「sample board」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SAMPLE DISPLAY BOARD HOLDER FOR DUMMY CAN AND DUMMY CAN例文帳に追加

ダミー缶における見本表示板ホルダー、およびダミー缶 - 特許庁

To provide a sample display board holder for dummy can which can increase the height difference of a holdable sample display board.例文帳に追加

保持できる見本表示板の高低差を大きくすることができる、ダミー缶における見本表示板ホルダーを提供する。 - 特許庁

ASBESTOS ANALYSIS METHOD IN PLASTER BOARD, AND ANALYSIS SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加

石膏ボード中のアスベスト分析方法及び分析試料作製方法 - 特許庁

To provide an image reader which compares the shading sample data of a white board with the shading sample data stored in a memory and, in the case that there is a difference, urges the user to reinput a white board data.例文帳に追加

白板のシェーディングサンプルデータとメモリに格納されているシェーディングサンプルデータを比較し、差がある場合は、白板データの再入力をユーザーに促す。 - 特許庁

To obtain a merchandise sample with which a sample display board can be detained to a holder without using double coated tacky adhesive tapes.例文帳に追加

両面粘着テープを使用することなく、見本表示板をホルダーに留めることができる商品見本を提供する。 - 特許庁

If the exposure conditions are not across-the-board for all the plates, all the plates are used as sample plates; and if the conditions are across-the-board, the predetermined number of header plates are used as sample plates.例文帳に追加

露光条件が全てのプレートについて一律でない場合には、全てのプレートをサンプルプレートとし、一律である場合には、所定数の先頭プレートをサンプルプレートとする。 - 特許庁

The negative ions in the impurities are introduced in the surface of the sample 9 which is held on a sample board 10 in the chamber 2.例文帳に追加

不純物の負イオンはドーピング室２の試料台１０に保持されている被加工試料９の表面に導入される。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁

By irradiating a solubilizer agent excitation laser pulse beam from the solubilizer laser pulse beam irradiation part 12 to a sample arranged on the sample board 1, the solubilizer in the sample becomes an excitation state.例文帳に追加

可溶化剤レーザパルス光照射部１２から、試料台１に配置された試料に、可溶化剤励起用レーザパルス光を照射することにより、試料中の可溶化剤が励起状態になる。 - 特許庁

To provide a small sample board suppressing damages and position drift of a sample and changing a tilting angle of a sample easily even in a charged particle beam application device having no mechanism to change the tilting angle of the sample.例文帳に追加

試料の傾斜角度を変更する機構を有しない荷電粒子線応用装置においても，試料の損傷や位置ずれを抑え，取扱容易に試料の傾斜角度を変更できる小型の試料台を提供する。 - 特許庁

A cutter rail 11 and a sample stage rail 12 are laid on a board 10 in the directions intersecting perpendicularly to each other.例文帳に追加

基板１０上にカッターレール１１と試料台レール１２とを直交する向きに設置する。 - 特許庁

To provide a method of applying a coupling material by which a bio-sample (ligand sample) can be applied uniformly to a measuring board in an arbitrary measuring range.例文帳に追加

測定基板上の任意の測定範囲において生体試料（リガンド試料）を均一に塗布するためのカップリング材の塗布方法を提供する。 - 特許庁

In the testing device, a sample stage 3 is mounted slidably on a board 12, and the sample stage 3 is moved or rotated by movement of at least one of both ends of the sample stage 3.例文帳に追加

本発明は、定盤１２上にスライド可能に試料載置台３を載置し、この試料載置台３の両端部の双方又は一方の可動により、試料載置台３を移動させ、また回転させる。 - 特許庁

After an electrode catalyst sample S is placed on a sample placement board 110, a hydrogen gas of 80 degrees C is distributed in a sample storage device 100 via a hydrogen gas supply device 200 for 15 minutes.例文帳に追加

電極触媒試料Ｓを試料載置台１１０に載置して水素ガス供給装置２００を介して８０℃の水素ガスを１５分間にわたって試料収容装置１００内に流通させる。 - 特許庁

A measurement sample S is a board-shaped stainless steel containing neutron absorbing material, such as boron or the like.例文帳に追加

測定試験体Ｓはボロン等の中性子吸収物質を含んだ板状のステンレス鋼である。 - 特許庁

When extracting the sample point in a calibration board 2 on the image as the calibration board 2, a white sample point is disposed on a black ground, and a white frame is provided surrounding the entire object having the black ground.例文帳に追加

画像上のキャリブレーションボード２におけるサンプル点を抽出する場合において、キャリブレーションボード２として、黒地に白のサンプル点を配置し、この黒地の対象物全体を囲むように白い枠を設けている。 - 特許庁

A display rack main body having an installation part of the solid merchandise sample and a front end board which restricts a front end lower part position of the solid merchandise sample on the front end of the installation part is provided with a sample support for selectively supporting the solid merchandise sample or the sheet-like merchandise sample to be freely movable in its forward and backward directions.例文帳に追加

立体商品見本の載置部を有し、上記載置部の前端に立体商品見本の前端下部位置を規制する前端板を備えた展示棚本体に、立体商品見本またはシート状商品見本を選択的に支持する為の見本支持体をその前後方向に可動自在に備える。 - 特許庁

A tobacco sample 1 simulating a box in which tobacco is housed consists of the bendable sample display board 2, a holder 3 and a fixing member 4 assembled to the holder 3.例文帳に追加

タバコが収容される箱を模したタバコ見本１は、屈曲可能な見本表示板２と、ホルダー３と、そのホルダー３に組み付けられる固定部材４とからなる。 - 特許庁

To provide an appraisal board for sample rice grains capable of distinguishing a developing state, existence or nonexistence of damaged grains and existence or nonexistence of discoloration and its degree in sample rice grains.例文帳に追加

サンプル米粒における発育状態、被害粒の有無、変色の有無及びその程度を見分けることが可能なサンプル穀粒の鑑定用盤を提供する。 - 特許庁

The aperture and sample board load drive parts 17 and 18 control motors 19 to 23 in accordance with the converted value.例文帳に追加

アパーチャ及び試料台負荷駆動部１７、１８はその換算値に応じてモータ１９〜２３を制御する。 - 特許庁

Moreover, a crystal can be manufactured over a wide region by utilizing a movable sample board 4.例文帳に追加

また、移動可能な試料台４を利用することで、広範囲に渡る領域に結晶を製造することができる。 - 特許庁

To provide a product sample display device of a vending machine, which uses no sample board to uniformly irradiate a product sample with high luminance, improves work efficiency in displaying the product sample, and reduces power cost and replacement maintenance of a light source.例文帳に追加

サンプル台を用いないことにより、商品見本を高輝度にかつ均一に照射させるとともに、商品見本の展示作業性を向上させ、さらには電力コストや光源の交換メンテナンスを少なくすることができる自動販売機の商品見本の表示装置を提供すること。 - 特許庁

The sampling device includes a board for placing the sample of minute article, a probe for moving the sample of minute article, and electron beam radiating means for charging the sample of minute article.例文帳に追加

前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

Infrared light is condensed on the sample such as the semiconductor board, the liquid crystal board and the like and a mirror for reflecting the infra-red light is provided on a back face of the testpiece and then scan is executed.例文帳に追加

半導体基板や液晶基板などの試料上に赤外光を集光し、試料裏面には赤外光を反射するミラーを配置した上で走査する。 - 特許庁

A flexible board 51 of a test subject is fixed on a sample stage 11, and one end of the flexible board 51 is fixed to an operating side 15b of a bending mechanism 15.例文帳に追加

試料ステージ１１上に被試験体であるフレキシブル基板５１が固定され、フレキシブル基板の一端が折り曲げ機構１５の作動辺１５ｂに固定される。 - 特許庁

Further, the sample display board 2 has the first parts 2d to be fixed which are extended from the rear ends of the flank parts 2b.例文帳に追加

さらに、見本表示板１は、側面部２ｂ、２ｂの後端から延設される第１の被固定部２ｄ、２ｄを備える。 - 特許庁

To provide a mechanism in which ions in the vicinity of a surface of a sample board are collected to the maximum in a desorption ionization method.例文帳に追加

デソープションイオン化方法において、試料台表面近傍のイオンを最大限に捕集する機構を提供する。 - 特許庁

The sample 30 has a structure in which the Si chip is mounted on a printed board and these are sealed with a mold.例文帳に追加

ここで、試料３０は、プリント基板上にＳｉチップが搭載され、それらがモールドにより封止した構造である。 - 特許庁

Means 20 for setting the sample stage 15 to move along the sample stage rail 12 by the interval of cuts made by means of the cutter 6A is disposed on the board 10.例文帳に追加

基板１０上には試料台１５を試料台レール１２に沿ってカッター６Ａによる切れ目の間隔だけ移動するように規定する切れ目間隔移動設定手段２０を配置する。 - 特許庁

When an entry word "custom" is looked up, if there is registration information of a sample sentence for the entry word to which a marker M1 was applied before, the sample sentence with the marker M1 "the board ..." is also developed and displayed on a corresponding section of explanatory information (G1) of the entry word.例文帳に追加

見出し語検索した見出し語「custom」について、過去に同見出し語の例文にマーカＭ１を付加した登録情報があれば、そのマーカＭ１付きの例文[the board …]も同見出し語の説明情報（Ｇ１）の該当個所に展開されて表示される。 - 特許庁

Alternatively, a face lower than that on which a sample is placed is installed by providing level difference on the sample board, and an opening bottom face of the ion capturing port having the width and the height equal to or more than the spread of the generated ions is installed lower than the face on which the sample is loaded.例文帳に追加

または、試料台に段差をつけて試料の積載された面よりも低い面を設け、生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口の開口部底面を、試料の積載された面よりも低く設置する。 - 特許庁

An electrolyte film/electrode pinching body 10 composed of the electrolyte film and the electrode carrying a catalyst is installed on a sample board 12.例文帳に追加

試料台１２の上に、電解質膜と触媒を担持した電極よりなる電解質膜・電極狭持体１０を設置する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CALIBRATING BOARD, SAMPLE HOLDING METHOD, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION METHOD例文帳に追加

試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置，回路パタ—ン検査装置，荷電粒子線応用装置，校正用基板，試料の保持方法，回路パタ—ン検査方法、および、荷電粒子線応用方法 - 特許庁

The sample display board 2 has a front part 2a which is wound around the holder 3 and forms the front of the tobacco sample 1 and flank parts 2b which are extended from the respective right and left side ends of the front part 2a and form the respective right and left flanks of the tobacco sample 1.例文帳に追加

見本表示板２は、ホルダー３に巻き付けられて、タバコ見本１の前面を形成する前面部２ａと、その前面部２ａの左右の各側端から延設されてタバコ見本１の左右の各側面を形成する側面部２ｂ、２ｂとを備える。 - 特許庁

To provide a method for measuring the conductivity of the interface between the metal layer and a dielectric board of a sample having the metal layer formed in the board or the surface of the layer by suppressing the warp of the sample in the measurement of the conductivity of the layer.例文帳に追加

金属層界面の導電率測定において、試料の反りの発生を抑制し、同時に誘電体基板の内部に金属層が形成された試料における金属層の誘電体基板との界面や金属層の表面における導電率の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma treatment method where the burning of a sample can be prevented, to provide a satisfactory copper clad laminate and a satisfactory printed circuit board free from burning using the plasma treatment method, and to provide a method for producing the printed circuit board.例文帳に追加

試料の焼損を防ぐことができるプラズマ処理法、ならびにこれを用いて焼損のない、良好な銅張積層板およびプリント配線基板、その製造法を提供する。 - 特許庁

An ion capturing port having a width and a height equal to or more than spread of generated ions is installed and is positioned so as to be contacted with the sample board.例文帳に追加

生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口を設け、これを試料台に接するように位置させる。 - 特許庁

A printed board sample S is disposed on the underside of the supporting plate 3 and a bonding wire W extends upward through the through hole in the supporting plate 3.例文帳に追加

プリント基板試料Ｓは支え板３の下側に配置されボンディングワイヤＷは支え板３の貫通穴を通して上方に延びている。 - 特許庁

Further, the shielding plate is switched from shielding to unshielding in conjunction with a pull-out operation of pulling out the sample shelf board in a forward sliding manner.例文帳に追加

また遮蔽板は、見本品棚を前方スライドで引き出す引出し操作に連動させて遮蔽から遮蔽解除への切替えを行う。 - 特許庁

The first parts 2d to be fixed of the sample display board 2 are fixed to the holder 3 in a manner as to be held between the holder 3 and the fixing member 4.例文帳に追加

そして、見本表示板２の第１の被固定部２ｄ、２ｄは、ホルダー３と固定部材４とに挟まれるようにして、ホルダー３に固定される。 - 特許庁

An OBIRCH device M scans a sample T placed on a tester board 4 with laser beams and allows current to flow, detects a change in the resistance of the sample T by a change in current, and detects defects.例文帳に追加

ＯＢＩＲＣＨ装置Ｍは、テスターボード４の上に載置された試料Ｔにレーザビームを走査しながら照射するとともに電流を流し、電流の変化により試料Ｔの抵抗値変化を検出して、欠陥の検出を行う。 - 特許庁

At an inspection frame-setting section 8, a solder inspection frame is set based on a sample board, and the printing state of cream solder C that is provided on the printed circuit board K is inspected at a solder printing inspection section 9.例文帳に追加

検査枠設定部８では、見本基板に基づいてはんだ検査枠が設定され、該検査枠につき、はんだ印刷検査部９ではプリント基板Ｋ上に設けられたクリームはんだＣの印刷状態が検査される。 - 特許庁

This apparatus is equipped with a focused ion beam optical system and electron optical system in the same evacuation device and a manipulator, to separate a trace sample, including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and to pick up the separated trace sample, and a manipulator control device for driving the manipulator, independently of a wafer sample board.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するマニピュレータと、該マニピュレータをウェーハ試料台と独立に駆動するマニピュレータ制御装置を備えた。 - 特許庁

To provide a method of detecting and analyzing foreign matter on a sample such as a semiconductor board, a liquid crystal board and the like in the stage of manufacturing processes in the same apparatus which enables accurate inspection in a short time, and an apparatus using it.例文帳に追加

製造プロセス段階の半導体基板や液晶基板などの試料上の異物検出と分析を同一装置内で行い、検査時間が短く高精度な異物検査分析方法およびそれを用いた装置を提供する。 - 特許庁

DC voltage is supplied to a printed circuit board 20 from a power source side, and LED lamps 21R, 21G, 21B are turned on to illuminate the commodity sample 11 from inside.例文帳に追加

電源側からプリント基板２０に直流電圧が供給され、ＬＥＤランプ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂが点灯し、商品見本１１を内側から照明する。 - 特許庁