「pulse testing」に関連した英語例文の一覧と使い方

半導体試験装置の試験周期である周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスの発生を行うことが求められる半導体試験装置において、半導体試験装置が備える所定複数個のタイミングセットを適用すること無く、テストレートの周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスが発生できる周期変換手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁

DIFFERENTIAL TRANSMITTING CIRCUIT, PULSE WIDTH VARIABLE CIRCUIT USING THE SAME, VARIABLE DELAY CIRCUIT AND SEMI- CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

差動伝送回路及びこれを用いるパルス幅可変回路及び可変遅延回路及び半導体試験装置 - 特許庁

To provide a method and device for correcting a pulse width timing error while a high-performance integrated circuit device is being tested by an automatic testing device(ATE).例文帳に追加

自動式試験装置（ＡＴＥ）で高性能集積回路デバイスの試験中にパルス幅タイミング誤差を補正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

The optical pulse testing device includes a plurality of semiconductor lasers (DFB-LD) as testing light sources, and makes output wavelengths of the DFB-LD 2-1 to 2-N mutually different.例文帳に追加

試験光源としての半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ）を複数備え、これらＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力波長を互いに異ならせる。 - 特許庁

In addition, the optical pulse testing device suppresses output light intensity of DFB-LD 2-1 to 2-N up to a degree not generating induced brillouin scattering in a fiber to be tested 18, and increases the intensity of total testing light pulses by wavelength-multiplexing each output light (testing light).例文帳に追加

また、ＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力光強度を、被試験ファイバ１８において誘導ブリルアン散乱を生じない程度にまで抑えるとともに、各出力光（試験光）を波長多重することでトータルの試験光パルスの強度を増加させる。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy.例文帳に追加

光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.例文帳に追加

イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The discharge measurement for impulse testing includes: a discharge detection sensor 2 for detecting a discharge signal occurring in the impulse testing; and a signal deciding part 5 for deciding that the in-oil development discharge occurs by a pulse detected with the discharge detection sensor 2 in a prescribed period after an impulse testing voltage is applied on the power equipment 1.例文帳に追加

この発明に係るインパルス試験用放電計測装置は、インパルス試験時に発生した放電信号を検出する放電検出センサ２と、電力機器１にインパルス試験電圧が印加された後の所定期間内に放電検出センサ２で検出されたパルスにより油中進展放電が発生したことを判定する信号判定部５とを備えたものである。 - 特許庁

A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30.例文帳に追加

比較回路２０は、遅延回路１０に入力されたテスト用入力信号ＩＳのパルスのパルス幅時間と、遅延回路１０のタップＰM〜ＰNから出力される遅延信号ＰM〜ＰNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ３０に記憶する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.例文帳に追加

損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing an input circuit in the semiconductor integrated circuit for inputting a data input signal having a short pulse width.例文帳に追加

短パルス幅のデータ入力信号を入力する半導体集積回路内の入力回路の試験を行うことができる半導体集積回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

To reduce consumption power by reducing the number of uses and thereby lessening the circuit scale as a whole, when a timing pulse generator is applied to an apparatus for testing semiconductors.例文帳に追加

半導体試験装置に適用した場合に、その使用個数を減少でき、これにより全体の回路規模を小さくでき、しかも消費電力の低減化を図ること。 - 特許庁

A current adjustment unit 22 adjusts the compensation pulse currents I_SRC and I_SINK to be generated in the testing process after the calibration, according to the measured power supply voltage V_DD.例文帳に追加

電流調節部２２は、測定された電源電圧Ｖ_ＤＤに応じて、キャリブレーション後の試験工程において生成すべき補償パルス電流Ｉ_ＳＲＣ、Ｉ_ＳＩＮＫを調節する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加

周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a determination can be made about a frequency of an output pulse of a class-D amplifier within a short required time while utilizing a semiconductor testing apparatus.例文帳に追加

半導体試験装置を利用して、短い所要時間でＤ級増幅器の出力パルスの周波数に関する判定を行うことが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an optical pulse tester capable of appropriately performing offset processing even if background light is excessive and of detecting an optical return of weak testing light.例文帳に追加

背景光が過大である場合においてもオフセット処理を適正に行うことができるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a stimulation threshold energy for using together with a double-chamber or a single-chamber heart pacemaker pulse generator (IPG).例文帳に追加

二重室又は単一室心臓ぺースメーカーパルス発生器（ＩＰＧ）と共に使用するための刺激しきい値エネルギーを試験するための装置を提供する。 - 特許庁

The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加

所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁

To realize a pulse light tester capable of setting a suitable distance range by detecting a far end position of the testing optical fiber even there is a variation of noise floor level.例文帳に追加

ノイズフロアレベルの変動があったとしても、被測定光ファイバの遠端位置を検出し、最適な距離レンジを設定する光パルス試験器を実現することにある。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加

周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.例文帳に追加

インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor testing device loaded with a high-speed pulse generation circuit wherein an influence of a current flowing in a parasitic element generated when being integrated is corrected.例文帳に追加

集積化した際に生じる寄生素子に流れる電流の影響を補正した、高速パルス発生回路を搭載した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

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