「"During inspection"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To ensure safety during inspection work around a cooling fan.例文帳に追加

冷却ファン周辺の点検作業時等の安全性を確保する。 - 特許庁

To shorten the function stop period of a system during inspection by employing a means which interrupts inspection at the time of detecting abnormality during inspection by providing a function of continuing monitor during inspection when inspecting a monitor device which is not multiplexed, in the middle of plant operation.例文帳に追加

多重化されていない監視装置をプラント運転中に点検する場合、点検中も監視を継続する機能を備えて、点検中に異常を検知した時に点検を中断する手段を講じることで点検中のシステムの機能停止期間を短縮する。 - 特許庁

To effectively prevent spouting water from splashing during inspection, and render its bulkiness small.例文帳に追加

点検時の噴出水の飛散を効率よく防止するとともに、嵩を小さくし得るようにする。 - 特許庁

Therefore, heat removed by the IC device during inspection under high temperature can be effectively compensated.例文帳に追加

このため、高温下の検査に際してＩＣデバイスから奪われる熱を効果的に補うことができる。 - 特許庁

To detect a response signal outputted from an integrated circuit accurately during inspection.例文帳に追加

検査時において、集積回路から出力された応答信号を正確に検知する。 - 特許庁

When the groove is visually identified during inspection, the brake drum is proved to be still usable.例文帳に追加

検査中に、溝が目で見て確認できる場合、これは、ブレーキドラムがまだ使用できるというしるしである。 - 特許庁

To easily leave a trace of fraudulence while securing easiness of opening during inspection.例文帳に追加

検査時における開封容易性を確保しながら、不正行為の痕跡が残り易くすること。 - 特許庁

To improve operability during inspection maintenance, replacement, etc., of an image formation unit.例文帳に追加

画像形成ユニットの点検整備や交換等を行う際の作業性を向上させる。 - 特許庁

To prevent human errors and reduce burdens on an operator, during inspection work for a pressure oil device or the like.例文帳に追加

圧油装置等の点検作業において、人的ミスを防止すると共に、作業者の負担を軽減する。 - 特許庁

To accurately reproduce a PinP-related image displayed on a monitor during inspection for an appropriate image diagnosis.例文帳に追加

検査時のPinP画像でのモニタの表示イメージを正確に再現し、画像診断を的確に行う。 - 特許庁

To provide a surface mount piezoelectric oscillator which improves workability during inspection and is also capable of contributing to miniaturization of a whole structure.例文帳に追加

検査時の作業性に優れ、全体構造の小型化にも供することができる表面実装型圧電発振器を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method for a compound semiconductor substrate, in which quality is evaluated with high precision during inspection on a compound semiconductor substrate having a multilayer structure.例文帳に追加

多層膜構造の化合物半導体基板の検査において、高精度に品質評価を行える検査方法を提供する。 - 特許庁

Disclosed are an apparatus and method for protecting an electronic device of a tire (10) from electrical discharge damages, during inspection processing of the tire (10).例文帳に追加

タイヤ（１０）の検査処理中のタイヤ（１０）の電子装置を放電損傷から保護するための装置及び方法が開示される。 - 特許庁

To provide a contact probe and probe unit that acquire stable conduction characteristics during inspection.例文帳に追加

検査時に安定した導通特性を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供する。 - 特許庁

The sensor is provided with a transmission unit for transmitting a signal to a receiver disposed outside the process apparatus during inspection of the inside of the process apparatus.例文帳に追加

センサは、プロセス装置の内部の検査をしている間、プロセス装置の外部に配置される受信機に信号を送信する送信機を備える。 - 特許庁

The inside of the fluid chamber 20 includes a plurality of conductive sections 30 for electrically connecting the circuit board 10 to the probes during inspection.例文帳に追加

流体チャンバ２０の内部には、検査時に回路基板１０とプローブを電気的に接続する複数の導電部３０が設けられている。 - 特許庁

To reduce a size of a power supply device for a vehicle while sufficiently securing safety of a worker during inspection work, etc.例文帳に追加

点検作業時等における作業者の安全を十分に確保しつつ、車両用電源装置の小型化を図ることにある。 - 特許庁

To detect abnormality of a physical quantity detecting device and to output a signal corresponding to the physical quantity during inspection.例文帳に追加

物理量検出装置の異常検出が行えるようにすると共に、検査時にも物理量に応じた信号が出力されるようにする。 - 特許庁

Wires 30, 31 for connecting electrically the circuit board 10 to the probes during inspection are laminated on the whole outer periphery of the fluid chamber 20.例文帳に追加

流体チャンバ２０の全面外周には、検査時に回路基板１０とプローブを電気的に接続する配線３０、３１が積層されている。 - 特許庁

A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.例文帳に追加

制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁

In addition, workability and safety during inspection working can be improved by the wide additional inspection platform 18.例文帳に追加

また、広幅な追加点検台１８によって点検作業時の作業性、安全性を向上することができる。 - 特許庁

A binarization part 11 binarizes the defective part and normal part as '1' and 'O', respectively, according to a filtered image data Bi' based on the threshold Di during inspection.例文帳に追加

２値化部１１は、検査中、閾値Ｄｉに基づいて、フィルタ処理された画像データＢｉ´から、欠陥部を「１」、正常部を「０」として２値化する。 - 特許庁

To provide a faucet capable of preventing bendable piping, which communicates with a faucet body, from colliding with a person by behaving violently during inspection work and the like.例文帳に追加

検作業時等に水栓本体に連通する屈曲自在な配管が暴れて人に当たることを防止できる水栓を提供する。 - 特許庁

To analyze the inspection result by using only images photographed during inspection by a split dose method.例文帳に追加

ｓｐｌｉｔ ｄｏｓｅ法による検査の際に撮影した画像だけを用いて、その検査結果を解析する。 - 特許庁

Without mechanical fixation of the counter weight 6, inspection cannot be performed and the mechanical fixation cannot be invalidated during inspection, thus providing safe operation.例文帳に追加

カウンタウエイト６を機械的に固定しないでは点検できないし、点検中に機械的固定を無効にできないので、安全である。 - 特許庁

After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.例文帳に追加

検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁

(Note 1) "Inspection-related information" in this context refers to questions asked, matters pointed out, requests made, etc. by the inspector and other exchanges between the inspector and the executives, employees, etc. of the financial institution during inspection. 例文帳に追加

（注１）ここでいう「検査関係情報」とは、検査中の、検査官からの質問、指摘、要請その他検査官と被検査金融機関の役職員等との間のやりとりの内容をいう。 - 金融庁

During inspection of the light emitting element array 16 for Y at the time of production, integrated illuminance of each row is measured in the subscanning direction and illuminance distribution is determined in the main scanning direction.例文帳に追加

Ｙ用発光素子アレイ１６は、その製造時の検査において、副走査方向の各列の積算照度が測定され、主走査方向の照度分布が求められる。 - 特許庁

To provide a gas alarm having a gas leak warning function and an incomplete combustion alarm function, wherein malfunction can be prevented during inspection.例文帳に追加

ガス漏れ警報機能及び不完全燃焼警報機能を併せ持つガス警報器において、点検を実施する際に誤作動を防止することができるガス警報器を提供すること。 - 特許庁

During inspection, a scanner acquires data from several phases of a cardiac cycle (101) and a composite image of arteries is prepared by synchronous reconstruction after the data acquisition.例文帳に追加

動脈の合成画像は、検査中にスキャナが心拍周期の幾つかのフェーズからデータを取得した（１０１）後に、それに同期した再構成により生成される。 - 特許庁

To provide a device carryin out inspections with minimum operations and avoiding interference of cables caused during inspection by remote control, when inspecting an object to be inspected in water.例文帳に追加

水中に存在する検査対象物を検査する際に、最小限の作業で検査可能で、遠隔操作による検査時のケーブルの干渉を回避することができるようにする。 - 特許庁

During inspection, by activation of the second or third activation signal before a reading operation, one bit line and the other bit line of of the bit line pair are precharged to different precharge potentials.例文帳に追加

検査時において、読出し動作前に第２または第３の活性化信号の活性化によって、ビット線対の一方のビット線と他方のビット線とを互いに異なるプリチャージ電位までプリチャージする。 - 特許庁

To provide an elevator device with a mechanism for basically restricting the movement of a cage to increase safety during inspection work and an interlock mechanism for preventing the function invalidating operation of the mechanism in error.例文帳に追加

点検作業時の安全を増すために乗りかごの動きを根本的に制限する機構と、この機構の機能を誤って無効にしてしまう操作を防止するインターロック機能とを備えたエレベータ装置を提供する。 - 特許庁

Since the wiring 14 is secured surely to the parallel link 9 and a magnetizer 1, the wiring 14 can be prevented from being removed during inspection and caught at other mechanical part and disconnected.例文帳に追加

このようにすることにより、配線１４が確実に平行リンク９と磁化器１に固定されるので、検査中に外れて、他の機械部に挟まれて断線することを防止することができる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for reducing speckle during inspection of articles used in the manufacture of semiconductor devices, including wafers, masks, photomasks, and reticles.例文帳に追加

ウエハ、マスク、ホトマスクおよびレチクルを含む半導体デバイスの製造に用いられる製品の検査中にスペックルを減少するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

To improve the accuracy of inspection by reserving an inspection vessel with a liquid reagent, inspecting them simply when required, and figuring out accurately a vaporizing amount of the liquid reagent during inspection.例文帳に追加

液体試薬を入れた検査容器を保存しておき必要な時に簡便に検査を行い、検査の際の液体試薬の蒸発量を精度良く把握して検査精度の向上を図ること。 - 特許庁

During inspection, a semiconductor device 2 is mounted on the mounting area 12 via the conductive sheet 24, and the semiconductor device 2 is electrically connected to the circuit board 10.例文帳に追加

検査時には、半導体装置２を載置領域１２上に導電性シート２４を介して載置し、半導体装置２と回路基板１０とを電気的に接続する。 - 特許庁

A contact face 4a1 during inspection on the edge part 4a is composed on a mirror face, and several slits 4a2 are formed on an oblique face on the edge part 4a.例文帳に追加

先端部４ａにおける検査の際の接触面４ａ１は、鏡面に構成され、また、先端部４ａにおける斜面には、数本のスリット４ａ２が形成される。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of reducing a cost of an inspection fixture by dispensing with insertion and pulling of a cable during inspection and performing prescribed inspection and the like without generating deterioration of signal waveform, and to provide a circuit board and an inspection system.例文帳に追加

検査時等にケーブルの挿抜を不要とし、また、信号波形の劣化を生じさせないで所定の検査等を行い、さらに、検査治具の費用を軽減することができる電子機器及び回路基板並びに検査システムを提供すること。 - 特許庁

A vacuum nozzle united with a porous medium pad precisely controls the height of the flexible medium above the center part during inspection or repair.例文帳に追加

多孔性媒体パッドに一体化される真空ノズルは、検査または修理の間、前記中央部分の上方の前記柔軟媒体の高さを精密に制御する。 - 特許庁

To provide an optical pickup device and its control device in which switching of an ND filter caused by disturbance can be detected automatically during operation and during inspection in a manufacturing line.例文帳に追加

動作時及び製造ラインでの検査時に、ＮＤフィルタの外乱による切り替わりを自動的に検知することが可能な光ピックアップ装置及びその制御装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a photomask in which production of pseudo defects during inspection of pattern defects is prevented to carry out inspection with high reliability, and to provide a method for detecting pattern defects in the photomask and a method for forming a pattern by using the same.例文帳に追加

パターン欠陥検査時の擬似欠陥の発生を防止して高い信頼性の検査を行うことができるフォトマスク、そのパターン欠陥検出方法及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation monitoring device capable of improving operational efficiency, working efficiency during inspection, or the like a nuclear power plant by securely preventing an incorrect detection of monitoring object.例文帳に追加

監視対象の誤検知を未然にかつ確実に防止し、原子力発電所の運転効率や点検時等の作業効率を向上させ得る放射線モニタリング装置を提供する。 - 特許庁

During inspection, a nitrogen atmosphere area 231 sealed by a housing 23 is filled with high-cleanliness nitrogen supplied from a nitrogen supply piping 22 to always keep the area at a low oxygen condition, and exhausted from an exhaust piping 24.例文帳に追加

検査中は、常時低酸素状態となるよう、ハウジング２３で密閉された窒素雰囲気エリア２３１を、窒素供給配管２２から供給された清浄度の高い窒素で満たし、排気配管２４から排気される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit employing a structure which mitigates the mechanical and dynamic stress due to probing during inspection as well as the stress due to the mechanical and dynamic stress by wire bonding during assembly.例文帳に追加

検査時におけるプロービングの機械的な力学的ストレスや、組立のワイヤ・ボンディングによる機械的な力学的ストレスによって発生する応力を緩和できる構成を有する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁