「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(166ページ目) - Weblio英語例文検索

A cleaning blade 6 (testing body) is brought into contact with the outside of either straight-line traveling part 2A of the belt 2.例文帳に追加

フィルムベルト２の一方の直線走行部分２Ａの外側にクリーニングブレード６（試験体）を接触させる。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing friction for properly and reliably performing evaluation.例文帳に追加

適正且つ信頼性の高い評価を行えるようにした摩擦試験装置および摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for highly reliably testing an electronic device having source synchronizing signal output.例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスの高信頼性試験のための方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing objective climacteric disorder since subjective symptoms of climacteric disorders are various and easily change.例文帳に追加

更年期障害の自覚症状は，多様性で変化しやすく、客観的な検査方法が求められている。 - 特許庁

To more enhance reaction efficiency in a biochemical testing device utilizing a microfluid.例文帳に追加

マイクロ流体を利用した生化学試験デバイスにおいて、反応効率をより高めた生化学試験デバイスを提供する。 - 特許庁

To introduce ultraviolet ray which is radiated to a photocurable resin in such condition as not contacting to a pressing member of a testing device.例文帳に追加

光硬化樹脂へ照射する紫外光を試験装置の押圧部材とは非接触状態で導入する。 - 特許庁

MEASURING APPARATUS FOR CIRCULATED OIL FLOW RATE IN FREEZING CYCLE, AND TESTING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

冷凍サイクルのオイル循環流量測定装置及び該オイル循環流量測定装置を具備した試験装置 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of being enhanced in workability by avoiding labor for selecting an evaluation item.例文帳に追加

評価項目の選択の手間を省いて作業性の向上を図ることができる材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a load testing method for a piled raft foundation in which both of a pile foundation (a pile) and a spread foundation (a raft) are used.例文帳に追加

杭基礎（パイル）と直接基礎（ラフト）とを併用したパイルド・ラフト基礎の載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic penetration testing machine capable of precisely detecting a load which is actually applied on a penetration rod.例文帳に追加

実際に貫入ロッドにかかっている荷重を、精度良く検出可能な自動貫入試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory for testing bit-line leakage with high precision in a short time period.例文帳に追加

ビット線リークを短時間で精度良くテストすることができる不揮発性半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

The application of the wettability testing liquid and the measurement of the repelling area after the passage of the preset time are repeated for every unit area.例文帳に追加

単位面積毎に濡れ性試験液の塗布と所定時間経過後にはじいた面積の測定を繰り返す。 - 特許庁

A programmable voltage generator source 13 controls a power source unit and supplies power to a device under testing (DUT) 1.例文帳に追加

プログラマブル電圧発生源１３は電源ユニット１４を制御してＤＵＴ１へ電源を供給する。 - 特許庁

To provide an isolator management system relating to recording of environmental conditions in an isolator in producing/testing, wherein a load of an operator can be lowered.例文帳に追加

製造／試験時のアイソレータ内の環境条件の記録に関して、作業者の負担を軽減できる。 - 特許庁

Since an exclusive drop testing device is used, the content and conditions of a drop test are standardized.例文帳に追加

専用の落下試験装置を使用するので、落下試験の内容や条件の画一化を図ることができる。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire testing device and method capable of quantitatively evaluating drain performance of a tire.例文帳に追加

タイヤの排水性能を定量的に評価できるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing temperature change which can suitably perform a test for temperature change in a semiconductor chip.例文帳に追加

好適に半導体チップの温度変化試験を行うことができる温度変化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a base station apparatus for conducting self-monitoring of the operation even when a dedicated testing apparatus is not provided.例文帳に追加

専用の試験装置を備えることなく、自己の動作監視を行うことができる基地局装置を提供する。 - 特許庁

Further, an inspection device is provided to the food testing system to test the test target positioned on the upstream side of the second belt conveyor 7.例文帳に追加

また、検査装置を備え、第２のベルトコンベア７より上流に位置する検査対象物を検査する。 - 特許庁

A testing apparatus 10 includes a hydraulic actuator 20 for driving a piston 14 for combustion chamber by hydraulic pressure.例文帳に追加

試験装置１０は、燃焼室用ピストン１４を油圧によって駆動する油圧式アクチュエータ２０を備える。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

To provide a testing apparatus of an internal combustion engine for preventing noise without affecting the acquisition data of tests.例文帳に追加

試験の取得データに影響することなく、騒音を防止できる内燃機関の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method capable of efficiently carrying out a work for testing required before shipping sheet-like lens products.例文帳に追加

シート状レンズ製品の出荷前に必要な検査作業を効率よく行える検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can efficiently detect faulty openings, in the wiring of a device under measurement.例文帳に追加

被測定デバイスにおける配線の開放不良を、効率よく検出することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain.例文帳に追加

任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

A temperature measurement system measures the internal temperature of the tire 12 on a testing machine 10 in a static state after it runs.例文帳に追加

試験機１０上で走行後のタイヤ１２の内部温度を静止状態で測定する温度測定システムである。 - 特許庁

The opening face on the side of the wiring 22a in the via testing opening 44 comes over a boundary B2 of the wiring 22a.例文帳に追加

ビア試験用開口４４の配線２２ａ側の開口面は、配線２２ａの境界Ｂ２をまたいでいる。 - 特許庁

METHOD OF AND DEVICE FOR PUNCHING TESTPIECE AND TESTPIECE TESTING MACHINE INCORPORATING THE METHOD AND THE DEVICE例文帳に追加

試験片打ち抜き方法、試験片打ち抜き装置、及びその方法又はその装置を備えた試験片試験機。 - 特許庁

This flow cell system includes a flow cell which itself channels a continuous or intermittent sample liquid stream containing a compound for testing.例文帳に追加

フローセルは、試験化合物を含有する連続的または断続的試料液流を流す流体シースを流す。 - 特許庁

The testing system includes several transfer devices (shuttle) mounted between input/output trays.例文帳に追加

テストシステムは更にインプット／アウトプット・トレイの間に設けられる、いくつかの移載装置（ｓｈｕｔｔｌｅ ）を包含する。 - 特許庁

To construct a system capable of performing from virus elimination at a low temperature to an integrity testing.例文帳に追加

本発明は、低温でウイルス除去から完全性試験まで行う事ができるシステムを構築する事である。 - 特許庁

MOTHER PANEL FOR INFORMATION DISPLAY PANEL, ENERGIZATION TESTING METHOD FOR SAME, AND INFORMATION DISPLAY PANEL MANUFACTURED BY USING MOTHER PANEL例文帳に追加

情報表示パネルのマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネル - 特許庁

To provide an optical waveguide flex resistance testing machine capable of evaluating flex resistance of an optical waveguide.例文帳に追加

光導波路の耐屈曲性を評価することができる光導波路耐屈曲性試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method for hysteresis circuit capable of accurately testing a hysteresis circuit in a short time.例文帳に追加

ヒステリシス回路を短時間で且つ高い精度でテストすることができるヒステリシス回路測定方法を提供する。 - 特許庁

VIDEO HEAD CLOGGING TESTING METHOD FOR VIDEO RECORDING/ REPRODUCING DEVICE AND RECORDING METHOD THEREFOR例文帳に追加

映像記録再生装置におけるビデオヘッドの目詰まり検査方法および映像記録再生装置における記録方法 - 特許庁

To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.例文帳に追加

複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties.例文帳に追加

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。 - 特許庁

To provide a calibration method for a semiconductor testing apparatus capable of obtaining handleability and high measuring accuracy.例文帳に追加

良い使い勝手が得られ、また高い測定精度が得られる半導体試験装置の校正方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

(xliii) Impact testing machines capable of supporting a maximum projectiles velocity of 2 kilometers per second or more 例文帳に追加

四十三　発射体の速度の最大値を一秒につき二キロメートル以上にすることができる衝撃試験機 - 日本法令外国語訳データベースシステム

1. Test equipment designed for testing S-parameters of transistors at frequencies exceeding 31.8 gigahertz 例文帳に追加

（一）　三一・八ギガヘルツを超える周波数でトランジスタのエスパラメータを試験することができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム