the plate-like object 9 is treated by this adjustment while suppressing injection of the charged particles into the plate-like object 9.例文帳に追加

この調節により、板状対象物９への荷電粒子の入射を抑制しながら板状対象物９の表面に処理を施す。 - 特許庁

To provide a non-contact charger which correctly detects the presence or absence of a secondary apparatus as an object to be charged.例文帳に追加

非接触式充電器において、被充電物である二次側機器の有無を正確に検出する。 - 特許庁

The metal powder 13 for an electrode attached to the charged photoreceptor drum 2 is transferred to a thin print object 1.例文帳に追加

薄い被印刷物１に帯電感光ドラム２に付着した電極用金属粉１３を転写する。 - 特許庁

SAMPLE FIXING TABLE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EQUIPPED WITH IT, AND OBSERVATION/ANALYSIS OBJECT PART IDENTIFYING METHOD例文帳に追加

試料固定台、及びそれを備えた荷電粒子線装置、並びに観察／解析対象箇所特定方法 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM FOR PARTICLE-OPTICAL IMAGING OF OBJECT, AND DEFLECTOR FOR CHARGED PARTICLE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

物体の粒子光学的結像のための検査系、荷電粒子用偏向器およびその操作方法 - 特許庁

To provide a gas cupola efficiently melting a charged object by combustion flame of a combustion burner.例文帳に追加

燃焼バーナの燃焼火炎で装入物を効率よく溶解させることができるガスキュポラを提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of dealing with a minute component as an observation object.例文帳に追加

観察対象となる微細部品を取り扱うことの可能な荷電粒子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

The cutter section 12 is provided with a charging port 16 of an object to be treated and a cutter 18 for cutting the object to be treated charged from the charging port 16.例文帳に追加

カッター部１２は、被処理物の投入口１６と、この投入口１６から投入された被処理物を裁断するカッター１８とを備えている。 - 特許庁

To charge a polymer battery provided in a heat insulating device usable in both the case of cooling an object and the case of heating the object and charged by a Seebeck effect.例文帳に追加

対象物を冷却する場合及び加熱する場合の両方に使用可能で、かつゼーベック効果によって内部に備えるポリマーバッテリを充電する。 - 特許庁

To provide a particle beam medical treatment device in which energy of the charged particle beam can be confirmed before the accelerated charged particle beam is irradiated on an irradiation object.例文帳に追加

加速された荷電粒子ビームを照射対象に照射する前に荷電粒子ビームのエネルギーを確認できる粒子線治療装置を提供することにある。 - 特許庁

Accordingly, since the metal 51 is shielded electrostatically, even if another charged object W exists near it, the metal 51 is not affected nor gets into the charged state.例文帳に追加

従って、金属体５１が静電遮へいされるので、近傍に他の帯電物Ｗがあったとしても、その影響を受けて金属体５１が帯電してしまうことがない。 - 特許庁

A radiation field forming device 13 which irradiates a radiation object with a charged particle beam emitted by a charged particle beam generating device 2 is equipped with an RMW device 20.例文帳に追加

荷電粒子ビーム発生装置２から出射された荷電粒子ビームを照射対象に照射する照射野形成装置１３は、ＲＭＷ装置２０を備える。 - 特許庁

An irradiation field forming apparatus 13 for irradiating an irradiation object with a charged particle beam emitted from a charged particle beam generator 2 is provided with an RMW (Range Modulation Wheel) apparatus 20.例文帳に追加

荷電粒子ビーム発生装置２から出射された荷電粒子ビームを照射対象に照射する照射野形成装置１３は、ＲＭＷ装置２０を備える。 - 特許庁

To make it possible to notice the change of particle diameter of charged particle of an object to be measured even with a sole DMA.例文帳に追加

１台のＤＭＡであっても、測定対象の荷電粒子の粒径変化を知ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a practical structure capable of suppressing inclusion of charged particles into a plate-like object.例文帳に追加

板状対象物への荷電粒子の混入を抑制することが可能な実用的な構成を提供する。 - 特許庁

In this charged-particle beam irradiation device, a gas container in which gas including no oxygen is filled is installed on an irradiation route of a charged-particle beam, and the charged-particle beam irradiated from a charged-particle beam irradiation part is irradiated onto an object to be irradiated through the gas container.例文帳に追加

荷電粒子線照射装置において、荷電粒子線の照射経路に酸素を含まない気体が充填されたガス容器が設けられ、荷電粒子線照射部から照射された荷電粒子線がかかるガス容器中を通って被照射体に照射される。 - 特許庁

The charged particle beam device irradiating a charged particle beam 101 onto an object 106, converting a detected signal 104 from the object to image data to display on a screen, includes a charged particle beam control section 3 scanning the charged particle beam in an arbitrary direction and irradiating it to a discrete position on the object, and an image processing system 13 containing an image data rearranging section 5 rearranging the image data.例文帳に追加

荷電粒子ビーム１０１を被対象物１０６に照射し、被対象物からの検出信号１０４を画像データに変換し画面上に表示する荷電粒子ビーム装置であって、荷電粒子ビームを任意の方向に走査し、被対象物上の離散的な位置に照射する荷電粒子ビーム制御部３と、画像データを並び替える画像データ並び替え部５を含む画像処理システム１３とを有する。 - 特許庁

In the charged-particle beam irradiation equipment 1, the controller 6 modifies a scanning speed in the irradiation of an object with the charged-particle beam R along an irradiation line so as to compensate the marginal sections in the dose distributions of the charged-particle beam R.例文帳に追加

荷電粒子線照射装置１では、制御装置６が、照射ラインに沿って荷電粒子線Ｒを照射するときの走査速度を、荷電粒子線Ｒの線量分布における辺縁部が補正されるように変更する。 - 特許庁

To effectively execute static elimination on a front surface or back surface of a flat charged object in a short time by stably supplying a sufficient quantity of air ions required for the static elimination to respective places of the front surface or back surface of the flat charged object.例文帳に追加

平板状の帯電物体の表面または裏面の各所に、その除電に要する十分な量の空気イオンを安定して供給し、該帯電物体の表面または裏面の除電を短時間で効果的に行なう。 - 特許庁

The dried object charged from a charging port is moved in the rotational axial direction with rotation by the drum-shaped barrel body.例文帳に追加

投入口から投入された被乾燥物をドラム状の胴体で回転とともに回転軸線方向に移動させる。 - 特許庁

To provide a static eliminator capable of adjusting balance between the amount of positive ions and that of negative ions which reach a charged object.例文帳に追加

帯電物へ到達するプラスイオンの量とマイナスイオンの量のバランスを調節可能な除電装置を提供する。 - 特許庁

Carbide is mixed in the melting object ash to be charged into an ash melting furnace 6 of the surface melting system in advance.例文帳に追加

表面溶融方式の灰溶融炉６に投入される被溶融灰中に、予め炭化物を混合しておく。 - 特許庁

To present an appropriate bypass route with appropriate timing, when there is an area which can be an object of avoidance (area to be charged).例文帳に追加

回避対象となり得るエリア（課金対象エリア）がある場合に、適切な迂回経路を適切なタイミングで提示する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of spherical aberration on a lens to emit charged particle beam elements precisely onto an object.例文帳に追加

レンズにて球面収差が生じることを防止して、対象物上に荷電粒子線要素を精度よく照射する。 - 特許庁

The foreign objects, such as, the residual toner adhering to a photoreceptor 2 after the transfer operation and the discharge product are charged by a bias showing a polarity same as that of the charged potential of the foreign object by a first charging member 8.例文帳に追加

転写後に感光体２に付着する残留トナーや放線生成物等の異物が第１帯電部材８により、異物の帯電位と同極性のバイアスで帯電される。 - 特許庁

To provide a charged potential operation device acquiring a charged potential in consideration of the degree of charging and charge relaxation without collecting a PB (Press Board) of a transformer which is an evaluation object.例文帳に追加

評価対象の変圧器のＰＢを採取することなく、帯電度及び電荷緩和を考慮した帯電電位を得ることができる帯電電位演算装置を提供することである。 - 特許庁

A nozzle 5 is formed at the upper end of the chamber 1, and the charged particles generated in the chamber 1 are sprayed to a charged body S of a static elimination object through the nozzle 5.例文帳に追加

チャンバ１の上端部にノズル５を設け、チャンバ１内で生成された荷電粒子をノズル５を介して、除電対象となる帯電体Ｓに吹き付けるように構成する。 - 特許庁

In the mask 3 used for selectively irradiating an object to be irradiated with the charged particle beam by selectively transmitting the beam through the mask 3, the region through which the charged particle ray is transmitted is covered with a protective film 6.例文帳に追加

荷電粒子線を選択的に透過させて被露光対象に照射するためのマスク３であって、荷電粒子線を透過させる領域を保護膜６で覆うようにした。 - 特許庁

To provide a charge neutralizing method in which high performance and high density charge neutralization of the charged object can be made under a decompression state (in vacuum) even if it is strongly charged and has a three dimensional shape.例文帳に追加

帯電物体を、強帯電であってもかつ三次元形状であっても減圧下（真空中）で高性能かつ高密度の除電ができる除電方法を提供する。 - 特許庁

The SACP (selected area channeling pattern) method includes a step of sending a charged particle beam to the surface of an object by using the particle optical system, and a step of detecting particle strength of a particle discharged from the object.例文帳に追加

SACP法は、粒子光学系を用いて物体表面に荷電粒子ビームを向けるステップと、物体から放出した粒子の強度を検出するステップとを含む。 - 特許庁

The tree branch shredding machine is equipped with a shredder 4 for shredding an object 9 to be shredded and a feed device 5 for feeding the object 9 to be shredded charged from a charging port 8a in the shredder 4.例文帳に追加

被粉砕物を粉砕する粉砕装置４と、投入口８ａから投入された被粉砕物９を粉砕装置４に送り込む送り装置５とを備える。 - 特許庁

This charged particle irradiation device is provided with a circular accelerator 1 for emitting the charged particle accelerated in the orbital plain 11, a charged particle transporting means 3 for transporting the charged particle accelerated by the circular accelerator 1 through a specified path in the orbital plain 11, and an irradiation device 7 for irradiating an object to be irradiated 9a with the charged particle transported by the charged particle transporting means 3.例文帳に追加

この発明に係る荷電粒子照射装置は、軌道平面１１内で加速された荷電粒子を出射する円形加速器１と、円形加速器１で加速された荷電粒子を軌道平面１１内の所定経路を介して輸送する荷電粒子輸送手段３と、荷電粒子輸送手段３で輸送された荷電粒子を照射対象９ａに照射する照射装置７とを備えている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam in a charged particle beam device having a sample such as a photo-mask as a measurement object, in which a high precision adjustment of the device conditions can be carried out even if charged electrons are deposited on a backside of the sample.例文帳に追加

本発明は、ホトマスクのような試料を測定対象とする荷電粒子線装置において、試料裏面に帯電が付着していたとしても、高精度に装置条件の調整を行い得る荷電粒子線の提供を目的とするものである。 - 特許庁