「measuring process」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a degree-of-dispersion estimation method in a dispersing element capable of measuring with simple operation, and obtaining a result rapidly without personal difference by a measuring person, and to provide a process management method in a dispersion process by using the degree-of-dispersion estimation method.例文帳に追加

簡単な操作で測定ができ、測定者による個人差がなく、かつ迅速に結果が得られる分散体における分散度推定方法、およびこれを用いての分散工程の工程管理方法を提供する。 - 特許庁

The temperature measuring method and a method for adjusting the sensitivity related to the temperature of medical equipment having the position sensor have a process for preparing the medical equipment having the position sensor and a process for measuring the voltage of the position sensor.例文帳に追加

温度を測定する方法及び位置センサを有する医療用装置の温度に関する感度を調整する方法は、位置センサを有する医療装置を用意する工程と、位置センサの電圧を測定する工程を有する。 - 特許庁

To prevent excessive standby time or excessive measuring time, i.e. to reduce process unit time in the test process for a piezoelectric oscillation device.例文帳に追加

圧電振動デバイスの試験工程において温度特性を測定する際に余分な待機時間や測定時間がかかるのを防止する、すなわち製造タクトの時間を抑制する。 - 特許庁

In the second place, the thickness of the oxide film which is formed on the substrate is measured in the temperature measuring positions on the substrate which is subjected to thermal process at a specific set temperature of thermal process.例文帳に追加

まず、基板の各温度測定位置において、熱処理により形成される酸化膜厚と熱処理設定温度とを対応づけた校正データを取得する。 - 特許庁

After setting up an initial estimated value of process conditions and estimating the structure of semiconductor device elements by a process simulator, an anticipated value of the physical measuring value by an optical evaluation method is calculated.例文帳に追加

プロセス条件の初期推定値を設定し、プロセスシミュレータによる半導体デバイスの要素の構造の推定を行なった後、物理量測定値の予想値を計算する。 - 特許庁

To enable a sticking foreign matter and pronged products which are two big elements of a failure mode to be removed, and further enhance a rate of operation in a measuring process which is a subsequent process thereof.例文帳に追加

不良モードの二大要素である異物付着、ツノ品を完全に除去することが可能で、ひいては次工程である測定工程の稼働率の向上を図る。 - 特許庁

To obtain a method for inspecting efficiently by incorporating its inspection process in a manufacturing process, when a shape measuring inspection of a thin film magnetic head is performed by SEM.例文帳に追加

ＳＥＭにより薄膜磁気ヘッドの形状測定検査を行う場合において、その検査工程を製造工程中に組み込み、効率よく検査する方法を得る。 - 特許庁

A means is provided for previously inputting or measuring the warp quantity of a wafer occurring in a preceding device manufacturing process every lot or every wafer in lot as a process parameter.例文帳に追加

先行するデバイス製造プロセスで発生したウエハの反り量をプロセスパラメータとしてロット毎またはロット内ウエハ毎に予め入力または計測する手段を設ける。 - 特許庁

PROCESS FOR HOT SHAPING FLAT BOROSILICATE GLASS, HOLLOW GLASS BODY MADE BY THE PROCESS AND USE OF THE SAME AS MEASURING BODY SLEEVE IN NEUTRINO DETECTOR例文帳に追加

平板硼珪酸ガラスの熱成形方法、同方法により製造される中空ガラス体、及び同ガラス体の中性微子（ニュートリノ）検出器中の測定体スリーブとしての使用 - 特許庁

This measuring method of sulforaphane includes a process for separating a sample by liquid chromatography, and a process for detecting sulforaphane by an evaporative light scattering detector.例文帳に追加

スルフォラファンの測定方法であって、試料を液体クロマトグラフィーで分離する工程およびスルフォラファンを蒸発光散乱検出器で検出する工程を含む、前記方法。 - 特許庁

To provide a rework measurement system for measuring the result of a work for countermeasures against any defect generated in a manufacturing process (that is, a rework process).例文帳に追加

製造工程内で発生している不良対策作業（即ちリワーク工程）の作業実績を測定することができるリワーク測定システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

This misalignment measuring method is for measuring the misalignment by finding the misalignment measuring method optimum for a misalignment measuring machine when measuring the misalignment of a pattern formed on a body to be aligned, in a preprocess and the pattern to be transferred on the body to be aligned in a post process following the preprocess, by misalignment measuring marks provided on the respective patterns by using the misalignment measuring machine.例文帳に追加

本合わせずれ測定方法は、合わせずれ測定機を使って、前工程で被露光体上に形成されているパターンと、前工程に続く後工程で被露光体上に転写するパターンとの合わせずれをそれぞれのパターンに設けられた合わせずれ測定マークにより測定するに当たり、合わせずれ測定機に最適な合わせずれ測定手法を見い出して、合わせずれを測定する方法である。 - 特許庁

The invention comprises: a collection process for collecting on a collection surface, particles which float in the air and then sediment; an image-capturing process for capturing images of the particles collected on the collection surface; and a measurement process for measuring particles.例文帳に追加

空気中を浮遊して沈降する粒子を捕集面に捕集する捕集工程と、捕集面に捕集された前記粒子を撮像する撮像工程と、粒子の計測を行う計測工程とを備える。 - 特許庁

The quality of the raw water is measured with a water-quality measuring means 7 in a membrane filtration process, a pollution load on a membrane surface is calculated with an arithmetic means 8, and the process proceeds to a backwashing process with the pollution load as a parameter.例文帳に追加

膜ろ過運転工程中に原水の水質を水質測定手段７により測定し、演算手段８により膜面への汚濁負荷を演算し、その汚濁負荷をパラメータとして逆洗工程に移行する。 - 特許庁

The first evaluation method of emulsion stability includes a heating process for heat-treating the emulsion, a separation process for centrifugally separating the emulsion, after the heating process into water phase and oil phase and a concentration measuring process for measuring the concentration of protein contained in the oil phase and the emulsion stability of the emulsion is evaluated, on the basis of the concentration of protein.例文帳に追加

第一の乳化安定性の評価方法は、乳化物を加熱処理する加熱工程と、加熱工程後の乳化物を遠心して水相及び油相に分離する分離工程と、油相に含まれるタンパク質の濃度を測定する濃度測定工程とを備え、該タンパク質の濃度に基づいて乳化物の乳化安定性が評価される。 - 特許庁

A statistics calculating unit 150 is designed to perform a statistics process of header information analyzed by a packet analyzing unit 130 in every measuring cycle.例文帳に追加

統計計算部１５０は、パケット解析部１３０が解析したヘッダ情報を測定周期毎に統計処理する。 - 特許庁

To provide an AC voltage-measuring device and method with improved response without requiring any process for adjusting an operational amplifier or the like.例文帳に追加

オペアンプ等の調整工程を必要とせず、応答性の良い交流電圧測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Then, it is determined whether a measurement result in the surface void number measuring process is over a prescribed threshold or not (S102).例文帳に追加

次に、前記表面ボイド個数計測工程の計測結果より、所定の閾値以上か否かを判定する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

To provide a sensor for measuring and controlling the pressure, temperature and relative humidity of a gas process flow in a power plant.例文帳に追加

パワープラントのガスプロセス流の圧力、温度、及び相対湿度を測定し、そして制御するためのセンサーを提供する。 - 特許庁

REMOTE NON-CONTACT SONIC SPEED/HEAT CONDUCTIVITY MEASURING METHOD BASED ON MEASUREMENT OF REFLECTED LIGHT OF PULSE LASER INDUCED ELASTIC WAVE ATTENUATION PROCESS例文帳に追加

パルスレーザー誘起弾性波減衰過程の反射光測定による遠隔非接触音速・熱伝導率測定法 - 特許庁

Then, when the measurement is successful, the process is jumped to N1200 (5, 8, 11), and the measured result is registered, and the measuring mode is ended (15, 16).例文帳に追加

そして、計測成功ならＮ１２００へジャンプし（５，８，１１）、計測結果を登録して終了する（１５，１６）。 - 特許庁

To provide a method for measuring a film layer state during various processes such as a semiconductor-manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程をはじめとする種々の工程中において、膜層状態を測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a process-in-line ion-concentration measuring apparatus in which an ion-responsive part can be cleaned easily and which can be made compact.例文帳に追加

イオン応答部を容易に清掃でき、かつコンパクト化できるプロセスインライン用イオン濃度測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a strain sensor material by a simplified process and a strain measuring method by microscopic Raman spectroscopy.例文帳に追加

簡略化されたプロセスによるひずみセンサ材料、および顕微ラマン分光によるひずみ測定方法を提供する。 - 特許庁

The surface of the solid sample is structure-analyzed by measuring the diffusion process of the ^1H spin as ^13C NMR.例文帳に追加

この^1Hスピンの拡散過程を^13C NMRとして測定することにより、固体試料の表面の構造解析が可能となる。 - 特許庁

To provide an inexpensive sound field measuring device capable of detecting band energy by a simple process and constitution.例文帳に追加

簡単な処理および構成によりバンドエネルギーの検出を行うことができる、安価な音場測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluid measuring device capable of reducing man-hours and the number of components in an assembly process.例文帳に追加

組立工程における工数及び部品点数の削減を図ることができる流体計測装置を提供する。 - 特許庁

If it is determined that the blood pressure does not vary, the main measuring process is suspended (NO in the step S16, a step S20).例文帳に追加

血圧変動がなかったと判定された場合には、本測定処理は中止される（ステップＳ１６でＮＯ，ステップＳ２０）。 - 特許庁

To automatically detect the wear of a probe pin in a normal test measuring process concerning a method of monitoring probe pin wear.例文帳に追加

プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。 - 特許庁

WATER CONTENT MEASURING METHOD OF LOW WATER-CONTENT TEA LEAF, DEVICE THEREFOR, AND CONTROL METHOD OF TEA MANUFACTURING PROCESS USING THEM例文帳に追加

低含水率茶葉の含水率測定方法及びその装置並びにこれらを用いた製茶加工工程の制御方法 - 特許庁

This system includes a sensor for measuring impressed voltage to the height of a lift which is used during the stud welding process.例文帳に追加

このシステムは、スタッド溶接プロセスの間に用いられたリフト高さに対する印加電圧を測定するセンサを含む。 - 特許庁

The evaluation method for antifouling performance of antifouling material comprises a process for measuring the surface resistivity of an antifouling material.例文帳に追加

防汚用材の防汚性能の評価方法は、防汚用材の表面抵抗率を測定する工程を含む。 - 特許庁

(1) A process of measuring a gas leakage to cell outside by introducing inactive gas into a gas introduction space of the both electrodes.例文帳に追加

１）前記両電極のガス導入空間に不活性ガスを導入して、セル外部へのガスリークを測定する工程。 - 特許庁

The evaluation method for antibacterial activity of antibacterial material comprises a process for measuring the surface resistivity of an antibacterial material.例文帳に追加

抗菌用材の抗菌活性度の評価方法は、抗菌用材の表面抵抗率を測定する工程を含む。 - 特許庁

MFCA is a system for measuring the flows and stocks of materials (raw materials) in a production process in both physical and monetary units. 例文帳に追加

MFCA は、生産プロセスにおける物質（原材料）のフロートストックを物量と金額の両方で測定するシステムである。 - 経済産業省

To provide a failure diagnostic device for a force or load detection sensor that precisely detects a failure of the force or load detection sensor without reference to a type of a measuring apparatus and a measuring condition of whether measuring operation is in process.例文帳に追加

計量器の種類や計量動作中であるか否かといった計量条件に関わらず、荷重センサの故障を精確に検出することができる力または荷重検出センサの故障診断装置を提供する。 - 特許庁

To realize an indication characteristics measuring device capable of efficiently measuring chromaticity, brightness, contrast and flicker as important administrative items in a control and inspection process of products using a liquid crystal display, for example, with one measuring apparatus.例文帳に追加

１台の測定器で例えば液晶ディスプレイを用いた製品の調整検査工程における重要な管理項目である色度、輝度、コントラスト、フリッカなどを効率よく測定できる表示特性測定装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a temperature measuring instrument capable of measuring a temperature precisely under a plasma generating environment in a process for PVD, CVD, dry etching or the like, and capable of precluding atmosphere from being contaminated even when measuring the temperature in a high temperature range.例文帳に追加

ＰＶＤ、ＣＶＤ、ドライエッチング等の工程におけるプラズマ発生環境下において、精度の高い温度計測が可能で、且つ高温域で温度計測する場合にも雰囲気を汚染することのない温度計測器を提供すること。 - 特許庁

The performance measuring unit 14 instructs the controller 11, to increase the communication traffic measuring time intervals of the traffic measuring unit 13, if detecting a processing performance exceeding a traffic measuring time interval control threshold held by itself, as the communication process becomes a high load, while the traffic measuring unit 13 is measuring traffic data with short time intervals.例文帳に追加

この制御部処理性能測定部１４は、通信トラヒック測定部１３が短い周期でトラヒックデータの測定動作を実行している際に、通信処理が高負荷になって自己が保持しているトラヒック測定周期制御しきい値を超える処理能力を検出した場合に共通制御部１１に対してトラヒック測定部１３の通信トラヒック測定周期の間隔を大きくする指示をする。 - 特許庁

At least a process for measuring materials, a mixing process, a foaming process, a pouring process, and a hardening process are carried out in the ambience where particulates larger than 0.3 μm are fewer than 1000/ft^3.例文帳に追加

ケミカルメカニカルポリシングに用いられる研磨シート用発泡体の製造方法であって、少なくとも原料の計量工程、混合工程、発泡工程、注型工程、及び硬化工程を、０．３μｍ以上の微粒子が１０００個以下／ｆｔ^３ の環境下で行うことを特徴とする研磨シート用発泡体の製造方法。 - 特許庁

A method for generating an image comprises an input process for inputting an expiration value obtained by measuring operator's expiration by an expiration measuring means; and a generation process for generating a computer graphics object, and controls the generation of the computer graphics object in accordance with the expiration value.例文帳に追加

操作者の呼気を呼気計測手段によって測定し得られた呼気値を入力する入力工程と、コンピュータグラフィックスオブジェクトを生成する生成工程とを有し、前記呼気値に応じてコンピュータグラフィックスオブジェクトの生成を制御する。 - 特許庁

This spring measuring method for the one-way clutch 110 is provided with a process for rotatably supporting a cage 108 into which the spring 109 is built and a process for measuring the dimension of the spring 109 or detecting mounting failure of the spring 109.例文帳に追加

一方向クラッチ１１０のばね測定方法であって、ばね１０９が組み込まれた保持器１０８を回転可能に支持する工程と、ばね１０９の寸法を測定、或いはばね１０９の取付不良を検出する工程と、を備える。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring a physical property of an ultraviolet curing resin that is capable of measuring absorption spectrum, as well as viscosity and viscoelasticity simultaneously in the curing process, whereby the load on the measurer is reduced.例文帳に追加

硬化過程における吸収スペクトルおよび粘度、粘弾性を同時に測定できて、測定者の負担が軽減する紫外線硬化樹脂の物性測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of measuring a pattern shape precisely measuring the shape of a semiconductor pattern even if a process margin is narrower for miniaturization of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの微細化に対して、プロセスマージンが狭小な場合でも半導体パターンの形状計測を高精度で行うことができるパターン形状計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring the outer shape of an unvulcanized tire capable of efficiently measuring the circumferential length of the unvulcanized tire and its radial deflection before being transferred to a vulcanizing process.例文帳に追加

未加硫タイヤの周長とその半径方向の振れを加硫工程に移行する前に効率的に測定することのできる未加硫タイヤの外形測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁