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reference marksの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 314件
ELECTRIC POLE WITH REFERENCE MARKS例文帳に追加
基準マーク付電柱 - 特許庁
to the Trade Marks Registry shall be construed as including a reference to any office of the Trade Marks Registry. 例文帳に追加
商標登録局(Trade Marks Registry)は,商標登録局の支局をいう場合も含むものと解釈する。 - 特許庁
Among the plurality of synchronous marks, reference marks R are formed at a rate of one per round of a track.例文帳に追加
また、複数の同期マークのうち、トラックの1周に1個の割合で基準マークRが形成される。 - 特許庁
(e)the reference in regulations 20.26 and 20.27 of the Patents Regulations 1991 to the ‘Register of Patent Attorneys’ were a reference to the ‘Register of Trade Marks Attorneys’; and例文帳に追加
(d) 1991年特許規則の20.22(1)(a)における「附則 7における 105と106」は「附則 9における 29または30」 - 特許庁
The registration pattern 121 is set so that all of the reference position of the mark group of black marks 119K, the reference position of the mark group of yellow marks 119Y, the reference position of the mark group of magenta marks 119M and the reference position of the mark group of cyan marks 119C are aligned with one another.例文帳に追加
レジストレーションパターン121は、ブラックのマーク119Kのマーク群の基準位置と、イエローのマーク119Yのマーク群の基準位置と、マゼンタのマーク119Mのマーク群の基準位置と、シアンのマーク119Cのマーク群の基準位置とが全て一致するように設定されている。 - 特許庁
Reference-place marks 17 and 17 are formed in lands 16 and 16.例文帳に追加
ランド部16,16の中に、基準位置マーク17,17が形成される。 - 特許庁
This value marks an undefined, missing, irrelevant or otherwise meaningless section reference. 例文帳に追加
この値は未定義・不明・無関係・無意味なセクション参照の印となる。 - JM
Reference marks 42 are formed on the surface of the first insulating substrate 22, and parts of the second insulating substrate 23 on the reference marks 42 are opened.例文帳に追加
更に第1の絶縁基板22表面に基準マーク42を形成しておき、基準マーク42上方の第2の絶縁基板23は開口しておく。 - 特許庁
On the basis of the position data of the plurality of recognition marks and data relating to normal positions of the plurality of reference marks, by selecting the reference mark from the plurality of recognition marks by the reference mark selection part 100, the position of the correct reference mark is acquired.例文帳に追加
それら複数の認識マークの位置データと複数の基準マークの正規の位置に関するデータとに基づいて、基準マーク選出部100により、複数の認識マークの中から基準マークを選出することにより、正しい基準マークの位置が取得される。 - 特許庁
A reference mark is formed by the angle marks different in modulation characteristics and unified with the rim of the angle marks.例文帳に追加
基準マークは変調特性の異なる角度マークによって形成され、それによって角度マークのリムに統合されている。 - 特許庁
A camera is used to read a plurality of black reference marks respectively provided to both sides of a read window, the reference marks and parts of the background of the reference marks are expressed in a form of histogram, the histogrammed value is compared with a reference value, and the gain of the camera is controlled on the basis of a result of the comparison.例文帳に追加
カメラにより読取窓の両側部にそれぞれ設けた複数の黒色の基準マークを読取り、これら基準マークと当該基準マークの背景部の部分をヒストグラム化し、このヒストグラム化した値を基準値と比較し、その比較結果に基づきカメラのゲインを制御する。 - 特許庁
The encoder includes a reference mark detector for generating the first reference mark signals when the first reference marks pass the reference mark detector.例文帳に追加
エンコーダには、第1基準標識が基準標識検出器を通過した場合に第1基準標識信号を生成する基準標識検出器も含まれている。 - 特許庁
The reference mark position changing mechanism 34 changes the positions of the reference marks 26a, 26b according to the water level reference determined by the water level reference determining means 30.例文帳に追加
水位基準決定手段30によって決定された水位基準に従って、基準マーク位置変更機構34は、基準マーク26a及び26bの位置を変更する。 - 特許庁
Time taken for mark detection sensors 520A and 520B to detect reference marks M1 and M2 from the time when an exposure section 430K starts writing the reference marks M1 and M2 on a photoreceptor 410K are clocked for the reference marks M1 and M2.例文帳に追加
露光部430Kによって感光体410Kに基準マークM1、M2の書込が開始された時からマーク検知センサ520A、520Bによって基準マークM1、M2が検知された時間を基準マークM1、M2について各々計測する。 - 特許庁
(d) regulation 4.14 applies in relation to that application as if the reference in paragraph 4.14(3)(c) to Part 9 of the Trade Marks Act 1995 were a reference to section 23 of the Trade Marks Act 1955.例文帳に追加
(d) 規則4.14(3)(c)における 1995年商標法第 9部についての言及は、1955年商標法第 23条についての言及であるとして、規則 4.14を前記出願に適用する。 - 特許庁
The method for manufacturing the printed wiring board is provided with substrate reference point marks K1-K4 at prescribed positions of a substrate base material 4, and image-displays pattern reference point marks E1-E4 on a liquid crystal display device 8.例文帳に追加
基板基材4の所定位置に基板基準点マークK1〜K4を設け、且つ液晶表示装置8にパターン基準点マークE1〜E4を画像表示する。 - 特許庁
After the carriage motor 45 is started, the two reference marks 47 are continuously detected by a sensor SE2, and the detected both reference marks are specified from a detecting time difference at that time.例文帳に追加
搬送モータ45を起動後、センサSE2で基準マーク47を2個連続して検出し、その時の検出時間差から、検出した両基準マークを特定する。 - 特許庁
The substrate S is formed with a first reference mark P1, a third reference mark P3 and a fourth reference mark P4 each having a predetermined diameter and a second reference mark P2 having a larger diameter than the above reference marks P1, P2, P4.例文帳に追加
基板Sに所定径の第1基準マークP1、第3基準マークP3および第4基準マークP4とこれら基準マークP1、P3、P4より大きい径の第2基準マークP2とを形成する。 - 特許庁
A memory unit 212 stores reference positional information 213 based on the positions of the marks F1, F2 in a reference photographed image T.例文帳に追加
記憶部212は、基準撮影画像T中のマークF1、F2の位置に基づく基準位置情報213を記憶する。 - 特許庁
A switching means regularly switching the reference marks to be adopted.例文帳に追加
また、上記基準マークを相互に定期的に切替えて採用する切替手段を備える。 - 特許庁
In another embodiment, the two reference mark tracks extended in parallel to a measuring direction have the reference marks respectively in at least one-reference positions, the reference marks are constituted to be mirror-symmetric with respect to one axis, and the incremental scale track is arranged between the reference mark tracks.例文帳に追加
別態様は、測定方向に平行に延びる2つの基準マークトラックがそれぞれ少なくとも1つの基準位置に基準マークを有し、基準マークが1つの軸に対して鏡面対称に測定方向に構成され、基準マークトラック間にインクリメンタル目盛トラックを配置する。 - 特許庁
(3) A document required or permitted by this Act to be submitted at the Central Trade Marks Office may be submitted at any trade marks office and reference in this Act to the submission at the Central Trade Marks Office includes reference to the submission at a trade marks office. [Am. Act A881]例文帳に追加
(3) 本法において中央商標局に提出することが要求され又は許可される書類は,何れの商標局にも提出することができ,かつ,本法において中央商標局への提出というときは,前記他の商標局への提出も含まれる。[法律A881による改正] - 特許庁
By using the reference marks 42 as alignment reference, the respective mounting parts 20 are subjected to dicing and separated into individual semiconductor devices.例文帳に追加
基準マーク42を位置あわせ基準として用い、各搭載部20毎にダイシングして個別の半導体装置に分離する。 - 特許庁
Next, multiple electrodes 5 are printed on the green sheet 4 with reference to the reference marks 3 exposed from the cut-out parts 4a.例文帳に追加
次に、グリーンシート4に、切欠き4aから露出された基準マーク3を基準にして、複数の電極5を印刷する。 - 特許庁
The reference pattern 50 is constituted by arranging three or more marks 51 in an array at equal intervals.例文帳に追加
基準パターン50は、3個以上のマーク51を等間隔で1列に並べて構成される。 - 特許庁
Inclination can be corrected by positions of two or more reference marks by the color chart cc.例文帳に追加
このカラーチャートccでは、2以上の基準マークの位置によって傾きを補正することができる。 - 特許庁
To prevent water mark caused by liquid attached to structures on a substrate stage such as reference marks.例文帳に追加
基準マーク等の基板ステージ上構成物に付着した液体によるウォーターマークを防ぐ。 - 特許庁
This value marks an undefined, missing, irrelevant, or otherwise meaningless section reference. 例文帳に追加
この値は未定義・存在しない・無関係その他、意味のないセクションの参照であることを表す。 - JM
A plurality of calibration reference marks 77 are photographed within a camera visual field 26G of a CCD camera.例文帳に追加
CCDカメラのカメラ視野26G内に複数の校正基準用マーク77を撮影する。 - 特許庁
The new mark image is compared with a reference image, prespecified from alignment marks prior to the process.例文帳に追加
新しいマークイメージを工程前の整列マークから予め設定された基準イメージと比較する。 - 特許庁
Accuracy reference marks 23a and 23b are arranged on a Z stage 22Z which carries a wafer 21.例文帳に追加
ウエハ21を載置するZステージ22Zには精度基準マーク23a,23bが設けられている。 - 特許庁
A green sheet 4 on which a pair of cut-out parts 4a is preformed at positions corresponding to reference marks 3 is laminated and crimped on a green sheet 1 on which multiple electrodes 2 and a pair of reference marks 3 are printed and serving as a reference.例文帳に追加
まず、複数の電極2と1対の基準マーク3が印刷された基準となるグリーンシート1の上に、基準マーク3に対応する部分に予め1対の切欠き4aが形成されたグリーンシート4を積層し、圧着する。 - 特許庁
Reference marks 40, 41 printed on a white reference part 24 of an original guide 21 at a prescribed distance in a main scanning direction are scanned and the interval between the reference marks 40, 41 is measured before reading an original on the basis of image data.例文帳に追加
原稿ガイド21の白基準24上に主走査方向に所定距離離間して印刷される基準目印40、41を走査し、画像データに基づいて基準目印40、41の間隔を原稿読み取り前に測定する。 - 特許庁
By printing registration marks for color printing 110, 120 and 130 having reference color marks 111, 121 and 131 and measuring color marks 112, 122 and 132 consisting of similar figures, the centers of each of which coincide with each other, on a paper, the relative positional slurs between the reference color marks and the measuring color marks printed on the paper are determined as registration slurs.例文帳に追加
互いに中心が一致した相似形の基準色のマーク111,121,131と測定色のマーク112,122,132とを有するカラー印刷用見当マーク110,120,130を用紙に印刷し、上記用紙に印刷した基準色のマークと測定色のマークの相対的な位置ずれを見当ずれとして判定する。 - 特許庁
The alignment camera corrected with a reference pattern of a reference scale is used to image 1st to 3rd marks formed on a member for correction.例文帳に追加
基準スケールの基準パターンにて校正されたアライメントカメラで校正用部材に形成された第1〜第3のマークを撮像する。 - 特許庁
In a system control part 100, the image is formed, not using the reference mark which is decided as the abnormal one, but using other normal reference marks.例文帳に追加
システム制御部100は異常と判定した基準マークを使用せず、他の正常な基準マークを基準として画像を形成する。 - 特許庁
To provide a printing data processor and a control program, which can avoid a problem that reference marks (so-called register marks) for cutting may be left after the cutting.例文帳に追加
断裁用の基準マーク(いわゆるトンボマーク)が断裁後に残存する問題を回避することができる印刷データ処理装置及び制御プログラムの提供。 - 特許庁
Distortion is calculated using a plurality of reference marks (236) in a peripheral portion of a reticle and measuring deviations in the relative positions of peripheral marks over time.例文帳に追加
歪みはレチクルの周辺部の複数の基準マーク(236)を用いて、周辺マークの相対位置の経時的な偏差を測定することで計算される。 - 特許庁
Further, suitable measurement marks are selected out of the calibration marks, and relative positions thereof are detected by a reference mark constituted at a wafer side.例文帳に追加
更に、それらのキャリブレーションマークの中から適切な計測マークを選択し、それらの相対位置を、ウエハ側に構成された基準マークによって、検出する。 - 特許庁
The holder has marks 34 for matching phases of all two-stage gears 22 by matching marks 29 indicating reference positions in the rotation direction of each two-stage gear 22.例文帳に追加
各二段ギヤ22の回転方向の基準位置を示すマーク29を合わせて全ての二段ギヤ22の位相を一致させるマーク34を備えた。 - 特許庁
To obtain the reference hole coordinates reflecting position errors of each of guide marks by observing three or more guide marks disposed on an inner layer of a multilayer printed wiring board.例文帳に追加
多層プリント配線板の内層に配置された3個以上のガイドマークを観測して、各ガイドマークの位置の狂いを反映した基準穴座標を求める。 - 特許庁
When the atmospheric pressure varies, a volume of a reference plate 6 used in measuring the base line quantity changes, and as a result, an interval between reference marks (an interval between reference marks 7A and 7B and a reference mark 8, for example) formed on the reference plate 6 changes by the change in volume, causing a difference in the base line quantity.例文帳に追加
気圧の変動が生ずるとベースライン量を測定する際に用いられる基準板6の体積変化が生じ、この体積変化により基準板6に形成された基準マークの間隔(例えば、基準マーク7A,7Bと基準マーク8との間隔)が変化してベースライン量の誤差が生ずる。 - 特許庁
In the concrete, reference arrow marks 46, 48 are displayed and plural timing guide marks 50, 62 gradually approaching the reference arrow marks 46, 48 are displayed on a game screen 40 to guide the situation of gradually coming step timing to a player.例文帳に追加
具体的には、基準矢印マーク46,48を表示するとともに、ゲーム画面40において該基準矢印マーク46,48に徐々に接近する複数のタイミング案内矢印マーク50,62を表示して、ステップのタイミングが徐々に到来する様子をプレイヤに案内する。 - 特許庁
Furthermore, a cleaning part 57 cleaning a pin holder endowed with the robot hand is set nearby the reference marks.例文帳に追加
さらに、ロボットハンドが備えるピン保持手段をクリーニングするクリーニング部57を基準マークの近傍に設ける。 - 特許庁
A plurality of instruction marks IM are at rest while the reference mark RM moves to the tempo of the music.例文帳に追加
複数の指示マークIMが静止状態にあり、基準マークRMが楽曲のテンポに応じて移動する。 - 特許庁
To improve recognizability of alignment marks which are used as reference positions in the case electronic parts are mounted on a counter substrate.例文帳に追加
対向基板に電子部品を実装する際の基準位置となるアライメントマークの認識性を高める。 - 特許庁
The reflection spectrum is compared with reference marks G91, G93, and G96 to determine presence or absence of a misalignment.例文帳に追加
この反射スペクトルは基準マークG91、G93、G96と比較され、ミスアライメントの有無を判断する。 - 特許庁
The reference marks 26a, 26b are provided movably in the vertical direction of the level gauge body 24.例文帳に追加
基準マーク26a及び26bは、レベルゲージ本体24の上下方向に移動可能に設けられる。 - 特許庁
The building panels 1 have reference marks 4 having a predetermined positional relations to the uneven patterns 3.例文帳に追加
凹凸パターン3と所定の位置関係を有する基準マーク4を施して建築パネル1を形成する。 - 特許庁
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| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
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| Copyright (c) 2001 Robert Kiesling. Copyright (c) 2002, 2003 David Merrill. The contents of this document are licensed under the GNU Free Documentation License. Copyright (C) 1999 JM Project All rights reserved. |
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