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measuring processの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1250件
Process data from measuring instruments M1 to Mn for a plant P is output to a process data input means 1, and the process data input means 1 stores the process data in a process data storage means 2.例文帳に追加
プラントPの計測器M1…Mnからのプロセスデータはプロセスデータ入力手段1に出力され、プロセスデータ入力手段1は、これをプロセスデータ保存手段2に保存する。 - 特許庁
To provide a measuring device for enabling measuring process independent on an interfering state of signals and without the degradation from predetermined measuring accuracy.例文帳に追加
信号の混信状態に依存せず、所定の測定精度から劣化することのない測定処理が可能な測定装置を得る。 - 特許庁
POLISHING AMOUNT MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MAGNETIC HEAD MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加
磁気ヘッド製造工程における研磨量測定装置および方法 - 特許庁
MACHINING LOAD MEASURING METHOD AND DEVICE OF ROTARY TYPE PROCESS MACHINERY例文帳に追加
回転式加工機械の加工負荷測定方法及び測定装置 - 特許庁
IN-PROCESS MEASURING DEVICE AND METHOD FOR GRINDING WHEEL, AND GRINDING DEVICE例文帳に追加
砥石のインプロセス測定装置と測定方法および研削装置 - 特許庁
A sequential series of processes comprises a storage process (A), an ingredient material carrying process B, a vibrational transportation process C, a measuring dropping process D, a first division process E, a second division process F (Nth division process F'), a division mounting process G and a stroke transportation process H.例文帳に追加
逐次的な一連の工程は、貯留工程A、具材搬出工程B、振動搬送工程C、計量投下工程D、一次分配工程E、二次分配工程F(n次分配工程F')、分配載置工程G、及びストローク搬送工程Hからなる。 - 特許庁
The temperature control process for hardening includes a heating process for hardening, a temperature measuring process for controlling the hardening temperature and a temperature adjusting process for hardening.例文帳に追加
焼入用温度制御工程は、焼入用加熱工程と、焼入温度制御用測温工程と、焼入用温度調節工程とを含んでいる。 - 特許庁
The hardening control process 30 contains a temperature measuring process 35 for hardening, measuring the high temperature part and the low temperature part in the material to be treated, a cooling timing adjusting process 36 and a cooling process 37.例文帳に追加
焼入制御工程30は、被処理物の高温部と低温部との温度が測定される焼入用測温工程35と、冷却タイミング調節工程36と、冷却工程37とを含んでいる。 - 特許庁
A voltage measuring method includes a connection process for connecting a capacitor C in parallel with the battery cell CL in a battery cell unit 2, a charging process for charging the capacitor C by the battery cell CL, a measuring process for measuring a voltage of the capacitor C, and a storage process for storing a voltage value measured in the measuring process.例文帳に追加
電圧測定方法は、電池セルユニット2において、電池セルCLにコンデンサCを並列に接続する接続工程と、電池セルCLでコンデンサCを充電する充電工程と、コンデンサCの電圧を測定する測定工程と、測定工程で測定した電圧値を記憶する記憶工程とを含む。 - 特許庁
A process operation quantity and a process state quantity are measured by a process state measuring means 12, and these process operation quantity and process state quantity are stored in a process state storage means 13.例文帳に追加
プロセス状態計測手段12によりプロセス操作量およびプロセス状態量を計測し、これらのプロセス操作量およびプロセス状態量がプロセス状態記憶手段13に記憶される。 - 特許庁
CONCENTRATION MEASURING METHOD, OXIDIZING-FORCE MEASURING METHOD, OXIDIZING-FORCE CONTROL METHOD AND CONTROL METHOD FOR OXIDATION PROCESS例文帳に追加
濃度測定方法、酸化力測定方法、酸化力制御方法、及び酸化工程の制御方法 - 特許庁
Based on the adopted resist correction value, measuring result is judged by the measuring result judging process (S28).例文帳に追加
採取されたレジスト補正値に基づき、測定結果が測定結果判定処理で判断される(S28)。 - 特許庁
MEASUREMENT DEVICE FOR MEASURING PARAMETER OF BLADE ROTOR AND MEASUREMENT PROCESS FOR MEASURING WITH THE DEVICE例文帳に追加
ブレードロータのパラメータを測定するための測定機器とかかる機器により測定するための測定プロセス - 特許庁
ALIGNMENT METHOD AND OVERLAY MEASURING METHOD IN LITHOGRAPHY PROCESS, ALIGNER, AND OVERLAY MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
リソグラフィ工程におけるアライメント方法およびオーバレイ測定方法、露光装置およびオーバレイ測定装置 - 特許庁
To provide a truck scale capable of measuring the total weight, and measuring even a wheel load and a one-sided weight simultaneously in a measuring process.例文帳に追加
総重量を測定でき、その測定過程において同時に輪重、片荷の重量をも測定できるトラックスケールを提供する。 - 特許庁
MICROPARTICLE DISPERSION, MEASURING COMPOSITION, AND PROCESS FOR DETECTING SPECIMEN例文帳に追加
微粒子分散物、測定用組成物及び被検物質の検出方法 - 特許庁
THERMAL TRANSFER SHEET, ITS PRODUCING PROCESS, AND METHOD FOR MEASURING DISTRIBUTION OF DYE例文帳に追加
熱転写シート、その製造方法および色素分布の測定方法 - 特許庁
REAL-TIME MEASURING METHOD FOR URANIUM OXIDE REDUCTION PROCESS BY METAL LITHIUM例文帳に追加
金属リチウムによる酸化ウラニウム還元工程のリアルタイム測定方法 - 特許庁
In the region determining process, region determination is performed based on the hardness measured in the hardness measuring process.例文帳に追加
領域判定工程では、硬度測定工程で測定された硬度に基づいて、領域判定を行う。 - 特許庁
To provide a method of measuring a process parameter of a semiconductor fabrication process using an optical measurement.例文帳に追加
半導体製造プロセスのプロセスパラメータの測定を光計測を用いて行う方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a process monitoring device which appropriately monitors and records process quantity at a measuring point to which a process quantity detector can not be attached.例文帳に追加
プロセス量検出器が取り付けられない計測点のプロセス量を適正に監視し記録できるプロセス監視装置を得ることである。 - 特許庁
A curl measuring method and a device therefor include a process for holding a sheet, a process for heating the sheet in a noncontact state and a process for measuring deforming force of the sheet.例文帳に追加
シートを保持する工程と;該シートを非接触で加熱する工程と;該シートの変形しようとする力を測定する工程と;を含むカールを測定する方法およびその装置。 - 特許庁
In a measuring process, the value of the first ratio Ms/χ_H* is determined as a measured value from the measured hysteresis/minor loop acquired by measuring the measuring object.例文帳に追加
測定工程で、測定対象を測定して得た測定ヒステリシス・マイナーループから第1の比Ms/χ_H^*の値を測定値として求める。 - 特許庁
The data fetching method has a measuring process for performing measurement according to a region to be measured, a judging process for judging whether the measured value in the measuring process is within a proper range and a calibration process performed when the measured value is judged not to be within the proper range.例文帳に追加
被測定部位による測定を行う測定プロセスと、その測定値が適正範囲であるか否かを判断する判断プロセスと、適正範囲でないと判断された場合に行う校正プロセスとを備える。 - 特許庁
In resist correction value measuring decision process (S28), whether measuring of the resist correction value is necessary or not is judged (S23).例文帳に追加
レジスト補正値測定判定処理(S22)において、レジスト補正値の測定が必要か否かが判断される(S23)。 - 特許庁
To provide a hardness measuring method for measuring the hardness of an object with a sufficient reproducibility in an easy process.例文帳に追加
物体の硬さを簡易な工程で再現性よく測定することができる硬さ測定方法を提供する。 - 特許庁
ANTENNA FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE, AND METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE IN MANUFACTURING/TESTING PROCESS OF MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加
電磁ノイズ計測用アンテナおよび磁気ディスク装置の製造・検査工程における電磁ノイズの計測方法 - 特許庁
ULTRASONIC OSCILLATOR, ITS FABRICATION PROCESS, AND ULTRASONIC FLUID MEASURING APPARATUS例文帳に追加
超音波振動子およびその製造方法、超音波流体計測装置 - 特許庁
SUBSTRATE TEMPERATURE MEASURING METHOD, DEVICE THEREFOR, PROCESS CONTROL METHOD, AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加
基板温度測定方法とその装置及びプロセス制御方法とそのシステム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR IN-SITU-MEASURING FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加
半導体製造プロセスに対するin—situ測定方法および装置 - 特許庁
The method of measuring grain size distribution includes: the process for sampling liquid by the method of sampling liquid; and the process for measuring grain size distribution of liquid.例文帳に追加
粒子径分布の測定方法は、液体採取方法により液体を採取する工程と、液体の粒子径分布を測定する工程とを備えている。 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR DETECTING AND MEASURING END POINT OF POLISHING PROCESS, AND METHOD AND EQUIPMENT FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME FOR DETECTING AND MEASURING END POINT OF POLISHING PROCESS例文帳に追加
研磨加工の終点検出計測方法及びその装置、並びにそれを用いた半導体デバイスの製造方法及びその製造装置 - 特許庁
PATTERN MEASURING METHOD AND INSTRUMENT, AND PATTERN PROCESS CONTROL METHOD例文帳に追加
パターン計測方法及びパターン計測装置、並びにパターン工程制御方法 - 特許庁
METHOD FOR MANAGING QUALITY OF BONDING PROCESS BY MEASURING FEATURE OF WIRE BOND例文帳に追加
ワイヤボンドの特徴を測定してボンディング・プロセスの品質を管理する方法 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING TEMPERATURE IN FOOD MANUFACTURING PROCESS AND ITS DEVICE FOR MEASURING TEMPERATURE例文帳に追加
食品製造工程における温度管理方法とその温度測定装置 - 特許庁
MODIFIED PHOTORESIST LINE/INTERVAL PROFILE DETECTION BY SIGNAL PROCESS OF MEASURING WAVEFORM例文帳に追加
測定波形の信号プロセスによる変則フォトレジスト線/間隔プロファイル検出 - 特許庁
This hybrid water quality measuring device for water treatment process is provided with a water treatment process model supplying means 4 constituting a water treatment process model and water quality measuring means 11, 12, 13 measuring the characteristics of the prescribed measurable water quality element.例文帳に追加
水処理プロセスハイブリッド水質計測装置は、水処理プロセスモデルを構築する水処理プロセスモデル供給手段4と、所定の計測可能水質要素の特性を計測する水質計測手段11、12、13とを備えている。 - 特許庁
To provide an exposure device capable of effecting an exposure process and a measuring process through a liquid with good accuracy.例文帳に追加
液体を介した露光処理及び計測処理を精度良く行うことができる露光装置を提供する。 - 特許庁
An object road centerline input (charting) process is performed (S3) and a roadside building height measuring (charting) process is performed (S4).例文帳に追加
対象道路中心線入力(図化)処理を行い(S3)、沿道建物高さ計測(図化)処理を行う(S4)。 - 特許庁
A measuring process is divided into the first process for measuring the braking force of the brake using the right front wheel Wfr and the left rear wheel Wrl of the vehicle as measuring objects, and the second process for measuring the braking force of the brake using the left front wheel Wfl and the right rear wheel Wrr as measuring objects.例文帳に追加
測定工程を車両の右前輪Wfrおよび左後輪Wrlを測定対象としてそのブレーキの制動力を測定する第1工程と、左前輪Wflおよび右後輪Wrrを測定対象としてそのブレーキの制動力を測定する第2工程とに分ける。 - 特許庁
The analytical method of the floating particulates is provided with a process of catching the particulates, an imaging process, and a measuring process of the particulates.例文帳に追加
本発明の浮遊微粒子分析方法は、微粒子捕集工程と撮像工程と微粒子測定工程とを備えた構成を有する。 - 特許庁
To provide a measuring device measuring movements on a weaving machine, particularly determining speed of thread, facilitating an economic measuring process.例文帳に追加
織機上での動きを監視することができ、特に、糸の速度を計算することができ、経済的な測定プロセスを容易にする、測定装置の提供。 - 特許庁
To provide a method of measuring a three-dimensional shape, advantageous in measuring the three-dimensional shape of a measuring object with higher accuracy while simplifying its process.例文帳に追加
処理の簡素化を図りつつ測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利な3次元形状計測方法を提供する。 - 特許庁
HYBRID WATER QUALITY MEASURING DEVICE FOR WATER TREATMENT PROCESS AND WATER TREATMENT SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加
水処理プロセスハイブリッド水質計測装置及びこれを有する水処理システム - 特許庁
The grinding device is provided with an in-process gauge 11 for measuring a dimension of a workpiece W under machining.例文帳に追加
加工中のワークWの寸法を測定するインプロセスゲージ11を備えている。 - 特許庁
After being processed by a process part 51, measuring results are displayed in a display part 52.例文帳に追加
測定結果は,処理部51で処理された後,表示部52で表示される。 - 特許庁
MEASURING METHOD OF BUBBLE LAYER EXTINCTION PROCESS OF FERMENTED MALT DRINK AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
発酵麦芽飲料の泡層消滅過程の測定方法及びその装置 - 特許庁
To obtain a device and a method for measuring a semiconductor, by which two kinds of processes of a line-width measuring process and a superposition measuring process can be executed collectively in a shared chamber.例文帳に追加
本発明は、線幅測長工程と重ね合わせ測定工程の2種類の工程を共有チャンバ内で一括して実行できる半導体測定装置および半導体測定方法を得る。 - 特許庁
The short-time gradient of the averaged data of the machining process measuring signal is calculated from only past values very close to the value of the averaged data of the machining process measuring signal calculated at S1 at the current measuring point.例文帳に追加
加工プロセス計測信号の所定周期での平均化データの平均的傾きの変化のしかたから外挿によって加工プロセス終了点を予測して終了点判定を行う。 - 特許庁
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