「polarization- microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

POLARIZATION CORRECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

偏光補正光学系及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR POLARIZATION OBSERVATION AND MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

偏光観察用対物レンズとそれを備える顕微鏡 - 特許庁

SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION例文帳に追加

三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁

To provide a polarization retention photonic crystal fiber that can easily discriminate a polarization surface by observation using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁

OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE例文帳に追加

光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND POLARIZATION EVALUATING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

近接場光学顕微鏡及びそれを用いた偏光評価方法 - 特許庁

This microscope is provided with a light source 17 emitting coherent light and a polarization variable element 18 changing the phase difference of x-polarization and y-polarization of the light.例文帳に追加

可干渉光を発する光源１７と、この光のｘ偏波とｙ偏波の位相差を変える偏波可変素子１８とを有する。 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a polarization correction optical system that corrects changes in a polarization state caused by an optical system constituting a microscope device, and to provide a microscope device equipped with the polarization correction optical system.例文帳に追加

顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正する偏光補正光学系及びこの偏光補正光学系を備える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization retention photonic crystal fiber for easily discriminating a polarization surface by enlarged observation using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等による拡大観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁

Holography observation is conducted by using a transmission electron microscope mounting a spin polarization electron source.例文帳に追加

スピン偏極電子源を搭載した透過電子顕微鏡を用いてホログラフィー観察をする。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

Since the width directions of the maximum and minimum widths coincide with the polarization direction of the polarization surface, the direction of the polarization surface of the polarization retention photonic crystal fiber 10 can be discriminated by microscope observation from the side of the fiber 10.例文帳に追加

最大幅及び最小幅の幅方向が偏波面の偏波方向と一致しているので、ファイバ１０側方からの顕微鏡観察により、偏波保持フォトニッククリスタルファイバ１０の偏波面の方向が判別する。 - 特許庁

To provide a polarization microscope type crystal orientation analysis apparatus in which analysis is easily performed even in a state that a temperature load is applied on a sample, and to provide a polarization microscope type crystal orientation analysis method.例文帳に追加

試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a Kerr effect microscope realizing the restraint of the lowering of an extinction ratio caused by the irregular polarization of an objective.例文帳に追加

対物レンズの偏光ムラに起因する消光比の低下が抑制されたカー効果顕微鏡を提供する。 - 特許庁

ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE例文帳に追加

電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置 - 特許庁

To provide a confocal microscope that can excite a sample labeled with fluorescent protein to thereby generate fluorescent polarization and perform various functional analysis of the sample by using the generated fluorescent polarization.例文帳に追加

蛍光タンパクにより標識した標本を励起することができ、これにより得られる蛍光偏光により標本の多様な機能解析を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope by which the quality of an observation image in observation using polarization such as differential interference observation is improved by making the polarization state of illumination light better.例文帳に追加

照明光の偏光状態を良好にして、微分干渉観察など偏光を用いた観察時の観察画像の質を向上させた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The photogravure plate cell shape measuring apparatus has a camera microscope 2 having a polarization angle changing means 20, and picks up a plurality of cell images at different polarization angles.例文帳に追加

グラビア版セル形状測定装置には、偏光角度変更手段２０を備えたカメラ顕微鏡２が備えられ、それぞれ異なる偏光角度で複数枚のセル画像を撮像する。 - 特許庁

To provide a compact inexpensive polarizing microscope capable of attaining both of conoscope observation by transmitted illumination and simple polarization observation by vertical illumination.例文帳に追加

透過照明によるコノスコープ観察と落射照明による簡易偏光観察とを両立しうるコンパクトで安価な偏光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The polarization interference microscope (1) for imaging the objects (5) comprises a light source (2), an illumination beam path (6), an imaging beam path (7) and an objective (4).例文帳に追加

対象物（５）を結像するための偏光干渉顕微鏡（１）は、光源（２）、照明ビーム路（６）、結像ビーム路（７）及び対物レンズ（４）を備える。 - 特許庁

In a polarization microscope image of crystals at the surface of an aluminum alloy, when the light and dark contrast in the microscope image is graded into three levels of equal intervals, the area ratio of crystals having each contrast level each falls within the range of 20-50%.例文帳に追加

アルミニウム合金表面の結晶の偏光顕微鏡観察像において、明暗コントラストを３段階に等分したとき、各段階のコントラストを有する結晶の面積分率を、それぞれ２０〜５０％の範囲とする。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

Pulse excitation light from a pulse laser apparatus 6 is converted into a straight line polarization having a specific polarization direction by a polarizing plate 10, and is applied to a 1 μL or less sample in a minute space in a microchip 2 through a microscope 4 from a dichroic mirror 8.例文帳に追加

パルスレーザー装置６からのパルス励起光が偏光板１０により特定の偏光方向をもつ直線偏光にされ、ダイクロイックミラー８から顕微鏡４を通してマイクロチップ２中の微小空間内にある１μＬ以下の試料に照射される。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes; a vacuum evacuation system 13 capable of low vacuum control; an energy dispersion type X-ray detector 14; and a sample holder 15 on which a slide can be mounted, thereby the slide using for observation by a polarization microscope can be mounted on the electron microscope as it is, and the scanning electron microscope can be provided which can perform observation and analysis for the same sample.例文帳に追加

本発明による走査電子顕微鏡は、低真空制御が可能な真空排気系１３と、エネルギー分散型Ｘ線検出器１４と、スライドを搭載できる試料ホルダ１５を有することで、偏光顕微鏡で観察するのに使用したスライドをそのまま電子顕微鏡に搭載することが可能となり、同一試料による観察および分析ができる走査電子顕微鏡の提供が可能となる。 - 特許庁

To efficiently apply a relatively large magnetic field to a measuring target, for a polarization microscope and based on this, to observe the dynamic magnetization response of the measuring target.例文帳に追加

偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁

In the piezoelectric power generating element, a pair of electrodes is arranged on a piezoelectric ceramics layer formed of a ceramics in a range of average grain size of 0.01-0.1 μm by observation using a scanning electron microscope, and the piezoelectric ceramics layer subjected to polarization processing is applied with an external force different from the polarization direction, thereby generating electric potentials.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡観察により平均粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されている圧電セラミックス層に対電極を配置し、分極処理した圧電セラミックス素子に、分極方向と異なる外力を与え電荷を発生することを特徴とする圧電発電素子。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

The separator is obtained by molding a conductive composition comprising graphite particles in which crystallites having a mean size of 1-5 μm are oriented at random when observed under a polarization microscope, and a resin (e.g. a phenolic resin or a polyphenylene oxide resin).例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察したとき、平均サイズ１〜５μｍの結晶子がランダムに配向している黒鉛粒子と、樹脂（フェノール樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂など）とで構成された導電性組成物を成形し、セパレータを得る。 - 特許庁

A microscope (detecting means) 10 observes a polarization holding optical fiber 1 in a direction parallel to an irradiation direction of refractive index varying exciting light A and a computer 18 finds the bearing of the optical fiber 1 according to the observed image.例文帳に追加

顕微鏡（検出手段）１０は、屈折率変化誘起光Ａの照射方向と平行な方向から偏波保持光ファイバ１を観察し、コンピュータ１８は、この観察像に基づいて偏波保持光ファイバ１の方位を求める。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip.例文帳に追加

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁

When the cross section of the resin pellet is observed by a polarization microscope, a spherurite can not be observed in the center part, a lubricant is not contained in the resin pellet and the pellets with an angle of repose of ≤23° when the resin pellets are piled are obtained.例文帳に追加

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。 - 特許庁

Fluorescence generated from the sample is transmitted through the dichroic mirror 8 through the microscope 4, passes through an analyzer (polarizer) 12 set in the same polarization direction as the polarizing plate 10, and then is guided to a streak scope 16 through a cut-off filter 14 for removing excitation light components.例文帳に追加

試料から発生した蛍光は、顕微鏡４を通ってダイクロイックミラー８を透過し、偏光板１０と同一の偏光方向に設定された検光子（偏光子）１２を通過した後、励起光成分を除去するカットオフフィルタ１４を経てストリークスコープ１６に導かれて検出される。 - 特許庁

The subject is solved by the active carbon obtained by activating the oil raw coke whose rate of optical anisotropic organization under polarization microscope observation is 90% or more and rate of an anisotropic organization classified as a sphere in the optical anisotropic organization is 50% or more.例文帳に追加

偏光顕微鏡観察下での光学的異方性組織の割合が９０％以上であり、かつ、光学的異方性組織における球状と分類される異方性組織の割合が５０％以上である石油生コークスを賦活して得られる活性炭により上記課題が達成される。 - 特許庁

The optical filter is provided with two optical elements 1 and 2 operating to separate luminous flux and an optical element 3 which is arranged between those two optical elements and operates to eliminate polarization, wherein at least one of the three optical elements being a microscope element which has a structure finer than the wavelength of incident light and operates to separate luminous flux or eliminate polarization by optical anisotropy.例文帳に追加

光束分離作用を有する２つの光学素子１，２と、これら２つの光学素子の間に配置され、偏光解消作用を有する光学素子３とを有し、３つの光学素子のうち少なくとも１つの光学素子を、入射光の波長より細かい構造の光学的異方性による光束分離作用又は偏光解消作用を持つ微細構造素子として光学フィルタを構成する。 - 特許庁

The biaxially stretched resin film is characterized in that: it is composed of a layer containing a polyethylene terephthalate resin (A) and a layer containing a syndiotactic polystyrene resin (B), which are laminated alternately in total of five or more layers; and absolute value of retardation measured by polarization microscope with Berec compensator is 500 nm or less.例文帳に追加

ポリエチレンテレフタレート系樹脂（Ａ）を含む層とシンジオタクチックポリスチレン系樹脂（Ｂ）を含む層が交互に合わせて５層以上積層されており、ベレック型コンペンセーターを用いた偏光顕微鏡により測定されるレターデーションの絶対値が５００ｎｍ以下であることを特徴とする二軸延伸樹脂フィルム。 - 特許庁

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

Upon using a scanning electron microscope which is loaded with a spin-polarized electron source having a laser 201 and a semiconductor 202, a chirality structure and magnetized vector of polymer inside a testpiece 208 can be visualized by measuring intensity and the degree of spin-polarization of reflected electrons 209 from the testpiece 208 which is irradiated by a spin-polarized electron beam 203 by using a reflected electron detector 210.例文帳に追加

レーザー201と半導体202を備えたスピン偏極電子源等を搭載した走査電子顕微鏡を用いて、スピン偏極電子線203を照射した試料208からの反射電子209の強度やスピン偏極度を反射電子検出器210などを用いて測定することにより、試料208内部の高分子のカイラリティ構造や磁化ベクトルを可視化することができる。 - 特許庁

In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less.例文帳に追加

液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径５μｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁