「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(119ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an engine testing device for efficiently absorbing vibration generated by an engine as compared with a conventional engine testing device.例文帳に追加

従来のエンジン試験装置によるよりもエンジンで発生した振動を効率的に吸収することができるエンジン試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an abrasion testing method and abrasion testing apparatus for accurately evaluating the abrasion characteristic of an actual material by testing the abrasion of a specimen in a state close to an actual abrasion state.例文帳に追加

試験体の摩耗を実際の摩耗状態に近い状態で試験することによって実際の材料の摩耗特性を正確に評価することができる摩耗試験方法及び摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device for experimentally testing for a prescribed period operation of a power distribution system linking a distributed power source.例文帳に追加

分散型電源を連系した配電系統の運用を所定期間にわたり実験的に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To output results of testing different storage devices from different output terminals, when simultaneously testing the storage devices having the same configuration.例文帳に追加

同一構成の記憶装置を複数同時にテストする際、異なる記憶装置のテスト結果を互いに異なる出力端子から出力させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having high versatility that can perform a favorable testing with less crosstalk even if an efficient way to use pins is employed.例文帳に追加

ピンの有効利用形態をとる場合でも、クロストークの少ない良好な試験が可能な、汎用性の高い半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device which is capable of testing the electrical properties of the semiconductor device with high accuracy before an assembly process is carried out.例文帳に追加

アセンブリ工程より前に行なう電気的特性のテストを精度良く行なうことができる半導体素子のテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUNCTION OF ACTIVE FINE- STRUCTURE ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING ACTIVE FINE ELEMENT USING THE TESTING METHOD例文帳に追加

能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法 - 特許庁

To provide a tire crack testing method which enables a reduction in facility cost while reproducing a crack that occurs in the market by testing indoors.例文帳に追加

市場で発生するクラックを室内試験で再現しながら、設備コストを低減することが可能なタイヤクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

Based on these status signals, the external testing device can decide whether the data are set to be loaded on each mixed memory, or to be disregarded, thereby enabling the outer testing device to reduce the testing time for the memory of the device.例文帳に追加

これらの状態信号に基づいて、外部試験装置は、どのデータセットを各メモリ混載アレーからロードすべきか、無視すべきかを判断することができ、それによりデバイスに対するメモリ試験時間を減少する。 - 特許庁

The automatic polishing method of the bedrock testing surface is so constituted that the bedrock testing surface is automatically polished with a polishing disc to form the finished surface.例文帳に追加

岩盤の試験面を研磨ディスクで自動的に研磨して仕上げ面を形成するようにした岩盤試験面の自動研磨方法とした。 - 特許庁

To provide a microcomputer with a built-in nonvolatile memory that can reduce testing cost, by omitting the process of testing a microcomputer part with a logic tester.例文帳に追加

ロジックテスターによるマイコン部の検査の工程を省略し検査コストを削減できるような不揮発性メモリ内蔵マイコンを提供する。 - 特許庁

To readily and accurately provide a hepatitis C testing method capable of grasping the extent of advance of hepatitis C, and to provide a hepatitis C testing device.例文帳に追加

容易かつ正確にＣ型肝炎の進行度を把握できるＣ型肝炎検査方法およびＣ型肝炎検査装置を提供すること。 - 特許庁

An analysis device 30 is provided, which analyzes the result of the testing of a plurality of devices under test, having the same configuration by a testing device.例文帳に追加

同一の構成を有する複数の被試験デバイスを試験装置により試験した試験結果を解析する解析装置３０を提供する。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample.例文帳に追加

試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁

In response to it, the parallel testing devices 2-1 to 2-N execute the parallel testing programs P-1 to P-N and perform testing processing to a DUT 4 by measuring devices 3-1 to 3-N.例文帳に追加

これに応答して、並列試験装置２−１〜２−Ｎはそれぞれ、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを実行して、計測用装置３−１〜３−Ｎを用いてＤＵＴ４に対する試験処理を行う。 - 特許庁

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal.例文帳に追加

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する被試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

SOCKET DISCRETE TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND CIRCULATORY TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ソケット分離型半導体試験装置、ソケット分離型半導体試験方法、循環型半導体試験装置、および循環型半導体試験方法 - 特許庁

A test signal IS from the maintenance testing device X is inspected by the relay inspecting circuit Fi and a maintenance inspecting circuit B of the maintenance testing device X.例文帳に追加

保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを、中継検査回路Ｆ_i と保守試験装置Ｘの保守検査回路Ｂとで検査する。 - 特許庁

To provide an impact testing machine for a gear, capable of testing a meshing part of a gear by applying such a tangential shearing load as that in a rotation time.例文帳に追加

歯車の噛合部に、回転時のような接線方向の剪断荷重を作用させて試験できるギヤの衝撃試験機を提供すること。 - 特許庁

This general-purpose testing tool 30 for testing the electronic device 20 such as a bare printed circuit board includes a plurality of address-specifiable contacts 200.例文帳に追加

ベアプリント回路基板等の電子デバイス２０をテストするための汎用テスト治具３０は、複数のアドレス指定可能な接点２００を含む。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform.例文帳に追加

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a technology capable of reducing consumption of electric power, at the testing of semiconductor integrated circuit devices (LSIs), in a testing system for LSI.例文帳に追加

半導体集積回路装置（ＬＳＩ）のテストシステムにおいて、ＬＳＩテスト時の消費電流を低減することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide the ATS ground equipment capable of automatically and periodically testing the performance, and a performance testing method of the ATS ground equipment.例文帳に追加

性能試験が自動的、定期的に容易におこなえるＡＴＳ地上装置、及びＡＴＳ地上装置の性能試験方法を提供する。 - 特許庁

When the driver 31 is off, the electric potential of the common testing electrode 39 turns into a potential v1 of testing power source V1 to be input into a detector 43.例文帳に追加

ドライバ３１がオフではテスト用共通電極３９の電位は検査用電源Ｖ1 の電位ｖ1 となって検知器４３に入力される。 - 特許庁

To provide a water-flow testing device 50 for testing a turbine blade profile constituting element 20 having inlets 30, 38, 44 for two water-flow routes.例文帳に追加

２つの水流経路の入口（３０、３８、４４）を有するタービン翼形部構成要素（２０）を試験する水試験装置（５０）を提供する。 - 特許庁

The temperature testing device 1 is an inline temperature testing device for testing the performance of the crystal oscillator CR while transferring the crystal oscillator CR along the X direction in one temperature bath 11.例文帳に追加

温度試験装置１は、１つの温度槽１１内において水晶振動子ＣＲをＸ方向に沿って搬送しながら水晶振動子ＣＲの特性を測定するインライン方式の温度試験装置である。 - 特許庁

NUCLEIC ACID IMMOBILIZING SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, NUCLEIC ACID TESTING DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME AND NUCLEIC ACID TESTING METHOD例文帳に追加

核酸固定用基材、核酸固定用基材の製造方法、核酸検査用デバイス、核酸検査用デバイスの製造方法、並びに核酸検査方法 - 特許庁

(ii) That Testing of Organisms is implemented by persons who fall under any of the following clauses, of whom there are 2 or more per place of business undertaking Testing of Organisms. 例文帳に追加

二　次のいずれかに該当する者が生物検査を実施し、その人数が生物検査を行う事業所ごとに二名以上であること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Urease breath testing, stool antigen testing, and/or immunological analysis, may be used as correlation phenomenon against H. pylori infection.例文帳に追加

ウレアーゼ呼吸試験、便中抗原試験、および／または免疫学的分析は、Ｈ．ｐｙｌｏｒｉ感染に対する相関現象として使用され得る。 - 特許庁

The testing device includes also an strength measuring instrument constituted to measure frictional force generated between the testing material and the towing face.例文帳に追加

試験装置にはまた、試験材料と牽引面との間に生じる摩擦力を測定するように構成された強度測定装置が含まれる。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device comprising a pin assign converter capable of converting a logical pin number of a testing unit into a physical pin number.例文帳に追加

試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a product character for effectively using testing data on a product, based on an identification number.例文帳に追加

識別番号に基づいて製品の検査データを有効活用することができる製品特性の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The framework comprises a Forward Test Application Protocol (FTAP) for testing forward channels and a Reverse Test Application Protocol (RTAP) for testing reverse channels.例文帳に追加

フレームワークは、フォワードチャネルをテストするためのフォワードテストアプリケーションプロトコルおよびリバースチャネルをテストするためのリバーステストアプリケーションから構成される。 - 特許庁

The testing device for the automobile 1 transmits the input vibration while imparting the rotational load to the wheels of the testing object X.例文帳に追加

そして、自動車用試験装置１は、試験対象Ｘの車輪に回転負荷を付与しつつ入力振動を伝達することを特徴とする。 - 特許庁

In the case of testing the wafer, in addition to supplying a power to be executed via the pads 9 for the power source, the power is also supplied via the pads 17 for testing the wafer and the pads 19 for testing the wafer.例文帳に追加

ウェハテストの際には、電源用のボンディングパッド９を介して行なわれる電源供給の他、ウェハテスト用電源パッド１７及びウェハテスト用グランドパッド１９を介しても電源供給が行なわれる。 - 特許庁

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern.例文帳に追加

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。 - 特許庁

The interposer has a testing structure extending around the interposer, and at least a part of the testing structure is located in a first re-wiring element.例文帳に追加

インターポーザは、インターポーザの周辺に延伸する試験構造を有し、少なくとも一部の試験構造は、第一再配線素子中にある。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion.例文帳に追加

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。 - 特許庁

The operation mode includes a testing mode where characteristic testing of the non-volatile memory is performed by using the external terminal, and a user mode where the external terminal is not used.例文帳に追加

動作モードは、外部端子を用いて不揮発性メモリの特性テストを行うテストモードと、外部端子を使用しないユーザモードと、を含む。 - 特許庁

To provide an evaluation testing tool and an evaluation testing electrode for an electronic component, wherein setting the electronic component is easily set, and maintenance is performed easily.例文帳に追加

電子部品のセットが容易でかつメンテナンスの容易な電子部品の評価試験用治具及び評価試験用電極を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lift-off testing device capable of re-tensioning various anchors, and improving efficiency and safety of testing work.例文帳に追加

多様なアンカーに対して再緊張が可能であり、かつ試験作業の効率と安全性を向上させたアンカーのリフトオフ試験装置を提供する。 - 特許庁

A device comprises a testing unit 12 disposed outside of a wafer 16 and at least one testing circuit 14 formed on the wafer including an integrated circuit.例文帳に追加

ウェーハ１６の外部にある試験ユニット１２、および集積回路を含むウェーハ上に製造された少なくとも1つの試験回路１４を含む。 - 特許庁

To provide visual function inspection equipment integratedly managing visual acuity testing data in a plurality of visual acuity testing devices in a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、複数の視力検査装置における視力検査データを一元的に管理することが出来る視機能検査設備の提供。 - 特許庁