「A scan」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A scanner 10 has a scan data storage area 26 where scan data are stored.例文帳に追加

スキャナ１０は、スキャンデータを記憶するスキャンデータ記憶領域２６を有する。 - 特許庁

A scan conversion processing part 71 converts the three-dimensional scan data to voxel data.例文帳に追加

スキャンコンバージョン処理部７１は、３次元走査データをボクセルデータに変換する。 - 特許庁

A scan line driving circuit 14 generates a scanning signal.例文帳に追加

走査線駆動回路１４は、走査信号を生成する。 - 特許庁

A scan is made over all the boards to collect this information. 例文帳に追加

すべてのボードについてこの情報を集めます。 - FreeBSD

A scan F/F (selector 31, regX 32) being specific for control is inserted between the regB 18 inside the scan F/F as the control target constituting the scan chain and the selector 13 inside another scan F/F as a control target.例文帳に追加

スキャンチェーンを構成する制御対象のスキャンＦ／Ｆ内のｒｅｇＢ１８と、制御対象の別のスキャンＦ／Ｆ内のセレクタ１３との間に制御専用のスキャンＦ／Ｆ（セレクタ３１，ｒｅｇＸ３２）が挿入される。 - 特許庁

A scanner node selects and acquires a scan order to be processed from scan orders stored in a database, then transmits a document image scanned according to a scan setting included in the scan order to a transmission destination included in the scan order.例文帳に追加

スキャナノードが、データベースに格納されているスキャンオーダのうち処理すべきスキャンオーダを選択して取得し、該スキャンオーダに含まれるスキャン設定に従ってスキャンした文書の画像を当該スキャンオーダに含まれる送信先に送信する。 - 特許庁

A scan line converter 7 outputs scan line conversion data R2, G2, B2 in which the number of K scan lines per frame of picture quality adjusting data R1, G1, B1 is converted to the number of scan lines of integer (j) times.例文帳に追加

走査線変換器７は、画質調整データＲ１，Ｇ１，Ｂ１の１フレームあたりＫ本の走査線数を整数Ｊ倍の走査線数に変換した走査線数変換データＲ２，Ｇ２，Ｂ２を出力する。 - 特許庁

A scan controller 38 for controlling the whole scan starts to transmit a control parameter corresponding to the second scan to an X-ray controller 28 for controlling the voltage and current of the X-ray tube 20 during the first scan without waiting the finish of the first scan (S27).例文帳に追加

スキャン全体の制御を行うスキャンコントローラ３８が、第１のスキャン終了を待たず、第１のスキャン中に、Ｘ線管２０の管電圧および管電流を制御するＸ線コントローラ２８に対して、第２のスキャンに対応した上記制御パラメータの送信を開始する（Ｓ２７）。 - 特許庁

A scan line drive circuit 350 sequentially selects 320 lines of scan lines, applies selected voltage to the selected scan lines, turns a predetermined one among scan lines other than the selected scan lines into a high impedance state when low-order voltage is applied to the common electrodes 111 and applies non-selected voltage to the predetermined scan line when the high-order voltage is applied to the common electrodes 111.例文帳に追加

走査線駆動回路３５０は、３２０行の走査線を順番に選択するとともに、選択した走査線に対しては選択電圧を印加する一方、選択した走査線以外の走査線のうち、所定のものに対しては、共通電極１１１に低位電圧が印加されたときにハイ・インピーダンス状態とし、共通電極１１１に高位電圧が印加されたときに非選択電圧を印加する。 - 特許庁

A scan driving part includes a set-up pulse supply part 210 for supplying a reset pulse to a scan electrode in a set-up period.例文帳に追加

スキャン駆動部は、セットアップ期間にスキャン電極にリセットパルスを供給するためのセットアップパルス供給部２１０を含む。 - 特許庁

A scanner illuminates a partial width 212 of a scan line.例文帳に追加

スキャンラインの部分的な幅２１２を照明するスキャナが開示される。 - 特許庁

A scan radar 4 is attached to a trailer front face panel 2F to scan in the horizontal direction for a tractor rear face panel 1B.例文帳に追加

トレーラ前面パネル２_F にスキャンレーダ４を取り付け、トラクタ後面パネル１_B に対し水平方向にスキャンする。 - 特許庁

A scan side driving means 300 generates a scan pulse based on a timing signal 101 for liquid crystal panel display, and gives it to each scanning electrode.例文帳に追加

走査側駆動手段３００は、液晶パネル表示用タイミング信号１０１に基づいて走査パルスを生成し、各走査電極に与える。 - 特許庁

A scan flip-flop circuit OSFF for observation is incorporated in a shift register constituted by a plurality of scan flip-flop circuits.例文帳に追加

観測用スキャンフリップフロップ回路ＯＳＦＦは、複数のスキャンフリップフロップ回路が構成するシフトレジスタに組み込まれる。 - 特許庁

A scan test device 1 according to the present invention includes a test data input terminal, an OR element 17, and a scan flip-flop 12.例文帳に追加

本発明にかかるスキャンテスト装置１は、テストデータ入力端子、ＯＲ素子１７、スキャンフリップフロップ１２を備える。 - 特許庁

A scan line, a data line and an active device electrically connected to the scan line and the data line are formed over a substrate.例文帳に追加

基板上に走査線、データ線、および走査線とデータ線に電気的に接続した能動素子を形成する。 - 特許庁

A scanner 1 scans a document to generate scan data.例文帳に追加

スキャナー部１は原稿をスキャンしてスキャンデータを作成する。 - 特許庁

A scan chain is formed so that wiring length between the scan terminals of each of a plurality of scans FF can be made the shortest.例文帳に追加

複数のスキャンＦＦを、各スキャンＦＦのスキャン端子間の配線長が最短となるようにスキャンチェーンを形成する。 - 特許庁

A scan pitch a of the scan driving is smaller than an overall width (touch detection width b) of the plurality of selected electrodes to be driven.例文帳に追加

上記走査駆動の走査ピッチａは、選択された複数本の駆動対象電極の全幅（タッチ検出幅ｂ）よりも小さくなっている。 - 特許庁

A scan control section 33 controls to generate a circular trajectory projection data group and a line projection data group by executing a circular trajectory scan and a line scan.例文帳に追加

スキャン制御部３３は、円軌道スキャンおよびラインスキャンを実行させて円軌道投影データ群およびライン投影データ群を生成するように制御する。 - 特許庁

A scan test signal is input to the second data fetching/holding means.例文帳に追加

第２のデータ取込保持手段には、スキャンテスト信号が入力される。 - 特許庁

A scan control part 14 controls the beam former 12 to form a scan plane of ultrasonic beam for each period of periodical motion confirmed based on the synchronizing signal and move the scan plane stepwise over a plurality of periods to form a plurality of scan planes in the three-dimensional space.例文帳に追加

走査制御部１４は、ビームフォーマ１２を制御することにより、同期信号に基づいて確認される周期運動の各周期ごとに超音波ビームの走査面を形成し、複数周期に亘って走査面を段階的に移動させて三次元空間内において複数の走査面を形成する。 - 特許庁

A scan pass test circuit 20 of the semiconductor device 10 includes scan chains 102, 107, an EXOR 201, and an SC control circuit 402.例文帳に追加

半導体装置１０が備えるスキャンパステスト回路２０は、スキャンチェーン１０２，１０７、EXOR２０１、及びＳＣ制御回路４０２を含む。 - 特許庁

A scan test and scan compression are important for achieving cost reduction and high quantity of shipping products.例文帳に追加

スキャンテスト及びスキャン圧縮は、コストの低減及び高い出荷品品質を実現するうえで重要である。 - 特許庁

A scan conversion part 101, according to the determination, performs scan conversion with the two blocks that are inputted in parallel or performs it with only one.例文帳に追加

スキャン変換部１０１は、この決定に応じて、入力した２つのブロックを並列にスキャン変換するか、一方のみをスキャン変換する。 - 特許庁

A scan driving part provides a plurality of scan signals for activating scan lines and a display timing setting part outputs a control signal.例文帳に追加

スキャン駆動部は、スキャンラインをアクティブさせる複数のスキャン信号を提供し、ディスプレイタイミング設定部は、制御信号を出力する。 - 特許庁

A scanner 10 applies an electronic signature 22 to scan image data 21 of a scan document 20 read by a document reader 12 and stored in a scan document storage region 145.例文帳に追加

スキャナ１０は、文書読取部１２にて読み取ったスキャン文書２０のスキャン画像データ２１に電子署名２２を行いスキャン文書格納領域１４５に蓄積する。 - 特許庁

A scan data generation unit 102 reads the burst data from the storage device 152 for each corresponding scan by a processing device 151, and fills a spacing in the read burst data with zero for each scan to generate scan data by the processing device 151.例文帳に追加

スキャンデータ生成部１０２は、記憶装置１５２からバーストデータを、対応するスキャンごとに処理装置１５１により読み出して、スキャンごとに、読み出したバーストデータの隙間をゼロで埋めてスキャンデータを処理装置１５１により生成する。 - 特許庁

A scan converting part 611 in an encoding processing part 610 changes the arrangement of the input 8×8 pixels according to the information of a scan start position information storage part 614 and a scan route information storage part 615.例文帳に追加

符号化処理部６１０内のスキャン変換部６１１は、スキャン開始位置情報記憶部６１４、スキャンルート情報記憶部６１５の情報に従い、入力した８×８画素の並びを変更する。 - 特許庁

A scan power control circuit 3003 is added to a scan test control circuit 3000 which is a gathering of gated clocks, allowing the operation of the gated clock cell equipped with the scan power control terminal to be controlled.例文帳に追加

またゲーテッドクロックの集合であるスキャンテスト制御回路３０００にスキャン電力制御回路３００３を追加し、スキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルの動作を制御可能にする。 - 特許庁

A scan conversion part 1 coordinate transforms a radar video signal and writes in a frame memory 2.例文帳に追加

走査変換部１にてレーダービデオ信号の座標変換を行い、フレームメモリ２に書き込む。 - 特許庁

A scan line SL transmits a switching controlled bias voltage to a light sensing element QOS.例文帳に追加

スキャンラインＳＬはスイッチング制御されたバイアス電圧を光感知素子ＱＯＳに伝達する。 - 特許庁

A scanner controlling portion 1 does not scan a periphery of a read draft in the high-speed mode.例文帳に追加

高速モードでは、スキャナ制御部１は、読取原稿の周辺部をスキャンしない。 - 特許庁

A scan ticket where a plurality of image processings performed on image data are set is generated.例文帳に追加

画像データに対して実行する画像処理を複数設定したスキャンチケットを作成する。 - 特許庁

A scan plan is inputted from an operation console (S701) and transmitted to a gantry apparatus (S702).例文帳に追加

操作コンソールでスキャン計画を入力し（Ｓ７０１）、ガントリ装置に送信する（Ｓ７０２）。 - 特許庁

A scan lens group focuses the light deflected by the deflector 17 on a photosensitive drum 40.例文帳に追加

走査レンズ群は、偏向器１７が偏向した光を感光体ドラム４０に結像させる。 - 特許庁

A scanning system 400 can scan a photoconductive surface with an image beam across the surface.例文帳に追加

走査システムは、光導電性表面を横切ってイメージビームを走査するように適合される。 - 特許庁

A scan operation is initiated to detect the presence or absence of a source document.例文帳に追加

ソース文書の存在または不在を検出するために、スキャン操作が開始される。 - 特許庁

A scan test is executed in a plurality of steps by changing combination between a partial scan chain set as PRS and a partial scan chain set as MISR, and thereby the test can be performed without installing a test response compressor separately from the scan chain, to thereby reduce the area overhead.例文帳に追加

ＰＲＳとして設定する部分スキャンチェーンとＭＩＳＲとして設定する部分スキャンチェーンの組合せを変えて、複数のステップでスキャンテストを実行することによって、スキャンチェーンとは別にテスト応答圧縮器を設けることなくテストを行うことができるので、面積オーバーヘッドが削減される。 - 特許庁

A scan memory board 3 is controlled by the logic LSI tester 2 to synchronizes a scan-in signal 17 from the scan memory board 3 and an input test signal 20 from the logic LSI tester 2 and inputs them the an LSI to be measured 5.例文帳に追加

そして、ロジックＬＳＩテスタ２でスキャンメモリボード３を制御して、スキャンメモリボード３からスキャンイン信号１７を、また、ロジックＬＳＩテスタ２から入力テスト信号２０を、同期をとって被測定ＬＳＩ５に入力させる。 - 特許庁

A scan actuator 25 rocks the convex lens 23 with respect to the laser diode 12.例文帳に追加

この凸レンズ２３をスキャンアクチュエータ２５によりレーザダイオード１２に対して揺動させる。 - 特許庁

A scan that produces the samples may include portions having greater and lesser sample density.例文帳に追加

サンプルを生成するスキャンには、サンプル密度が高い部分と低い部分が含まれうる。 - 特許庁

A scanner is added to scan the planary electron current 2 on the object 6.例文帳に追加

照射対象物体６に対して面状電子流２を走査する走査器が追加される。 - 特許庁

A scanning drive part reads out all the pixels simultaneously to scan-drive each read out part in one direction.例文帳に追加

走査駆動部は、全画素同時読み出しを行い各読出部を一方向に走査駆動する。 - 特許庁

A scan electrostatic deflector 6 is provided at the position of the crossover 5.例文帳に追加

そして、このクロスオーバ５の位置に走査用静電偏向器６が設けられている。 - 特許庁