「limit value test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A current value of each power source is detected from each power source circuit 11a, 12a, etc., from comparators 11d, 12d, etc., during the test, and compared with each limit value, and it is determined whether the current value exceeds a limit value or not.例文帳に追加

試験中にコンパレータ１１ｄ、１２ｄ，・・・により電源回路１１ａ、１２ａ，・・・から電源の電流値を検出して各リミット値と比較しリミット値を超えているか否かを判定する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

The image forming apparatus is also equipped with a setting means for setting a gain of an analog-digital conversion means such as an AFE to an upper limit value or a lower limit value at the test mode.例文帳に追加

また、この上限値が設定された場合と下限値が設定された場合とで、デジタル画像信号が不変であるビットを検出する手段を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of setting an optional upper limit value of the number of error correction times when a test is performed.例文帳に追加

試験時にエラー訂正回数の上限値を任意に設定可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

To provide a method for simply estimating limit sliding speed and a limit PV value of a one-side intermittent slide from limit PV values of a bicontinuous slide measured by a combination of hollow cylinder test pieces.例文帳に追加

、中空円筒試験片同士の組合せで測定された両連続摺動の限界PV値から片側間欠摺動の限界すべり速度および限界PV値を簡便に推算する方法を提供する。 - 特許庁

Regarding n pieces of test pieces, the minimum value of X found by Expression (1) is used as a fracture limit parameter, and it is evaluated that the delayed fracture is not generated when the value of X under the usage condition is less than the fracture limit parameter.例文帳に追加

ｎ本の試験片について、式（１）より求めたＸの最小値を破壊限界パラメータとし、使用条件におけるＸの値が、破壊限界パラメータ未満であれば遅れ破壊を発生しないと評価する。 - 特許庁

This management table 35 compares a bad block allowable total number optionally set to a bad block allowable total number value setting register with the total number of the bad blocks of the test which a bad block total number counter counts, and when a counter value reaches the allowable limit, a flag of upper limit of the bad blocks is set and the test failure is determined.例文帳に追加

この管理テーブル３５は、バッドブロック総数許容値設定レジスタに任意に設定されたバッドブロック総数の許容値とバッドブロック総数カウンタによりカウントされるテストのバッドブロックの総数とを比較し、カウンタ値が許容値に達した際にバッドブロック数上限フラグを立てテストフェイルとする。 - 特許庁

To actualize the verifying device which eliminates the need to prepare a virtual response value file from the start of a virtual test by setting as defaults virtual response value data having a value between the upper-limit and lower-limit value of response values.例文帳に追加

仮想試験の最初から仮想応答値ファイルを用意する必要がなく、簡単な操作により任意のテスト項目をフェイルの仮想応答値に設定でき、各テスト項目の仮想応答値データを容易に把握でき、実機に存在しないモジュールに対して仮想試験でアクセスを行うことを防止できるＩＣテスタ用プログラムの検証装置を実現する。 - 特許庁

Then, when the space value turns into the value which is not originally present, 15T, for example, the control part 24 decides that the test data are incorrectly recorded, and substitutes the upper limit for the jitter value in the recording power to prevent the incorrect determination of the optimum recording power.例文帳に追加

そこで、制御部２４は、スペース値が本来存在しない値、例えば１５Ｔとなった場合には、テストデータが誤記録されたものと判定し、当該記録パワーーにおけるジッタ値を上限値に置き換えて最適記録パワーの誤決定を防止する。 - 特許庁

This semiconductor testing device is provided with a memory 34 storing failure rate specified value information 38 specifying an upper limit of a failure rate of a test for every kind of test in advance and a CPU 32 which measures a failure rate of a semiconductor integrated circuit for every kind of test, compares the measured failure rate with the failure rate specified value information, and judges whether the test is interrupted or not.例文帳に追加

予め試験の種類毎にその試験の不良率の上限を規定した不良率規定値情報３８を記憶するメモリ３４を備え、更に、試験の種類毎に半導体集積回路の不良率を測定し、測定された不良率と上記不良率規定値情報とを比較し、試験を中断するか否かを判断するＣＰＵ３２とを備える。 - 特許庁

However, even if the measured value was lower than the targeted value but exceeded the acceptable exposure concentration limit of 3×10－４mg/m3 that is a limit value calculated from the outcome of the test in long-term carcinogenicity studies in animals in this country, it is recommendable to take further actions as required continually to improve work environment and reduce the concentration of indium in air as much as possible.例文帳に追加

なお、目標濃度以下となった作業場についても、我が国における動物を用いた長期がん原性試験結果により算定したばく露が許容される濃度3×10－４mg/m3を超える場合にあっては、作業環境を改善するため必要な措置を継続的に講じ、できる限り空気中のインジウムの濃度を低減させることが望ましい。 - 厚生労働省

An equalizer 96 includes a gain emphasis part 110 which increases a gain in a specific frequency band, and a gain upper limit setting part 112 which determines an upper limit value of the gain according to a distortion amount contained in a reproduced waveform 104 of the longest pattern 30b recorded in a test recording area 42 in the reproduction period of the test recording area.例文帳に追加

イコライザ９６は、特定周波数帯域のゲインを上げるゲイン強調部１１０と、記録テスト領域４２の再生期間において、該記録テスト領域４２に記録されている最長パターン３０ｂの再生波形１０４に含まれる歪量に応じて、ゲインの上限値を決定するゲイン上限設定部１１２とを有する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

To provide the pattern generating device and method capable of easily generating a pattern such as an address complement pattern without a limit in a maximum value of a line address and a row address, and to provide a semiconductor integrated circuit test device.例文帳に追加

行アドレス及び列アドレスの最大値に制限無く、容易にアドレスコンプリメントパターン等のパターンを発生することができるパターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A test script is generated from the log data, and a computer storing the test script is connected mutually to a specific storage apparatus; then the rising coefficient, based on the temporal change of an erasure count value is computed, and the usage limit prediction time of the specific storage apparatus is computed from the rise coefficient and the maximum value of erasure count displayed on the specific storage apparatus.例文帳に追加

ログデータからテストスクリプトを生成し、このテストスクリプトが記憶されたコンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続して、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算するとともに、この上昇係数と特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、該特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する。 - 特許庁

If the supplied energy or the charge amount using a specific electrode subset 142 as indicated by monitoring test pulse amplitudes suitably compares with a limit value, that specific subset is selected for applying the stimulus signal.例文帳に追加

試験パルス振幅を監視することによって示された、特定の電極サブセット１４２を使用して供給されたエネルギーまたは電荷量が、限度値と適切に比較される場合、その特定のサブセットが、刺激信号を印加するために選択される。 - 特許庁

In the power level adjusting device for adjusting an output power level of a DUT 10 (device under test) whose power can be adjusted from the outside, a power source circuit 11 supplies power to the DUT 10 via a current limit circuit 12, and the current limit circuit 12 limits applies limitation so that a current exceeding a predetermined current value may not be applied to the DUT 10.例文帳に追加

外部からパワー調整可能なＤＵＴ１０の出力パワーレベルを調整するパワーレベル調整装置において、電源回路１１からＤＵＴ１０に対して電流制限回路１２を介して電源を供給すると共に電流制限回路１２によってＤＵＴ１０に所定電流値を超える電流が流れないように制限する。 - 特許庁

To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.例文帳に追加

試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁

A limiter means 20 detects that the sensor output signal outputted at every sampling period ts from the A/D converters 18, 16 continuously exceeds a predetermined limit value by a predetermine number of times and output a stop signal giving a command for stopping the test.例文帳に追加

リミッタ手段２０は、前記Ａ／Ｄ変換器１８、１６から前記サンプリング周期ｔｓ毎に出力されるセンサ出力信号が、予め定めた所定のリミット値を、連続して所定の回数上回ったことを検出して、試験の停止を指示する停止信号を出力する。 - 特許庁