「x-32」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In this X-ray CT system, an X-ray CT device 1, a CPU 19, an external storage device 30, a CT image forming device 31 and an image reconstruction calculation device 32 or the like receive power supply through switch circuits 33-37.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴ装置１、ＣＰＵ１９、外部記憶装置３０、ＣＴ画像形成装置３１、画像再構成演算装置３２等は各々前段に配されたスイッチ回路（３３〜３７）を介して電源供給を受ける。 - 特許庁

A thin film measuring apparatus 40 installed outside the furnace 20 applies X-rays to the base 31 of the measuring portion 30 through the X-ray incident window 32.例文帳に追加

薄膜形成炉２０の外部に設置された薄膜測定装置４０により、Ｘ線がＸ線入射窓３２を透して測定部３０の薄膜形成サンプル基板３１に照射される。 - 特許庁

The bus bar 3A has a parallel main portion 31 extending in an X direction and a bent end portion 32 bent from the tip of the parallel main portion 31 to reach the printed circuit board 6 and having its tip soldered to the printed circuit board 6.例文帳に追加

バスバー３ＡはX方向に延在する平行主部３１と、平行主部３１の先端から屈曲されてプリント基板６に達して先端がプリント基板６にはんだ接合される屈曲端部３２とを有する。 - 特許庁

When a state likelihood reference part 32 requires one of the state likelihoods b_j(X_t+1), ..., b_j(X_t+K), the state likelihood is obtained with reference to the state likelihood storing part 80.例文帳に追加

状態尤度参照部３２が、状態尤度ｂ_ｊ（Ｘ_ｔ＋１），…，ｂ_ｊ（Ｘ_ｔ＋Ｋ）の何れかが必要になったときに、状態尤度記憶部８０を参照して、その状態尤度を求める。 - 特許庁

The grinding tool 5 can be rockingly moved along a required rocking path by moving the second X axis table 13, the first Y axis table 16, and the second Y axis table 18 by means of an X axis motor 31, and Y axis motors 32, 33.例文帳に追加

Ｘ軸モータ３１、Ｙ軸モータ３２、３３により、第２Ｘ軸テーブル１３、第１、第２Ｙ軸テーブル１６、１８を移動させることにより、研削工具５を所定の揺動軌跡に沿って揺動を移動させることができる。 - 特許庁

A pair of projection parts 39a of height X and a pair of projection parts 39b of height X are formed on the first metallic member 31 and the second metallic member 32, respectively, using press working.例文帳に追加

第一金属部材３１、第二金属部材３２ともに、高さＸの凸部３９ａ，３９ｂがそれぞれ二つずつプレス加工により形成される。 - 特許庁

This dielectric thin film 32 contains a main constituent represented by general formula Ba_xSr_yTiO_3, wherein x and y satisfy x+y<1, and not more than 3 mol (without including 0 mol) of Ce in 100 mol of the main constituent.例文帳に追加

誘電体薄膜３２は、一般式Ｂａ_xＳｒ_yＴｉＯ_3で表わされ前記ｘおよびｙがｘ＋ｙ＜１を満たす主成分と、前記主成分１００ｍｏｌに対して３ｍｏｌ以下（０ｍｏｌを含まない）のＣｅと、を含有する。 - 特許庁

The U-shaped grooves 32 are formed on the face of the base portion 31 on the opposite side to the flow paths 54Y, so that the grooves extends radially with the axis X-X at the center and can communicate with the U-shaped grooves 21.例文帳に追加

凹溝３２は基板部３１の反通流路５４Ｙ側の面に中心軸線Ｘ−Ｘを中心にして放射状に、しかも凹溝２１と連通できるように形成される。 - 特許庁

This sensor 10 is equipped with the first X-axis GMR element 11 to the fourth X-axis GMR element 14 fixed on a substrate 10a, and a moving coil 32 supported movably on the substrate 10a.例文帳に追加

センサ１０は、基板１０ａ上に固定された第１Ｘ軸ＧＭＲ素子１１〜第４Ｘ軸ＧＭＲ素子１４と、基板１０ａ上に移動可能に支持された可動コイル３２とを備えている。 - 特許庁

The diffracted X rays from the sample 14 and the diffracted X rays from the sample 16 are discriminatively detected at least in the Z-direction by a position responsive type X-ray detector 34 after the diffusion in the Z-direction is restricted by the solar slit 32 on a light detecting side.例文帳に追加

試料１４からの回折Ｘ線と，試料１６からの回折Ｘ線を，受光側のソーラースリット３２でＺ方向の発散を制限してから，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器３４で，区別して検出する。 - 特許庁

When internal short circuit occurs by a conductive contaminant X, electrons are moved from each region 33 of the negative current collector 23 toward the conductive contaminant X, and electrons are moved from the conductive contaminant X toward each region 32 of the positive current collector 20.例文帳に追加

導電性異物Ｘによる内部短絡発生時には、負極集電体２３の各領域３３から導電性異物Ｘに向けて電子が移動し、導電性異物Ｘから正極集電体２０の各領域３２に向けて電子が移動する。 - 特許庁

The surface mounting apparatus includes a conveying device for conveying a printed wiring board in an X direction on a pedestal; an electronic component feeding device having many feeders; and an X-direction moving member having a supporting member 32 extending in a Y-direction, and moving in the X-direction on the pedestal.例文帳に追加

プリント配線板を基台上でＸ方向に搬送する搬送装置と、多数のパーツフィーダーを有する電子部品供給装置と、Ｙ方向に延びる支持部材３２を有し、基台上でＸ方向に移動するＸ方向移動部材とを備える。 - 特許庁

While being conveyed by the conveyor 40, the inspection object 50 is imaged relative to an X-ray image of a part including the left side part and an X-ray image of a part including the right side part respectively by the X-ray area cameras 31, 32, to thereby inspected nondestructively.例文帳に追加

被検査物５０は、コンベア４０に搬送されつつ、Ｘ線エリアカメラ３１，３２により、それぞれ左側部を含む部分についてのＸ線画像と右側部を含む部分についてのＸ線画像とを撮像され、非破壊検査される。 - 特許庁

When the same X coordinate is decided, only in the case the waveform data are relevant to a start point, end point, MIN point or MAX point in continuous waveform data having the same X coordinate, the waveform data are stored in the storage part 32 by an equal X data compression storage means 42.例文帳に追加

同一Ｘデータ圧縮格納手段４２は、同一のＸ座標と判定されたとき、波形データが同一のＸ座標を有する連続した波形データ中の開始点、終了点、ＭＩＮ点又はＭＡＸ点に該当する場合のみ、波形データを記憶部３２に格納する。 - 特許庁

An electronic beam accelerator is so formed that electronic beams 6 scan the material in the X direction and the Y direction orthogonally crossing with each other, the scanning width in the Y direction is set larger than that in the X direction, and a plurality of water cooling sashes 32 supporting and cooling a window foil are arranged in parallel to the X direction.例文帳に追加

電子線加速器を、電子線６を互いに直交するＸ方向およびＹ方向に、しかもＸ方向よりもＹ方向の走査幅を大きくして走査するものとし、照射窓１４に、窓箔を支持しかつ冷却する複数の水冷桟３２を、Ｘ方向と平行に並設した。 - 特許庁

An X-ray 12 is irradiated to an object 10, the X-ray permeated through the object is condensed by condensing means 26 and 30, the condensed X-ray is detected by a light receiving element 32 which functions as a photographing means, and an image on a surface at a desired depth of the object 10 is obtained.例文帳に追加

被写体１０に対しＸ線１２を照射し、被写体を透過したＸ線を集光手段２６（３０）により集光して、集光されたＸ線を撮像手段として機能する受光素子３２で検出し、被写体の任意の深さにおける面の像を得るようにしている。 - 特許庁

The image display displays the intersection X and this side intersection Y, entrance lanes to the intersection X along the guidance route and this side intersection Y, the designated lane 22 capable of entering the intersection X and enhanced displays 31 and 32 of both the two intersections.例文帳に追加

その画像表示は、案内交差点Ｘ、手前交差点Ｙ、案内経路に沿った案内交差点Ｘおよび手前交差点Ｙへの進入道路、案内交差点Ｘおよび手前交差点Ｙへの進入可能車線の指定線２２、およびこの２つの交差点の強調表示３１、３２を同時に画像表示する。 - 特許庁

The electric capacitance between a transceiving electrode 31 and the object X opposedly arranged adjacently to the opposite side (an object X side) to an I.I (image intensifier) 25 which is the movable portion of a shield electrode 32 becomes C_2 when the earthed object X of a dielectric material accesses to a capacitance type proximity sensor 28.例文帳に追加

接地された誘電体製の対象物Ｘが静電容量式の近接センサ２８に接近したとき、シールド電極３２の可動部分であるＩ．Ｉ２５とは逆側（対象物Ｘ側）に隣接して対向配置された送受信兼用電極３１、対象物Ｘ間で静電容量Ｃ_2をもつ。 - 特許庁

For slippage quantities A and B in the determined X and Y directions, with the position of the shaft center Od of a spindle 32 corrected by A-Δy.(H-t)/H in the Y direction and B-Δx.(H-t)/H in the X direction for slippage quantities A and B in the determined X and Y directions, machining is conducted.例文帳に追加

求めたＹ、Ｘ方向のずれ量Ａ、Ｂに対し、スピンドル３２の軸心Ｏｄの位置を、加工プログラムで指示された位置に対してＹ方向にＡ−Δｙ・（Ｈ−ｔ）／Ｈ、またＸ方向にＢ−Δｘ・（Ｈ−ｔ）／Ｈ、それぞれ補正して加工する。 - 特許庁

Concerning light entering optical fibers 38, 44 constituting an X-direction shearing stress sensor section 32 and a Y-direction shearing stress sensor section 34, each light comprising a wavelength following a strain amount to the X, Y-directions of the X-direction shearing stress sensor section 32 and the Y-direction shearing stress sensor section 34 is reflected by gratings 40, 46.例文帳に追加

Ｘ方向剪断応力センサ部３２及びＹ方向剪断応力センサ部３４を構成する光ファイバ３８、４４に入射した光は、グレーティング４０、４６により、Ｘ方向剪断応力センサ部３２及びＹ方向剪断応力センサ部３４のＸ、Ｙ方向に対する歪量に従った波長からなる光を反射する。 - 特許庁

An application under Section 32(1) of the Act shall be in Form 4 and shall be submitted together with eight representations of the trade mark each measuring, unless otherwise allowed, 80 mm x 60 mm.例文帳に追加

法第32条(1)に基づく出願は，様式4によるものとし，別途許可されない限り，80ミリ×60ミリの表示サイズの商標の8つの表示とともに提出されるものとする。 - 特許庁

In this gate dielectric layer 32, germanium diffusing from an epitaxial Si_1-xGe_x alloy layer 18 to the gate dielectric layer 32 is substantially made absent.例文帳に追加

このゲート誘電体層３２において、エピタキシャルＳｉ_１−ｘＧｅ_ｘ合金層１８からゲート誘電体層３２に拡散するゲルマニウムは実質的にはない。 - 特許庁

From a point of reducing internal stress generated within an epoxy resin layer 34 of protective coat 33 on a bias electrode layer 32 of X-ray detector 1, a bending elastic modulus of epoxy resin within the epoxy resin layer 34 is decreased.例文帳に追加

Ｘ線検出器１のバイアス電極層32上の保護膜33中のエポキシ樹脂層34内に発生する内部応力低減の点から、エポキシ樹脂層34中のエポキシ樹脂の曲げ弾性率を小さくする。 - 特許庁

The barrier sheet 3 has both side portions 30, 31 facing in a lateral direction X and an intermediate portion 32 connecting the both side portions 30, 31, and the intermediate portion 32 is located in a crotch region 9.例文帳に追加

バリアシート３は、横方向Ｘに対向する両側部分３０，３１と両側部分３０，３１の間をつなぐ中間部分３２とを有し、中間部分３２は股下域９に位置している。 - 特許庁

The first nano stepper system 20 comprises a movable structure 22 in the x/y directions and a first nano stepper arm 24 arranged adjacent to the structure 32.例文帳に追加

第１のナノステッパーシステム(20)は、ｘ／ｙ方向可動構造体(22)と、前記構造体(32)に隣接して配置された第１のナノステッパーアーム(24)とを含む。 - 特許庁

The closing member 5 is fixed to the frame 4 in the state of supporting the elastic member 32 from one side in the lamination direction X and energizing the elastic member 32 to the side of the semiconductor lamination unit 2.例文帳に追加

閉塞部材５は、弾性部材３２を積層方向Ｘの一方側から支承すると共に弾性部材３２を半導体積層ユニット２側に付勢した状態で、フレーム４に固定されている。 - 特許庁

An upper part shield layer 32 has magnetostriction within a range -2 to 0, also the magnetization direction 32a of the upper part shield layer 32 is the same direction as a direction (+X direction) of a sense current (i).例文帳に追加

上部シールド層３２が、−２〜０の範囲内の磁歪を有し、さらに上部シールド層３２の磁化方向３２ａが、前記センス電流ｉの方向（＋Ｘ方向）と同一方向となっている。 - 特許庁

A plate-shaped body 80 of copper alloy composed of molybdenum and copper is formed on a back face of a target 60 embedded in an anode mother material 62 of the anode 32 of the X-ray tube.例文帳に追加

Ｘ線管の陽極32の陽極母材62に埋め込まれたターゲット60の裏面にモリブデンと銅から成る銅合金の板状体80を配設する。 - 特許庁

The support base 31 includes a base member 32, and two elastic parts 37 formed integrally with the base member 32 to press an optical processing part 17 in an X axis direction.例文帳に追加

支持ベース３１は、ベース部材３２と、ベース部材３２と一体的に形成され光学処理部１７をＸ軸方向に押圧する２つの弾性部３７と、を有している。 - 特許庁

Noises superimposed on each voltage provided to an X-ray detector panel 12 are surely removed and noises arising as lateral stripes on an image are reduced by the buffer circuit unit 31 and the filter circuit unit 32.例文帳に追加

バッファ回路部31及びフィルタ回路部32により、Ｘ線検出パネル12に供給する各電圧に重畳するノイズを確実に除去し、画像上で横縞状に発生するノイズを軽減する。 - 特許庁

Only the necessary voltage output circuit unit 32 is combined with the constant voltage power supply body 33 to constitute the constant voltage power supply device 31, coping with the kind of the X-ray image tube.例文帳に追加

Ｘ線イメージ管の種類に対応して必要な電圧出力回路ユニット32のみを定電圧電源本体33に組み合わせて定電圧電源装置31を構成する。 - 特許庁

An adaptive filter 32 performs adaptive operation, based on only a specified part after a lapse of prescribed time when delay time by the buffers 30, 50, 52, 54, 34 and 36 is considered, in the sound signal x input to the adaptive filter 32.例文帳に追加

適応フィルタ３２は、これに入力される音声信号ｘのうち、これらのバッファ３０，５０，５２，５４，３４および３６による遅延時間を考慮した所定時間経過後の特定部分のみに基づいて、適応動作する。 - 特許庁

The carrying and storing device 25 comprises a carrying means 61 for moving an aligned container group 21a in the carrying direction Y on a tray 30, and a tray moving means 32 for moving the tray 30 in the direction across the carrying direction x.例文帳に追加

搬送保管装置25は、整列容器群21aをトレイ30上で搬送方向イに移動させる搬送手段61および搬送方向イと交差する方向にトレイ30を移動させるトレイ移動手段32を備える。 - 特許庁

Each of the plurality of belt supports 55 can be independently fitted/removed to/from the support fitting part 32 of the conveyor main body 2, and positioned so that the longitudinal direction thereof coincides with the carrying direction X when they are fitted to the conveyor main body 2.例文帳に追加

複数のベルト支持体55は、コンベヤ本体２の支持体嵌合部32に対してそれぞれ脱着可能で、コンベヤ本体２に取り付けた状態で長手方向が搬送方向Ｘと一致して位置する。 - 特許庁

Kerfs 32 parallel to the X-axis are formed in an uneven surface 34 of an aluminum member 31, and protrusions 33 are formed respectively between the kerfs 32.例文帳に追加

アルミ部材３１の表面である凹凸面３４には、Ｘ軸に平行な切り溝３２が形成されていると共に、各切り溝３２の間に凸部３３が形成されている。 - 特許庁

Based on the detection of the magnetic field sensor 32, the magnetic field to cancel the external magnetic field m is generated by a coil 33 arranged at an input face region 21 of the X-ray image tube 11, thereby removing the influence of the external magnetic field m and correcting distortion.例文帳に追加

磁界センサ32の検知に基づき、Ｘ線イメージ管11の入力面領域21に配置したコイル33にて外部磁界ｍを打ち消す磁界を発生させ、外部磁界ｍの影響を除いて歪みを補正する。 - 特許庁

Structures and materials of a rotor 35 and a fixed part 32 constituting a rotary positive electrode 31 of this rotary positive electrode X-ray tube 30 are changed to reduce thermal extension amounts of both of them.例文帳に追加

回転陽極Ｘ線管30の回転陽極31を構成するロータ35及び固定部32の構造、材料を変更し、両者の熱的伸長量を低減する。 - 特許庁

A continuous non-light reception range where photo-transistors 32, 32, and so on which do not receive the rays of light when LED 31, 31 and so on emit the rays of light are continued in a columnar direction concerning, for example, an x axis is detected.例文帳に追加

例えばｘ軸に関して、ＬＥＤ３１，３１，…が発光している場合に受光していないフォトトランジスタ３２，３２，…が列設方向に連続している連続非受光範囲を検出する。 - 特許庁

The electric wire 25 is inserted into the cover member 34 from the other side, a second through-hole 32 covering the periphery of the relay member 31 is formed in the axial direction X, and a connection receiving part 33 made of a female screw connected to the joint 30 is set on one side.例文帳に追加

カバー部材34は他側より電線25が挿入すると共に中継部材31の外周を覆う第2の貫通孔32を軸線方向Ｘに設け、一側に接続部30に接続する雌螺子からなる接続受け部33を設ける。 - 特許庁

An image blur correction device 30 includes a correction lens 20A for correcting blur of an image, a holding frame 32 holding the correction lens 20A, and first and second coil motors 34 and 36 for driving the holding frame 32 in X and Y directions respectively.例文帳に追加

像ぶれ補正装置３０は、像のぶれを補正する補正レンズ２０Ａと、補正レンズ２０Ａを保持する保持枠３２と、保持枠３２をそれぞれＸ、Ｙ方向に駆動する第１コイルモータ３４、第２コイルモータ３６を備える。 - 特許庁

The supporting member 32 supports the battery cover 30, and the battery cover 30 is capable of being displaced in the X direction and the Y direction by being slid to the supporting member 32.例文帳に追加

支持部材３２は電池蓋３０を支持し、電池蓋３０は、支持部材３２に対して摺動することにより、Ｘ方向、Ｙ方向に変位可能である。 - 特許庁

An X-ray detector body 12 including a photo detection substrate 21 and a scintillator layer 24 is housed in a case 13 including a base 31 and a multiple cover body 32.例文帳に追加

光検出基板21およびシンチレータ層24を有するＸ線検出器本体12を、基台31と多重カバー体32とを有する筐体13に収容する。 - 特許庁

The movable range of the microscope unit 32 in the X-direction is smaller than the length of the substrate W, and both a range which inspectable by the microscope unit 32 and a range non-inspectable thereby exist.例文帳に追加

Ｘ方向の顕微鏡ユニット３２の可動範囲は基板Ｗの長さより短く、顕微鏡ユニット３２で検査可能な範囲と検査できない範囲とが存在する。 - 特許庁

For example, an X capacitor block with a connector or a Y capacitor block with a connector is connected to the connector 32 connected to the input terminals 3 to 5 and the connector 32 connected to the output terminals 6 to 8 via a connector.例文帳に追加

たとえば、入力端子３〜５に接続されたコネクタ３０および出力端子６〜８に接続されたコネクタ３２に、コネクタ付きＸコンデンサブロックまたはＹコンデンサブロックをコネクタを介して接続する。 - 特許庁

At least a part of the plurality of unit transistors 120 is arranged between two output pumps 32 which are adjacent to each other in the first direction X out of the plurality of output bumps 32.例文帳に追加

複数の単位トランジスタ１２０の少なくとも一部は、複数の出力バンプのうち第１の方向Ｘで隣り合う２つの出力バンプ３２間に配置されている。 - 特許庁